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      Lcd屏幕黑屏測試方法

      文檔序號:2699996閱讀:386來源:國知局
      Lcd屏幕黑屏測試方法
      【專利摘要】一種LCD屏幕黑屏測試方法,包括以下步驟:將LCD屏幕固定后對LCD屏幕進(jìn)行振動測試;檢測經(jīng)過振動測試后的LCD屏幕是否正常,若是,則對所述LCD屏幕進(jìn)行沖擊測試;上述LCD屏幕黑屏測試方法通過對待檢測LCD屏幕進(jìn)行振動測試及沖擊測試,模擬在實際使用過程中LCD屏幕因跌落、運輸而產(chǎn)生振動進(jìn)而導(dǎo)致LCD屏幕因振動損壞的情況及因外力撞擊LCD屏幕而導(dǎo)致LCD屏幕因受沖擊而導(dǎo)致?lián)p壞的情況,從而能夠檢測出LCD屏幕在經(jīng)受振動及沖擊后是否會出現(xiàn)黑屏現(xiàn)象,進(jìn)而檢測出符合要求的LCD屏幕,避免因振動及沖擊就損壞的LCD屏幕流入市場。
      【專利說明】LCD屏幕黑屏測試方法

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本發(fā)明涉及IXD屏幕測試技術(shù),特別是涉及一種IXD屏幕黑屏測試方法。

      【背景技術(shù)】
      [0002]LCD (液晶顯示器)是Liquid Crystal Display的簡稱,LCD由兩塊玻璃板構(gòu)成,厚約1_,其間由包含有液晶材料的5μπι均勻間隔隔開。因為液晶材料本身并不發(fā)光,所以在顯示屏兩邊都設(shè)有作為光源的燈管,而在液晶顯示屏背面有一塊背光板(或稱勻光板)和反光膜,背光板是由熒光物質(zhì)組成的可以發(fā)射光線,其作用主要是提供均勻的背景光源。
      [0003]LCD背景光源種類主要有CCFL背光源和LED背光源,CCFL是Cold CathodeFluorescent Lamp簡稱,中文譯名為冷陰極熒光燈管,具有高功率、高亮度、低能耗等優(yōu)點,廣泛應(yīng)用于顯示器、照明等領(lǐng)域。
      [0004]冷陰極熒光燈管是一種新型的照明光源;由于CCFL燈管具有燈管細(xì)小、結(jié)構(gòu)簡單、燈管表面溫升小、燈管表面亮度高、易加工成各種形狀(直管形、L形、U型、環(huán)形等);使用壽命長、顯色性好、發(fā)光均勻等優(yōu)點;所以也是當(dāng)前TFT-LCD(真彩液晶屏)理想的光源。
      [0005]冷陰極燈管在一玻璃管內(nèi)封入惰性氣體Ne+Ar混合氣體,其中含有微量水銀蒸汽(數(shù)mg),并于玻璃內(nèi)壁涂布熒光體,于二電極間加上一高壓高頻電場,則水銀蒸汽在此電場內(nèi)被激發(fā)即產(chǎn)生釋能發(fā)光效應(yīng),放出波長253.7nm的紫外線光,而內(nèi)壁的熒光體原子則因紫外線激發(fā)而提升其能階,當(dāng)原子返回原低能階時放射出可見光。
      [0006]隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,IXD的應(yīng)用越來越廣泛,IXD在經(jīng)過生產(chǎn)、搬運和運輸過程后,用戶打開顯示屏,經(jīng)常發(fā)現(xiàn)LCD無法啟動現(xiàn)象。此現(xiàn)象很大程度上都是由于CCFL在各個環(huán)節(jié)中受沖擊環(huán)境破壞,導(dǎo)致CCFL波管破裂或者出現(xiàn)CCFL兩端電極松脫異常,最終導(dǎo)致了 CCFL無法正常啟動,IXD出現(xiàn)無法點亮異常,造成一定的經(jīng)濟(jì)損失和客戶流失。造成這種狀況的主要原因是沒有能夠在產(chǎn)品上市前就檢測出LCD黑屏異常,并且未能提供可靠的數(shù)據(jù)。


      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0007]基于此,有必要提供一種能夠檢測IXD長期使用是否會出現(xiàn)黑屏現(xiàn)象的IXD屏幕黑屏測試方法。
      [0008]一種IXD屏幕黑屏測試方法,包括以下步驟:
