本發(fā)明涉及微納結(jié)構(gòu)制造,尤其涉及一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法。
背景技術(shù):
1、空腔是一種廣泛應(yīng)用于傳感領(lǐng)域的微納結(jié)構(gòu),利用空氣層形成的密閉環(huán)境可以顯著提高傳感器的探測靈敏度和工作穩(wěn)定性。例如,在光纖傳感領(lǐng)域,在光纖端部設(shè)空腔可以形成光學(xué)干涉;當(dāng)光波進(jìn)入空腔并在其兩端反射時,反射光波之間的相位差會隨空腔長度的變化而變化,從而形成可用于信號探測的干涉條紋。在超聲探測領(lǐng)域,空腔對聲波具有反射和諧振作用;超聲波進(jìn)入空腔后在其內(nèi)部反射,反射波的相位和幅度變化可用于測量聲波特性。而通過縮小空腔結(jié)構(gòu)的體積可以實現(xiàn)更高的集成度,使傳感器設(shè)備更小型化,便于集成到復(fù)雜系統(tǒng)中。因此,提高空腔結(jié)構(gòu)的加工精度和成型自由度,開發(fā)新型微納空腔封裝工藝,對相關(guān)領(lǐng)域的研究具有重要意義。
2、目前,空腔結(jié)構(gòu)的加工主要通過犧牲層實現(xiàn),利用光刻和選擇性刻蝕去除犧牲材料,從而在封閉的結(jié)構(gòu)內(nèi)部形成空腔。這種方法廣泛應(yīng)用于微電子機(jī)械系統(tǒng)中,但該方法主要基于二維平面工藝,如光刻和各向異性刻蝕,難以直接實現(xiàn)復(fù)雜的三維結(jié)構(gòu)。雖然可以通過多層沉積和刻蝕步驟實現(xiàn)一定的三維結(jié)構(gòu),但這些步驟增加了工藝的復(fù)雜性和難度。除此以外,也有通過吹泡法、熔接法、拉伸放電法等方法在光纖上制備微納空腔的方法。這些加工方法僅能實現(xiàn)單一結(jié)構(gòu)的加工,不具備對空腔結(jié)構(gòu)形狀的三維控制能力。
3、可見,目前實現(xiàn)微納空腔結(jié)構(gòu)三維成型和制備的限制主要包括以下幾個問題:
4、(1)成型方法限制。微納空腔結(jié)構(gòu)的尺寸通常在微米甚至納米級別,對加工精度的要求極高,通過機(jī)械對準(zhǔn)或吹泡等方式難以制備高精度的空前高結(jié)構(gòu)。
5、(2)加工自由度限制?;诎雽?dǎo)體的微納加工技術(shù),如電子束光刻、聚焦離子束和深反應(yīng)離子刻蝕等,通常是基于平面的加工方法,難以在三維空間內(nèi)進(jìn)行結(jié)構(gòu)加工,限制了結(jié)構(gòu)的成型自由度。
6、綜上所述,目前尚無能夠?qū)崿F(xiàn)三維微納空腔結(jié)構(gòu)制備和封裝的有效方法。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、有鑒于此,本發(fā)明提出了一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,解決目前實現(xiàn)微納空腔結(jié)構(gòu)三維成型和制備技術(shù)存在成型方法限制及加工自由度限制的問題。
2、本發(fā)明的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:本發(fā)明提供了一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,包括以下步驟,步驟一,在一待成型表面上通過激光直寫技術(shù)成型出空腔結(jié)構(gòu),空腔結(jié)構(gòu)內(nèi)部開設(shè)有腔體,空腔結(jié)構(gòu)表面上開設(shè)有若干通孔,通孔連通在腔體與外界環(huán)境之間;步驟二,在空腔結(jié)構(gòu)外表面上通過激光直寫技術(shù)成型出封閉結(jié)構(gòu),封閉結(jié)構(gòu)貼覆在空腔結(jié)構(gòu)外表面上,封閉結(jié)構(gòu)同時封閉若干通孔。
3、在以上技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,優(yōu)選的,在步驟一中,在成型出空腔結(jié)構(gòu)后,在空腔結(jié)構(gòu)開設(shè)通孔的表面上進(jìn)行表面處理并形成有改性層,改性層提升空腔結(jié)構(gòu)外表面的粘附性。
4、更進(jìn)一步優(yōu)選的,改性層的厚度為5~50nm。
5、在以上技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,優(yōu)選的,在步驟二中,在成型出封閉結(jié)構(gòu)后,在空腔結(jié)構(gòu)及封閉結(jié)構(gòu)的外表面上進(jìn)行表面處理并形成有增強層,增強層提升空腔結(jié)構(gòu)的密封性。
6、在以上技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,優(yōu)選的,若干通孔的形狀及內(nèi)徑各不相同。
