專利名稱：檢測光纖缺陷的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種缺陷檢測方法，用于檢查光纖的缺陷，該方法適合于在拉絲操作期間在線檢查光纖。
有關(guān)技術(shù)的描述如果光纖有內(nèi)部缺陷例如空洞，將產(chǎn)生不希望出現(xiàn)的問題例如增加光傳輸損耗和/或減少機(jī)械強(qiáng)度和/或光纖接頭之間熔接不良。為對付這些問題，在光纖拉絲設(shè)備中，在拉絲操作期間檢測這種空洞缺陷。
例如，如同在日本已公開專利4-106448(1992)中所公開的或如同圖9A所示，已經(jīng)提出了一種系統(tǒng)，其中在拉絲操作期間利用激光束從橫向照射所要測量的的原料光纖A(此后僅稱為“要測量光纖”)，通過光纖A前向散射的光線C由圖象傳感器D例如CCD行傳感器接收，來自傳感器的信號(hào)在信號(hào)處理部分E和判斷處理部分F中處理，由此獲得前向散射光線C的強(qiáng)度分布模式并且根據(jù)該模式G檢測要測量光纖A的缺陷。
在信號(hào)處理部分E中，由圖象傳感器D所接收的散射光線C的光強(qiáng)度沿掃描行檢測讀取(由圖9A中箭頭表示)，由此輸出光強(qiáng)度分布模式G。在此情況下，直接從光源(未圖示)輻射的激光束B(散射光線C具有零位移角)由圖象傳感器D在掃描行方向中心部分接收，由要測量光纖散射的散射光線C在傳感器中心部分兩側(cè)接收，所以圖9B所示的圖中縱坐標(biāo)表示傳感器位置坐標(biāo)(散射光線位移角)而橫坐標(biāo)表示光強(qiáng)度，光強(qiáng)度分布模式在傳感器位置零坐標(biāo)附近變成具有峰值的山峰模式。
在判斷處理部分F中，圖象傳感器D捕獲的光強(qiáng)度分布模式G與以前測量的正常(正確)光纖的光強(qiáng)度分布模式(基準(zhǔn)模式)進(jìn)行比較，根據(jù)某個(gè)閾值判斷兩個(gè)模式之間的一致或不一致，由此確定要測量光纖A是正?；虿徽?。在此情況下，根據(jù)將光線照射到已經(jīng)通過適當(dāng)方法確定沒有缺陷的光纖上所獲得的前向散射光線模式獲得基準(zhǔn)模式。盡管通過檢查被判斷為正常的多個(gè)光纖的前向散射光線的光強(qiáng)度分布模式并且將結(jié)果進(jìn)行平均可以獲得基準(zhǔn)模式，無論任何，都使用固定基準(zhǔn)模式。
在拉絲操作的在線測量期間，要測量光纖A可能晃動(dòng)或光纖位置可能偏移或光纖外部直徑改變或激光束強(qiáng)度改變，結(jié)果在判斷處理部分F中實(shí)際處理的光強(qiáng)度分布模式G中加入了各種改變因素。例如，如

圖10A所示，模式G總的向上或鄉(xiāng)下移動(dòng)，或如圖10B所示，模式總的向左或向右移動(dòng)，或如圖10C所示，模式G的斜率改變(在這些圖中，只圖示了傳感器零坐標(biāo)位置的模式G的正和負(fù)的部分)。結(jié)果，當(dāng)使用固定模式時(shí)，即使要測量光纖A自身沒有不正常之處，在基準(zhǔn)模式與測量獲得的模式G之間也會(huì)有大的差別，結(jié)果可能會(huì)被判斷為不正常。為避免該問題，通?？紤]這種外部改變因素，對基準(zhǔn)模式給出一定寬度(松動(dòng))，所以只要測量出模式G在基準(zhǔn)模式的一定范圍內(nèi)(在閾值內(nèi))，要測量光纖A判斷為正常。
可是，現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)現(xiàn)在某些情況下這種松動(dòng)忽略了應(yīng)當(dāng)被檢測的缺陷。例如，在光纖橫截位置上，如果核心附近有缺陷，測量出模式與基準(zhǔn)模式之間的差別與缺陷遠(yuǎn)離核心情況下的差別相比更小，結(jié)果該差別可能包含在閾值的松動(dòng)范圍內(nèi)，因此測量出模式可能別判斷為正常，而該模式應(yīng)當(dāng)被判斷為不正常。因此，需要提供算法來消除如圖10A、10B和10C所示的與光纖缺陷無關(guān)的改變因素，由此允許讀要測量光纖A不正常之處的正確檢測。
由于新近有關(guān)數(shù)字信號(hào)處理能力包括圖象處理的軟件和/或硬件開發(fā)，基準(zhǔn)電平可以改變以消除與光纖缺陷無關(guān)的改變因素?？墒?，因?yàn)橐鬄闇p少光纖制造成本而增加拉絲速度并且要求減少檢測缺陷的測量周期，即使使用能夠以高精度有效判斷的高精確處理，如果這種處理具有長的處理時(shí)間，這種處理也變得沒有意義。因此，需要提供一種算法，其中圖象處理所需要的計(jì)算負(fù)擔(dān)減少并且可以實(shí)現(xiàn)高速處理。
