專利名稱:利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置制造方法
【專利摘要】一種利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置，應用在集成電路領(lǐng)域中的一測試系統(tǒng)上，該偵測裝置包括一諧振電路及一檢知電路，該諧振電路包括一感應件，該感應件設(shè)于鄰近該測試系統(tǒng)的一測試插座的位置，且在感測到已測試完畢的一待測物還被插接在該測試插座時，能觸發(fā)該諧振電路產(chǎn)生一特性變化訊號；該檢知電路系分別電氣連接至該諧振電路及該測試系統(tǒng)的一控制單元，當該檢知電路測得該特性變化訊號時，能據(jù)以判斷是否通知該控制單元關(guān)閉對該測試系統(tǒng)的一機器手臂的供電。如此，除可避免在大量測試過程中，因該機器手臂未確實將已測試完畢的待測物移開，而造成的損壞外，亦能避免計算機裝置于辨識上的誤判，進而有效提高測試的效率及準確性。
【專利說明】利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實用新型是關(guān)于偵測裝置，尤其指一種利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置， 以避免在大量測試過程中，因已測試完畢的待測物未確實自一測試插座被移開，而另一待 測物又將被送至該測試插座時所造成的損壞，并避免過去利用計算機裝置進行辨識所造成 的誤判，進而有效提高測試的效率及準確性。

【背景技術(shù)】
[0002] 近年來，隨著電子產(chǎn)業(yè)的蓬勃發(fā)展，及受到電子產(chǎn)品輕薄化設(shè)計的影響，集成電路 (integrated circuit，簡稱1C)已被廣泛地應用于各種電子產(chǎn)品上，而成為不可或缺的電 子組件。一般而言，為能確保集成電路的生產(chǎn)良率，業(yè)者通常會于出貨之前，對集成電路進 行電路測試，以能淘汰出不良品。
[0003] 按，請參閱圖1所示，集成電路A被執(zhí)行電路測試時，業(yè)者通常會利用一吸附式的 機器手臂11，將集成電路A在復數(shù)個測試插座12之間位移，以能執(zhí)行各種測試。惟，前述的 測試方式中，集成電路A會往復地被安裝或拔離于該測試插座12上，因此，該測試插座12 有時會殘留受損的集成電路A的余肩。又，在長時間的使用下，該測試插座12還會蓄積灰 塵或其它異物，當工作人員未能實時察覺或清理的情況下，易使后續(xù)置入的集成電路A因 壓抵到異物而陸續(xù)受損，且該異物亦會影響到集成電路A與該測試插座12內(nèi)探針的接觸， 造成集成電路A損壞率增加及測試質(zhì)量不佳的缺失。
[0004] 承上，請參閱圖1所示，為使測試系統(tǒng)10的測試信號，能夠確實地傳送至集成電路 A，以測試出該集成電路A是否能正常工作，該機器手臂11會將集成電路A按壓并插設(shè)于該 測試插座12上，以使集成電路A的端子和插座的探針相接觸。然而，在插拔集成電路A的 過程中，當該機器手臂11不慎拔取集成電路A失敗時，將會造成該集成電路A遺留在該測 試插座12上，導致后續(xù)的集成電路A被按壓至該測試插座12時，會重迭至原先的集成電路 A上而無法正常執(zhí)行電路測試，甚至，會發(fā)生將原先的集成電路A的測試結(jié)果，誤認為是后 續(xù)的集成電路A的測試結(jié)果，而錯誤地判斷了集成電路A的良劣質(zhì)量。此外，將集成電路A 重復迭置按壓時，亦可能造成該測試插座12或集成電路A的損壞，提高了業(yè)者的生產(chǎn)與維 修成本。
