專利名稱：液晶顯示器件電光特性與平均傾斜角對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種液晶顯示器件的電光特性與液晶分子平均傾斜角(Average tilt angle)對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法。
技術(shù)背景液晶顯示器件的電光效應(yīng)是指液晶在外加電場(chǎng)的作用下，分子的 排列狀態(tài)改變引起液晶顯示器件的光學(xué)特性隨之改變的一種電的光調(diào) 制現(xiàn)象。電光特性是液晶顯示器件光學(xué)顯示特性與外加電場(chǎng)的對(duì)應(yīng)關(guān) 系，相關(guān)圖譜主要包括電光特性曲線、對(duì)比度曲線、等對(duì)比度圖等。液晶分子傾斜角是描述液晶分子排列狀態(tài)的重要參量，其大小、 分布直接關(guān)系到液晶顯示器件顯示的均勻性和電光性能，在外加電場(chǎng) 的作用下，傾斜角隨外加電場(chǎng)的改變而改變，從而使液晶顯示器件的 光學(xué)特性發(fā)生變化。平均傾斜角是綜合實(shí)際液晶顯示器件厚度方向預(yù) 傾角的分布情況、用來衡量整個(gè)液晶顯示器件中液晶分子的傾斜程度 的一個(gè)折合數(shù)值。目前的測(cè)試手段可滿足電光特性和原生態(tài)平均傾斜角(不施加任 何外加電場(chǎng))的測(cè)試，但在日常的生產(chǎn)和研究中，需要透徹了解在施 加外加電場(chǎng)時(shí)電光特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系，以便對(duì)液晶顯示器 件的制備工藝、材料、結(jié)構(gòu)做出適當(dāng)調(diào)整，使液晶顯示器件獲得最佳 的液晶顯示器件顯示性能?，F(xiàn)有的檢測(cè)電光特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng) 關(guān)系的方法，主要依賴于設(shè)計(jì)軟件進(jìn)行模擬間接實(shí)現(xiàn)，而進(jìn)行模擬需
要提供詳細(xì)和精確的參數(shù)，如圖1的液晶顯示器件要獲得較為準(zhǔn)確的結(jié)果，就需要提供偏光片8、 9的角度和光學(xué)補(bǔ)償量，透明基板1、 2 的厚度和折射率，取向?qū)?、 7的厚度和折射率，電極4、 5的厚度和 折射率，液晶層3的厚度，液晶對(duì)尋常光和非常光的折射率，以及液 晶的展曲系數(shù)、扭曲系數(shù)、彎曲系數(shù)等，這就要求購置相關(guān)的軟件并 進(jìn)行附加測(cè)試，不但增加了整個(gè)檢測(cè)過程的成本和復(fù)雜程度，還降低 了工作效率，同時(shí)由于模擬軟件模型一般需要經(jīng)過簡(jiǎn)化，因此檢測(cè)結(jié) 果和實(shí)際產(chǎn)品存在不同程度的差異。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種液晶顯示器件電光特性與 平均傾斜角對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法，這種檢測(cè)方法操作簡(jiǎn)單、工作效率 高，而且能夠確切獲得電光特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系。