專利名稱：金屬檢出裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于食品等檢查線上，在搬送被檢查體期間，檢出被檢查體內(nèi)是否有金屬混入的金屬檢出裝置；并為直觀地進(jìn)行檢出時(shí)所需的參數(shù)設(shè)定操作或被檢出金屬識別的技術(shù)。
背景技術(shù)：
作為食品等檢查線上使用的金屬檢出裝置，在搬送被檢查體期間，為能進(jìn)行混入金屬的檢出，而采用使被檢查體的搬送路線上發(fā)生磁場，檢出因被檢查體內(nèi)混入的金屬引起磁場變化的方法。


圖19表示的是檢出磁場變化的金屬檢出裝置10的結(jié)構(gòu)。
該金屬檢出機(jī)10中設(shè)有輸出預(yù)定頻率的信號D的信號發(fā)生器11；接收信號D，并在被檢查體1的搬送路線上發(fā)生預(yù)定頻率的交變磁場E的發(fā)送線圈12；包括在分別等量接收該交變磁場E的位置沿著被檢查體1的搬送方向配置，并互相差動(dòng)連接的兩個(gè)接收線圈13a、13b，檢出與因通過交變磁場E中的物體引起的磁場變化相對應(yīng)的信號的磁場變化檢出部13；通過與信號D相同頻率的信號來對磁場變化檢出部13的輸出信號R作同步檢波的檢波部16；以及基于檢波部16的輸出信號判定被檢查體1內(nèi)是否混入金屬的控制部17。
這樣構(gòu)成的傳統(tǒng)的金屬檢測裝置10中，當(dāng)交變磁場E中不存在被檢查體1時(shí)，由于兩個(gè)接收線圈13a、13b產(chǎn)生的信號處于振幅相等、相位反轉(zhuǎn)的平衡狀態(tài)，所以信號R的振幅為零，檢波部16的輸出也為零；但當(dāng)交變磁場E中存在被檢查體1時(shí)，由于被檢查體1本身及混入被檢查體1內(nèi)的金屬的影響，兩個(gè)接收線圈13a、13b產(chǎn)生的兩信號的平衡狀態(tài)被打破，隨著被檢查體1的移動(dòng)輸出振幅及相位變化的信號R。
此時(shí)的信號R，不僅包含因混入金屬對交變磁場E的影響而產(chǎn)生的信號成分，還包含因被檢查體1本身(包括包裝材料等)對交變磁場E的影響而產(chǎn)生的信號成分，這樣，因該被檢查體1本身引起的信號成分而確定了混入金屬的檢出界限。
該被檢查體1本身對交變磁場的影響因被檢查體含有水分量、包裝材料的材質(zhì)等不同而大相徑庭。
因此，在以前，為了使事先讓被檢查體1的合格樣品通過交變磁場E時(shí)，檢波部16的輸出信號振幅為最小，而設(shè)定同步檢波的相位，并將大于該最小振幅值的電壓值作為閾值而自動(dòng)設(shè)定或手動(dòng)輸入設(shè)定，或手動(dòng)指定對于最小振幅值的倍率，并將該指定倍值的電壓設(shè)定為閾值。當(dāng)對被檢查體1進(jìn)行檢查，被檢查體1通過交變磁場E時(shí)，檢波部16的輸出信號振幅超過閾值時(shí)，就判定為該被檢查體1內(nèi)混入有金屬異物。
這樣，為檢出金屬將閾值以電壓值或倍率值來設(shè)定的技術(shù)，例如，在日本專利文獻(xiàn)特許第2574694號中有公開。
但是，上述為判定有無金屬混入將閾值以電壓值或倍率值輸入或指定的方法中，用戶側(cè)并不能直觀地知道能夠檢出多大程度大小的金屬。
還有，不能知道被判定為有混入金屬的被檢查體內(nèi)混入了多大程度大小的金屬，對用戶而言，不能說使用方便。
本發(fā)明的目的在于提供解決了該問題，用大小來表示用以判定閾值或被檢查體內(nèi)混入的金屬，使用戶能直觀把握、使用且更加方便的金屬檢出裝置。
發(fā)明的公開為達(dá)成上述目的，本發(fā)明權(quán)利要求1所述的金屬檢出裝置，其特征在于設(shè)有
信號發(fā)生器21；發(fā)送線圈22，接收所述信號發(fā)生器21輸出的信號，并使被檢查體的搬送路線上發(fā)生與該信號頻率相等頻率的交變磁場；磁場變化檢出部23，包括在接收所述交變磁場的位置上沿著所述搬送路線配置的兩個(gè)接收線圈23a、23b，并輸出與通過所述交變磁場中的物體引起的磁場變化相對應(yīng)的信號；檢波部26，通過所述信號發(fā)生器21輸出的信號頻率相等的信號對所述磁場變化檢出部23的輸出信號進(jìn)行同步檢波；判定部件31，對所述檢波部26的輸出信號與閾值作比較，判定被檢查體內(nèi)有無混入金屬；以及顯示器36，且所述金屬檢出裝置還設(shè)有存儲(chǔ)器33，存儲(chǔ)大小各異的金屬的多個(gè)異物樣品分別通過所述交變磁場中時(shí)，所述檢波部26輸出信號的數(shù)據(jù)和表示各異物樣品大小的數(shù)據(jù)，基于所述存儲(chǔ)器33存儲(chǔ)的異物樣品數(shù)據(jù)，在所述顯示器36顯示可用所述判定部件31檢出的金屬的大小。
另外，本發(fā)明權(quán)利要求2所述的金屬檢出裝置，其特征在于在如權(quán)利要求1所述的金屬檢出裝置中設(shè)有操作部35，通過該操作部35的操作，能指定所述異物樣品的大小，并將與指定大小相對應(yīng)的閾值設(shè)定在所述判定部件31內(nèi)。
另外本發(fā)明權(quán)利要求3所述的金屬檢出裝置，其特征在于設(shè)有信號發(fā)生器21；發(fā)送線圈22，接收所述信號發(fā)生器21輸出的信號，并使被檢查體的搬送路線發(fā)生與該信號頻率相等頻率的交變磁場；磁場變化檢出部23，包括在接收所述交變磁場的位置上沿著所述搬送路線配置的兩個(gè)接收線圈23a、23b，并輸出與通過所述交變磁場中的物體引起的磁場變化相對應(yīng)的信號；
檢波部26，通過與所述信號發(fā)生器21輸出的信號頻率相等的信號對所述磁場變化檢出部23的輸出信號進(jìn)行同步檢波；判定部件31，對所述檢波部26的輸出信號與閾值作比較，判定被檢查體內(nèi)有無混入金屬；以及顯示器36，且所述金屬檢出裝置還設(shè)有存儲(chǔ)器33，存儲(chǔ)大小各異的金屬的多個(gè)異物樣品分別通過所述交變磁場中時(shí)，所述檢波部26輸出信號的數(shù)據(jù)和表示各異物樣品大小的數(shù)據(jù)；以及混入金屬顯示部件34，當(dāng)由所述判定部件31判定為被檢查體內(nèi)混入有金屬時(shí)，基于所述檢波部26輸出的信號和所述存儲(chǔ)器33存儲(chǔ)的異物樣品數(shù)據(jù)，求出被檢查體內(nèi)混入的金屬的大小并顯示在所述顯示器36上。
