專(zhuān)利名稱(chēng)：液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)ic和液晶顯示器面板的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC和液晶顯示器面板。
背景技術(shù)：
液晶顯示器分為三部分，第一部分為液晶面板，包括彩色濾光基板和TFT (Thin Film Transistor，薄膜場(chǎng)效應(yīng)晶體管)基板；第二部分為驅(qū)動(dòng)IC和外圍驅(qū)動(dòng)電路；第三部 分是背光。TFT基板具有多條源極走線和柵極走線，一般為金屬層，在走線的末端做成電極， 驅(qū)動(dòng)IC的電極與TFT基板的走線電極目前多采用兩種方式相連一種是COF(Chip On Film，覆晶薄膜)，即將驅(qū)動(dòng)IC封裝在一層薄膜上，該薄膜上有電極與驅(qū)動(dòng)IC的電極突起 相連接，然后通過(guò)金屬走線引出來(lái)，在TFT側(cè)和PCB (Printed Circuit Board，印制電路板) 側(cè)通過(guò)ACF(Anisotropic ConductiveFilm，異方性導(dǎo)電膠膜)與對(duì)應(yīng)的電極連接；另一種 是COG (Chip On Glass，覆晶玻璃)，即直接將驅(qū)動(dòng)IC通過(guò)ACF與TFT基板上的電極連接。在采用COF的連接方式時(shí)，通過(guò)探針測(cè)量薄膜上電極和TFT基板上對(duì)應(yīng)的電極就 能夠測(cè)量出ACF與薄膜上電極接觸的電阻。而對(duì)于COG方式，發(fā)明人發(fā)現(xiàn)由于驅(qū)動(dòng)IC的電極是直接通過(guò)ACF與TFT基板上的 電極相連的，目前沒(méi)有辦法通過(guò)電學(xué)特性確定ACF與驅(qū)動(dòng)IC電極的接觸電阻，因而在分析 一些可能由于ACF不良所引起問(wèn)題時(shí)，工作十分困難。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的實(shí)施例提供一種液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC和液晶顯示器面板，能夠 測(cè)量驅(qū)動(dòng)IC電極、ACF和TFT基板電極之間的接觸電阻，為不良分析工作提供方便。為達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案一種液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC，包括IC測(cè)試輸入電極，與TFT基板上的基板測(cè)試輸入電極通過(guò)異方性導(dǎo)電膠膜ACF電 連接，用于輸入測(cè)試電流；IC測(cè)試輸出電極，與TFT基板上的基板測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF電連接，用于輸 出所述測(cè)試電流；導(dǎo)線，用于電連接所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極。所述導(dǎo)線的長(zhǎng)度為所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極之間的最短距罔。所述IC測(cè)試輸入電極的高度、大小與所述驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極相同；所述IC測(cè) 試輸出電極的高度、大小與所述驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極相同。所述驅(qū)動(dòng)IC包括至少兩對(duì)IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極，所述至少兩 對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF與TFT基板上相對(duì)應(yīng)的至少兩對(duì)基板測(cè)試輸入電極和基板測(cè)試輸出電極電連接；其中，每對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出電極之間通過(guò)導(dǎo)線電連接。一種液晶顯示器面板，包括TFT基板和與其電連接的驅(qū)動(dòng)IC，所述TFT基板包括基板測(cè)試輸入電極，與所述驅(qū)動(dòng)IC上的IC測(cè)試輸入電極通過(guò)ACF電連接，用于輸 入測(cè)試電流；基板測(cè)試輸出電極，與所述驅(qū)動(dòng)IC上的IC測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF電連接，用 于輸出所述測(cè)試電流；所述驅(qū)動(dòng)IC包括IC測(cè)試輸入電極，與所述TFT基板上的基板測(cè)試輸入電極通過(guò)所述ACF電連接，用 于輸入測(cè)試電流；IC測(cè)試輸出電極，與所述TFT基板上的基板測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF電連接，用 于輸出所述測(cè)試電流；導(dǎo)線，用于電連接所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極。。