一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，包括步驟：S1、根據(jù)區(qū)塊地質(zhì)資料，建立不同類型的洞穴模型；S2、正演模擬所述洞穴模型的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，得到不同洞穴條件下洞穴型地層雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律；S3、根據(jù)所述洞穴型地層雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律，結(jié)合雙側(cè)向測井資料與FMI成像測井資料，定性識別洞穴模型的類型，得到與洞穴模型相應(yīng)的初始洞穴模型參數(shù)；S4、根據(jù)洞穴模型以及相應(yīng)的初始洞穴模型參數(shù)正演重構(gòu)雙側(cè)向測井曲線，通過不斷更新洞穴模型參數(shù)，使得重構(gòu)雙側(cè)向測井曲線與實際曲線的誤差達到設(shè)定容許精度誤差以內(nèi)，輸出最終的洞穴參數(shù)。本發(fā)明利于解決油氣勘探中洞穴型碳酸鹽巖儲層的電測井識別和評價問題。
【專利說明】一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 在油氣資源勘探中，碳酸鹽巖縫洞型儲層占有重要的地位，孔洞作為最有效的儲 集空間，對其進行識別和測井評價顯得尤為重要。目前對孔洞的測井定性識別與評價主要 依賴于微電阻率掃描成像技術(shù)（FMI)，此種技術(shù)在實際應(yīng)用中存在如下技術(shù)問題：1)、FMI 成像測井只能識別井眼鉆穿部分洞穴尺寸，不能反映井眼鉆穿型洞穴延伸與徑向發(fā)育特 征；2)、電成像測井儀器貼井壁測量，探測深度淺，受井眼環(huán)境影響大（如井眼擴徑等），測 井資料有失真，且部分地區(qū)FMI資料可能缺失；3)、FMI成像測井對井旁洞穴不敏感，無法反 映井旁洞穴尺寸、發(fā)育位置以及填充物電阻率等信息。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述技術(shù)問題，本發(fā)明提出了一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間 雙側(cè)向測井半定量評價方法，利于解決油氣勘探中洞穴型碳酸鹽巖儲層的電測井識別和評 價問題。
[0004] 為了實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：
[0005] -種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，包括如下步驟：
[0006] S1、根據(jù)區(qū)塊地質(zhì)資料，建立不同類型的洞穴模型；
[0007] S2、采用有限元方法正演模擬所述洞穴模型的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，得到不同洞 穴條件下洞穴型地層雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律、以及雙側(cè)向測井對洞穴的敏感性；
[0008] S3、根據(jù)所述洞穴型地層雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律、以及雙側(cè)向測井對洞穴的敏感性， 結(jié)合雙側(cè)向測井資料與FMI成像測井資料，定性識別洞穴模型的類型，得到與所述洞穴模 型相應(yīng)的初始洞穴模型參數(shù)；
[0009] S4、根據(jù)洞穴模型以及相應(yīng)的初始洞穴模型參數(shù)正演重構(gòu)雙側(cè)向測井曲線，通過 不斷更新洞穴模型參數(shù)，使得重構(gòu)雙側(cè)向測井曲線與實際曲線的誤差達到設(shè)定容許精度誤 差以內(nèi)，此時輸出最終的洞穴參數(shù)，完成洞穴識別與評價。
[0010] 進一步，上述洞穴模型包括井眼鉆穿型洞穴模型和井旁洞穴模型。
[0011] 進一步，上述洞穴條件包括洞穴尺寸、洞穴填充物電阻率、填充程度和洞穴發(fā)育位 置。
[0012] 進一步，上述步驟S2中，進行雙側(cè)向測井過井眼洞穴正演模擬，獲取不同洞穴尺 寸、填充物電阻率、填充程度及井眼鉆穿位置條件下的雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律。
[0013] 進一步，上述步驟S3中，結(jié)合雙側(cè)向測井資料與FMI成像測井資料，根據(jù)雙側(cè)向測 井的正幅度差、洞穴邊界處深淺側(cè)向曲線突然變化和FMI成像的低電阻率特征，確定井眼 鉆穿型洞穴的初始洞穴模型參數(shù)。
[0014] 進一步，上述步驟S2中，利用井旁洞穴的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，得到不同洞穴大 小以及發(fā)育位置的雙側(cè)向測井曲線形態(tài)及幅度特征，建立雙側(cè)向測井對洞穴的識別圖版。
[0015] 進一步，上述步驟S3中，根據(jù)雙側(cè)向測井曲線形態(tài)及幅度特征，識別井旁洞穴存 在，并根據(jù)建立的雙側(cè)向測井對洞穴的識別圖版得到井旁洞穴的初始洞穴模型參數(shù)。
[0016] 進一步，上述洞穴參數(shù)包括洞穴半徑、洞穴位置和洞穴填充物電阻率。
[0017] 本發(fā)明具有如下優(yōu)點：
[0018] 本發(fā)明述及的碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，基于雙側(cè)向測 井正、反演技術(shù)，同時結(jié)合FMI成像測井資料，進行不同類型洞穴的洞穴參數(shù)確定，達到了 碳酸鹽巖洞穴儲集體電測井定性識別和評價的目的，適用于儲層測井評價。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0019] 圖1為本發(fā)明中碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法的流程示意 圖；