7、更進(jìn)一步優(yōu)選的,通孔為多邊形或者橢圓形。
8、更進(jìn)一步優(yōu)選的,通孔的內(nèi)徑不大于10μm。
9、在以上技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,優(yōu)選的,空腔結(jié)構(gòu)的外輪廓為立柱形或者球形。
10、更進(jìn)一步優(yōu)選的,空腔結(jié)構(gòu)為立柱形時,空腔結(jié)構(gòu)沿待成型表面的垂直方向的其中一端為端面,空腔結(jié)構(gòu)環(huán)繞待成型表面的垂直方向的壁面為外周壁,若干通孔布設(shè)在端面上或者外周壁上。
11、在以上技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,優(yōu)選的,待成型面為光纖傳感器的光纖端面。
12、本發(fā)明的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法相對于現(xiàn)有技術(shù)具有以下有益效果:
13、(1)本發(fā)明先成型出帶孔的空腔結(jié)構(gòu),再在空腔結(jié)構(gòu)表面成型出封閉結(jié)構(gòu)來蓋住通孔,能夠?qū)崿F(xiàn)微納空腔的高精度三維結(jié)構(gòu)成型,這種成型方法使空腔的結(jié)構(gòu)設(shè)計能夠具有極高自由度,并大幅降低了空腔成型難度。
14、(2)本發(fā)明空腔結(jié)構(gòu)表面設(shè)置改性層,能夠大幅提升空腔結(jié)構(gòu)表面與封閉結(jié)構(gòu)的粘結(jié)強度,再通過在空腔機(jī)構(gòu)外表面設(shè)置增強層,使增強層填滿封閉結(jié)構(gòu)與空腔結(jié)構(gòu)外表面接觸的縫隙,大幅提升了空腔結(jié)構(gòu)成型后的密封性,實現(xiàn)了空腔結(jié)構(gòu)的抗液體侵入設(shè)計和封裝方法,并通過不同通孔內(nèi)徑及形狀的結(jié)構(gòu)設(shè)計和表面張力控制,實現(xiàn)對空氣層的有效密封,降低了微納空腔結(jié)構(gòu)的封裝難度。
15、(3)本發(fā)明提出的微納空腔結(jié)構(gòu)成型方法,可以與光纖等器件靈活適配,從而降低傳感器件的集成難度,并提高傳感器功能設(shè)計的自由度。
1.一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于,包括以下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:在所述步驟一中,在成型出所述空腔結(jié)構(gòu)(1)后,在所述空腔結(jié)構(gòu)(1)開設(shè)通孔(102)的表面上進(jìn)行表面處理并形成有改性層(3),所述改性層(3)提升空腔結(jié)構(gòu)(1)外表面的粘附性。
3.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:所述改性層(3)的厚度為5~50nm。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:在所述步驟二中,在成型出所述封閉結(jié)構(gòu)(2)后,在所述空腔結(jié)構(gòu)(1)及封閉結(jié)構(gòu)(2)的外表面上進(jìn)行表面處理并形成有增強層(4),所述增強層(4)提升空腔結(jié)構(gòu)(1)的密封性。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:若干所述通孔(102)的形狀及內(nèi)徑各不相同。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:所述通孔(102)為多邊形或者橢圓形。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:所述通孔(102)的內(nèi)徑不大于10μm。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:所述空腔結(jié)構(gòu)(1)的外輪廓為立柱形或者球形。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:所述空腔結(jié)構(gòu)(1)為立柱形時,所述空腔結(jié)構(gòu)(1)沿待成型表面的垂直方向的其中一端為端面,所述空腔結(jié)構(gòu)(1)環(huán)繞待成型表面的垂直方向的壁面為外周壁,若干所述通孔(102)布設(shè)在端面上或者外周壁上。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種微納空腔結(jié)構(gòu)的成型方法,其特征在于:所述待成型面為光纖傳感器的光纖端面。