另外本發(fā)明權(quán)利要求4所述的金屬檢出裝置，其特征在于設(shè)有信號發(fā)生器21；發(fā)送線圈22，接收所述信號發(fā)生器輸出的信號，并使被檢查體的搬送路線上發(fā)生與該信號頻率相等頻率的交變磁場；磁場變化檢出部23，包括在接收所述交變磁場的位置上沿著所述搬送路線配置的兩個(gè)接收線圈23a、23b，并輸出與通過所述交變磁場中的物體引起的磁場變化相對應(yīng)的信號；檢波部26，通過與所述信號發(fā)生器21輸出的信號頻率相等的信號對所述磁場變化檢出部23的輸出信號進(jìn)行同步檢波；判定部件31，對所述檢波部26的輸出信號與閾值作比較，判定被檢查體內(nèi)有無金屬混入；顯示器36，且所述金屬檢出裝置還設(shè)有存儲(chǔ)器33，存儲(chǔ)大小各異的金屬的多個(gè)異物樣品分別通過交變磁場中時(shí)，檢波部26輸出信號的數(shù)據(jù)與表示各異物樣品大小的數(shù)據(jù)，同時(shí)還存儲(chǔ)合格樣品通過交變磁場中時(shí)檢波部26輸出的信號數(shù)據(jù)；基于所述存儲(chǔ)器33存儲(chǔ)的異物樣品數(shù)據(jù)和合格樣品數(shù)據(jù)，求出異物樣品和合格樣品的輸出比值最大時(shí)的最佳檢波相位，進(jìn)一步求出該最佳檢波相位時(shí)合格樣品和各異物樣品的檢波輸出之比值與各異物樣品大小的關(guān)系，同時(shí)設(shè)定與所述比值的基準(zhǔn)值相對應(yīng)的所述閾值。
另外，本發(fā)明權(quán)利要求5所述的金屬檢出裝置，其特征在于在權(quán)利要求4所述的金屬檢出裝置中，對于所述交變磁場的所述搬送路線的位置可變更，在通過變更而設(shè)定的多個(gè)不同的所述位置上，讓合格樣品通過所述交變磁場中，求出每個(gè)位置的所述閾值，根據(jù)各位置和對應(yīng)于該各位置的各閾值將能夠檢出異物的大小顯示在顯示器36上。
另外，本發(fā)明權(quán)利要求6所述的金屬檢出裝置，其特征在于在權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的金屬檢出裝置中，讓大小各異的金屬的多個(gè)的異物樣品分別通過所述金屬檢出裝置的所述交變磁場中，作為主數(shù)據(jù)取得所述檢波部26輸出的信號的數(shù)據(jù)；將該主數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在其它所述金屬檢出裝置的所述存儲(chǔ)器33中，同時(shí)讓所述多個(gè)異物樣品分別通過其它的所述金屬檢出裝置的交變磁場中，根據(jù)檢波部26輸出的信號數(shù)據(jù)來補(bǔ)償所述主數(shù)據(jù)。
附圖的簡單說明圖1是本發(fā)明實(shí)施例的結(jié)構(gòu)的示圖。
圖2是表示實(shí)施例要部設(shè)定模式時(shí)處理步驟的流程圖。
圖3是說明異物樣品位置與磁場變化關(guān)系的示圖。
圖4是對應(yīng)于磁場變化的信號圖。
圖5是檢波輸出的利薩如波形圖。
圖6是比值與大小的關(guān)系的示圖。
圖7是對應(yīng)于設(shè)定閾值的大小的顯示例的示圖。
圖8是表示實(shí)施例要部檢查模式時(shí)的處理步驟的流程圖。
圖9是最佳檢波相位狀態(tài)時(shí)的利薩如波形圖。
圖10是混入金屬的大小的顯示例的示圖。
圖11是能夠檢出大小的顯示例的示圖。
圖12是說明求檢波相位的其它方法的示圖。
圖13是本發(fā)明實(shí)施例2的前視圖。
圖14是本發(fā)明實(shí)施例2的俯視圖。
圖15是本發(fā)明實(shí)施例2的側(cè)視圖。
圖16是示意表示本發(fā)明實(shí)施例2中搬送路線位置變更狀態(tài)的前視圖。
圖17是表示本發(fā)明實(shí)施例2要部設(shè)定模式時(shí)的處理步驟的流程圖。
圖18是本發(fā)明實(shí)施例2中能夠檢出大小的顯示例的示圖。
圖19是傳統(tǒng)裝置的結(jié)構(gòu)的示圖。
本發(fā)明的最佳實(shí)施方式以下參照附圖就本發(fā)明的實(shí)施例1進(jìn)行說明。
圖1表示適用本發(fā)明的金屬檢出裝置20的結(jié)構(gòu)。
圖1中，信號發(fā)生器21發(fā)生預(yù)定頻率的信號D并輸出給發(fā)送線圈22及后述的檢波部26。
發(fā)送線圈22接收信號D，并使被檢查體1的搬送路線(一般由輸送器形成)2發(fā)生與該信號D相同頻率f的交變磁場E。
發(fā)送線圈22發(fā)生的交變磁場E由磁場變化檢測部23的兩個(gè)接收線圈23a、23b接收。磁場變化檢出部23輸出與因通過交變磁場E的物體而引起的磁場變化相對應(yīng)的信號，兩個(gè)接收線圈23a、23b在分別等量接收交變磁場E位置上沿著被檢查體1的搬送方向并排且互相差動(dòng)連接。
還有，為讓發(fā)送線圈22及接收線圈23a、23b相互的相對位置不變化，而固定在例如圍繞搬送路線2的公共框體上。
還有，該發(fā)送線圈22和接收線圈23a、23b的配置有如下幾種情況隔著搬送路線2，使發(fā)送線圈22和兩個(gè)接收線圈23a、23b相對；圍繞搬送路線2地纏繞的發(fā)送線圈22前后分別同軸狀配置接收線圈23a、23b；以及將發(fā)送線圈22和兩個(gè)接收線圈23a、23b配置在搬送路線2的上面或下面的同一平面上。
由于兩個(gè)接收線圈23a、23b差動(dòng)連接在等量接收交變磁場E的位置上，所以當(dāng)被檢查體1或混入金屬對交變磁場E沒有影響時(shí)，兩個(gè)接收線圈23a、23b產(chǎn)生的信號振幅相等、相位相反，因此連接點(diǎn)間的信號R的振幅則為零。
另外，在此雖說明的是磁場變化檢出部23的兩個(gè)接收線圈23a、23b差動(dòng)連接的情況，也可以使兩個(gè)接收線圈23a、23b產(chǎn)生的信號通過模擬減法器來減法處理地構(gòu)成磁場變化檢出部23。還有，兩個(gè)接收線圈23a、23b接收的磁場不等量的情況下，可以通過可變電阻或放大率不同的放大器來補(bǔ)償接收線圈23a、23b產(chǎn)生的信號的差值。
