專利名稱：免刀割手拆易啟封雙蓋錯位試卷袋的制作方法
技術(shù)領域：
本實用新型屬于試卷袋技術(shù)領域，具體涉及一種容易拆封的試卷袋。
背景技術(shù)：
歷來在全國大學英語四六級考試(CET4-6)、高考和研究生入學考試等重要大型會 考中，考試卷的密封和啟開是考試安全工作過程中的關鍵點，目前使用的是公知的雙蓋型 保密試卷袋(ZL92225403. 6)，其特點是在試卷袋的開口一端有兩個蓋，一蓋折疊在內(nèi)備用， 一個蓋留在外作首次封啟用，得益于其保密性較好的特點，因此，得到了廣泛的應用。監(jiān)考 過程中每次都會有經(jīng)驗不豐富的老師，常常遭遇考前拆封試卷袋的坎有人啟封不小心割 破手、或新手誤拆試卷袋無雙蓋端封口、或小刀切割試卷袋用力不當割破試卷，或割壞試卷 袋的內(nèi)蓋導致影響二次封貼密封條。究其原因有二 一是需用小刀這樣的危險輔助工具開 啟試卷袋，二是試卷袋兩端無明顯啟封端標識。而這一工作的順利完成，需要熟練的技巧和 經(jīng)驗。出于對雙蓋型保密試卷袋開啟用刀的嚴重弊端改善的需要，1993年以來，相繼出 現(xiàn)了幾種新專利，關鍵創(chuàng)新思想集中在雙蓋的蓋口部位添加輔助開啟工具。共同之處是不 用刀這樣的輔助工具，具有啟開方便的特點，但不同程度存在以下不足之處例如檢索到中國專利(ZL00241187.3)也是雙蓋型試卷袋，它采用雙蓋處內(nèi)嵌塑 料刀來實現(xiàn)不用刀的功能，但存在制造工藝復雜，生產(chǎn)成本增加的問題、在首次裝卷密封工 作中，存在工作技巧要求增加，封條易被塑料刀硌破或戳破以及搬運中塑料刀被撞落等問 題；又例如一個中國專利(ZL200620122613.8)采用內(nèi)嵌拉線來避免用刀開啟目的，但存在 首次封條將拉線的拉手覆蓋而不易在首次啟封時發(fā)現(xiàn)且制作工藝復雜的問題；再例如一個 中國專利(ZL200620034076. 7)采用封閉式拉線來代替用刀割的弊端，但其在試卷袋裝卷、 搬拿時存在拉線易勾脫且制作工藝復雜的問題；還有一個中國專利(ZL200620167960. 8) 采用雙面膠實現(xiàn)粘貼，但其在空氣濕潤的前提下，可能不能保證只有一次啟封的特性而影 響保密性，且其內(nèi)嵌塑料帶作輔助啟封工具，也存在首次封條將膠帶的拉手覆蓋而不易在 首次啟封時發(fā)現(xiàn)同時制作工藝復雜的問題。從首次密封性程度和結(jié)構(gòu)簡單性看，都沒超雙 蓋型保密試卷袋。發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的是提供一種不改變首次裝卷密封工作技能和密封性的前提下， 給出一種免刀割手拆易啟封雙蓋錯位試卷袋，不用任何輔助工具同時也無需技巧就實現(xiàn)開 啟方便，且制作簡單，密封效果好的試卷袋，以克服現(xiàn)有技術(shù)的不足。從本實用新型試卷袋打開的外蓋向袋內(nèi)看，可看到內(nèi)蓋錯位，內(nèi)陷在袋體內(nèi)，首次 裝卷人員按原來操作習慣將試卷放入袋體內(nèi)，蓋上外蓋，貼密封條。試卷袋拆封人在考場看的本實用新型的試卷袋，在印有考試類型的文字說明且無 封條的袋體正面，僅有一端的兩角處印有拆封斜線和動作方向線，斜線處印有示意語或示 意圖“請從此處沿線撕開后，用手指插入豁口，挑割開袋體”，試卷袋拆封人可以分別從兩側(cè) 斜線處撕開一角，將手指按說明操作后，割開袋體的頂邊，看到內(nèi)蓋和試卷陷在下邊完好無
3損。考試結(jié)束后，從袋內(nèi)翻出內(nèi)蓋，將試卷裝入后，用內(nèi)蓋蓋上，用封條再次封好。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型的免刀割手拆易啟封雙蓋錯位試卷袋，包括試卷袋 本體，試卷袋啟封端設有雙蓋，雙蓋為雙折對開式，內(nèi)蓋根線相對于外蓋根線下陷，試卷袋 本體啟封端有拆封刻斷痕，試卷袋本體設有啟封端標識區(qū)域。所說內(nèi)蓋根線相對于外蓋根線下陷，其要點是在原雙蓋型試卷袋基礎上針對雙蓋 部位，作尺寸和位置的改動。采用袋體長度增加一個成人手指寬度的量，但內(nèi)蓋根部應內(nèi)陷 相應的深度，而內(nèi)蓋舌長應增加同樣的量，以保證外翻時能蓋貼到原來的位置。所說拆封刻斷痕，有兩處。