所述導(dǎo)線的長(zhǎng)度為所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極之間的最短距罔。所述IC測(cè)試輸入電極的高度、大小與所述驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極相同；所述IC測(cè) 試輸出電極的高度、大小與所述驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極相同。所述驅(qū)動(dòng)IC包括至少兩對(duì)IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極，所述至少兩 對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF與所述TFT基板上相對(duì)應(yīng)的至少兩對(duì) 基板測(cè)試輸入電極和基板測(cè)試輸出電極電連接；其中，每對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出 電極之間通過(guò)導(dǎo)線電連接。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC和液晶顯示器面板，在驅(qū)動(dòng)IC 上包括一對(duì)測(cè)試輸入、輸出電極，該測(cè)試輸入電極和測(cè)試輸出電極通過(guò)導(dǎo)線電連接，該測(cè)試 輸入電極和測(cè)試輸出電極與TFT基板上相對(duì)應(yīng)的基板測(cè)試輸入、輸出電極通過(guò)ACF電連接。 因此，通過(guò)向TFT基板上的基板測(cè)試輸入電極輸入測(cè)試電流，該電流經(jīng)由ACF到達(dá)IC測(cè)試 輸入電極，再經(jīng)過(guò)導(dǎo)線流入IC測(cè)試輸入電極，最后經(jīng)由ACF流入基板測(cè)試輸出電極。這樣 一來(lái)，通過(guò)測(cè)量基板測(cè)試輸入電極和基板測(cè)試輸出電極之間的電壓，就能夠以電氣方式得 出驅(qū)動(dòng)IC和TFT基板之間的接觸電阻，從而為不良分析工作提供方便。

圖1為液晶顯示結(jié)構(gòu)的構(gòu)成示意圖；圖2為圖1中A-A方向的剖面圖；圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例提供的液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC和液晶顯示器面板的結(jié) 構(gòu)俯視示意圖。
具體實(shí)施方式
隨著液晶顯示技術(shù)的發(fā)展，為追求輕薄的產(chǎn)品，大部分產(chǎn)品都使用C0G(Chip0n Glass，覆晶玻璃)方式接合驅(qū)動(dòng)IC。其整體結(jié)構(gòu)如圖1所示，包括[0031]TFT基板101，其上還有彩膜基板105，是液晶顯示結(jié)構(gòu)的顯示單元；驅(qū)動(dòng)IC 102， 接收時(shí)序控制器輸出數(shù)據(jù)信號(hào)和控制信號(hào)，用來(lái)顯示想要的畫(huà)面；連接部分103，連接驅(qū)動(dòng) 電路板104和驅(qū)動(dòng)IC 102，用來(lái)實(shí)現(xiàn)信號(hào)和電壓的聯(lián)通；驅(qū)動(dòng)電路板104，用于產(chǎn)生必要 的電壓，以及接收外部輸入的信號(hào)，并將其轉(zhuǎn)換為驅(qū)動(dòng)IC 102可接收的信號(hào)和產(chǎn)生相關(guān)時(shí)序。驅(qū)動(dòng)IC 102和TFT基板101的連接方式采用COG方式。如圖2所示，通過(guò)ACF 202(Anisotropic Conductive Film，異方性導(dǎo)電膠膜)將驅(qū)動(dòng)IC 102的電極201與TFT 基板101上對(duì)應(yīng)的電極IOlA進(jìn)行連接(驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極與基板上相對(duì)應(yīng)的電極均以 此方式連接)。ACF 202是一種各向異性導(dǎo)電膠，它是由外部包有絕緣層的金屬小球構(gòu)成，當(dāng)壓力 存在時(shí)，小球被壓破，外面的絕緣層破裂，金屬部分裸漏，從而實(shí)現(xiàn)壓接部分的電氣導(dǎo)通。由 于驅(qū)動(dòng)IC 102上的電極201呈突起狀，當(dāng)使用ACF 202通過(guò)外力進(jìn)行壓接的時(shí)候，只有電 極201突起的部分能夠使ACF 202中粒子202B發(fā)生破裂，而對(duì)于沒(méi)有突起部分壓接的ACF 202粒子202A則保持原狀，保持絕緣。