另外，在搬送路線2的近旁設(shè)有用以檢出被檢查體1進(jìn)入變交磁場E內(nèi)的定時(shí)的光學(xué)式的進(jìn)入傳感器24。并且，通過后述檢波部26的輸出信號X、Y的振幅變化能探測出物品進(jìn)入了磁場，這種情況下，進(jìn)入傳感器24可以省略。
檢波部26根據(jù)與信號D相同頻率的信號，對磁場變化檢出部23的輸出信號R作同步檢波。
本實(shí)施例的檢波部26為正交二相型，由如下構(gòu)成將信號D移相的移相器26a；對移相器26a的輸出信號L和信號R進(jìn)行混合的混頻器26b；抽出混頻器26b輸出中與被檢查體1的搬送速度相對應(yīng)的低頻成分的BPF26c；對信號L的相位作90°移相的移相器26d；將信號R和移相器26d的輸出信號L’的進(jìn)行混合的混頻器26e；以及抽出混頻器26e輸出中與被檢查體1的搬送速度相對應(yīng)的低頻成分的BPF26f。
由檢波部26的兩個(gè)BPF26c、26f輸出的信號X、Y通過A/D變換器28、29，分別轉(zhuǎn)換為數(shù)字值，輸給計(jì)算機(jī)結(jié)構(gòu)的控制部30。
控制部30包括判定部件31，通過進(jìn)入傳感器24的輸出信號(或上述的檢波部的輸出信號X、Y的振幅變化)檢出被檢查體1進(jìn)入交變磁場，并讀取檢波部26的輸出信號X、Y，通過將該讀取的信號與預(yù)先設(shè)定的閾值作比較而判定被檢查體1中是否混入金屬，并輸出該判定結(jié)果；設(shè)定部件32，用以設(shè)定檢查被檢查體1所需的各種參數(shù)；非易失存儲(chǔ)器33，用以存儲(chǔ)該參數(shù)及參數(shù)設(shè)定所需的數(shù)據(jù)；混入金屬顯示部件34，通過判定部件31判定為被檢查體內(nèi)混入金屬時(shí)，使后述顯示器36顯示該混入金屬的大小。
該控制部30與操作部35及顯示器36相連，通過操作部35指定了設(shè)定模式時(shí)，由設(shè)定部件32進(jìn)行各種參數(shù)的設(shè)定處理；通過操作部35指定了檢查模式時(shí)，進(jìn)行判定部件31的被檢查體1的金屬混入的檢查和該檢查結(jié)果的輸出處理，與此同時(shí)，當(dāng)判定為被檢查體內(nèi)混入金屬時(shí)，在顯示器36顯示該混入金屬的大小。
另外，檢查所需的參數(shù)包括被檢查體1的長度及搬送速度；信號發(fā)生器21輸出的信號D的頻率；檢波部26的檢波相位(移相器26a的移相量)；用以判定有無異物的閾值等。
這里的被檢查體長度或搬送速度是用以確定檢波部26的輸出信號X、Y的讀取間隔或讀取時(shí)間，以及檢波部26的BPF26c、26f的波段等的參數(shù)；信號D的頻率是根據(jù)想要檢出的金屬的種類或被檢查體1本身(含包裝材料)的材質(zhì)來選擇的參數(shù)。
還有，檢波部26的檢波相位是用以確定對于混入金屬的靈敏度的參數(shù)。
另外，判定閾值為判定被檢查體1中是否有金屬混入，其設(shè)定處理是通過設(shè)定部件32進(jìn)行的。
設(shè)定部件32的結(jié)構(gòu)是能夠以操作部35的操作來手動(dòng)設(shè)定或半自動(dòng)設(shè)定這些參數(shù)。在此將就檢波相位設(shè)定為最佳值、在該檢波相位上設(shè)定用以判定有無異物的閾值的處理進(jìn)行說明。還有，圖1僅顯示為檢波相位設(shè)定處理所需的信號線，實(shí)際上是能控制信號發(fā)生器21輸出的信號D的頻率或檢波部26的BPF26c、26f的波段等。
圖2表示的是有關(guān)檢波相位和閾值設(shè)定的設(shè)定部件32的處理步驟的流程圖，以下將按該流程圖說明設(shè)定處理動(dòng)作。
例如，如果通過操作部35的操作選擇了對檢波相位和用以判定的閾值的設(shè)定處理時(shí)，在將移相器26a的移相量Δθ設(shè)定為基準(zhǔn)值(例如0)的狀態(tài)下，對存儲(chǔ)器33的預(yù)定區(qū)域33a內(nèi)是否存儲(chǔ)有異物樣品的數(shù)據(jù)Dm作出判定(S1，S2)。
如果存儲(chǔ)有異物數(shù)據(jù)Dm時(shí)，則轉(zhuǎn)移到后述處理S9；當(dāng)異物數(shù)據(jù)Dm沒有被存儲(chǔ)時(shí)，指示輸入表示檢出對象金屬的異物樣品Ms大小的數(shù)據(jù)，若操作者通過操作部35輸入該數(shù)據(jù)，則指示將該異物樣品Ms通過交變磁場E內(nèi)(S3～S5)，這些指示例如以顯示在顯示器36上的方式進(jìn)行。
接收該指示的操作者，將例如一個(gè)異物樣品Ms1的直徑d1，作為表示大小的數(shù)據(jù)通過操作部35的操作輸入后，將該異物樣品Ms1放置在搬送路線2上通過交變磁場E。
還有，這里說明的是用直徑來表示異物樣品及混入金屬大小的情況，但本發(fā)明也包括用直徑以外的長度、面積、體積來表示異物樣品及混入金屬大小的情況。
在設(shè)定部件32發(fā)出異物樣品Ms通過磁場的指示后，如果從進(jìn)入傳感器24的輸出信號中探測到物品進(jìn)入，則在預(yù)定時(shí)間內(nèi)讀取檢波部26的輸出信號X、Y，并將該數(shù)據(jù)Dm(1)與直徑數(shù)據(jù)d1對應(yīng)并存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33預(yù)定區(qū)域33a內(nèi)(S6、S7)。
這里，如果異物樣品Ms1為具有集中磁通的作用的鐵等磁性體，如圖3(a)所示，當(dāng)異物樣品Ms1移動(dòng)到接收線圈23a的近旁時(shí)，發(fā)送線圈22輸出的磁通中，由于最初與接收線圈23a相交的磁通，加上部分與接收線圈23b相交的磁通因異物樣品Ms1的吸引而與接收線圈23a相交，所以接收線圈23a側(cè)產(chǎn)生的信號振幅Va要大于接收線圈23b側(cè)產(chǎn)生的信號振幅Vb。
還有，如圖3(b)所示，當(dāng)異物樣品Ms1處于兩個(gè)接收線圈23a、23b的中間位置時(shí)，從發(fā)送線圈22輸出的磁通中，由于與之前接收線圈23a相交的那部分磁通和相交于接收線圈23b的那部分磁通分別等量被異物樣品Ms1吸引，所以接收線圈23a側(cè)產(chǎn)生的信號振幅Va等于接收線圈23b側(cè)產(chǎn)生的信號振幅Vb。