采用的技 術(shù)方案如下一種液晶顯示器件電光特性與平均傾斜角對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法， 包括以下步驟(1) 液晶顯示器件像素的電氣導(dǎo)通，具體做法為選定需要檢測(cè) 的像素，利用導(dǎo)電材料將液晶顯示器件上選定像素對(duì)應(yīng)的電極用導(dǎo)線 連接出來(注意保持良好的電氣連接性和連接結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性)，使選定 像素對(duì)應(yīng)的電極與外置電源連接；(2) 測(cè)試液晶顯示器件的電光特性，即測(cè)試液晶顯示器件選定像 素在不同的外加電壓作用下的光學(xué)顯示特性，具體做法為在選定像 素對(duì)應(yīng)的電極間施加外加電壓，改變選定像素上外加電壓的大小，同 時(shí)檢測(cè)選定像素的光學(xué)顯示特性，得到選定像素在不同的外加電壓作 用下對(duì)應(yīng)的光學(xué)顯示特性；(3) 測(cè)量液晶顯示器件選定像素在不同外加電壓作用下的平均傾斜角，具體做法為在與步驟(2)相同的環(huán)境下(即環(huán)境溫度、磁場(chǎng)強(qiáng)度等與步驟(2)相一致)，在選定像素對(duì)應(yīng)的電極間施加外加電壓，改變選定像素上外加電壓的大小，選定像素上的各個(gè)外加電壓的取值與步驟(2)中的各個(gè)外加電壓一致，并用平均傾斜角測(cè)試儀器同步檢 測(cè)平均傾斜角，得到選定像素在不同外加電壓作用下對(duì)應(yīng)的平均傾斜 角；(4) 結(jié)合步驟(2)得到的在不同的外加電壓作用下的光學(xué)顯示 特性和步驟(3)得到的不同外加電壓下對(duì)應(yīng)的平均傾斜角，得到不同 外加電壓條件下液晶顯示器件選定像素光學(xué)顯示特性與平均傾斜角的 對(duì)應(yīng)關(guān)系(同一外加電壓下得到的光學(xué)顯示特性和平均傾斜角是相對(duì) 應(yīng)的)，即電光特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系。測(cè)試液晶顯示器件(如圖1的液晶顯示器件)的電光特性時(shí)，需 要根據(jù)具體產(chǎn)品的要求，設(shè)定檢測(cè)條件(如驅(qū)動(dòng)路數(shù)、偏壓比、驅(qū)動(dòng) 波形、驅(qū)動(dòng)頻率等，液晶顯示器件測(cè)試過程中，這些參數(shù)都必須是固 定的)，得到電光特性圖譜，主要包括透過率曲線、對(duì)比度曲線圖、等 對(duì)比度圖等。其中透過率曲線是透過率(通過對(duì)閾值、飽和值進(jìn)行檢 測(cè)得到)隨電壓的變化曲線；對(duì)比度曲線圖包含3條曲線，即選態(tài)波 形驅(qū)動(dòng)的透過率與電壓變化的關(guān)系曲線、非選態(tài)波形驅(qū)動(dòng)的透過率與 電壓變化的關(guān)系曲線、對(duì)比度與電壓變化的關(guān)系曲線；等對(duì)比度圖包 含選態(tài)電壓的透過率隨視看方向變化的分布圖、非選態(tài)電壓的透過率 隨視看方向變化的分布圖、對(duì)比度隨視看方向變化的分布圖。目前液 晶顯示器件相關(guān)性能的測(cè)試儀器都可以實(shí)現(xiàn)上述電光特性曲線的測(cè) 量，如autronic-MELCHERS的DMS系列、BONA的EO-100等。
可根據(jù)不同外加電壓下得到的各組相對(duì)應(yīng)的光學(xué)顯示特性和平均 傾斜角數(shù)值(同一外加電壓下得到一組相對(duì)應(yīng)的光學(xué)顯示特性和平均 傾斜角數(shù)值)，繪制光學(xué)顯示特性一平均傾斜角關(guān)系曲線，使光學(xué)顯示 特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系更為直觀。本發(fā)明與現(xiàn)有的測(cè)試方法相比較，操作簡(jiǎn)單，容易施行，效率更高；對(duì)于有電光特性、平均傾斜角測(cè)試設(shè)備的機(jī)構(gòu)而言，該方法僅需 導(dǎo)電材料和增加外置電源，成本低；采用直接測(cè)量，測(cè)試結(jié)果更切合 產(chǎn)品的實(shí)際情況，可有效避免因模擬軟件模型簡(jiǎn)化而偏離了產(chǎn)品的實(shí) 際情況；對(duì)于特定液晶顯示器件，可以得到電光特性與平均傾斜角的 關(guān)系曲線，使電光特性與平均傾斜角的關(guān)系更為直觀，可為液晶顯示 器件的制造和設(shè)計(jì)提供有力的數(shù)據(jù)支持。