另外，如果由于光纖晃動(dòng)在在線測量期間有沿光纖截面方向的折射率分布或測量照射激光束強(qiáng)度分布的本地誤差，這種誤差以放大的比例被檢測。因此，需要提供不受這種本地誤差影響的算法。
本發(fā)明概述按照本發(fā)明的第一方面，在檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法中，激光束從光纖軸橫向照射在要測量光纖上以檢查透過光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線的光強(qiáng)度分布，并且根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測要測量光纖的缺陷，該方法特征在于該光強(qiáng)度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強(qiáng)平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和根據(jù)第一和第二模式之間的差別形成判斷模式，通過評價(jià)判斷模式的幅度檢測要測量光纖的缺陷。
按照本發(fā)明的第二方面，在檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法中，激光束從光纖軸橫向照射在要測量光纖上以檢查透過光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線的光強(qiáng)度分布，并且根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測要測量光纖的缺陷，該方法特征在于該光強(qiáng)度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強(qiáng)平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和通過將第二模式除以第一模式形成判斷模式，通過評價(jià)判斷模式的幅度檢測要測量光纖的缺陷。
按照本發(fā)明的第三方面，在檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法中，形成與第一和第二模式相關(guān)的一個(gè)改變閾值模式，并且通過比較該閾值模式與判斷模式評價(jià)判斷模式的幅度。
按照本發(fā)明的第四方面，在檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法中，在平滑過程中使用移動(dòng)平均法。
按照本發(fā)明的第五方面，在檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法中，激光束從光纖軸橫向照射在要測量光纖上以檢查透過光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線的光強(qiáng)度分布，并且根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測要測量光纖的缺陷，該方法特征在于該光強(qiáng)度分布模式服從傅立葉變換以形成一個(gè)傅立葉變換模式，通過利用雙對數(shù)軸評價(jià)該傅立葉變換模式，并且具有對傅立葉變換模式高貢獻(xiàn)率的判斷曲線應(yīng)用于傅立葉變換模式以尋找傅立葉變換模式與判斷曲線之間的偏差，并且根據(jù)偏差幅度檢測要測量光纖的缺陷。
按照本發(fā)明的第六方面，在檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法中，激光束從光纖軸橫向照射在要測量光纖上以檢查透過光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線的光強(qiáng)度分布，并且根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測要測量光纖的缺陷，該方法特征在于該光強(qiáng)度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強(qiáng)平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，在該模式中設(shè)置第一和第二模式之間差最大或?qū)⒌诙Ｊ匠缘谝荒Ｊ剿@得數(shù)值最大的區(qū)域，并且通過對模式的該區(qū)域部分使用傅立葉變換測量光纖缺陷。