另外，如圖3(c)所示，當(dāng)異物樣品Ms1移動(dòng)到接收線圈23b近旁時(shí)，從發(fā)送線圈22輸出的磁通中，由于最初與接收線圈23b相交的磁通，加上部分與接收線圈23a相交的磁通因異物樣品Ms1的吸引而與接收線圈23b相交，所以接收線圈23b側(cè)產(chǎn)生的信號振幅Vb要大于接收線圈23a側(cè)產(chǎn)生的信號振幅Va。
因此，異物樣品Ms1通過交變磁場E時(shí)的信號R的波形如圖4所示，成為了振幅增減變化的調(diào)制波。還有，如果設(shè)檢波部26的信號L、L’的振幅值為1，則如圖4所示，該信號R通過檢波部26的同步檢波處理而獲得的信號X的波形，就會(huì)成為連接信號R的每個(gè)預(yù)定相位位置瞬間值的包絡(luò)線，信號Y的波形成為連接信號R的每個(gè)從預(yù)定相位位置偏移90°的位置(如設(shè)信號的周期為T，則僅偏移T/4的位置)的瞬間值的包絡(luò)線。
這樣將得到的2個(gè)信號X、Y確定的坐標(biāo)點(diǎn)描點(diǎn)于xy坐標(biāo)上，則會(huì)畫出例如圖5(a)所示的8字波形(利薩如波形)Hn。
還有，如上述那樣只使金屬異物樣品Ms1通過交變磁場E時(shí)，如波形Hn那樣，得到相對坐標(biāo)原點(diǎn)幾乎對稱的寬度狹窄的利薩如波形，因此也可儲(chǔ)存頂點(diǎn)Q的坐標(biāo)(Xm，Ym)或?qū)⑵錁O坐標(biāo)變換后得到的坐標(biāo)(r、θ)作為異物樣品Ms的特征點(diǎn)數(shù)據(jù)，以取代整個(gè)波形的坐標(biāo)數(shù)據(jù)。
但是距離原點(diǎn)的r及角度θ，用
r＝(Xm2+Ym2)1/2θ＝tan-1(Ym/Xm)來表示。
這樣，取得直徑d1的異物樣品Ms的數(shù)據(jù)Dm(1)后，按上述同樣方法進(jìn)行其它大小異物樣品的直徑數(shù)據(jù)輸入指示及通過磁場指示，分別求出通過交變磁場E中的n個(gè)異物樣品Ms1～Msn的異物數(shù)據(jù)Dm(1)～Dm(n)后，將該直徑數(shù)據(jù)d1～dn分別對應(yīng)并存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33的預(yù)定區(qū)域33a(S8)。
還有，同種金屬大小不同的異物樣品而取得到波形，就會(huì)成為頂點(diǎn)Q的極坐標(biāo)中，角度θ幾乎相同，且異物大小因距離原點(diǎn)的r不而異的相似波形。
接著，將移相器26a的移相量Δθ設(shè)定為基準(zhǔn)值(例如0)的情況下，指示以下要進(jìn)行檢查的被檢查體1中已知沒有金屬混入的合格樣品通過磁場E中(S9)。
操作者按該指示將合格樣品置于搬送路線2使其通過交變磁場E中，設(shè)定部件32以上述同樣的方式通過進(jìn)入傳感器24的輸出信號檢出物品進(jìn)入交變磁場E(S10)，按預(yù)定時(shí)間進(jìn)行檢波部26的輸出信號X、Y的取得，將該信號X、Y的數(shù)據(jù)Dg存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33預(yù)定區(qū)域33b內(nèi)(S11)。
該合格樣品，通常為非磁性體，由于因該合格樣品內(nèi)含有的水分或鋁包材等引起磁場變化，與讓異物樣品Ms通過時(shí)一樣，磁場變化檢出部23輸出振幅增減變化的信號R，通過檢波部26對該信號R的同步檢波處理而得到能描出如圖5(a)的利薩如波形Hg的信號X、Y數(shù)據(jù)Dg。
這樣，在取得大小各異的多個(gè)異物樣品數(shù)據(jù)和合格品的數(shù)據(jù)階段，設(shè)定部件32基于這些數(shù)據(jù)，對于合格樣品(被檢查體本身)的檢波輸出作為最佳檢波相位θi求出比如最小直徑的異物樣品Ms(min)的檢波輸出比最大的相位并加以存儲(chǔ)(S12)。
該處理利用圖5(a)所示的2個(gè)利薩如波形Hn、Hg的數(shù)據(jù)，按不同的檢波相位θd，求出從最小直徑異物樣品Ms(min)波形Hn的各坐標(biāo)(也可僅為上述點(diǎn)Q)到具有對應(yīng)某檢波相位θd的角度的直線A的距離的最大值Ln、和合格樣品波形Hg的各坐標(biāo)到直線A的距離的最大值Lg之比值α＝Ln/Lg，如圖5(b)所示，將比值α最大時(shí)的相位確定為最佳檢波相位θi，將該最佳檢波相位θi的信息作為檢查被檢查體1時(shí)的檢波部26的移相器26a上設(shè)定的參數(shù)而存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33的預(yù)定區(qū)域33c內(nèi)。
這樣，得到對于被檢查體的最佳檢波相位θi后，就能求出最佳檢波相位θi的合格樣品和各異物樣品的檢波輸出之比值α與各異物樣品大小(直徑)的關(guān)系。(S13)即，如圖6所示，求出各異物樣品Ms1～Msn的每個(gè)比值α1～αn，并求出使該直徑與比值近似關(guān)聯(lián)的直線B(曲線也可)的式子。還有該圖中從異物樣品Ms1開始直徑逐漸變大。
這樣，作為檢查被檢查體1時(shí)設(shè)定在判定部件31內(nèi)的閾值Vr，求出比值α等于基準(zhǔn)值αr(例如αr＝2)的電壓Vr(相當(dāng)于2倍所述距離Lg的電壓)，并存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33內(nèi)。(S14)另外，由直線B求出對應(yīng)于基準(zhǔn)值αr的金屬異物直徑dr，并將該直徑值作為判定部件31能夠檢出的最小金屬異物的大小，如圖7所示，顯示在顯示器36上(S15)。
用戶通過確認(rèn)該顯示而能直觀地把握對有關(guān)被檢查體能夠檢出的最小尺寸。
這樣，檢查模式已被指定時(shí)，設(shè)定部件32將存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33預(yù)定區(qū)域33c的最佳檢波相位θi的信息設(shè)定在移相器26a內(nèi)，且將檢波部26的檢波相位設(shè)定為最佳檢波相位θi，另外，還將包括檢查被檢查體1所需的閾值Vr等的其它參數(shù)設(shè)定在所需的位置。
這樣，在檢查所需的參數(shù)被設(shè)定的狀態(tài)下，就能通過所述判定部件31對被檢查體1進(jìn)行檢查。
