專利名稱：電子元件檢測裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型屬于電子元件檢測裝置，特別是一種電子元件檢測裝置。
一般塑料本體與金屬薄板系以自動組裝的方式組合在一起，其系在組裝平臺上，藉由自動輸送裝置金屬薄板及塑料本體分別依序擺放在治具上，并令塑料本體置于金屬薄板上；以彎折裝置將金屬薄板的彎折片沿塑料本體的缺槽彎折靠合在塑料本體的頂面并靠近塑料料本體的凸出部，即可將塑料本體與金屬薄板組裝成為電子零件的待測物，以期快速生產(chǎn)、增加產(chǎn)品的競爭力、提高產(chǎn)品的品質(zhì)及減少人工組裝的成本。
然而，塑料本體與金屬薄板在自動化組裝過程中，往往因機械設備的不正常動作、塑料本體或金屬薄板未依正確位置擺放及其尺寸誤差等因素，導致金屬薄板的彎折片未沿缺槽被彎折靠合在塑料本體的頂面靠近凸出部位置上，或金屬薄板的彎折片根本未被彎折，進而，當將其安裝于物件上時因金屬薄板的彎折片凸出于塑料本體的凸出部，導致物伯在動作時發(fā)生錯誤的情況。故通常在塑料本體與金屬薄板被自動組裝成待測物后，必須檢驗彎折片是否被彎折，并靠合在塑料本體頂面靠近凸出部的位置上。
由于待測物尺寸較小，彎折片的尺寸更是遠小于待測物，因此不易以眼睛觀察出彎折片是否被彎折至正確的位置上，且若由人工以眼睛觀察的方式亦將違反原本自動組裝待測物的本意，故一般皆以激光檢測設備或高精度影像檢測設備檢測待檢測物的彎折片是否被彎折至正確的位置上。但激光檢測設備、影像檢測設備等造價昂貴、不易維修、保養(yǎng)，造成增加制造成本、導致使用上的諸多不便及困擾。
本實用新型包括具有導電特性的治具、測試元件、接觸元件及檢測電路；于治具上安裝由具不導電特性的塑料本體及具導電特性的金屬薄板組成的待測物；金屬薄板系平貼于塑料本體底面；設置于金屬薄板上的復數(shù)個彎折片系沿塑料本體的復數(shù)缺槽彎折靠合于塑料本體頂面靠近凸出部的位置上；測試元件活動設置于治具上的金屬薄板彎折片及塑料本體凸出部位置上方；接觸元件活動設置治具上方并鄰近測試元件處及與測試元件同步移動；檢測電路上設有訊號反應元件，其兩電極端分別與測試元件及接觸元件連接。
其中測試元件及接觸元件組設于驅(qū)動器上并隨驅(qū)動器動作分別壓靠于待測物及治具上的同步位移。
驅(qū)動器與測試元件相接的位置上設有套接部；測試元件延設滑動穿套并凸伸出套接部的桿體，并于桿體頂端設有藉以將桿體保持在套接部內(nèi)的凸緣部，其面對待測物一端設有壓靠部；于桿體上套設有位于測試元件壓靠部與驅(qū)動器套接部之間的彈性元件，并令測試元件向待測物移動的距離小于彈性元件最大壓縮位置至待測物之間的距離。
測試元件壓靠部底面設有與塑料本體凸出部中央突緣部相對應的凹陷部。
接觸元件面對治具的端面設有至少一探針，探針設置于中空桿體內(nèi)，其包括依序設置于中空桿體內(nèi)的彈簧及針體，并令針體部分凸出于桿體一端。
