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      用于檢測液晶面板間隙大小的檢測方法及其設(shè)備的制作方法

      文檔序號:6100178閱讀:157來源:國知局
      專利名稱:用于檢測液晶面板間隙大小的檢測方法及其設(shè)備的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明有關(guān)于一種檢測方法及其檢測設(shè)備,特別有關(guān)于一種面板間隙大小的檢測方法及其檢測設(shè)備。
      背景技術(shù)
      液晶顯示器技術(shù),利用液晶作為光開關(guān),以控制液晶顯示器所輸出的畫面亮度以及顏色。而在液晶顯示器當(dāng)中,液晶以吸入或是滴入的方式,灌注于兩片平板玻璃之中。在液晶灌注完成之后,如圖1a所顯示的,液晶面板2會被水平置放于一檢測平臺3之上,并由一間隙大小感測裝置1檢測該液晶面板2的間隙大小(cell gap),以確認(rèn)液晶是否均勻的灌注于液晶面板2之中。間隙大小感測裝置1的檢測方式一般為先對液晶面板2發(fā)射一檢測光束11,再接收從該液晶面板2反射回來的一返回光束12,偵測檢測光束11與返回光束12之間的相位延遲,并根據(jù)公式相位延遲=(nx-ny)×間隙大小 (1)便可計(jì)算得到液晶面板2的間隙大小,其中(nx-ny)為液晶的雙折射率。
      然而,隨著液晶顯示器的尺寸逐漸增大,液晶面板中的液晶量也逐漸增加。因此,當(dāng)液晶面板垂直置放時(shí)(例如,在一般的使用狀態(tài)下顯示影像時(shí)),液晶容易受到重力的影響而向下流動。參照圖1b,其顯示液晶面板2的內(nèi)部結(jié)構(gòu)示意圖,當(dāng)液晶面板2垂直置放時(shí),平板玻璃21之間的液晶22受到重力而依箭頭所指示的方向向下流動,因此造成液晶面板2的間隙大小不均勻(例如,液晶面板2下半部的間隙大小較大)。如此會降低液晶顯示器的顯示品質(zhì),并縮短顯示器的壽命。
      然而,現(xiàn)有的間隙大小檢測方式均只針對水平置放的液晶面板進(jìn)行檢測,因此無法檢測上述之由重力影響而產(chǎn)生的間隙大小不均勻現(xiàn)象。
      并且,當(dāng)液晶顯示器使用時(shí),其溫度逐漸升高,在平板玻璃受熱而膨脹的情況下,前述因重力影響而產(chǎn)生的間隙大小不均勻現(xiàn)象將更為嚴(yán)重,而現(xiàn)有的間隙大小檢測方式并無法針對此問題進(jìn)行檢測。

      發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明即為了解決上述現(xiàn)有技術(shù)的問題,而提供一種檢測方法,以檢測一液晶面板的間隙大小變化,包括下述步驟首先提供一間隙大小感測裝置;接著將該液晶面板直立,并對該液晶面板加熱,讓該液晶面板到達(dá)一檢測溫度;最后,以該間隙大小感測裝置對直立的該液晶面板進(jìn)行檢測,以測量該液晶面板的間隙大小變化。
      由于本發(fā)明針對處于直立狀態(tài)的液晶面板進(jìn)行檢測,因此,應(yīng)用本發(fā)明,可有效的檢測出液晶面板因重力影響而產(chǎn)生的間隙大小不均勻現(xiàn)象。并且,本發(fā)明于檢測時(shí)同時(shí)對液晶面板進(jìn)行加熱,因此可確實(shí)的仿真實(shí)際使用的情況,檢測出實(shí)際使用時(shí)液晶面板所可能會產(chǎn)生的間隙大小問題。


      圖1a為現(xiàn)有液晶間隙大小檢測方式示意圖;圖1b為液晶受到重力而向下流動的示意圖;圖2a為顯示本發(fā)明的檢測設(shè)備示意圖,其中,該夾持裝置處于一垂直方位;圖2b為顯示本發(fā)明檢測設(shè)備示意圖,其中,該夾持裝置處于一水平方位;圖3為顯示本發(fā)明中液晶面板的被檢測區(qū)域示意圖。
      附圖標(biāo)記說明間隙大小感測裝置1液晶面板2 檢測平臺3檢測光束11 返回光束12平板玻璃21
      液晶22 高度較低的區(qū)域23 角落區(qū)域24邊緣區(qū)域25 檢測設(shè)備100 夾持裝置110樞轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)111 真空吸孔112 真空管路113輸送平臺120 間隙大小感測裝置130 操控平臺140定位感測裝置150 加熱裝置160 腔體170具體實(shí)施方式
      為讓本發(fā)明上述和其它目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能更明顯易懂,下文特舉較佳實(shí)施例并配合附圖作詳細(xì)說明如下。