附圖簡介圖1是表示檢查裝置第一例子的示意圖，該設(shè)備使用了按照本發(fā)明的光纖缺陷檢測方法；圖2是表示圖1的圖象傳感器所觀察的散射光線光強(qiáng)度分布模式的示意圖，其中圖2A表示正常光纖的模式，而圖2B表示不正常光纖的模式；圖3是表示圖1檢查裝置的檢測方法流程的流程圖；
圖4A到4C是解釋圖3檢查方法的模式判斷的示意圖；圖5是表示表示檢查裝置第二例子的示意圖，該設(shè)備使用了按照本發(fā)明的光纖缺陷檢測方法；圖6是解釋當(dāng)在缺陷檢測方法中使用傅立葉變換時(shí)流程的流程圖；圖7是解釋在圖6的傅立葉變換方法中模式判斷的示意圖；圖8是表示檢查裝置第三例子的示意圖，該設(shè)備使用了按照本發(fā)明的光纖缺陷檢測方法；圖9A是表示常規(guī)光纖缺陷檢查裝置例子的示意圖，圖9B是表示圖9A裝置所觀察的散射光線狀態(tài)的示意圖；和圖10A到10C是表示與圖9有關(guān)問題的示意圖。
執(zhí)行本發(fā)明的最佳方式(第一實(shí)施例)圖1是執(zhí)行按照本發(fā)明的光纖缺陷檢測方法的裝置的示意圖。在圖1中，安裝了光源12以便在拉絲操作期間激光束2可以從光纖軸橫向照射到光纖1上，而圖象傳感器13與光源12相反中間插入要測量光纖1。從光源12輻射的激光束2透過要測量光纖1的內(nèi)部并且散射以便前向散射光線(此后稱為“散射光線”)由圖象傳感器13接收。順便地，激光束2具有大于要測量光纖1直徑的光線寬度并且從光源12連續(xù)輻射。
圖象傳感器13可以是CCD行傳感器和，如圖1所示，它設(shè)計(jì)得具有大水平寬度，以便當(dāng)沿水平方向掃描時(shí)，光纖1散射出的散射光線的光強(qiáng)度分布(水平方向中)可以由傳感器檢測。盡管圖象傳感器13可以安裝在與光源12入射激光束光軸相反的位置上，它也可以安置在與該位置成適當(dāng)角度的(光線接收角度)范圍內(nèi)。當(dāng)來自圖象傳感器13的信號(hào)繪圖成為圖象時(shí)，該圖象具有表示水平位置的橫坐標(biāo)(散射光線3的位移角)和表示光強(qiáng)度的縱坐標(biāo)，可以觀察到如圖2A或2B所示的山峰型模式4。如果要測量光纖正常，如圖2A所示，模式4在水平方向上對稱(相對左右)，如果不正常，如圖2B所示，可以觀察到具有一定不均勻的模式4。
由圖1的圖象傳感器13捕獲的散射光線3的模式4被A/D轉(zhuǎn)換器14采樣并且轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)和該數(shù)字信號(hào)被輸入給個(gè)人計(jì)算機(jī)(PC)15。
執(zhí)行本發(fā)明光纖缺陷檢測方法的處理輸入數(shù)字信號(hào)的軟件程序存儲(chǔ)在圖1的PC15中。圖3是表示軟件程序的流程圖。無論何時(shí)完成圖象傳感器13的一行掃描，執(zhí)行圖3所示的一系列處理。順便地，根據(jù)要測量光纖的拉絲速度將圖象傳感器一行掃描時(shí)間選擇為適當(dāng)值，以便在預(yù)定周期可以檢查高速移動(dòng)的要測量光纖1的一部分。
接著，參照獲得圖4所示模式的例子解釋圖3的軟件程序過程。順便地，圖4A到4C表示圖象傳感器13所捕獲的實(shí)際模式的半邊。在本發(fā)明中，可以單獨(dú)處理這半邊或處理如圖2A和2B所示的整個(gè)模式。
(1)讀入輸入到PC15的數(shù)字信號(hào)，獲得如圖4A所示的光強(qiáng)度分布模式4。盡管該模式4包括由要測量光纖1產(chǎn)生的不正常，但不能這樣確定不正常的位置。
(2)讀入模式4被復(fù)制成為兩個(gè)相同模式4(數(shù)據(jù)拷貝)。