圖1是液晶顯示器件基本結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是圖1的俯視圖(不帶偏光片)；圖3是引出電極后的液晶顯示器件示意圖；圖4是實(shí)施例一中液晶顯示器件的透過率-電壓關(guān)系曲線；圖5是實(shí)施例一中液晶顯示器件的平均傾斜角-電壓關(guān)系曲線；圖6是實(shí)施例一中液晶顯示器件的透過率-平均傾斜角關(guān)系曲線；圖7是實(shí)施例二中液晶顯示器件的對(duì)比度-電壓關(guān)系曲線圖；圖8是實(shí)施例二中液晶顯示器件選態(tài)的平均傾斜角-電壓關(guān)系曲線；圖9是實(shí)施例二中液晶顯示器件非選態(tài)的平均傾斜角-電壓關(guān)系 曲線；
圖10是實(shí)施例二中液晶顯示器件的對(duì)比度-平均傾斜角關(guān)系曲線圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例一 透過率與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法以非扭曲型液晶顯示器件為例，如圖1和圖2所示，非扭曲型液 晶顯示器件包括兩個(gè)透明基板l、 2和液晶層3，液晶層3設(shè)于兩個(gè)透 明基板1、 2之間，兩個(gè)透明基板1、 2靠近液晶層3的一面上設(shè)有相 對(duì)應(yīng)的電極4、 5，兩個(gè)透明基板l、 2的電極1、 2上均覆蓋有取向?qū)?(分別為取向?qū)?、 7)，兩個(gè)透明基板l、 2遠(yuǎn)離液晶層3的一面上各 設(shè)有一偏光片(分別為偏光片8、 9)液晶顯示器件通過控制電極4和 4電極5之間的電壓差控制兩電極間液晶分子的排列情況。如圖3所示，將液晶顯示器件選定像素21 29 (即要測(cè)試的像素 21 29)的電極4和電極5通過導(dǎo)電材料10用導(dǎo)線11導(dǎo)出，使選定 像素21 29對(duì)應(yīng)的電極與外置電源12連接；在測(cè)試透過率時(shí)，需在圖2結(jié)構(gòu)的兩個(gè)透明基板1、 2上貼附一定 吸收軸向的偏光片；在選定像素21 29的電極4和電極5之間施加電 壓(參考圖3)，并測(cè)試液晶顯示器件選定像素的透過率，不同電壓可得 到不同得透過率。根據(jù)測(cè)試結(jié)果可繪制液晶顯示器件的透過率-電壓關(guān) 系曲線，如圖4所示。撕去前后偏光片，將液晶顯示器件固定在平均傾斜角測(cè)試儀的測(cè) 試平臺(tái)上，液晶顯示器件所處環(huán)境(如環(huán)境溫度、磁場(chǎng)強(qiáng)度等)與測(cè) 試透過率時(shí)相同，在選定像素21 29的電極4和電極5之間施加電壓 (參考圖3)，改變選定像素21 29上外加電壓的大小，選定像素21 29上的各個(gè)外加電壓的取值與測(cè)試透過率時(shí)的各個(gè)外加電壓一致，并