由于本實用新型包括具有導電特性的治具、測試元件、接觸元件及檢測電路；于治具上安裝由具不導電特性的塑料本體及具導電特性的金屬薄板組成的待測物；金屬薄板系平貼于塑料本體底面；設置于金屬薄板上的復數(shù)個彎折片系沿塑料本體的復數(shù)缺槽彎折靠合于塑料本體頂面靠近凸出部的位置上；測試元件活動設置于治具上的金屬薄板彎折片及塑料本體凸出部位置上方；接觸元件活動設置治具上方并鄰近測試元件處及與測試元件同步移動；檢測電路上設有訊號反應元件，其兩電極端分別與測試元件及接觸元件連接。檢測待測物時，若金屬薄板的彎折片呈凸出于塑料本體頂面的凸出部狀態(tài)，測試元件壓靠塑料本體凸出部的同時亦壓靠在呈凸出狀的彎折片上，使測試元件、彎折片、治具、接觸元件、與接觸元件連接的電極端、與測試元件連接的電極端及訊號反應元件相接通，進而使檢測電路形成閉合回路狀態(tài)，此時訊號反應元件動作，以表示金屬薄板的彎折片未沿塑料本體的缺槽被彎折靠合在塑料本體的頂面靠近凸出部位置上，或金屬薄板的彎折片根本未被彎折。不僅結(jié)構簡單、價格低廉，而且維修保養(yǎng)容易、使用方便，從而達到本實用新型的目的。
圖2、為

圖1中A部放大局部剖視圖。
本實用新型系利用塑料本體10頂面周緣與凸出部102之間的間距、金屬薄板12與具有導電特性治具2相接的狀態(tài)、塑料本體10具有不導電的絕緣特性及金屬薄板12的導電特性設計，藉以檢測待測物1金屬薄板12彎折片120是否沿塑料本體10的缺槽100被彎折靠合在塑料本體10的頂面靠近凸出部102的正確位置上。
如圖1所示，本實用新型包括驅(qū)動器6、測試元件3、接觸元件4及檢測電路5。
測試元件3及接觸元件4組設于驅(qū)動器6上并隨驅(qū)動器6動作同步產(chǎn)生位移，進而使測試元件3及接觸元件4同時分別壓靠在待測物1及治具2上。
組設于驅(qū)動器6上的測試元件3面對待測物1金屬薄板12的彎折片120及塑料本體10的凸出部102，并在驅(qū)動器6帶動下位移，以其相對塑料本體10凸出部102的部分可移動壓靠于凸出部102上。
組設于驅(qū)動器6上的接觸元件4鄰近測試元件3的相鄰位置，并在驅(qū)動器6帶動下隨測試元件3同步位移，即當測試元件3壓靠于塑料本體10凸出部102上時，接觸元件4恰可壓靠于治具2上。
檢測電路5的兩電極端51、52分別與測試元件3及接觸元件4連接，于檢測電路5上設有訊號反應元件50。
以本實用新型檢測待測物1時，若金屬薄板12的彎折片120呈凸出于塑料本體10頂面的凸出部102狀態(tài)，測試元件3壓靠塑料本體10凸出部102的同時亦壓靠在呈凸出狀的彎折片120上，使測試元件3、彎折片120、治具2、接觸元件4、與接觸元件4連接的電極端52、與測試元件3連接的電極端51及訊號反應元件50相接通，進而使檢測電路5形成閉合回路狀態(tài)，此時訊號反應元件50動作，以表示金屬薄板12的彎折片120未沿塑料本體10的缺槽100被彎折靠合在塑料本體10的頂面靠近凸出部102位置上，或金屬薄板12的彎折片120根本未被彎折。
驅(qū)動器6與測試元件3相接的位置上設有套接部60；測試元件3延設滑動穿套并凸伸出套接部60的桿體30，并于桿體30頂端設有藉以將桿體30保持在套接部60內(nèi)的凸緣部34，其面對待測物1一端設有壓靠部32；于桿體30上套設有位于測試元件3壓靠部32與驅(qū)動器6套接部60之間的彈性元件7，并令測試元件3向待測物1移動的距離小于彈性元件7最大壓縮位置至待測物1之間的距離，以令壓靠部32可確實壓靠于待測物1上。