      [0009]將IXD屏.固定后對IXD屏.進(jìn)彳丁振動測試;
      [0010]檢測經(jīng)過振動測試后的LCD屏幕是否正常,若是,則對所述LCD屏幕進(jìn)行沖擊測試;
      [0011]所述沖擊測試的具體步驟包括:
      [0012]設(shè)定機(jī)械沖擊測試平臺的沖擊波;
      [0013] 將所述LCD屏幕固定于所述機(jī)械沖擊測試平臺上,控制所述機(jī)械沖擊測試平臺按照設(shè)定的沖擊波大小沖擊所述LCD屏幕;
      [0014]所述沖擊波大小為45G/llms_55G/llms。
      [0015]在其中一個實施例中,對所述LCD屏幕的X軸向、Y軸向及Z軸向分別進(jìn)行振動測試,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常。
      [0016]在其中一個實施例中,所述振動測試的具體步驟包括:
      [0017]設(shè)定振動測試平臺的振動頻率及振動時間;
      [0018]將所述LCD屏幕固定于所述振動測試平臺上,控制所述振動測試平臺按照預(yù)設(shè)的振動頻率振動所述LCD屏.;
      [0019]所述振動頻率為10-300HZ,所述振動加速度為2.0G,所述振動時間55分鐘-65分鐘。
      [0020]在其中一個實施例中,所述振動時間為60分鐘。
      [0021]在其中一個實施例中,對所述LCD屏幕的各個軸向采用所述機(jī)械沖擊測試平臺沖擊,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常。
      [0022]在其中一個實施例中,對所述IXD屏幕的±X軸向、土Y軸向及土Z軸向采用所述機(jī)械沖擊測試平臺沖擊,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常。
      [0023]在其中一個實施例中,所述沖擊波大小為50G/llms。
      [0024]在其中一個實施例中,在照度2001ux下檢測所述IXD屏幕是否正常,并記錄檢測結(jié)果。
      [0025]在其中一個實施例中,在照度2001ux下通過電性檢測所述IXD屏幕是否正常啟動,并記錄檢測結(jié)果。
      [0026]上述LCD屏幕黑屏測試方法通過對待檢測LCD屏幕進(jìn)行振動測試及沖擊測試,模擬在實際使用過程中LCD屏幕因跌落、運輸而產(chǎn)生振動進(jìn)而導(dǎo)致LCD屏幕因振動損壞的情況及因外力撞擊LCD屏幕而導(dǎo)致LCD屏幕因受沖擊而導(dǎo)致?lián)p壞的情況,從而能夠檢測出LCD屏幕在經(jīng)受振動及沖擊后是否會出現(xiàn)黑屏現(xiàn)象,進(jìn)而檢測出符合要求的LCD屏幕,避免因振動及沖擊就損壞的LCD屏幕流入市場。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0027]圖1為IXD屏幕黑屏測試方法的流程圖。

      【具體實施方式】
      [0028]如圖1所示,為IXD屏幕黑屏測試方法的流程圖。
      [0029]在對LCD屏幕進(jìn)行測試之前,將抽取LCD屏幕樣品(樣品數(shù)量3pcs)放在照度為2001ux的環(huán)境下,通過電性檢查IXD屏幕是否存在無法啟動異常,并分拆IXD屏幕,檢查CCFL是否存在輕微裂痕,電極端是否存在松脫跡象,并記錄檢測結(jié)果。對LCD屏幕進(jìn)行常規(guī)品質(zhì)檢查,確認(rèn)LCD屏幕測試前狀況,保證試驗有效性。
      [0030]一種IXD屏幕黑屏測試方法,包括以下步驟:
      [0031]步驟SllOdf IXD屏幕固定后對IXD屏幕進(jìn)行振動測試。
      [0032]振動測試的具體步驟包括:
      [0033]①設(shè)定振動測試平臺的振動頻率及振動時間。
      [0034]②將所述LCD屏幕固定于所述振動測試平臺上,控制所述振動測試平臺按照預(yù)設(shè)的振動頻率振動所述LCD屏幕。