用平均傾斜角測(cè)試儀器同步檢測(cè)平均傾斜角，得到不同外加電壓下對(duì)應(yīng)的平均傾斜角。當(dāng)外加電壓為o時(shí)，可以得到液晶顯示器件原生態(tài)的平均傾斜角；當(dāng)外加電壓不為0時(shí)，對(duì)應(yīng)的液晶分子的取向?qū)l(fā)生 變化，平均傾斜角隨外加電壓的改變而改變，實(shí)時(shí)的平均傾斜角可由 平均傾斜角測(cè)試儀得到。根據(jù)測(cè)試結(jié)果可繪制液晶顯示器件的平均傾 斜角-電壓關(guān)系曲線(如圖5所示)。結(jié)合得到的在不同的外加電壓作用下的透過率和不同外加電壓下 對(duì)應(yīng)的平均傾斜角，得到不同外加電壓條件下液晶顯示器件選定像素 透過率與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系(同一外加電壓下得到的透過率和平 均傾斜角是相對(duì)應(yīng)的)。比照?qǐng)D4和圖5,根據(jù)不同外加電壓下得到的各組相對(duì)應(yīng)的光透 過率和平均傾斜角數(shù)值，可以得到液晶顯示器件的透過率-平均傾斜角 關(guān)系曲線(如圖6所示)。實(shí)施例二 對(duì)比度與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法本實(shí)施例所測(cè)試的液晶顯示器件與實(shí)施例一相同。液晶顯示器件 像素的電氣導(dǎo)通結(jié)構(gòu)與實(shí)施例一相同，如圖3所示。需在圖2結(jié)構(gòu)的兩個(gè)透明基板1 、2上貼附一定吸收軸向的偏光片； 在選定像素21 29 (即要測(cè)試的像素21 29)的電極4和電極5之間 施加電壓，并測(cè)試液晶顯示器件選定像素21 29的透過率，不同電壓 可得到不同的透過率，并結(jié)合選態(tài)波形驅(qū)動(dòng)的透過率與非選態(tài)波形驅(qū) 動(dòng)的透過率，得到不同電壓下的對(duì)比度。根據(jù)選態(tài)波形和非選態(tài)波形 的測(cè)試結(jié)果以及得到的對(duì)比度數(shù)值，可繪制液晶顯示器件選態(tài)波形驅(qū) 動(dòng)的透過率與電壓變化的關(guān)系曲線(圖7中的曲線A)、非選態(tài)波形驅(qū) 動(dòng)的透過率與電壓變化的關(guān)系曲線(圖7中的曲線B)，對(duì)比度與電壓
變化的關(guān)系曲線(圖7中的曲線C)，如圖7所示。撕去偏光片，將液晶顯示器件固定在預(yù)傾角測(cè)試儀的測(cè)試平臺(tái)上， 液晶顯示器件所處環(huán)境(如環(huán)境溫度、磁場(chǎng)強(qiáng)度等)與測(cè)試對(duì)比度時(shí) 相同，在選定像素21 29的電極4和電極5之間施加選態(tài)波形電壓， 改變選定像素21 29上外加電壓的大小，選定像素21 29上的各個(gè) 外加電壓的取值與測(cè)試透過率時(shí)的各個(gè)外加電壓一致，并用預(yù)傾角測(cè) 試儀器同步檢測(cè)平均傾斜角，得到不同外加電壓下液晶顯示器件的平 均傾斜角，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果畫出液晶顯示器件選態(tài)的平均傾斜角-外加 電壓關(guān)系曲線(曲線E)，如圖8所示；然后在選定像素21 29的電 極4和電極5之間施加非選態(tài)波形電壓，改變選定像素21 29上外加 電壓的大小，選定像素21 29上的各個(gè)外加電壓的取值與測(cè)試透過率 時(shí)的各個(gè)外加電壓一致，并用預(yù)傾角測(cè)試儀器同步檢測(cè)平均傾斜角， 得到不同外加電壓下液晶顯示器件的平均傾斜角，并根據(jù)測(cè)試結(jié)果畫 出液晶顯示器件非選態(tài)的平均傾斜角-外加電壓關(guān)系曲線(曲線F)， 如圖9所示。結(jié)合得到的在不同的外加電壓作用下的對(duì)比度和不同外加電壓下 對(duì)應(yīng)的平均傾斜角(包括選態(tài)和非選態(tài))，可以得到不同外加電壓下各 組相對(duì)應(yīng)的對(duì)比度和選態(tài)、非選態(tài)的平均傾斜角數(shù)值。比照?qǐng)D7和圖8、圖9，可以得到液晶顯示器件的對(duì)比度-平均傾 斜角關(guān)系曲線圖，如圖10所示，其中曲線E為選態(tài)平均傾斜角-電壓 關(guān)系曲線，曲線F為非選態(tài)平均傾斜角-電壓關(guān)系曲線，曲線C為對(duì) 比度-電壓關(guān)系曲線。