(3)復(fù)制模式(模式4之一)服從移動(dòng)平均過程，將有效范圍縮窄到構(gòu)成模式4的分量，其它模式服從移動(dòng)平均過程將有效范圍展寬到構(gòu)成模式4的分量，由此獲得第一模式5(此后稱為“模式A(x)”)和第二模式6(此后稱為“模式B(x)”)，如圖4B所示。順便地，移動(dòng)平均是平滑過程之一并且由下列公式(1)表示。在此情況下，縮窄和展寬有效范圍到該分量意味著減少或增加公式(1)中的“n”。另外，在公式(1)中，f(x)和f(i)表示水平方向上分量點(diǎn)x和i上的光強(qiáng)度。公式(1)f(x)=12n+1Σi=x-nx+nf(i)]]>(4)模式A(x)和模式B(x)之間的差被確定，由此獲得圖4c所示的判斷模式7(此后稱為判斷模式C(x))。判斷模式C(x)＝|模式A(x)-模式B(x)|在上面的項(xiàng)目(4)過程中，判斷模式C(x)可以通過理想公式獲得判斷模式C(x)＝|模式A(x)/模式B(x)|盡管后者減少了形成判斷模式C(x)的負(fù)擔(dān)，可以根據(jù)系統(tǒng)的處理能力選擇前者或后者。
(5)與過程(4)平行，復(fù)制模式B(x)，和通過將模式N(x)乘以B(x)計(jì)算改變閾值模式8(此后稱為“閾值模式L(x)”)。閾值模式L(x)與模式B(x)中的變化成正比。模式N(x)是按照光源12和圖象傳感器13的安裝位置和測量系統(tǒng)的條件憑經(jīng)驗(yàn)尋找的，可以使用所找到的模式作為在線測量中正常條件下測量偏差的期望平均值。
(6)判斷模式C(x)與閾值模式L(x)進(jìn)行比較，以便如果判斷模式C(x)的至少一部分超過閾值模式L(x)，判斷為“不正常”被輸出。如果判斷模式C(x)不超過閾值模式L(x)，判斷結(jié)果為“正常”被輸出。
(7)重復(fù)從項(xiàng)目1到項(xiàng)目6的過程，由此以在線方式在拉絲操作期間檢測要測量光纖的缺陷。
PC15可以要求各種功能，例如記錄功能用于記錄來自圖象傳感器13所接收的記錄數(shù)據(jù)，顯示功能用于顯示圖象傳感器13捕獲的模式4等，告警功能用于通知操作人員檢測到“不正常”，和功能用語如果檢測到告警就自動(dòng)停止拉絲，以及功能用于處理數(shù)字信號(hào)。
(第二實(shí)施例)按照第一實(shí)施例的光纖缺陷檢測方法，盡管描述了圖象傳感器13獲得的光強(qiáng)度分布模式4被轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)并且該數(shù)字信號(hào)由軟件程序和PC(個(gè)人計(jì)算機(jī))15組合進(jìn)行計(jì)算和處理的例子，在本發(fā)明的第二實(shí)施例中，不利用軟件，也可以只使用硬件執(zhí)行該處理。在此情況下，可以構(gòu)成如圖5所示的檢查裝置。圖5所示的檢查裝置包括一個(gè)信號(hào)處理部分16和一個(gè)判斷處理部分17與圖9的檢查裝置類似，和判斷處理部分17具有信號(hào)復(fù)制功能，平滑處理功能，判斷模式形成功能，閾值產(chǎn)生功能和模式判斷功能。順便地，實(shí)際上，除了這些功能之外，該設(shè)備可以包括告警，記錄部分和一個(gè)監(jiān)視器，類似于圖9。
信號(hào)處理部分16工作以定時(shí)方式在水平方向?qū)D象傳感器13的掃描行掃描為所接收散射光線3的光強(qiáng)度分布，以便只通過一個(gè)行掃描獲得圖2所示的模式。
判斷處理部分17的信號(hào)拷貝功能工作以分路或?qū)⑿盘?hào)處理部分輸出的模式4分成兩個(gè)模式以形成兩個(gè)相同模式4。為此目的，分路電路可以使用。
平滑處理功能工作對信號(hào)復(fù)制功能所獲得的兩個(gè)模式4進(jìn)行平滑處理。更具體地，類似于第一實(shí)施例，一個(gè)模式4服從具有弱平滑度的平滑過程以形成模式A(x)，而另一個(gè)模式4服從具有強(qiáng)平滑度的平滑過程以形成模式B(x)?？梢允褂眉呻娐纷鳛檫M(jìn)行平滑處理的電路，可以根據(jù)電路的時(shí)間常數(shù)設(shè)置平滑度程度。
判斷模式產(chǎn)生功能工作通過查找平滑處理功能所獲得的模式A(x)、B(x)的差或比值以獲得與第一實(shí)施例的判斷模式C(x)相同的判斷模式。
閾值產(chǎn)生功能工作通過將另一個(gè)模式(對應(yīng)第一實(shí)施例中的N(x))乘以具有強(qiáng)平滑度的模式B(x)獲得閾值模式L(x)。
模式判斷功能工作將判斷模式C(x)與閾值模式L(x)進(jìn)行比較，以便如果判斷模式C(x)的至少一部分超過閾值模式L(x)，輸出“不正常”，反之輸出“正?！?。