驅(qū)動(dòng)IC 102接收的為電氣信號(hào)，因此對(duì)于信號(hào)傳輸線的阻抗有一定的要求，驅(qū) 動(dòng)IC 102的電極201與TFT基板101電極IOlA是通過(guò)與ACF 202中粒子接觸實(shí)現(xiàn)導(dǎo) 通的，因此在這里存在接觸電阻，這個(gè)電阻會(huì)對(duì)信號(hào)產(chǎn)生影響，特別是像mini-LVDS(mini Low Voltage Differential Signaling，微型低壓差分信號(hào))或者 RSDS (reduced swing differential signal，低擺幅差分信號(hào))這樣的低電壓差分信號(hào)，當(dāng)接觸電阻比較大時(shí)，信 號(hào)電壓會(huì)有衰減，導(dǎo)致驅(qū)動(dòng)IC 102對(duì)電壓數(shù)據(jù)采樣發(fā)生偏差，影響整個(gè)顯示效果。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC，如圖3所示，在驅(qū)動(dòng)IC201上增 加一個(gè)IC測(cè)試輸入電極304和一個(gè)IC測(cè)試輸出電極302，并且用導(dǎo)線303電連接該IC測(cè) 試輸入電極304和IC測(cè)試輸出電極302，該導(dǎo)線303可以設(shè)置在驅(qū)動(dòng)IC 102的內(nèi)部。進(jìn)一步地，導(dǎo)線303的長(zhǎng)度最好為IC測(cè)試輸入電極304和IC測(cè)試輸出電極302 之間的最短距離，如直線距離，這樣可以減少不必要的電阻，使測(cè)試更加精確。當(dāng)然，由于驅(qū) 動(dòng)IC本身體積很小，因此最短距離的導(dǎo)線電阻實(shí)際上可以忽略不計(jì)。此外，IC測(cè)試輸入電極304和IC測(cè)試輸出電極302的高度、大小可以和驅(qū)動(dòng)IC上 的其他電極相同。同樣，對(duì)應(yīng)上述兩個(gè)電極，在TFT基板101上也相應(yīng)設(shè)置基板測(cè)試輸入電極305和 基板測(cè)試輸出電極301。如上所述，IC測(cè)試輸入電極304通過(guò)ACF與基板測(cè)試輸入電極305電連接，IC測(cè) 試輸出電極302通過(guò)ACF與基板測(cè)試輸出電極301電連接。向基板測(cè)試輸入電極305輸入測(cè)試電流，該電流經(jīng)由ACF到達(dá)IC測(cè)試輸入電極 304，再經(jīng)過(guò)導(dǎo)線303到達(dá)IC測(cè)試輸出電極302，然后經(jīng)由ACF到達(dá)基板測(cè)試輸出電極301。 這樣，在輸入測(cè)試點(diǎn)306和輸出測(cè)試點(diǎn)307之間就可以得到一個(gè)電壓值，通過(guò)計(jì)算該電壓值 與測(cè)試電流的比值，可以得到流經(jīng)ACF的電阻值，該電阻值即為IC電極與基板電極之間的 接觸電阻。利用該電阻值可以方便工作人員進(jìn)行不良分析(根據(jù)業(yè)內(nèi)規(guī)定此接觸電阻應(yīng)小 于5歐姆)。進(jìn)一步地，上述IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出電極可以設(shè)置為多對(duì)，如左右各有一對(duì)等等，相應(yīng)的在TFT基板上也需要設(shè)置多對(duì)基板測(cè)試輸入電極和基板測(cè)試輸出電極。這樣，可以通過(guò)測(cè)量得到多個(gè)電阻值，然后選其均值作為接觸電阻，能夠更加精確。由于本實(shí)用新型實(shí)施例是在驅(qū)動(dòng)IC上新增測(cè)試電極進(jìn)行測(cè)試的，所以不會(huì)對(duì)該 驅(qū)動(dòng)IC上原有的電極造成影響，不會(huì)影響驅(qū)動(dòng)IC的正常工作。在本實(shí)用新型實(shí)施例中，為詳細(xì)說(shuō)明驅(qū)動(dòng)IC，同時(shí)說(shuō)明了液晶顯示器面板的相應(yīng) 結(jié)構(gòu)。本實(shí)用新型實(shí)施例提供的液晶顯示器面板，其結(jié)構(gòu)在上述實(shí)施例中已經(jīng)說(shuō)明，在 此不再贅述。以上所述，僅為本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式
，但本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不局限 于此，任何熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本實(shí)用新型揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到變化 或替換，都應(yīng)涵蓋在本實(shí)用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。因此，本實(shí)用新型的保護(hù)范圍應(yīng)所述以權(quán) 利要求的保護(hù)范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求一種液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC，其特征在于，包括IC測(cè)試輸入電極，與TFT基板上的基板測(cè)試輸入電極通過(guò)異方性導(dǎo)電膠膜ACF電連接，用于輸入測(cè)試電流；IC測(cè)試輸出電極，與TFT基板上的基板測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF電連接，用于輸出所述測(cè)試電流；導(dǎo)線，用于電連接所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC，其特征在于，所述導(dǎo)線的長(zhǎng)度為所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極之間的最短距離。