圖8表示的是該檢查模式中的處理步驟，判定部件31在由進(jìn)入傳感器24探測到被檢查體1時(shí)(S21)，在預(yù)定時(shí)間內(nèi)讀取檢波信號X、Y(S22)，將該信號的大小與閾值Vr作比較，判定該被檢查體1內(nèi)是否混入有金屬(S23)，輸出該判定結(jié)果(S24)。
該檢查模式中，混有與所述異物樣品Ms種類相同且直徑在dr以上金屬的被檢查體1通過磁場E中時(shí)，如圖9所示，從檢波部26輸出的信號X、Y的利薩如波形為，將圖5的利薩如波形Hn、Hg僅旋轉(zhuǎn)了最佳檢波相位θi(直線A與x軸一致地旋轉(zhuǎn))的利薩如波形Hn’、Hg’在時(shí)間軸上合成的波形，但觀察沿著y軸的信號Y，因混入金屬的影響而產(chǎn)生的信號振幅Vn對在被檢查體1通過交變磁場E的時(shí)間內(nèi)被檢查體1本身對磁場的影響而產(chǎn)生的信號振幅Vg之比值Vn/Vg與所述距離比值α相對應(yīng)并為最大值且在基準(zhǔn)值αr(＝2)以上。
即按上述設(shè)定最佳檢波相位θi時(shí)，判定部件31將信號Y的最大振幅與閾值Vr作比較來判定有無混入金屬。這樣，此時(shí)，由于信號Y的最大振幅在2Vg(＝Vr)以上，且在閾值以上，所以判定部件31就會(huì)輸出表示金屬混入的信號。
另外，在金屬?zèng)]有混入被檢查體1的情況下，僅輸出對應(yīng)于圖9的利薩如波形Hg’的信號X、Y，由于信號Y的最大振幅小于閾值Vr，所以判定部件31不會(huì)輸出表示金屬混入的信號。
還有，當(dāng)判定部件31判定金屬混入時(shí)，混入金屬顯示部件34會(huì)基于此時(shí)信號Y的最大振幅和所述直線B而推定混入金屬大體的大小，并將它顯示在顯示器36上(S25)。
例如，求出信號Y的最大振幅Vy與Vg之比值αa(＝Vy/Vg)和最大振幅Vy減去Vg的結(jié)果與Vg之比值αb(＝(Vy-Vg)/Vg)，由所述直線B的式子和比值αa求出混入金屬直徑的上限值da，由直線B的式子和比值αb求出混入金屬的直徑的下限值db，例如圖10所示，將所求得的值作為混入被檢查體1中的金屬大小的范圍，顯示在顯示器36上。
通過確認(rèn)該顯示，用戶就能直觀地把握混入被檢查體中的金屬大小的范圍。
還有，這里顯示了混入金屬大小的范圍，但也可以顯示多個(gè)異物樣品Ms1～Msn中，包含在該推定大小的范圍內(nèi)的異物樣品的大小。
另外，上述說明中，設(shè)定部件32僅在顯示器36上顯示能夠檢出的金屬的最小直徑并自動(dòng)設(shè)定對應(yīng)于最小直徑的閾值，但也可以設(shè)定對應(yīng)用戶指定大小的閾值。
這種情況下，如圖11所示，作為能夠檢出金屬的大小，在顯示器36顯示異物樣品中最小直徑以上的異物樣品的各直徑的同時(shí)，能通過操作部35的操作而指定這些直徑的任意一個(gè)，當(dāng)用戶通過操作指定直徑時(shí)，作為閾值Vr求出并設(shè)定該異物樣品的最佳檢波相位的檢波輸出的最大值(或也可以稍小于該值)。
還有，可僅顯示能夠檢出的金屬的最小直徑，使通過操作部35的操作能輸入指定任意直徑，由該指定直徑與所述直線B求出比值α的值，作為閾值Vr求出并設(shè)定該比值與所述電壓Vg的乘積。
還有，如上所述，在用異物樣品的大小來近似表示能夠檢出的金屬的大小及混入被檢查體內(nèi)金屬大小的情況下，能夠選擇由存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33內(nèi)的異物樣品的檢波輸出數(shù)據(jù)和被檢查體的檢波輸出來顯示的大小，而不必利用上述直線B的關(guān)系。
還有，上述說明中，只讓異物樣品及合格樣品一次通過磁場中來求出其數(shù)據(jù)，但也可以讓同一樣品數(shù)次通過磁場中，將這些數(shù)據(jù)平均，并基于該平均的數(shù)據(jù)求出最佳檢波相位或比值與大小的關(guān)系。
另外，這里，將磁場變化檢出部23的輸出信號R輸入給正交二相型的檢波部26，并求出2個(gè)信號X、Y，由該兩個(gè)信號的數(shù)據(jù)求出最佳檢波相位，但檢波部26為單相型，即僅由移相器26a、混頻器26b、BPF26c構(gòu)成的情況下，也適用于本發(fā)明。
這種情況下，一邊少量變化移相器26a的移相量，一邊求出對于異物樣品及合格樣品的輸出信號X的波形(時(shí)間軸上的波形)的數(shù)據(jù)，如圖12所示，由該數(shù)據(jù)求出對于移相量Δφ的異物樣品振幅值的變化特性Xn(φ)和對于移相量φ的合格樣品的振幅值的變化特性Xg(φ)，若將異物樣品振幅值Vn對合格樣品的振幅值Vg的比值β＝Vn/Vg最大時(shí)的移相量φd確定為最佳檢波相位θi，并將它設(shè)定在檢查被檢查體1時(shí)的移相器26a內(nèi)，則如上述同樣能高靈敏度地檢出混入金屬。
這樣，通過求出該最佳檢波相位的檢波輸出和金屬大小的關(guān)系，能夠與上述同樣，顯示可檢出金屬的大小或混入被檢查體內(nèi)金屬的大小。
還有，上述說明的是有關(guān)大小各異的多個(gè)異物樣品的異物數(shù)據(jù)Dm沒有被存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33內(nèi)的情況，但這些異物數(shù)據(jù)也可由金屬檢出裝置20的制造者預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33預(yù)定區(qū)域33a內(nèi)。
另外，將材質(zhì)不同的多個(gè)異物樣品的數(shù)據(jù)按上述處理預(yù)先存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33預(yù)定區(qū)域33a內(nèi)，在對被檢查體1作相位設(shè)定處理時(shí)，能夠選擇該多個(gè)異物數(shù)據(jù)中的任意一個(gè)，從而能對該選擇的數(shù)據(jù)進(jìn)行與上述同樣處理。
如以上說明，本發(fā)明的金屬檢出裝置設(shè)有預(yù)先存儲(chǔ)大小各異的金屬的多個(gè)異物樣品分別通過交變磁場中時(shí)，檢波部輸出的信號數(shù)據(jù)和表示各異物樣品大小數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器，因?yàn)榛谠摦愇飿悠返臄?shù)據(jù)由判定部件在顯示器上顯示能夠檢出金屬的大小，所以用戶能夠直觀地把握被檢查體的能夠檢出金屬的大小。