(第三實(shí)施例)按照本發(fā)明的光纖缺陷檢測方法可以由圖8所示的光系統(tǒng)執(zhí)行。更具體地，由要測量光纖1散射的散射光線3被半透光反射鏡18分路或分成兩個(gè)，而分出的光束穿過兩個(gè)散射平板19、20由兩個(gè)不同圖象傳感器13(13a，13b)所觀察。在此情況下，兩個(gè)散射平板19、20具有不同的散射率，以便一個(gè)變成弱散射度而另一個(gè)變成強(qiáng)散射度，結(jié)果類似于第一實(shí)施例的模式A(x)可以根據(jù)前者透過并由圖象傳感器13所接收的散射光線3而獲得，而類似于第一實(shí)施例的模式B(x)可以根據(jù)透過前者并且由圖象傳感器13所接收散射光線3而獲得。兩個(gè)圖象傳感器13a、13b所獲得的模式A(x)、B(x)由結(jié)合第一實(shí)施例所解釋的數(shù)字處理系統(tǒng)或由結(jié)合第二實(shí)施例所解釋的模擬處理系統(tǒng)處理，以查找判斷模式C(x)和L(x)，通過比較這些兩個(gè)模式可以判斷要測量光纖正?；虿徽！?br> (第四實(shí)施例)在上述說明中，盡管解釋了在光纖缺陷檢測方法中使用平滑處理的例子，在本發(fā)明中可以使用傅立葉變換。在此情況下，盡管從獲得散射光線3的光強(qiáng)度分布模式4到輸入數(shù)字信號(hào)給PC15的過程與第一實(shí)施例相同，但是使用了處理信號(hào)的軟件程序，如圖6所示。
現(xiàn)在，將解釋圖6所示的軟件程序所執(zhí)行的處理的流程。
(1)讀入模式4服從傅立葉變換以獲得傅立葉變換模式9，而傅立葉變換模式9由圖7所示的雙對數(shù)曲線評價(jià)。
(2)在圖7中畫出了具有包含在低頻區(qū)域中基點(diǎn)的基準(zhǔn)線(判斷曲線)10。盡管畫圖方法按照圖象傳感器13的安裝位置和該系統(tǒng)的其它結(jié)構(gòu)元件有輕微不同，穿過低頻區(qū)域(例如，10Hz點(diǎn))穩(wěn)定點(diǎn)并且具有斜率-1的直線可以使用。
(3)針對基準(zhǔn)線10的傅立葉變換模式9的平方和被查找(查找偏差)。在此情況下，有效范圍設(shè)置在頻率區(qū)域內(nèi)，例如可以將低于基準(zhǔn)點(diǎn)的更低頻率一側(cè)作為無效范圍忽略。另外，針對最大頻率(取決于利用傅立葉變換所使用的日期號(hào)碼)，在大于(最大頻率)/2的更高頻帶，由于會(huì)出現(xiàn)不穩(wěn)定條件，這種更高頻帶也可以忽略。
(4)查找偏差的平方和與閾值比較，如果平方和小于閾值，輸出“正?！苯Y(jié)果；相反，如果平方和超過閾值，輸出“不正常”結(jié)果。
(5)通過重復(fù)上述過程(1)到(4)，可以執(zhí)行拉絲操作期間對要測量光纖1的在線檢查。
所有上述過程可以由軟件程序電氣實(shí)現(xiàn)，例如，基準(zhǔn)線10不人格應(yīng)用于圖7的傅立葉變換模式。
如果在PC15中花費(fèi)長時(shí)間處理傅立葉變換，該處理可以根據(jù)結(jié)合第一實(shí)施例所描述的模式A(x)和模式B(x)通過查找|A-B|或|A/B|和通過選擇這些數(shù)值變成最大值的區(qū)域(例如，在圖4C中模式C(x)具有最大峰值的區(qū)域)和通過利用圖6的程序針對該區(qū)域執(zhí)行判斷方法而高速實(shí)現(xiàn)。盡管通過FFT(快速傅立葉變換)可以有效地計(jì)算處理傅立葉變換，在此情況下，由于處理負(fù)擔(dān)相比大于移動(dòng)平均，也可以通過限定或限制區(qū)域來增加處理速度。
在平滑處理中，有一種方法其中各個(gè)分量的值由周圍區(qū)域數(shù)值的中心值(中間)所取代，還有一種方法其中傅立葉變換之后更高頻率分量由低帶通濾波器使之更小，以及還有一種方法其中各個(gè)分量的值由周圍區(qū)域的平均值替代。
工業(yè)應(yīng)用性按照本發(fā)明的光纖缺陷檢測方法，可以獲得下列效果。
1.由于利用不需要長時(shí)間的例如移動(dòng)平均處理的平滑處理作為算法，即使當(dāng)拉絲速度大時(shí)，可以容易地實(shí)現(xiàn)在線檢查。
2.由于通過道路和/或光系統(tǒng)可以容易的實(shí)現(xiàn)平滑處理，高速檢查是可能的。
3.由于閾值可以被改變以消除要測量光纖中變化和激光束變化，正確檢查是可能的。
4.在按照權(quán)利要求5的傅立葉變換檢查方法也被使用，如同權(quán)利要求6中所限定，由于不需要整個(gè)模式服從傅立葉變換，高速檢查是可能的。
權(quán)利要求
