長引線晶振檢測儀的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于電子器件檢測裝置領(lǐng)域，具體涉及一種長引線晶振檢測儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在電子技術(shù)領(lǐng)域的產(chǎn)品生產(chǎn)過程中，經(jīng)常要用到一種原材料一晶體振蕩器，簡稱晶振，產(chǎn)品生產(chǎn)完成后，如果晶振不起振將會影響設(shè)計功能的實現(xiàn)，但是，在生產(chǎn)過程中逐個測量晶振頻率所花費的人力物力較大，因此人們設(shè)計有晶振檢測儀?，F(xiàn)有晶振檢測儀是由振動盤、晶體軌道以及晶體軌道上的檢測機構(gòu)組合而成，檢測后的產(chǎn)品需由人工對合格品或不合格品進行分選，費時費力，且其不能在檢測完成后立即對晶體進行分選，易出現(xiàn)未及時分選而造成分選不準確、完整的問題。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型所要解決的技術(shù)問題便是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種長引線晶振檢測儀，它能夠?qū)崿F(xiàn)檢測晶振后自動實時對合格品或不合格品進行分選，提高了分選準確性、完整性以及檢測效率。
[0004]本實用新型所采用的技術(shù)方案是:一種長引線晶振檢測儀，包括振動送料盤、與該振動送料盤相接的晶體軌道以及設(shè)置在上述晶體軌道上的檢測裝置，所述晶體軌道上設(shè)置有供單個晶體依次通行的晶體通槽，所述晶體軌道上與所述檢測裝置相對應位置設(shè)置有與所述晶體通槽交叉連通的分叉通槽，該分叉通槽與所述晶體通槽相通的一端設(shè)置有用于將其開啟或閉合的閘門，所述分叉通槽與所述檢測裝置分別位于所述晶體軌道的兩側(cè)，所述檢測裝置上設(shè)置有用于將晶體推入上述分叉通槽的推料機構(gòu)，所述晶體軌道遠離所述檢測裝置的一側(cè)設(shè)置有與上述分叉通槽的出口相對應的廢品收集倉。
[0005]作為優(yōu)選，所述分叉通槽的寬度大于晶體的長度。
[0006]作為優(yōu)選，所述推料機構(gòu)是由推料氣缸以及由該推料氣缸帶動的推桿構(gòu)成的。
[0007]作為優(yōu)選，所述廢品收集倉下部設(shè)置有出料門。
[0008]本實用新型的有益效果在于:由于本實用新型采用上述結(jié)構(gòu)，晶體被檢測裝置確定合格或不合格后，會立即由推料機構(gòu)將不合格的推入到分叉通槽，然后進入廢品收集倉內(nèi)，實現(xiàn)對合格品或不合格品的自動分選，無需人工操作，省時省力，大大提高檢測效率，而且晶體在檢測后立即進行分選，無需等晶體繼續(xù)輸送至下一工序，提高了分選的及時性、準確性及完整性。
【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖中:1、晶體軌道；2、晶體通槽；3、檢測裝置；4、分叉通槽；5、閘門；6、廢品收集倉。
【具體實施方式】
[0011]下面將結(jié)合附圖及具體實施例對本實用新型作進一步詳細說明。
[0012]如圖1所示，一種長引線晶振檢測儀，包括振動送料盤(圖中未示出)、與該振動送料盤相接的晶體軌道I以及設(shè)置在上述晶體軌道I上的檢測裝置3，所述晶體軌道I上設(shè)置有供單個晶體依次通行的晶體通槽2，所述晶體軌道I上與所述檢測裝置3相對應位置設(shè)置有與所述晶體通槽2交叉連通的分叉通槽4，該分叉通槽4與所述晶體通槽2相通的一端設(shè)置有用于將其開啟或閉合的閘門5，分叉通槽4的寬度大于晶體的長度，為分叉通槽4設(shè)計更寬的寬度，以便于晶體的更順暢的輸送，所述分叉通槽4與所述檢測裝置3分別位于所述晶體軌道I的兩側(cè)，所述檢測裝置3上設(shè)置有用于將晶體推入上述分叉通槽4的推料機構(gòu)，推料機構(gòu)是由推料氣缸以及由該推料氣缸帶動的推桿構(gòu)成的，所述晶體軌道I遠離所述檢測裝置3的一側(cè)設(shè)置有與上述分叉通槽4的出口相對應的廢品收集倉6，廢品收集倉6下部設(shè)置有出料門。