      參照圖2a,本發(fā)明提供一檢測設(shè)備100,以對液晶面板2進(jìn)行檢測。該檢測設(shè)備100包括一夾持裝置110、一輸送平臺120、一間隙大小感測裝置130、一操控平臺140、一定位感測裝置150、一加熱裝置160以及一腔體170。夾持裝置110、輸送平臺120、間隙大小感測裝置130、定位感測裝置150以及加熱裝置160均位于腔體170之中。夾持裝置110利用一樞轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)111,樞接于輸送平臺120之上。夾持裝置110并包括有復(fù)數(shù)個(gè)真空吸孔112(真空吸力組件),設(shè)于該夾持裝置110表面,該等真空吸孔112與一真空管路113接通,并以真空吸附的方式夾持該液晶面板2。
      在本發(fā)明的實(shí)施例中,夾持裝置110以真空吸附的方式夾持該液晶面板2,但是并不是用于限制本發(fā)明,夾持裝置110也可通過卡合、鎖固等其它方式,將液晶面板2固定于夾持裝置110之上。
      該夾持裝置110夾持該液晶面板2,并位于一垂直方位(圖2a所示方位),以將該液晶面板2維持于直立的狀態(tài)。定位感測裝置150用于感測該夾持裝置110是否準(zhǔn)確的位于該垂直方位。間隙大小感測裝置130對處于垂直方位的液晶面板2進(jìn)行檢測。該間隙大小感測裝置130以及該定位感測裝置150均耦接于操控平臺140。該間隙大小感測裝置130以及該定位感測裝置150的檢測結(jié)果均傳送至該操控平臺140,同時(shí),使用者也可通過操控平臺140對間隙大小感測裝置130進(jìn)行控制。并且,該間隙大小感測裝置130的檢測結(jié)果,也可通過該操控平臺140輸出。
      在本實(shí)施例中,該定位感測裝置150為一光傳感器,然而,其亦可以為壓觸式或其它形式的傳感器。該間隙大小感測裝置130可以為大冢(OTSUKA)等公司所提供的間隙大小感測裝置,其感測原理也根據(jù)前述的公式(1),利用相位延遲的現(xiàn)象進(jìn)行檢測。操控平臺140可以為一計(jì)算機(jī)。通過操控平臺140,可調(diào)整間隙大小感測裝置130的感測靈敏度,以準(zhǔn)確的檢測各種種類以及尺寸的液晶面板2。
      液晶面板2可以為穿透式液晶面板、反射式液晶面板或是半穿半反式液晶面板。
      加熱裝置160透過可將該液晶面板2加熱至一檢測溫度,該檢測溫度可介于50℃至70℃之間,較佳為60℃。在本實(shí)施例中,加熱裝置160設(shè)于腔體160的內(nèi)壁,以輻射及傳導(dǎo)等方式對液晶面板2。然而,加熱裝置160也可通過其它的方式(例如,設(shè)于夾持裝置110之上,以傳導(dǎo)的方式)對該液晶面板2進(jìn)行加熱。
      以下說明本發(fā)明之檢測方法。
      參照圖2b,首先,液晶面板2由輸送平臺120移至一預(yù)定位置。接著,該夾持裝置110樞轉(zhuǎn)至一水平方位(圖2b所示的方位),并接觸該液晶面板2。然后,該真空吸孔112吸附該液晶面板2。
      參照圖2a,以真空吸力吸附該液晶面板2之后,該夾持裝置110樞轉(zhuǎn)至該垂直方位。當(dāng)該夾持裝置110到達(dá)該垂直方位后,該定位感測裝置傳送一定位感測信號至該操控平臺140。該操控平臺140收到該定位感測信號后,驅(qū)動該間隙大小感測裝置130進(jìn)行檢測。此時(shí),該加熱裝置160將該液晶面板2的溫度維持于該檢測溫度。該間隙大小感測裝置130以大約3小時(shí)的時(shí)間持續(xù)對該液晶面板2進(jìn)行檢測,以記錄該液晶面板2的間隙大小變化。該間隙大小感測裝置130的檢測位置,參照圖3,主要針對該液晶面板2的高度較低的區(qū)域23進(jìn)行檢測,特別是,針對高度較低的角落區(qū)域24或是高度較低的邊緣區(qū)域25進(jìn)行檢測。
      由于本發(fā)明針對處于直立狀態(tài)的液晶面板進(jìn)行檢測,因此,應(yīng)用本發(fā)明,可有效的檢測出液晶面板因重力影響而產(chǎn)生的間隙大小不均勻現(xiàn)象。并且,本發(fā)明于檢測時(shí)同時(shí)對液晶面板進(jìn)行加熱,因此可確實(shí)的仿真實(shí)際使用的情況,檢測出實(shí)際使用時(shí)液晶面板所可能會產(chǎn)生的間隙大小問題。
      雖然本發(fā)明以較佳實(shí)施例作了如上的說明,但是其并非用以限定本發(fā)明,任何本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員,在不脫離本發(fā)明的方法和范圍內(nèi),可作各種替換與修改,因此本發(fā)明保護(hù)范圍以權(quán)利要求書中所規(guī)定的為準(zhǔn)。
      權(quán)利要求