權(quán)利要求
1、一種液晶顯示器件電光特性與平均傾斜角對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法，包括以下步驟(1)液晶顯示器件像素的電氣導(dǎo)通，具體做法為選定需要檢測(cè)的像素，利用導(dǎo)電材料將液晶顯示器件上選定像素對(duì)應(yīng)的電極用導(dǎo)線連接出來，使選定像素對(duì)應(yīng)的電極與外置電源連接；(2)測(cè)試液晶顯示器件的電光特性，即測(cè)試液晶顯示器件選定像素在不同的外加電壓作用下的光學(xué)顯示特性，具體做法為在選定像素對(duì)應(yīng)的電極間施加外加電壓，改變選定像素上外加電壓的大小，同時(shí)檢測(cè)選定像素的光學(xué)顯示特性，得到選定像素在不同的外加電壓作用下對(duì)應(yīng)的光學(xué)顯示特性；(3)測(cè)量液晶顯示器件選定像素在不同外加電壓作用下的平均傾斜角，具體做法為在與步驟(2)相同的環(huán)境下，在選定像素對(duì)應(yīng)的電極間施加外加電壓，改變選定像素上外加電壓的大小，選定像素上的各個(gè)外加電壓的取值與步驟(2)中的各個(gè)外加電壓一致，并用平均傾斜角測(cè)試儀器同步檢測(cè)平均傾斜角，得到選定像素在不同外加電壓作用下對(duì)應(yīng)的平均傾斜角；(4)結(jié)合步驟(2)得到的在不同的外加電壓作用下的光學(xué)顯示特性和步驟(3)得到的不同外加電壓下對(duì)應(yīng)的平均傾斜角，得到不同外加電壓條件下液晶顯示器件選定像素光學(xué)顯示特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系，即電光特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器件電光特性與平均傾斜角對(duì) 應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法，其特征是在步驟(4)的基礎(chǔ)上，根據(jù)不同外 加電壓下得到的各組相對(duì)應(yīng)的光學(xué)顯示特性和平均傾斜角數(shù)值，繪制 光學(xué)顯示特性 一 平均傾斜角關(guān)系曲線。
全文摘要
本發(fā)明提供一種液晶顯示器件電光特性與平均傾斜角對(duì)應(yīng)關(guān)系的檢測(cè)方法，包括以下步驟(1)液晶顯示器件像素的電氣導(dǎo)通，使選定像素對(duì)應(yīng)的電極與外置電源連接；(2)測(cè)試液晶顯示器件的電光特性，即測(cè)試液晶顯示器件選定像素在不同的外加電壓作用下的光學(xué)顯示特性；(3)測(cè)量液晶顯示器件選定像素在不同外加電壓作用下的平均傾斜角；(4)結(jié)合步驟(2)得到的在不同的外加電壓作用下的光學(xué)顯示特性和步驟(3)得到的不同外加電壓下對(duì)應(yīng)的平均傾斜角，得到電光特性與平均傾斜角的對(duì)應(yīng)關(guān)系。本發(fā)明操作簡(jiǎn)單，容易施行，效率更高，成本低，測(cè)試結(jié)果更切合產(chǎn)品的實(shí)際情況。
文檔編號(hào)G09G3/36GK101118319SQ20071002932
公開日2008年2月6日 申請(qǐng)日期2007年7月18日 優(yōu)先權(quán)日2007年7月18日
發(fā)明者吳永俊, 崔衛(wèi)星, 詹前賢, 黃惠東, 黃貴松 申請(qǐng)人:汕頭超聲顯示器(二廠)有限公司