專(zhuān)利名稱(chēng)：互換式測(cè)試模的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種互換式測(cè)試模，主要用于對(duì)印刷電路板電路的測(cè)試。
本實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種互換式測(cè)試模，該測(cè)試模克服了現(xiàn)有技術(shù)中制作成本高，兼容性不好的缺陷，提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，成本低，使用方便，工作效率高，可在各種測(cè)試機(jī)上使用，并不受密度和面積限制的兼容性好的互換式測(cè)試模。
本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的本實(shí)用新型包括絕緣板、測(cè)試針、絕緣底盤(pán)、套管、探針和測(cè)試接口，絕緣板上插有測(cè)試針，絕緣底盤(pán)上插有套管，套管內(nèi)放置帶有彈簧的探針，絕緣板上的測(cè)試針與絕緣底盤(pán)上的探針相互對(duì)應(yīng)。
套管的底部連接有導(dǎo)線，導(dǎo)線的另一端與測(cè)試接口連接。
絕緣板在絕緣底盤(pán)上方，絕緣板和絕緣底盤(pán)之間用螺栓將其相互固定。
測(cè)試針為金屬棒。絕緣板可以為多層。
優(yōu)點(diǎn)1、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，制作成本低；2、對(duì)各種測(cè)試機(jī)有較好的兼容性；3、由于被測(cè)產(chǎn)品不是直接與探針接觸，所以探針的大小無(wú)需根據(jù)被測(cè)產(chǎn)品的密度做太大的調(diào)整，因此可選用價(jià)格低廉的、比較大的探針。
4、可根據(jù)測(cè)試機(jī)的不同及被測(cè)產(chǎn)品的不同任意設(shè)計(jì)測(cè)試模的密度和面積，減少制作費(fèi)用；5、可將絕緣板和測(cè)試針部分放置在現(xiàn)有技術(shù)中專(zhuān)用測(cè)試模上與其配套使用，也可與泛用機(jī)的針盤(pán)配套使用。
附圖
3為本實(shí)用新型實(shí)施例結(jié)構(gòu)示意圖。
1絕緣板、2測(cè)試針、3探針、4套管、5絕緣底盤(pán)、6測(cè)試接口、7彈簧、8印刷電路板、9導(dǎo)線、10螺栓絕緣板1在絕緣底盤(pán)5上方，絕緣板1和絕緣底盤(pán)5之間用螺栓10將其相互固定。
測(cè)試針2為金屬棒。絕緣板1可以為多層。
使用該互換式測(cè)試模時(shí)，絕緣板1中插入與被測(cè)印刷電路板8的電路相對(duì)應(yīng)的測(cè)試針2，絕緣底盤(pán)5中插入與被測(cè)印刷電路板8的電路相對(duì)應(yīng)的探針3，測(cè)試針2與探針3相互對(duì)應(yīng)，被測(cè)印刷電路板8放置在絕緣板1上方相對(duì)應(yīng)的位置，測(cè)試機(jī)將印刷電路板8向下壓，使測(cè)試針2的上端與印刷電路板8的被測(cè)部分接觸，測(cè)試針2的下端與絕緣底盤(pán)5上的探針3接觸，并壓縮探針彈簧7以保證測(cè)試針2的上端與印刷電路板8接觸良好，同時(shí)可避免測(cè)試針2的上端將電路板頂壞，此時(shí)，探針套管4底部的導(dǎo)線10經(jīng)測(cè)試接口6與測(cè)試儀器接通，即可對(duì)印刷電路板8進(jìn)行測(cè)試。
如圖3所示，當(dāng)被測(cè)印刷電路板8的密度很大時(shí)，為防止絕緣板1下方的測(cè)試針2之間相互接觸，可設(shè)置多塊絕緣板1，使絕緣板1下方的測(cè)試針2斜置以加大測(cè)試針2之間的距離，從而保證測(cè)試的準(zhǔn)確性。由于測(cè)試針下端的距離拉大，在選擇絕緣底盤(pán)5上的探針3時(shí)就有較大的靈活性，無(wú)需選擇太小太貴的探針，可節(jié)約很大一部分的成本。
在現(xiàn)有技術(shù)中，專(zhuān)用測(cè)試模為在絕緣板上插有帶套管的探針，本實(shí)用新型可將其絕緣板1及測(cè)試針2部分與現(xiàn)有技術(shù)配套使用，即將該部分放置在專(zhuān)用測(cè)試模的上方，使測(cè)試針2與專(zhuān)用測(cè)試模的探針接觸，達(dá)到測(cè)試目的。
也可將本實(shí)用新型的絕緣板1和測(cè)試針2部分與泛用機(jī)上的針盤(pán)配套使用，可根據(jù)需要任意設(shè)計(jì)測(cè)試模的面積和密度，不受泛用機(jī)固有針盤(pán)大小的限制。
權(quán)利要求1.一種互換式測(cè)試模，包括絕緣板、測(cè)試針、絕緣底盤(pán)、套管、探針和測(cè)試接口，其特征在于絕緣板上插有測(cè)試針，絕緣底盤(pán)上插有套管，套管內(nèi)放置帶彈簧的探針，絕緣板上的測(cè)試針與絕緣底盤(pán)上的探針相互對(duì)應(yīng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的互換式測(cè)試模，其特征在于套管的底部連接有導(dǎo)線，導(dǎo)線的另一端與測(cè)試接口連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的互換式測(cè)試模，其特征在于絕緣板在絕緣底盤(pán)的上方，絕緣板和絕緣底盤(pán)之間有螺栓將其相互固定。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的互換式測(cè)試模，其特征在于測(cè)試針為金屬棒。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的互換式測(cè)試針，其特征在于絕緣板可為多層。
專(zhuān)利摘要本實(shí)用新型提供了一種互換式測(cè)試模，包括絕緣板、測(cè)試針、絕緣底盤(pán)和測(cè)試接口，主要用于對(duì)印刷電路板的測(cè)試，特點(diǎn)是測(cè)試針插在絕緣板上，帶彈簧的探針經(jīng)套管插在絕緣底盤(pán)上，測(cè)試針與探針相互對(duì)應(yīng)，套管下端連接有導(dǎo)線，導(dǎo)線的另一端與測(cè)試接器連接，該實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，制作成本低，可在各種測(cè)試機(jī)上互換使用，有較好的兼容性。
文檔編號(hào)G01R31/28GK2545617SQ0222673
公開(kāi)日2003年4月16日 申請(qǐng)日期2002年4月5日 優(yōu)先權(quán)日2002年4月5日
發(fā)明者郭紅建 申請(qǐng)人:郭紅建