[0020] 圖2為井眼鉆穿型洞穴模型示意圖；
[0021] 圖3為井旁洞穴模型示意圖；
[0022] 圖4為不同洞穴半徑大小的井眼鉆穿型洞穴深側(cè)向測井響應(yīng)示意圖；
[0023] 圖5為不同洞穴半徑大小的井眼鉆穿型洞穴淺側(cè)向測井響應(yīng)示意圖；
[0024] 圖6為不同洞穴半徑大小的井旁洞穴深側(cè)向測井響應(yīng)示意圖；
[0025] 圖7為不同洞穴半徑大小的井旁洞穴淺側(cè)向測井響應(yīng)示意圖；
[0026] 圖8為不同洞穴半徑下洞穴中心處井旁洞穴雙側(cè)向測井響應(yīng)示意圖。

【具體實施方式】
[0027] 下面結(jié)合附圖以及【具體實施方式】對本發(fā)明作進一步詳細說明：
[0028] 如圖1所示，一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，包括如下 步驟：
[0029] S1、根據(jù)區(qū)塊地質(zhì)資料，建立不同類型的洞穴模型，常見的洞穴模型包括井眼鉆穿 型洞穴模型和井旁洞穴模型，分別如圖2和圖3所示。
[0030] 一般的，建立的洞穴模型宜采用球形、橢球形、或扇形等規(guī)則洞穴儲集體，圖2和 圖3中建立的洞穴模型采用球形洞穴模型。
[0031] S2、采用有限元方法正演模擬洞穴模型的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，得到不同洞穴條 件下洞穴型地層雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律、以及雙側(cè)向測井對洞穴的敏感性。
[0032] 此處指的洞穴條件包括洞穴尺寸、洞穴填充物電阻率、填充程度和洞穴發(fā)育位置 等。針對復(fù)雜洞穴邊界剖分問題可采用自適應(yīng)加密技術(shù)。
[0033] 洞穴型地層雙側(cè)向測井滿足的有限元泛函方程為：
[0034] Φ (U) = O1(U)-O2(U),

【權(quán)利要求】
1. 一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其特征在于，包括如下步 驟： 51、 根據(jù)區(qū)塊地質(zhì)資料，建立不同類型的洞穴模型； 52、 采用有限元方法正演模擬所述洞穴模型的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，得到不同洞穴條 件下洞穴型地層雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律、以及雙側(cè)向測井對洞穴的敏感性； 53、 根據(jù)所述洞穴型地層雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律、以及雙側(cè)向測井對洞穴的敏感性，結(jié)合 雙側(cè)向測井資料與FMI成像測井資料，定性識別洞穴模型的類型，得到與所述洞穴模型相 應(yīng)的初始洞穴模型參數(shù)； 54、 根據(jù)洞穴模型以及相應(yīng)的初始洞穴模型參數(shù)正演重構(gòu)雙側(cè)向測井曲線，通過不斷 更新洞穴模型參數(shù)，使得重構(gòu)雙側(cè)向測井曲線與實際曲線的誤差達到設(shè)定容許精度誤差以 內(nèi)，此時輸出最終的洞穴參數(shù)，完成洞穴識別與評價。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其 特征在于，所述洞穴模型包括井眼鉆穿型洞穴模型和井旁洞穴模型。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其 特征在于，所述洞穴條件包括洞穴尺寸、洞穴填充物電阻率、填充程度和洞穴發(fā)育位置。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其 特征在于，所述步驟S2中，進行雙側(cè)向測井過井眼洞穴正演模擬，獲取不同洞穴尺寸、填充 物電阻率、填充程度及井眼鉆穿位置條件下的雙側(cè)向測井響應(yīng)規(guī)律。
5. 根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其 特征在于，所述步驟S3中，結(jié)合雙側(cè)向測井資料與FMI成像測井資料，根據(jù)雙側(cè)向測井的正 幅度差、洞穴邊界處深淺側(cè)向曲線突然變化和FMI成像的低電阻率特征，確定井眼鉆穿型 洞穴的初始洞穴模型參數(shù)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其 特征在于，所述步驟S2中，利用井旁洞穴的雙側(cè)向測井響應(yīng)特征，得到不同洞穴大小以及 發(fā)育位置的雙側(cè)向測井曲線形態(tài)及幅度特征，建立雙側(cè)向測井井旁洞穴的識別圖版。
7. 根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其 特征在于，所述步驟S3中，根據(jù)雙側(cè)向測井曲線形態(tài)及幅度特征，識別井旁洞穴存在，并根 據(jù)建立的雙側(cè)向測井對洞穴的識別圖版得到井旁洞穴的初始洞穴模型參數(shù)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種碳酸鹽巖儲層孔洞空間雙側(cè)向測井半定量評價方法，其 特征在于，所述洞穴參數(shù)包括洞穴半徑、洞穴位置和洞穴填充物電阻率。
【文檔編號】E21B49/00GK104329080SQ201410459603
【公開日】2015年2月4日 申請日期:2014年9月11日 優(yōu)先權(quán)日:2014年9月11日
【發(fā)明者】范宜仁, 王磊, 范卓穎, 鄧少貴, 葛新民, 譚寶海 申請人:中國石油大學(xué)(華東)