本申請涉及氧化鋁產(chǎn)品的制備,尤其涉及一種具有高徑厚比的氧化鋁薄片及制備方法。
背景技術(shù):
1、片狀氧化鋁使一種性能優(yōu)良的功能粉體材料,其具有明顯的鱗狀結(jié)構(gòu)特征和較大的徑厚比,屬于α-al2o3。片狀氧化鋁具有高硬度、高熔點、優(yōu)良的耐腐蝕、耐高溫和導熱性能高的優(yōu)點,可以被廣泛應用于精細磨料拋光、導熱填料、珠光顏料、微電子加工、功能涂料等領域。其中磨料拋光所用的片狀氧化鋁具有堅硬的晶體結(jié)構(gòu)和平齊的板狀結(jié)構(gòu),并且片狀氧化鋁粉體的微粒排列整齊,可以增大片狀氧化鋁磨料與產(chǎn)品之間的磨擦力,這無疑加快了片狀氧化鋁磨料的磨削速度。另外與常規(guī)的納米氧化鋁相比,具有平整光滑片形表面的片狀氧化鋁對于被磨對象(如半導體硅晶片,智能手機外殼等等)來說不易劃傷,產(chǎn)品的合格品率可因此提高10%~15%。
2、目前片狀氧化鋁的制備方法主要有固相燒結(jié)法、水熱法、熔鹽法、溶膠-凝膠法等。但是這些方法所得的片狀氧化鋁的徑厚比難以達到40以上,這使得目前片狀氧化鋁的應用局限性較大。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本申請?zhí)峁┝艘环N具有高徑厚比的氧化鋁薄片及制備方法,以解決如下技術(shù)問題:如何提高氧化鋁薄片的徑厚比。
2、第一方面,本申請?zhí)峁┝艘环N具有高徑厚比的氧化鋁薄片的制備方法,所述制備方法的原料包括鋁源漿體,所述鋁源漿體的化學成分包括氫氧化鋁和氧化鈉,所述氫氧化鋁的質(zhì)量濃度為100g/l~200g/l,所述氧化鈉的質(zhì)量濃度為10g/l~5g/l;所述制備方法包括:
3、將助劑和所述鋁源漿體進行攪拌混合,以得到分散體系;
4、將所述分散體系進行水熱反應,以得到前驅(qū)體漿料;
5、將所述前驅(qū)體漿料進行干燥,以得到片狀前驅(qū)體粉體;
6、將熔鹽和所述片狀前驅(qū)體粉體進行焙燒,以得到焙燒料;以及
7、將所述焙燒料進行純化處理,以得到氧化鋁薄片;
8、其中,所述助劑包括晶體生長調(diào)節(jié)劑,所述晶體生長調(diào)節(jié)劑的重量m1和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m1:m2=(0.2~15):100;
9、所述熔鹽的質(zhì)量m3和所述片狀前驅(qū)體粉體的重量m4滿足關(guān)系式:m3:m4=(1:4)~(1:6)。
10、可選的,所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括磷酸鹽和/或鈦鹽;在所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括磷酸鹽的情況下,所述磷酸鹽的重量m5和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m5:m2=(0.1~5):100;
11、在所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括鈦鹽的情況下,所述鈦鹽的重量m6和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m6:m2=(0.1~1):100。
12、可選的,在所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括磷酸鹽的情況下,所述磷酸鹽包括五氧化二磷和/或十二水磷酸鈉;
13、在所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括鈦鹽的情況下,所述鈦鹽包括二氧化鈦和/或硫酸氧鈦。
14、可選的,所述助劑還包括分散劑,所述分散劑的重量m7和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m7:m2=(0.01~0.5):100;
15、所述分散劑的種類包括以下至少一種:
16、聚乙二醇、羧甲基纖維素鈉、聚丙烯酸鹽和馬來酸鈉。
17、可選的,所述助劑還包括導向劑,所述導向劑的重量m8和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m8:m2=(0.5~10):100;
18、所述導向劑的種類包括擬薄水鋁石和/或勃姆石。
19、可選的,所述熔鹽的種類包括以下至少一種:
20、硫酸鈉、硫酸鉀、氯化鈉、氯化鉀,氟化鈉和氟化鉀。
21、可選的,所述水熱反應包括水熱升溫段和水熱保溫段,所述水熱升溫段的終點溫度為170℃~230℃,所述水熱升溫段的升溫速率為1℃/min~3℃/min,所述水熱保溫段的時間為0h~4h。
22、可選的,所述焙燒的溫度為1100℃~1350℃,所述焙燒的時間為2h~5h。
23、可選的,所述干燥的溫度<230℃。
24、第二方面,本申請?zhí)峁┝艘环N具有高徑厚比的氧化鋁薄片,所述氧化鋁薄片由第一方面所述的制備方法得到的,所述氧化鋁薄片的徑厚比>40。