一處在袋體啟封端的外蓋對折處，便于手指割開外蓋； 另一處在外蓋和試卷袋本體交接處兩側(cè)設有V字形刻斷痕，便于撕開豁口。為便于識別啟封端(雙蓋端)，在試卷袋本體正面啟封端兩角處設置供印刷標記 的區(qū)域，即斷痕本身可加印粗線，附近可加印作醒目方式的簡單操作提示圖文，而單蓋端不 設任何標識區(qū)域。本實用新型的有益效果是，克服現(xiàn)有雙蓋型試卷袋啟開用刀和無明顯啟封端(雙 蓋端)標識的不足。產(chǎn)品制造時不需另行添加任何開啟輔助物，拆封時容易發(fā)現(xiàn)啟封端，直 接用手撕開一個豁口，勿需費力便可用手指快速挑割開試卷袋，且撕痕整齊。避免使用小刀 等輔助工具拆袋而造成的傷手、或內(nèi)外蓋一起割掉、或誤割了單蓋端；且不影響原來首次裝 卷工作速度。免刀割手拆易啟封雙蓋錯位試卷袋從試卷印好到卷交到改卷處時，只能拆開 一次，剛好符合試卷保密要求。
圖1是本實用新型的產(chǎn)品正面俯視圖。圖2是本實用新型袋體雙蓋端外蓋打開時看到的V字形刻斷痕正面局部圖。圖3是本實用新型袋體雙蓋端外蓋封閉時看到的V字形刻斷痕正面局部圖。圖4是本實用新型雙蓋端首次封好后未貼密封條時袋體背面俯視圖。其中的1為外蓋刻斷痕，2為外蓋，3為內(nèi)蓋，4為試卷袋本體，5為V字形刻斷痕，6 為內(nèi)蓋根線。
具體實施方式
以下通過對本實用新型具體實施方式
的描述說明，但不限制本實用新型。本實用新型是在原雙蓋型試卷袋基礎上針對雙蓋部位，作尺寸和位置的改動，其 他部位尺寸可同原來雙蓋型試卷袋對應尺寸。如圖1所示，試卷袋本體4打開外蓋2后，從 剖面線露出部分可看到內(nèi)折備用的下陷內(nèi)蓋3，內(nèi)蓋根線6相對于外蓋根線應內(nèi)陷的深度 (約15mm)，為相應試卷袋本體增加的長度，而內(nèi)蓋3舌長增加同樣的量，以保證內(nèi)蓋3外翻 時能蓋貼到相應的位置。外蓋根線折痕處，中間部分設外蓋刻斷痕1。如圖2所示，在啟封端的外蓋2和試卷袋本體4交接處兩側(cè)，設V字形刻斷痕5，V 字張開的內(nèi)角應適當小。為便于識別啟封端(雙蓋端)，在試卷袋本體4正面啟封端兩角區(qū)域設為啟封端標 識用區(qū)域，供印刷醒目方式的簡單操作提示圖文和V字形刻斷痕5加印粗線，如圖2、圖3所 示。單蓋端不設任何標識區(qū)域。當試卷袋本體4背面首次密封貼好密封帶后，在試卷袋本 體4正面，通過啟封端標識區(qū)域發(fā)現(xiàn)啟封端兩角的拆封刻斷痕5，用手撕開豁口后，伸入手 指沿外蓋刻斷痕1可容易挑割開試卷袋外蓋2的封口。所撕豁口不得超過內(nèi)蓋根線6，故V字口高度應適當，如圖3所示。 如圖4所示，是雙蓋端首次封好后未貼密封條時袋體背面俯視圖。從剖面線露出 部分可看到下陷內(nèi)折備用的內(nèi)蓋，雙蓋根線呈錯開布局。
權(quán)利要求一種免刀割手拆易啟封雙蓋錯位試卷袋，試卷袋啟封端設有雙蓋，其特征是內(nèi)蓋根線相對于外蓋根線下陷，試卷袋本體啟封端有拆封刻斷痕，試卷袋本體正面設有啟封端標識。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的免刀割手拆易啟封雙蓋錯位試卷袋，其特征是所說拆封刻斷 痕，設置在外蓋對折處，以及在外蓋和袋體交接處。
專利摘要本實用新型屬于試卷袋技術(shù)領域，公開了一種免刀割手拆易啟封雙蓋錯位試卷袋，所解決的技術(shù)問題是提供一種便于發(fā)現(xiàn)啟封端和免刀割易拆封的試卷袋，包括試卷袋本體，試卷袋啟封端設有雙蓋，雙蓋為雙折對開式，內(nèi)蓋根線相對于外蓋根線下陷，試卷袋本體啟封端有拆封刻斷痕，試卷袋本體設有啟封端標識區(qū)域。本實用新型的優(yōu)點是產(chǎn)品制造時不需另行添加任何開啟輔助物，拆封時容易發(fā)現(xiàn)啟封端，直接用手撕開一個豁口，勿需費力便可用手指快速挑割開試卷袋，且撕痕整齊，避免使用小刀等輔助工具拆袋而造成的傷手、或內(nèi)外蓋一起割掉、或誤割了單蓋端；且不影響原來首次裝卷工作速度。
文檔編號B65D27/12GK201604862SQ20092028274
公開日2010年10月13日 申請日期2010年6月29日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月29日
發(fā)明者紀濱, 馬麗 申請人:安徽工業(yè)大學