[0005] 為能解決前述問題，業(yè)者通常會在測試插座12的上方增設(shè)一遠程監(jiān)視裝置（如： 攝影機），該遠程監(jiān)視裝置會不斷地拍攝該測試插座12上的畫面，并將拍攝圖片傳送至一 計算機裝置，嗣，該計算機裝置會將拍攝圖片與一標準圖片進行比對，其中該標準圖片為該 測試插座12上未插設(shè)有集成電路A的畫面，如此，計算機裝置即可判斷出當前的測試插座 12上，是否存有未移除的集成電路A，以能通知工作人員將該集成電路A移除。惟，前述的 方式雖然能夠大幅地避免集成電路A被重復迭置的問題，但極易因集成電路A所封裝顏色 與該測試插座12相似，或者該測試插座12周邊的環(huán)境在不同時間上的些微差異（如：燈 光、工作人員的影子），令計算機裝置在比對拍攝圖片與標準圖片上更加困難，而常出現(xiàn)誤 判的情況，造成沒完全發(fā)現(xiàn)未被移除的集成電路A，或不易辨識到測試插座12上的異物。此 夕卜，為達成前述的方式，業(yè)者就需額外支出一筆購置昂貴設(shè)備的費用，使得業(yè)者負擔的成本 會更加沉重。
[0006] 故，如何針對前述缺失，設(shè)計出一種造價便宜又準確的偵測裝置，以得知當前的測 試插座上，是否存有未移除的集成電路，即成為相關(guān)業(yè)者的重要課題。 實用新型內(nèi)容
[0007] 本實用新型的目的是提供一種利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置，以期能有效 改善前述的諸多缺失。
[0008] 申請人:為改進前述測試集成電路上，所使用的檢查方式無法有效避免集成電路被 重復迭置的缺點，經(jīng)過長久努力研宄與實驗，終于開發(fā)設(shè)計出本實用新型的一種利用諧振 電路偵測待測物的偵測裝置，以期能有效改善前述的諸多缺失。
[0009] 為實現(xiàn)上述目的，本實用新型提供的利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置，該偵 測裝置是應用在集成電路領(lǐng)域中的一測試系統(tǒng)上，該測試系統(tǒng)還包括一測試單元、一機器 手臂及一控制單元，該測試單元設(shè)有一測試插座，該測試插座是供一待測物插接其上，以令 該測試單元測試該待測物是否能正常運作；該機器手臂能將該待測物位移且插接至該測試 插座，或?qū)⒁褱y試完畢的該待測物由該測試插座上拔出且移開；該控制單元分別電氣連接 至一電源、該測試單元及該機器手臂，以開啟或關(guān)閉該電源對該測試單元及該機器手臂的 供電，且驅(qū)動或停止該測試單元及該機器手臂的運作；該偵測裝置與該控制單元相電氣連 接，以令該控制單元能通過該偵測裝置，偵測該測試插座上是否還存在該待測物，并據(jù)以驅(qū) 動或停止該機器手臂將另一待測物位移且插接至該測試插座，該偵測裝置包括一諧振電路 及一檢知電路，該諧振電路包括一感應件，該感應件設(shè)于鄰近該測試插座的位置，且在感測 到該待測物被插接至該測試插座時，能觸發(fā)該諧振電路產(chǎn)生一特性變化訊號；該檢知電路 系分別電氣連接至該諧振電路及該控制單元，當該檢知電路測得該特性變化訊號時，能據(jù) 以判斷是否通知該控制單元關(guān)閉對該機器手臂的供電。
[0010] 如此，業(yè)者由于該測試系統(tǒng)中增設(shè)該偵測裝置，即可避免在大量測試的過程中，因 該機器手臂未確實地將已測試完畢的待測物移開，而又將另一待測物送至該測試插座時， 所造成的損壞，此外，由于該偵測裝置的造價相對便宜且偵測準確，故除能節(jié)省過去業(yè)者增 設(shè)遠程監(jiān)視裝置及計算機裝置的成本外，亦能避免計算機裝置于辨識上的誤判，進而有效 提高測試的效率及準確性。
[0011] 為便貴審查委員能對本實用新型目的、技術(shù)特征及其功效，做更進一步的認識與 了解，舉實施例配合附圖詳細說明如下。