      [0035]所述振動頻率為10-300HZ,所述振動加速度為2.0G,所述振動時間55分鐘-65分鐘。優(yōu)選地,振動時間為60分鐘。
      [0036]對所述LCD屏幕的X軸向、Y軸向及Z軸向分別進(jìn)行振動測試,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常。
      [0037]在其中一個實施例中,對LCD屏幕進(jìn)行振動測試的具體步驟為:采用LCD屏幕固定工裝將LCD屏幕固定在固定工裝上,確保LCD固定牢固可靠,再將LCD屏幕固定工裝固定在振動測試平臺。設(shè)置振動測試條件:2.0G (振動加速度)、10-300Hz (振動頻率)、60min (振動時間)。開啟振動測試平臺進(jìn)行振動測試。對LCD屏幕進(jìn)行固定并進(jìn)行單一軸向的振動測試,用于確認(rèn)LCD屏幕背光模組CCFL單軸向抗擠壓能力。
      [0038]若測試后LCD屏幕背光模組未發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)黑屏、CCFL未出現(xiàn)破裂、電極端松脫等異常。則分別進(jìn)行測試樣品三個軸向(X/Y/Z)振動測試。通過IXD屏幕三個軸向測試,確保測試LCD屏幕的CCFL遭受LCD屏幕擠壓程度在各個方向的薄弱點都得到體現(xiàn)。其中,在每個軸向振動測試完成后,若檢測LCD屏幕不正常,則終止振動測試。
      [0039]步驟S120,檢測經(jīng)過振動測試后的IXD屏幕是否正常,若是,則對所述IXD屏幕進(jìn)行沖擊測試。
      [0040]沖擊測試的具體步驟包括:
      [0041 ] ①設(shè)定機(jī)械沖擊測試平臺的沖擊波。
      [0042]②將所述LCD屏幕固定于所述機(jī)械沖擊測試平臺上,控制所述機(jī)械沖擊測試平臺按照設(shè)定的沖擊波大小沖擊所述LCD屏幕。
      [0043]所述沖擊波大小為45G/llms-55G/llms。優(yōu)選地,沖擊波大小為50G/llms。
      [0044]設(shè)定沖擊波的具體步驟為:根據(jù)LCD屏幕和固定工裝的重量采用相同重量代替物固定于沖擊測試平臺。然后開啟沖擊測試平臺,通過調(diào)整沖擊測試平臺高度或者更換緩沖材料,試打半正弦波,使其產(chǎn)生一個50G/llms沖擊波。設(shè)定沖擊波是為了對沖擊測試機(jī)臺的沖擊能量進(jìn)行確認(rèn),確保后續(xù)測試有效性。
      [0045]對所述LCD屏幕的各個軸向采用所述機(jī)械沖擊測試平臺沖擊,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常,并記錄檢測結(jié)果。
      [0046]具體地,對所述IXD屏幕的±X軸向、土Y軸向及土Z軸向采用所述機(jī)械沖擊測試平臺沖擊,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常,并記錄檢測結(jié)果O
      [0047]在其中一個實施例中,對LCD屏幕進(jìn)行沖擊測試的具體步驟包括:將LCD屏幕固定在固定工裝后放置于機(jī)械沖擊平臺。采用之前試打得出的機(jī)臺設(shè)置參數(shù),對LCD屏幕進(jìn)行一個50G/llms大小的沖擊測試。測試完畢后,將LCD屏幕取下,對LCD屏幕進(jìn)行檢測,若發(fā)現(xiàn)異常則終止沖擊測試。
      [0048]若測試后LCD屏幕背光模組未發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)黑屏、CCFL未出現(xiàn)破裂、電極端松脫等異常,則對IXD屏幕的六個軸向(±X/土Y/±Z)沖擊測試。通過IXD屏幕六個軸向測試,確保LCD屏幕在各個方向薄弱點都得到體現(xiàn)。
      [0049]基于上述所有實施例,在照度2001ux下檢測所述IXD屏幕是否正常,并記錄檢測結(jié)果。
      [0050]在照度2001ux下通過電性檢測所述IXD屏幕是否正常啟動,并記錄檢測結(jié)果。