還有，通過操作部的操作能指定異物樣品的大小，將對應(yīng)于該指定大小的閾值設(shè)定在判定部件內(nèi)，用戶指定操作的不是電壓值或其倍數(shù)值，而是金屬的大小，由此進(jìn)行閾值的設(shè)定，就能更加直觀地進(jìn)行閾值的設(shè)定操作。
還有，通過混入金屬顯示部件來顯示混入被檢查體內(nèi)的金屬的大小，就能直觀地把握混入被檢查體金屬的大小，使用更加方便。
下面將按圖面來說明本發(fā)明的實(shí)施例2。
當(dāng)然，本例除有關(guān)以下說明的結(jié)構(gòu)、作用、效果以外，與實(shí)施例1實(shí)質(zhì)上相同，所以引用上述實(shí)施例1的說明(包括圖面)來盡可能避免重復(fù)，并根據(jù)需要利用實(shí)施例1的參考符號來進(jìn)行說明。
圖13～圖15表示的是采用本發(fā)明金屬檢出裝置120的整體結(jié)構(gòu)。
這些圖的金屬檢出裝置120由底座121、構(gòu)成被檢查體搬送路線的輸送器130、頭部140及控制器150構(gòu)成。
底座121用以支撐輸送器130及頭部140，為能調(diào)整底座121相對設(shè)置面(工作臺(tái)面)的高度，其下部設(shè)定有絲杠式的腳122。
輸送器130包括固定在底座121上部的形成朝上開口的コ字形且彼此相對狀態(tài)的一對側(cè)板131、132。
兩側(cè)板131、132的一端側(cè)(圖13、圖14的左端側(cè))的上部之間支撐有旋轉(zhuǎn)自如的主動(dòng)滾輪133，另一端側(cè)上部之間支撐有旋轉(zhuǎn)自如的從動(dòng)滾輪134，為將搬入物品搬送到主動(dòng)滾輪133和從動(dòng)滾輪134之間，掛有無端的搬送帶135。
另外，側(cè)板131、132的一端側(cè)上部與另一端側(cè)上部之間固定有用以將搬入物品水平搬送的下板136，以在上面支撐從主動(dòng)滾輪133側(cè)到從動(dòng)滾輪134側(cè)移動(dòng)的上側(cè)搬送帶135。另外，由從動(dòng)滾輪134回到主動(dòng)滾輪133的下側(cè)搬送帶135，在接近該下板136的下面的路徑移動(dòng)。搬送帶135及下板136由對磁場的影響極少的合成樹脂材料形成。
還有，主動(dòng)滾輪133通過整體設(shè)置在該端側(cè)的馬達(dá)137來旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)。
側(cè)板131、132的中央上方配置有形成橫長矩形框狀的頭部140，頭部140中央形成的橫長矩形孔141內(nèi)有輸送器130的搬送帶135及下板136通過。
頭部140的孔141的內(nèi)壁部141a的整個(gè)周圍由磁通能透過的合成樹脂板材形成，在頭部140內(nèi)部發(fā)送線圈22圍繞著其內(nèi)壁部141a而纏繞，在該發(fā)送線圈22的前后，兩個(gè)接收線圈23a、23b以同軸狀纏繞。
另外，頭部140的外周部，由磁通不能透過的磁屏蔽材料形成。
因此，發(fā)送線圈22發(fā)生的幾乎所有磁場E的磁通，通過頭部140內(nèi)部及孔141的內(nèi)側(cè)，則該磁通幾乎等量交叉于兩個(gè)接收線圈23a、23b。
另外，發(fā)送線圈22和兩個(gè)接收線圈23a、23b的相對位置不變化，由填充在頭部140內(nèi)的粘接材料(無圖示)固定。
如圖13～圖15所示，該頭部140被固定在平板狀的基板145上，基板145的四角分別插有固定在底座121上部的螺釘123，通過擰在各螺釘123上的上下2個(gè)螺母124將基板145固定。
該螺釘123和螺母124是可以改變頭部140相對輸送器130的高度，即，被檢查體相對頭部140的通過高度位置的機(jī)構(gòu)。通過調(diào)整螺母124相對各螺釘123的高度，被檢查體的通過高度位置就能相對可變。
另外，在這里將通過輸送器130的下板136下側(cè)的搬送帶135處于最接近頭部140的孔141下面的位置，即，被檢查體相對孔141通過高度最低的位置設(shè)為基準(zhǔn)位置。
為能檢出搬入輸送器130的一端側(cè)的被檢查體進(jìn)入了頭部140的孔141的定時(shí)，而在底座121(也可以是輸送器130的側(cè)板131、132或頭部140本身)設(shè)有光學(xué)式進(jìn)入傳感器24。另外，該物品的進(jìn)入時(shí)機(jī)可通過檢波部26的輸出信號X、Y的振幅變化來檢出，這時(shí)，進(jìn)入傳感器24可以省略。
頭部140上部設(shè)置的控制器150內(nèi)設(shè)有用以進(jìn)行輸送器130的馬達(dá)驅(qū)動(dòng)、頭部140的發(fā)送線圈驅(qū)動(dòng)、對應(yīng)接收線圈發(fā)出信號的處理等的電路。
下面，將參照圖16～圖18來說明本實(shí)施例的作用。
本實(shí)施例的金屬檢出裝置，如上述，設(shè)有能調(diào)整頭部140相對輸送器130的位置(輸送器130的高度)的機(jī)構(gòu)，即使輸送器130的高度以外的其它條件相同，如果將輸送器130的高度值設(shè)定不同的值，則會(huì)出現(xiàn)混入被檢查體內(nèi)金屬檢出靈敏度不同的情況。
因此，本例中通過如實(shí)施例1說明的控制步驟，基于預(yù)先存儲(chǔ)的異物樣品的數(shù)據(jù)和合格樣品的數(shù)據(jù)，在顯示器上顯示能夠由判定部件檢出的金屬的大小，或者，通過對操作部的操作來指定異物樣品的大小并進(jìn)行閾值的設(shè)定，不僅能直觀地把握被檢查體的可檢出的金屬的大小，還能改變輸送器130的高度(對于頭部140的相對位置)，重復(fù)實(shí)施例1中說明的控制動(dòng)作，分別求出每個(gè)位置的上述各閾值，并通過在上述顯示器上顯示出各位置和對應(yīng)于該各位置能夠檢出的異物的大小，將輸送器130的最佳位置(靈敏度最高的位置)作為能夠檢出異物的大小顯示出來，并能夠任意選擇。