如圖2所示，塑料本體10凸出部102中央設有突緣部1022時。測試元件3壓靠部32底面設有與塑料本體10凸出部102中央突緣部1022相對應的凹陷部322。以當驅(qū)動器6帶動測試元件3位移至待測物1上時，其壓靠部32恰可貼合于凸出部102上。如此，只要彎折片120呈凸出于凸出部102狀態(tài)時，彎折部120將與壓靠部32接觸，進而使訊號反應元件50動作。
接觸元件4面對治具2的端面設有至少一探針，探針設置于中空桿體內(nèi)，其包括依序設置于中空桿體內(nèi)的彈簧及針體，并令針體部分凸出于桿體一端，待探針移動接觸到治具后，可再向前移動適當距離，令針體接觸到治具后微向內(nèi)縮，以確保探針接觸到治具2。
權利要求1.一種電子元件檢測裝置，它包括具有導電特性的治具；于治具上安裝由具不導電特性的塑料本體及具導電特性的金屬薄板組成的待測物；金屬薄板系平貼于塑料本體底面；設置于金屬薄板上的復數(shù)個彎折片系沿塑料本體的復數(shù)缺槽彎折靠合于塑料本體頂面靠近凸出部的位置上；其特征在于所述的設置于治具上的金屬薄板彎折片及塑料本體凸出部位置上方活動設置有測試元件；治具上方鄰近測試元件處活動設置有與測試元件同步移動的接觸元件；測試元件及接觸元件之間接設有以兩電極端與其連接的檢測電路；于檢測電路上設有訊號反應元件。
2.根據(jù)權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于所述的測試元件及接觸元件組設于驅(qū)動器上并隨驅(qū)動器動作分別壓靠于待測物及治具上的同步位移。
3.根據(jù)權利要求2所述的電子元件檢測裝置，其特征在于所述的驅(qū)動器與測試元件相接的位置上設有套接部；測試元件延設滑動穿套并凸伸出套接部的桿體，并于桿體頂端設有藉以將桿體保持在套接部內(nèi)的凸緣部，其面對待測物一端設有壓靠部；于桿體上套設有位于測試元件壓靠部與驅(qū)動器套接部之間的彈性元件，并令測試元件向待測物移動的距離小于彈性元件最大壓縮位置至待測物之間的距離。
4.根據(jù)權利要求3所述的電子元件檢測裝置，其特征在于所述的測試元件壓靠部底面設有與塑料本體凸出部中央突緣部相對應的凹陷部。
5.根據(jù)權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于所述的接觸元件面對治具的端面設有至少一探針，探針設置于中空桿體內(nèi)，其包括依序設置于中空桿體內(nèi)的彈簧及針體，并令針體部分凸出于桿體一端。
專利摘要一種電子元件檢測裝置。為提供一種結(jié)構簡單、價格低廉、維修保養(yǎng)容易、使用方便的電子元件檢測裝置，提出本實用新型，它包括具有導電特性的治具、測試元件、接觸元件及檢測電路；于治具上安裝由具不導電特性的塑料本體及具導電特性的金屬薄板組成的待測物；金屬薄板系平貼于塑料本體底面；設置于金屬薄板上的復數(shù)個彎折片系沿塑料本體的復數(shù)缺槽彎折靠合于塑料本體頂面靠近凸出部的位置上；測試元件活動設置于治具上的金屬薄板彎折片及塑料本體凸出部位置上方；接觸元件活動設置治具上方并鄰近測試元件處及與測試元件同步移動；檢測電路上設有訊號反應元件，其兩電極端分別與測試元件及接觸元件連接。
文檔編號G01R31/00GK2522868SQ0127881
公開日2002年11月27日 申請日期2001年12月19日 優(yōu)先權日2001年12月19日
發(fā)明者張正寬 申請人:及成企業(yè)股份有限公司