      [0051]針對IXD屏幕測試過程中出現(xiàn)的異常,根據(jù)異常原因?qū)XD屏幕進(jìn)行整改。對整改后的LCD屏幕按照上述步驟測試,測試完畢后,檢測LCD屏幕是否正常,并記錄結(jié)果。對整改后的LCD屏幕進(jìn)行測試,檢驗整改對策的有效性,為提供優(yōu)質(zhì)LCD屏幕提供依據(jù)。
      [0052]上述LCD屏幕黑屏測試方法通過對待檢測LCD屏幕進(jìn)行振動測試及沖擊測試,模擬在實際使用過程中LCD屏幕因跌落、運輸而產(chǎn)生振動進(jìn)而導(dǎo)致LCD屏幕因振動損壞的情況及因外力撞擊LCD屏幕而導(dǎo)致LCD屏幕因受沖擊而導(dǎo)致?lián)p壞的情況,從而能夠檢測出LCD屏幕在經(jīng)受振動及沖擊后是否會出現(xiàn)黑屏現(xiàn)象,進(jìn)而檢測出符合要求的LCD屏幕,避免因振動及沖擊就損壞的LCD屏幕流入市場。
      [0053]目前由于CCFL為易脆物品,在其生產(chǎn)和運輸過程中都有額外的軟質(zhì)包裝物進(jìn)行包裝保護(hù),確保CCFL不因為受到外力作用導(dǎo)致破裂異常,在CCFL裝配LCD后,與CCFL相接觸導(dǎo)光板,在生產(chǎn)和搬運過程中容易受到外力作用導(dǎo)致導(dǎo)光板擠壓CCFL,最終導(dǎo)致了 CCFL破裂或者燈管電極松脫,目前采用單純的包裝跌落來測試導(dǎo)光板對CCFL擠壓度,這種測試方法簡單但并不利于找出產(chǎn)品的薄弱點并進(jìn)行改善。通過上述LCD屏幕黑屏測試方法,可以快速檢測出LCD屏幕在結(jié)構(gòu)設(shè)計上的缺陷,并通過設(shè)計更改,避免存在結(jié)構(gòu)設(shè)計缺陷的LCD屏幕出現(xiàn)在市場上,減少后續(xù)因為產(chǎn)品經(jīng)受外力作用可能會出現(xiàn)LCD屏幕背光不亮等不良問題,降低售后維修成本,為客戶提供可靠的產(chǎn)品。
      [0054]采用上述LCD屏幕黑屏測試方法對一批LCD屏幕進(jìn)行測試的具體步驟如下:
      [0055]從生產(chǎn)樣機(jī)中抽取待測試IXD屏幕3臺,經(jīng)過常規(guī)品質(zhì)檢查,若未發(fā)現(xiàn)異常,則進(jìn)行后續(xù)測試步驟。將LCD屏幕固定在振動測試機(jī)臺,按照預(yù)設(shè)的振動頻率、振動加速度計振動時間對LCD屏幕進(jìn)行振動測試。具體地,分別對LCD屏幕的X軸向、Y軸向及Z軸向分別進(jìn)行振動測試。在每次振動測試完成后,檢測LCD屏幕是否正常,并記錄檢測結(jié)果。若出現(xiàn)IXD屏幕異常,則終止振動測試。
      [0056]對經(jīng)過振動測試后依然正常的IXD屏幕進(jìn)行沖擊測試。將IXD屏幕放置于沖擊測試平臺,按照預(yù)設(shè)的沖擊波對LCD屏幕進(jìn)行沖擊測試。具體地,±X軸向、土Y軸向及±2軸向采用所述機(jī)械沖擊測試平臺沖擊。LCD屏幕的每完成一次沖擊測試,對LCD屏幕進(jìn)行檢測,若LCD屏幕出現(xiàn)異常,則終止沖擊測試,若LCD屏幕正常,則繼續(xù)沖擊測試,并記錄檢測結(jié)果。其中,檢測LCD屏幕具體包括:將LCD屏幕拆開,對LCD屏幕內(nèi)部CCFL品質(zhì)進(jìn)行檢查。若經(jīng)過振動測試及沖擊測試,最終未發(fā)現(xiàn)LCD屏幕出現(xiàn)異常,則認(rèn)為該LCD屏幕滿足產(chǎn)品生產(chǎn)、運輸、使用各個環(huán)境搬運的要求。
      [0057]采用上述IXD屏幕黑屏測試方法,通過模擬IXD屏幕的CCFL在不同的環(huán)境下受到導(dǎo)光板各個方面的擠壓,最終暴露產(chǎn)品產(chǎn)生黑屏異常的薄弱點。這樣可以有效地篩選出IXD屏幕在設(shè)計階段結(jié)構(gòu)設(shè)計可能存在的缺陷。結(jié)構(gòu)設(shè)計缺陷可導(dǎo)致LCD屏幕無法正常工作最終影響客戶使用。通過LCD屏幕黑屏異常相關(guān)測試,尋找出產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計的薄弱點,并經(jīng)過技術(shù)整改和再驗證的通過,可為市場提供優(yōu)質(zhì)LCD屏幕提供依據(jù),使CCFL能在承受一定的外界應(yīng)力后,仍具有較高的品質(zhì)水準(zhǔn),滿足用戶使用的需求。