25、本申請實施例提供的上述技術(shù)方案與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點:
26、本申請實施例提供的一種具有高徑厚比的氧化鋁薄片的制備方法,所述制備方法的原料包括鋁源漿體,所述鋁源漿體的化學成分包括氫氧化鋁和氧化鈉,所述氫氧化鋁的質(zhì)量濃度為100g/l~200g/l,所述氧化鈉的質(zhì)量濃度為10g/l~5g/l;所述制備方法包括:將助劑和所述鋁源漿體進行攪拌混合,以得到分散體系;將所述分散體系進行水熱反應,以得到前驅(qū)體漿料;將所述前驅(qū)體漿料進行干燥,以得到片狀前驅(qū)體粉體;將熔鹽和所述片狀前驅(qū)體粉體進行焙燒,以得到焙燒料;將所述焙燒料進行純化處理,以得到氧化鋁薄片;其中,所述助劑包括晶體生長調(diào)節(jié)劑,所述晶體生長調(diào)節(jié)劑的重量m1和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m1:m2=(0.2~15):100;所述熔鹽的質(zhì)量m3和所述片狀前驅(qū)體粉體的重量m4滿足關(guān)系式:m3:m4=(1:4)~(1:6)。該制備方法所使用的鋁源漿體滿足:鋁源漿體的化學成分可以包括氫氧化鋁和氧化鈉,以及氫氧化鋁的質(zhì)量濃度可以是100g/l~200g/l,所述氧化鈉的質(zhì)量濃度可以是10g/l~5g/l,可以促使該鋁源漿體有足量的氫氧化鋁和氧化鈉,從而方便后續(xù)助劑充分地與鋁源漿體結(jié)合,以得到分散體系;另外助劑可以包括晶體生長調(diào)節(jié)劑,以及晶體生長調(diào)節(jié)劑的重量m1和鋁源漿體中氫氧化鋁的總重量m2可以滿足關(guān)系式:m1:m2=(0.2~15):100,在后續(xù)的水熱反應過程中可以使用分散體系中助劑的晶體生長調(diào)節(jié)劑來調(diào)節(jié)鋁源漿體中氫氧化鋁的平坦面的厚度,并誘導氫氧化鋁的平坦面的結(jié)晶生長,以提高氧化鋁的平坦面的徑厚比,從而可以提高氧化鋁薄片的徑厚比;另外熔鹽的質(zhì)量m3和片狀前驅(qū)體粉體的重量m4可以滿足關(guān)系式:m3:m4=(1:4)~(1:6),可以在焙燒階段提供足量的熔鹽,足量的熔鹽可以控制片狀前驅(qū)體粉體在焙燒階段的孿晶和附聚程度,從而可以提高片狀前驅(qū)體粉體的平坦面的徑厚比,進而提高氧化鋁薄片的徑厚比。
1.一種具有高徑厚比的氧化鋁薄片的制備方法,其特征在于,所述制備方法的原料包括鋁源漿體,所述鋁源漿體的化學成分包括氫氧化鋁和氧化鈉,所述氫氧化鋁的質(zhì)量濃度為100g/l~200g/l,所述氧化鈉的質(zhì)量濃度為10g/l~5g/l;所述制備方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括磷酸鹽和/或鈦鹽;在所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括磷酸鹽的情況下,所述磷酸鹽的重量m5和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m5:m2=(0.1~5):100;
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,在所述晶體生長調(diào)節(jié)劑包括磷酸鹽的情況下,所述磷酸鹽包括五氧化二磷和/或十二水磷酸鈉;
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述助劑還包括分散劑,所述分散劑的重量m7和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m7:m2=(0.01~0.5):100;
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述助劑還包括導向劑,所述導向劑的重量m8和所述氫氧化鋁的重量m2滿足關(guān)系式:m8:m2=(0.5~10):100;
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述熔鹽的種類包括以下至少一種:
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述水熱反應包括水熱升溫段和水熱保溫段,所述水熱升溫段的終點溫度為170℃~230℃,所述水熱升溫段的升溫速率為1℃/min~3℃/min,所述水熱保溫段的時間為0h~4h。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述焙燒的溫度為1100℃~1350℃,所述焙燒的時間為2h~5h。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述干燥的溫度<230℃。
10.一種具有高徑厚比的氧化鋁薄片,其特征在于,所述氧化鋁薄片由權(quán)利要求1~9任一項所述的制備方法得到的,所述氧化鋁薄片的徑厚比>40。