如圖16示意表示，將輸送器130相對頭部140的位置分別設(shè)定為基準(zhǔn)位置(a)、從基準(zhǔn)位置(a)上升到預(yù)定尺寸(如10mm)的位置(b)和從位置(b)且上升到預(yù)定尺寸(如15mm)的位置(c)(因而離基準(zhǔn)位置25mm)，求出各位置能夠檢出金屬異物的直徑dr。
按圖17的流程圖說明上述步驟，由于圖17中的步驟S101到S115與實(shí)施例1中參照圖2說明的步驟S1到S15相同，所以引用上述的實(shí)施例1的上述說明(包括圖面)，下面就S116以后的步驟進(jìn)行說明。
由直線B求出對應(yīng)基準(zhǔn)值αr的金屬異物直徑dr，并作為能夠由判定部件31檢出的最小金屬異物的大小顯示在顯示器36(S115)后，將該基準(zhǔn)值αr及能夠檢出的最小金屬異物的大小存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器33內(nèi)(S116)。還有，以上1次的步驟可在輸送器130處于如圖16(a)所示的基準(zhǔn)位置的設(shè)定狀態(tài)下執(zhí)行。
這里，在顯示器36上顯示指示求出輸送器130高度變更(S117)，接收該指示的操作者通過調(diào)整所述螺釘123和螺母124構(gòu)成的機(jī)構(gòu)來調(diào)整頭部140相對輸送器130的高度，以變更頭部140相對輸送器130的高度。本例中為變更設(shè)定到如圖16(b)所示的位置，并由操作部輸入變更后輸送器的位置。
本例中，m次改變輸送器130的位置(如改變2次，設(shè)定如圖16所示的3個(gè)位置(a)、(b)、(c))，重復(fù)求出每個(gè)位置的基準(zhǔn)值αr及能夠檢出的最小金屬異物的大小的操作，在該重復(fù)次數(shù)沒有得到滿足的情況下，要重復(fù)從指示通過合格樣品指示(S109)開始到存儲(chǔ)每個(gè)高度的基準(zhǔn)值αr及能夠檢出的最小金屬異物的大小(S116)的動(dòng)作(S118，“否”的情況下)。
在預(yù)定重復(fù)次數(shù)m被滿足的情況下(S118，“是”的情況下)，在顯示器36上顯示每個(gè)輸送器高度的基準(zhǔn)值αr及能夠檢出的最小金屬異物的大小(S120)。
圖18表示顯示器36的最終顯示畫面，顯示的是多個(gè)不同輸送器高度(由基準(zhǔn)值開始的變更量來顯示)時(shí)，各自能夠檢出的異物(金屬)的大小，而且還顯示由光標(biāo)選擇期望的輸送器高度或異物(金屬)的大小，由回車鍵確認(rèn)來求出的指示。
接收該指示的操作者用操作部35操作光標(biāo)，選擇期望的輸送器高度及異物(金屬)的大小，通過將輸送器高度設(shè)定為其數(shù)值，作為檢出靈敏度設(shè)定所選擇的異物(金屬)的大小。
因而，選擇檢出靈敏度最高，且檢出異物最佳的輸送器高度，能高靈敏度進(jìn)行異物的檢出。另外，不一定選擇最高靈敏度而是根據(jù)實(shí)際需要選擇檢出靈敏度及輸送器高度，設(shè)定該高度的輸送器位置，就能得到所需的檢出靈敏度。
如圖18所示，在本例中顯示有三個(gè)高度的每個(gè)高度下能夠檢出異物(金屬)的大小，作為該結(jié)果表示的是中間圖16(b)所示的位置為檢出靈敏度最高結(jié)果的情況，即，與從輸送器130離頭部140最近的基準(zhǔn)位置(圖16(a))或由基準(zhǔn)位置離開相當(dāng)距離的位置(圖16(c))相比，該中間位置的基準(zhǔn)位置即離開適當(dāng)距離的位置(圖16(b))的情況下，檢出靈敏度最高。
但是，具有該傾向的只是一個(gè)例子，通過發(fā)送線圈122及兩個(gè)接收線圈123a、123b在頭部140以怎樣的位置或怎樣的形態(tài)來設(shè)置等更具體的結(jié)構(gòu)，來改變輸送器130相對頭部140的最佳位置(靈敏度最高的位置)。
但是，如果具有如本例的基本結(jié)構(gòu)，由于能夠顯示輸送器130的多個(gè)位置的檢出靈敏度并能任意選擇，所以與輸送器130和頭部140的機(jī)構(gòu)變化無關(guān)，常時(shí)選擇異物檢出最佳的輸送器高度，能夠進(jìn)行異物檢出的效果不會(huì)變化。
還有，本例中輸送器高度的變更是通過頭部140的升降機(jī)構(gòu)來手動(dòng)操作，但也可以通過利用動(dòng)力的升降機(jī)構(gòu)由操作部35進(jìn)行操作，并將設(shè)定后的輸送器高度自動(dòng)輸入給控制部30，這種情況下，以最終畫面來選擇期望的輸送器高度的情況下，其構(gòu)成也可以為通過控制部30的控制來將輸送器高度自動(dòng)設(shè)定該高度。
還有，本例中，通過升降頭部140來變更輸送器130相對頭部140的相對高度(位置)，但反過來也可以相對固定的頭部140升降輸送器130。
另外，本例中，將輸送器130的位置從基準(zhǔn)位置開始依次階段上升來重復(fù)測定。當(dāng)然在測定之前設(shè)定的輸送器130的位置，按何種順序均可。例如可為最高位置、基準(zhǔn)位置、最低位置的順序。
以上說明的本發(fā)明實(shí)施方式的2個(gè)例子中，在每個(gè)金屬檢出裝置中讓多個(gè)異物樣品通過交變磁場中來取得異物數(shù)據(jù)，并按每個(gè)裝置存儲(chǔ)在各裝置的存儲(chǔ)器33內(nèi)。但是，這種異物數(shù)據(jù)的取得原則上也可以僅用作為主裝置的一臺(tái)特定的金屬檢出裝置進(jìn)行一次，將該數(shù)據(jù)作為主數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)移到其它多個(gè)金屬檢出裝置上加以利用。
這種情況下，其它金屬檢出裝置存儲(chǔ)該主數(shù)據(jù)的同時(shí)，將取得主數(shù)據(jù)時(shí)所用的多個(gè)異物樣品實(shí)際通過該裝置的變交磁場中，取得數(shù)據(jù)，用該數(shù)據(jù)來補(bǔ)償所述主數(shù)據(jù)。如果是這樣的結(jié)構(gòu)，存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器內(nèi)的異物樣品數(shù)據(jù)的生成由主裝置一并進(jìn)行，并且由于對每個(gè)金屬檢出裝置作補(bǔ)償，所以能夠應(yīng)對裝置的微小缺點(diǎn)。
權(quán)利要求