      [0058]以上所述實施例僅表達(dá)了本發(fā)明的幾種實施方式,其描述較為具體和詳細(xì),但并不能因此而理解為對本發(fā)明專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進(jìn),這些都屬于本發(fā)明的保護(hù)范圍。因此,本發(fā)明專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
      【權(quán)利要求】
      1.一種IXD屏幕黑屏測試方法,包括以下步驟: 將LCD屏幕固定后對LCD屏幕進(jìn)行振動測試; 檢測經(jīng)過振動測試后的LCD屏幕是否正常,若是,則對所述LCD屏幕進(jìn)行沖擊測試; 所述沖擊測試的具體步驟包括: 設(shè)定機(jī)械沖擊測試平臺的沖擊波; 將所述LCD屏幕固定于所述機(jī)械沖擊測試平臺上,控制所述機(jī)械沖擊測試平臺按照設(shè)定的沖擊波大小沖擊所述LCD屏.; 所述沖擊波大小為45G/llms-55G/llms。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,對所述LCD屏幕的X軸向、Y軸向及Z軸向分別進(jìn)行振動測試,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,所述振動測試的具體步驟包括: 設(shè)定振動測試平臺的振動頻率及振動時間; 將所述LCD屏幕固定于所述振動測試平臺上,控制所述振動測試平臺按照預(yù)設(shè)的振動頻率振動所述LCD屏.; 所述振動頻率為10-300HZ,所述振動加速度為2.0G,所述振動時間55分鐘-65分鐘。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的LCD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,所述振動時間為60分鐘。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,對所述LCD屏幕的各個軸向采用所述機(jī)械沖擊測試平臺沖擊,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述LCD屏幕是否正常。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的LCD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,對所述LCD屏幕的±X軸向、土 Y軸向及土Z軸向采用所述機(jī)械沖擊測試平臺沖擊,并在每個軸向的沖擊測試完成后,檢測所述IXD屏幕是否正常。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,所述沖擊波大小為50G/llms。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1-7所述的LCD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,在照度2001ux下檢測所述IXD屏幕是否正常,并記錄檢測結(jié)果。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的IXD屏幕黑屏測試方法,其特征在于,在照度2001ux下通過電性檢測所述LCD屏幕是否正常啟動,并記錄檢測結(jié)果。
      【文檔編號】G02F1/13GK104076536SQ201310110243
      【公開日】2014年10月1日 申請日期:2013年3月29日 優(yōu)先權(quán)日:2013年3月29日
      【發(fā)明者】周明杰, 王永清 申請人:深圳市海洋王照明工程有限公司, 海洋王照明科技股份有限公司
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