【附圖說明】

[0012] 圖1為公知測試系統(tǒng)的示意圖；
[0013] 圖2為本實用新型一較佳實施例的測試系統(tǒng)硬件方塊示意圖；
[0014] 圖3為本實用新型一較佳實施例的測試系統(tǒng)局部示意圖；
[0015] 圖4為本實用新型另一較佳實施例中測試系統(tǒng)局部示意圖；及
[0016] 圖5為本實用新型一較佳實施例的偵測裝置的諧振電路的電路圖。
[0017] 附圖中主要組件符號說明
[0018] 公知部分：
[0019] 測試系統(tǒng)10,機器手臂11，測試插座12,集成電路A ;
[0020] 本實用新型部分：
[0021] 測試系統(tǒng)20,測試單元21，測試插座211，固定板212,機器手臂22,控制單元23， 偵測裝置3,諧振電路31，感應件311，電感L，電容C，電阻R s，檢知電路32,待測物B。

【具體實施方式】
[0022] 本實用新型是一種利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置，請參閱圖2及圖3所示， 在本實用新型的一較佳實施例中，該偵測裝置3是應用在集成電路領(lǐng)域中的一測試系統(tǒng)20 上，該測試系統(tǒng)20還包括一測試單元21、一機器手臂22及一控制單元23,該測試單元21 設(shè)有至少一測試插座211，該測試插座211是供一待測物B插接其上，以令該測試單元21測 試該待測物B是否能正常運作。在本較佳實施例中，該待測物B為一集成電路；該機器手臂 22能將該待測物B位移且插接至該測試插座211，或?qū)⒁褱y試完畢的該待測物B由該測試 插座211上拔出且移開；該控制單元23分別電氣連接至一電源、該測試單元21及該機器手 臂22,以開啟或關(guān)閉該電源對該測試單元21及該機器手臂22的供電，且驅(qū)動或停止該測試 單元21及該機器手臂22的運作。
[0023] 請參閱圖2及圖3所示，該偵測裝置3是與該控制單元23相電氣連接，以令該控制 單元23能通過該偵測裝置3,偵測該測試插座211上是否還存在該待測物B，并據(jù)以驅(qū)動或 停止該機器手臂22將另一待測物B位移且插接至該測試插座211，該偵測裝置3包括一諧 振電路31及一檢知電路32,該諧振電路31包括一感應件311，該感應件311設(shè)于鄰近該測 試插座211的位置，且在感測到該待測物B被插接至該測試插座211時，能觸發(fā)該諧振電路 31產(chǎn)生一特性變化訊號；該檢知電路32分別電氣連接至該諧振電路31及該控制單元23， 當該檢知電路32測得該特性變化訊號時，能據(jù)以判斷是否通知該控制單元23關(guān)閉對該機 器手臂22的供電。
[0024] 在本實用新型的另一較佳實施例中，請參閱圖3所示，該測試單元21還包括一固 定板212,該固定板212設(shè)于該測試插座211的頂面周緣，該感應件311則設(shè)于該固定板212 鄰近該測試插座211的一側(cè)面，以感測該待測物B是否被插接至該測試插座211，惟，在本 實用新型的其它實施例中，如圖4所示，該感應件311亦可設(shè)于該測試插座211的頂面，無 論其設(shè)置態(tài)樣為何，請參閱圖2及圖3,只要該感應件311是設(shè)于鄰近該測試插座211的位 置，且在感測到該待測物B被插接至該測試插座211時，能觸發(fā)該諧振電路31產(chǎn)生該特性 變化訊號，即為本實用新型在此欲保護的范圍。
[0025] 承上，請參閱圖2、圖3及圖5所示，該諧振電路31還包括一電容C及一電阻R s，該 感應件311為一金屬線圈，以作為該諧振電路31上的一電感L，并與該電容C及該電阻艮形 成諧振電路，該電感L能在該待測物B被插設(shè)于該測試插座211上，而鄰近于該感應件311 時，對該諧振電路31造成一特性變化，該特性變化除可指，因該待測物B被插設(shè)于該測試插 座211上，而令該電感L產(chǎn)生的特性變化以外，亦可指因該電感L的特性變化，而相對地產(chǎn) 生特性變化的諧振頻率f〇、等效電阻&或質(zhì)量因子Q(請參考下列公式（1)?（3)所示，是 該諧振電路31的諧振頻率&、等效電阻R p或質(zhì)量因子Q與其電感L、電容C及電阻R s之間 的關(guān)系式：

【權(quán)利要求】
1. 一種利用諧振電路偵測待測物的偵測裝置，其特征是，應用一測試系統(tǒng)上，該測試系 統(tǒng)包括一測試單元、一機器手臂及一控制單元，該測試單元上設(shè)有一測試插座，該測試插座 供一待測物插接其上；該機器手臂將該待測物位移且插接至該測試插座，或?qū)⒁褱y試完畢 的該待測物由該測試插座上拔出且移開；該控制單元分別電氣連接至一電源、該測試單元 及該機器手臂；該偵測裝置包括： 一諧振電路，包括一感應件，該感應件設(shè)于鄰近該測試插座的位置，且在感測到該待測 物被插接至該測試插座時，能觸發(fā)該諧振電路產(chǎn)生一特性變化訊號；及 一檢知電路，該檢知電路分別電氣連接至該諧振電路及該控制單元，當該檢知電路測 得該特性變化訊號時，以判斷是否通知該控制單元關(guān)閉對該機器手臂的供電。2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的偵測裝置，其特征是，該待測物為一集成電路。3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的偵測裝置，其特征是，該測試單元包括一固定板，該固定板設(shè) 于該測試插座的頂面周緣，該感應件則設(shè)于該固定板鄰近該測試插座的一側(cè)面。4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的偵測裝置，其特征是，該感應件設(shè)于該測試插座的頂面。5. 根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4所述的偵測裝置，其特征是，該感應件為一金屬線圈，作為 該諧振電路上的一電感，該電感能在該待測物被插接至該測試插座時，對該諧振電路造成 一特性變化。6. 根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4所述的偵測裝置，其特征是，該感應件為一金屬板，作為該 諧振電路上的一電容，該電容能在該待測物被插接至該測試插座時，對該諧振電路造成一 特性變化。
【文檔編號】G01R31-28GK204302447SQ201420723647
【發(fā)明者】陳正泰 [申請人]延富科技股份有限公司