1.一種金屬檢出裝置，其特征在于設(shè)有信號發(fā)生器(21)；發(fā)送線圈(22)，接收所述信號發(fā)生器輸出的信號，并使被檢查體的搬送路線上發(fā)生與該信號頻率相等頻率的交變磁場；磁場變化檢出部(23)，包括在接收所述交變磁場的位置上沿著所述搬送路線配置的兩個(gè)接收線圈(23a、23b)，并輸出與通過所述交變磁場中的物體引起的磁場變化相對應(yīng)的信號；檢波部(26)，通過所述信號發(fā)生器輸出的信號頻率相等的信號對所述磁場變化檢出部的輸出信號進(jìn)行同步檢波；判定部件(31)，對所述檢波部的輸出信號與閾值作比較，判定被檢查體內(nèi)有無混入金屬；以及顯示器(36)，且所述金屬檢出裝置還設(shè)有存儲(chǔ)器(33)，存儲(chǔ)大小各異的金屬的多個(gè)異物樣品分別通過所述交變磁場中時(shí)，所述檢波部輸出的信號的數(shù)據(jù)和表示各異物樣品大小的數(shù)據(jù)，基于所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的異物樣品數(shù)據(jù)，在所述顯示器顯示可用所述判定部件檢出的金屬的大小。
2.如權(quán)利要求1所述的金屬檢出裝置，其特征在于設(shè)有操作部(35)，通過該操作部的操作，能指定所述異物樣品的大小，并將與指定大小相對應(yīng)的閾值設(shè)定在所述判定部件內(nèi)。
3.一種金屬檢出裝置，其特征在于設(shè)有信號發(fā)生器(21)；發(fā)送線圈(22)，接收所述信號發(fā)生器輸出的信號，并使被檢查體的搬送路線發(fā)生與該信號頻率相等頻率的交變磁場；磁場變化檢出部(23)，包括在接收所述交變磁場的位置上沿著所述搬送路線配置的兩個(gè)接收線圈(23a、23b)，并輸出與通過所述交變磁場中的物體引起的磁場變化相對應(yīng)的信號；檢波部(26)，通過與所述信號發(fā)生器輸出的信號頻率相等的信號對所述磁場變化檢出部的輸出信號進(jìn)行同步檢波；判定部件(31)，對所述檢波部的輸出信號與閾值作比較，判定被檢查體內(nèi)有無混入金屬；以及顯示器(36)，且所述金屬檢出裝置還設(shè)有存儲(chǔ)器(33)，存儲(chǔ)大小各異的金屬的多個(gè)異物樣品分別通過所述交變磁場中時(shí)，所述檢波部輸出信號的數(shù)據(jù)和表示各異物樣品大小的數(shù)據(jù)；以及混入金屬顯示部件(34)，當(dāng)由所述判定部件判定為被檢查體內(nèi)混入有金屬時(shí)，基于所述檢波部輸出的信號和所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的異物樣品數(shù)據(jù)，求出被檢查體內(nèi)混入的金屬的大小并顯示在所述顯示器上。
4.一種金屬檢出裝置，其特征在于設(shè)有信號發(fā)生器(21)；發(fā)送線圈(22)，接收所述信號發(fā)生器輸出的信號，并使被檢查體的搬送路線上發(fā)生與該信號頻率相等頻率的交變磁場；磁場變化檢出部(23)，包括在接收所述交變磁場的位置上沿著所述搬送路線配置的兩個(gè)接收線圈(23a、23b)，并輸出與通過所述交變磁場中的物體引起的磁場變化相對應(yīng)的信號；檢波部(26)，通過與所述信號發(fā)生器輸出的信號頻率相等的信號對所述磁場變化檢出部的輸出信號進(jìn)行同步檢波；判定部件(31)，對所述檢波部的輸出信號與閾值作比較，判定被檢查體內(nèi)有無金屬混入；顯示器(36)，且所述金屬檢出裝置還設(shè)有存儲(chǔ)器(33)，存儲(chǔ)大小各異的金屬的多個(gè)異物樣品分別通過交變磁場中時(shí)，檢波部輸出信號的數(shù)據(jù)與表示各異物樣品大小的數(shù)據(jù)，同時(shí)還存儲(chǔ)合格樣品通過交變磁場中時(shí)檢波部輸出的信號數(shù)據(jù)；基于所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)的異物樣品數(shù)據(jù)和合格樣品數(shù)據(jù)，求出異物樣品和合格樣品的輸出比值最大時(shí)的最佳檢波相位，進(jìn)一步求出該最佳檢波相位時(shí)合格樣品和各異物樣品的檢波輸出之比值與各異物樣品大小的關(guān)系，同時(shí)設(shè)定與所述比值的基準(zhǔn)值相對應(yīng)的所述閾值。
5.如權(quán)利要求4所述的金屬檢出裝置，其特征在于對于所述交變磁場的所述搬送路線的位置可變更，在通過變更而設(shè)定的多個(gè)不同的所述位置上，讓合格樣品通過所述交變磁場中，求出每個(gè)位置的所述閾值，根據(jù)各位置和對應(yīng)于該各位置的各閾值將能夠檢出異物的大小顯示在顯示器上。
6.如權(quán)利要求1至5中任一項(xiàng)所述的金屬檢出裝置，其特征在于讓大小各異的金屬的多個(gè)的異物樣品分別通過所述金屬檢出裝置的所述交變磁場中，作為主數(shù)據(jù)取得所述檢波部輸出的信號的數(shù)據(jù)；將該主數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在其它所述金屬檢出裝置的所述存儲(chǔ)器中，同時(shí)讓所述多個(gè)異物樣品分別通過其它的所述金屬檢出裝置的交變磁場中，根據(jù)檢波部輸出的信號數(shù)據(jù)來補(bǔ)償所述主數(shù)據(jù)。
全文摘要
設(shè)有預(yù)先存儲(chǔ)使大小各異的多個(gè)金屬異物樣品分別通過交變磁場中時(shí)，檢波部26輸出的信號數(shù)據(jù)和表示各異物樣品大小的數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器33，設(shè)定部件32基于該異物樣品的數(shù)據(jù)，通過判定部件31在顯示器36上顯示能夠檢出的金屬的大小。另外，混入金屬顯示部件34在判定部件31判定被檢查體內(nèi)有金屬混入時(shí)，在顯示器36上顯示該混入金屬的大小。用戶能夠直觀地把握可檢出的金屬的大小或被檢查體內(nèi)混入的金屬的大小。
文檔編號G01V3/10GK1759329SQ20048000654
公開日2006年4月12日 申請日期2004年3月5日 優(yōu)先權(quán)日2003年3月12日
發(fā)明者久保寺茂, 長岡紀(jì)彥, 三谷聰 申請人:安立產(chǎn)業(yè)機(jī)械株式會(huì)社