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC，其特征在于，所述IC測(cè)試輸入電極 的高度、大小與所述驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極相同；所述IC測(cè)試輸出電極的高度、大小與所述 驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極相同。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)IC包括至少 兩對(duì)IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極，所述至少兩對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試 輸出電極通過(guò)所述ACF與TFT基板上相對(duì)應(yīng)的至少兩對(duì)基板測(cè)試輸入電極和基板測(cè)試輸出 電極電連接；其中，每對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出電極之間通過(guò)導(dǎo)線電連接。
5.一種液晶顯示器面板，包括TFT基板和與其電連接的驅(qū)動(dòng)IC，其特征在于，包括所述TFT基板包括基板測(cè)試輸入電極，與所述驅(qū)動(dòng)IC上的IC測(cè)試輸入電極通過(guò)ACF電連接，用于輸入測(cè) 試電流；基板測(cè)試輸出電極，與所述驅(qū)動(dòng)IC上的IC測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF電連接，用于輸 出所述測(cè)試電流；所述驅(qū)動(dòng)IC包括IC測(cè)試輸入電極，與所述TFT基板上的基板測(cè)試輸入電極通過(guò)所述ACF電連接，用于輸 入測(cè)試電流；IC測(cè)試輸出電極，與所述TFT基板上的基板測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF電連接，用于輸 出所述測(cè)試電流；導(dǎo)線，用于電連接所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器面板，其特征在于，所述導(dǎo)線的長(zhǎng)度為所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極之間的最短距離。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器面板，其特征在于，所述IC測(cè)試輸入電極的高度、 大小與所述驅(qū)動(dòng)IC上的其他電極相同；所述IC測(cè)試輸出電極的高度、大小與所述驅(qū)動(dòng)IC 上的其他電極相同。
8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器面板，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)IC包括至少兩對(duì)IC 測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極，所述至少兩對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出電極 通過(guò)所述ACF與所述TFT基板上相對(duì)應(yīng)的至少兩對(duì)基板測(cè)試輸入電極和基板測(cè)試輸出電極 電連接；其中，每對(duì)IC測(cè)試輸入電極和IC測(cè)試輸出電極之間通過(guò)導(dǎo)線電連接。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型實(shí)施例提供一種液晶顯示器面板驅(qū)動(dòng)IC和液晶顯示器面板，涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域。能夠測(cè)量驅(qū)動(dòng)IC電極與ACF和TFT基板電極之間的接觸電阻，為不良分析工作提供方便。提供的驅(qū)動(dòng)IC包括IC測(cè)試輸入電極，與TFT基板上的基板測(cè)試輸入電極通過(guò)異方性導(dǎo)電膠膜ACF電連接，用于輸入測(cè)試電流；IC測(cè)試輸出電極，與TFT基板上的基板測(cè)試輸出電極通過(guò)所述ACF電連接，用于輸出所述測(cè)試電流；導(dǎo)線，用于電連接所述IC測(cè)試輸入電極和所述IC測(cè)試輸出電極。本實(shí)用新型實(shí)施例用于測(cè)試接觸電阻。
文檔編號(hào)G02F1/13GK201589914SQ200920278010
公開(kāi)日2010年9月22日 申請(qǐng)日期2009年12月4日 優(yōu)先權(quán)日2009年12月4日
發(fā)明者于堯 申請(qǐng)人:北京京東方光電科技有限公司