[0013]本實用新型的工作過程如下:正常情況下，閘門5處于常閉狀態(tài)，當檢測裝置3檢測到晶體合格時，晶體順利由晶體通槽2進入下一環(huán)節(jié)，當檢測到晶體不合格時，閘門5開啟，然后推料機構(gòu)將不合格晶體推入到分叉通槽4中，閘門5重新關(guān)閉，不合格晶體經(jīng)分叉通槽4落入到廢品收集倉6內(nèi)。
[0014]由于本實用新型采用上述結(jié)構(gòu)，晶體被檢測裝置3確定合格或不合格后，會立即由推料機構(gòu)將不合格的推入到分叉通槽4，然后進入廢品收集倉6內(nèi)，實現(xiàn)對合格品或不合格品的自動分選，無需人工操作，省時省力，大大提高檢測效率，而且晶體在檢測后立即進行分選，無需等晶體繼續(xù)輸送至下一工序，提高了分選的及時性、準確性及完整性。
[0015]以上所述，僅為本實用新型較佳實施例而已，故不能以此限定本實用新型實施的范圍，即依本實用新型申請專利范圍及說明書內(nèi)容所作的等效變化與修飾，皆應仍屬本實用新型專利涵蓋的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種長引線晶振檢測儀，包括振動送料盤、與該振動送料盤相接的晶體軌道(I)以及設(shè)置在上述晶體軌道(I)上的檢測裝置(3)，所述晶體軌道(I)上設(shè)置有供單個晶體依次通行的晶體通槽(2)，其特征在于:所述晶體軌道(I)上與所述檢測裝置(3)相對應位置設(shè)置有與所述晶體通槽(2)交叉連通的分叉通槽(4)，該分叉通槽(4)與所述晶體通槽(2)相通的一端設(shè)置有用于將其開啟或閉合的閘門(5)，所述分叉通槽(4)與所述檢測裝置(3)分別位于所述晶體軌道(I)的兩側(cè)，所述檢測裝置(3)上設(shè)置有用于將晶體推入上述分叉通槽(4)的推料機構(gòu)，所述晶體軌道(I)遠離所述檢測裝置(3)的一側(cè)設(shè)置有與上述分叉通槽(4)的出口相對應的廢品收集倉(6)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長引線晶振檢測儀，其特征在于:所述分叉通槽(4)的寬度大于晶體的長度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長引線晶振檢測儀，其特征在于:所述推料機構(gòu)是由推料氣缸以及由該推料氣缸帶動的推桿構(gòu)成的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的長引線晶振檢測儀，其特征在于:所述廢品收集倉(6)下部設(shè)置有出料門。
【專利摘要】本實用新型公開一種長引線晶振檢測儀，包括振動送料盤、與該振動送料盤相接的晶體軌道以及設(shè)置在上述晶體軌道上的檢測裝置，所述晶體軌道上設(shè)置有供單個晶體依次通行的晶體通槽，所述晶體軌道上與所述檢測裝置相對應位置設(shè)置有與所述晶體通槽交叉連通的分叉通槽，該分叉通槽與所述晶體通槽相通的一端設(shè)置有用于將其開啟或閉合的閘門，所述分叉通槽與所述檢測裝置分別位于所述晶體軌道的兩側(cè)，所述檢測裝置上設(shè)置有用于將晶體推入上述分叉通槽的推料機構(gòu)。由于本實用新型采用上述結(jié)構(gòu)，實現(xiàn)對合格品或不合格品的自動分選，無需人工操作，而且晶體在檢測后立即進行分選，無需等晶體繼續(xù)輸送至下一工序，提高了分選的及時性、準確性及完整性。
【IPC分類】B07C5-00, B07C5-02
【公開號】CN204523585
【申請?zhí)枴緾N201520244688
【發(fā)明人】楊啟付, 李謙平
【申請人】福建省將樂縣長興電子有限公司
【公開日】2015年8月5日
【申請日】2015年4月22日