1.一種用于檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法，其中激光束從要測量光纖的軸的橫向方向照射在所述光纖上，以檢查透過所述光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線的光強(qiáng)度分布，根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測所述要測量光纖的缺陷，其中所述光強(qiáng)度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強(qiáng)平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和根據(jù)所述第一和第二模式之間的差形成判斷模式，通過評價(jià)所述判斷模式的幅度檢測所述要測量光纖的缺陷。
2.一種用于檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法，其中激光束從要測量光纖的軸的橫向方向照射在所述光纖上，以檢查透過所述光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線的光強(qiáng)度分布，根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測所述要測量光纖的缺陷，其中所述光強(qiáng)度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強(qiáng)平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和通過將所述第二模式除以所述第一模式形成判斷模式，通過評價(jià)所述判斷模式的幅度檢測所述要測量光纖的缺陷。
3.按照權(quán)利要求1或2的光纖缺陷檢測方法，其中，形成與所述第一和第二模式有關(guān)的改變閾值模式，通過比較所述改變閾值模式和所述判斷模式評價(jià)所述判斷模式的幅度。
4.按照權(quán)利要求1到2的任何一個(gè)的光纖缺陷檢測方法，其中移動(dòng)平均方法被用于平滑處理中。
5.一種用于檢測光纖缺陷的缺陷檢測方法，其中激光束從要測量光纖的軸的橫向方向照射在所述光纖上，以檢查透過所述光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線的光強(qiáng)度分布，根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測所述要測量光纖的缺陷，其中所述光強(qiáng)度分布模式服從傅立葉變換以形成傅立葉變換模式，所述傅立葉變換模式通過利用雙對數(shù)軸進(jìn)行評價(jià)，具有對所述傅立葉變換模式高貢獻(xiàn)率餓判斷曲線被應(yīng)用于所述傅立葉變換模式以查找所述傅立葉變換模式與判斷曲線的偏差，和根據(jù)該偏差幅度檢測所述要測量光纖的缺陷。
6.按照權(quán)利要求5的光纖缺陷檢測方法，其中所述光強(qiáng)度分布模式服從具有弱平滑度的平滑過程和具有強(qiáng)平滑度的平滑過程以分別形成第一和第二模式，和在所述模式中設(shè)置所述第一和第二模式之間的差或通過將所述第二模式除以第一模式所獲得的比值變成最大值的區(qū)域，通過對所述模式中所述區(qū)域部分地使用傅立葉變換檢測所述要測量光纖的缺陷。
全文摘要
在用于檢測要測量光纖缺陷的缺陷檢測方法中,激光束從光纖光軸橫向方向照射到光纖上以檢查透過光纖內(nèi)部并且散射的前向散射光線光強(qiáng)度分布,和根據(jù)光強(qiáng)度分布模式檢測要測量光纖的缺陷,光強(qiáng)度分布模式服從于具有弱平滑度的平滑過程和具有強(qiáng)平滑度的平滑過程分別形成第一和第二模式,根據(jù)第一和第二模式之間的差或比值形成判斷模式,通過評價(jià)判斷模式幅度檢測要測量光纖的缺陷。光強(qiáng)度分布模式服從于傅立葉變換以形成頻譜模式,通過利用雙對數(shù)軸評價(jià)頻譜模式,對頻譜模式具有高貢獻(xiàn)率的判斷曲線被應(yīng)用于頻譜模式以查找頻譜模式與判斷曲線之間的偏差,根據(jù)該偏差的幅度檢測要測量光纖的缺陷。
文檔編號(hào)G01N21/00GK1340155SQ00803865
公開日2002年3月13日 申請日期2000年12月14日 優(yōu)先權(quán)日1999年12月16日
發(fā)明者東藤慎平, 仲恭宏, 相川明 申請人:古河電氣工業(yè)株式會(huì)社