      1.一種檢測液晶面板間隙大小變化的方法,其特征在于包括提供一間隙大小感測裝置;將所述液晶面板直立;以所述間隙大小感測裝置對直立的所述液晶面板進(jìn)行檢測,以測量所述液晶面板的間隙大小變化。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述液晶面板為一穿透式液晶面板。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述液晶面板為一反射式液晶面板。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述液晶面板為一半穿半反式液晶面板。
      5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于還包括將所述液晶面板加熱至一檢測溫度,所述檢測溫度介于50℃至70℃之間。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于所述檢測溫度為60℃。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述間隙大小感測裝置對所述液晶面板進(jìn)行檢測的時(shí)間長度為3小時(shí)。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述間隙大小感測裝置針對所述液晶面板的高度較低的區(qū)域進(jìn)行檢測。
      9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于所述間隙大小感測裝置針對所述液晶面板的高度較低的角落區(qū)域進(jìn)行檢測。
      10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法,其特征在于所述間隙大小感測裝置針對所述液晶面板的高度較低的邊緣區(qū)域進(jìn)行檢測。
      11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于所述間隙大小感測裝置為一光感測裝置。
      12.一種檢測液晶面板間隙大小變化的設(shè)備,其特征在于包括一夾持裝置,用以夾持所述液晶面板;以及一間隙大小感測裝置,測量所述液晶面板的間隙大小變化;其中,所述夾持裝置夾持所述液晶面板,并將所述液晶面板維持于一垂直狀態(tài)。
      13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其特征在于所述夾持裝置包括至少一真空吸力組件,所述夾持裝置利用所述真空吸力組件夾持所述液晶面板。
      14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其特征在于所述夾持裝置包括一樞轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu),所述夾持裝置利用所述樞轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu),于一垂直方位以及一水平方位之間旋轉(zhuǎn)。
      15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備,其特征在于所述夾持裝置于所述水平方位開始對所述液晶面板進(jìn)行夾持,并利用所述樞轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu),將所述液晶面板旋轉(zhuǎn)至所述垂直位置,以進(jìn)行檢測。
      16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的設(shè)備,其特征在于當(dāng)檢測完成之后,所述夾持裝置將所述液晶面板旋轉(zhuǎn)至所述水平方位,并釋放所述液晶面板。
      17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的設(shè)備,其特征在于還包括一定位感測裝置,對所述夾持裝置進(jìn)行感測,以確認(rèn)所述夾持裝置于所述垂直方位時(shí)的定位情況。
      18.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其特征在于還包括一加熱裝置,以對所述液晶面板進(jìn)行加熱。
      19.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其特征在于還包括一操控平臺,耦接所述間隙大小感測裝置,以調(diào)控所述間隙大小感測裝置的感測敏銳度。
      20.根據(jù)權(quán)利要求12所述的設(shè)備,其特征在于還包括一操控平臺,耦接所述間隙大小感測裝置,以輸出所述間隙大小感測裝置的感測結(jié)果。
      全文摘要
      一種檢測方法及其設(shè)備,用以檢測一液晶面板的間隙大小變化,該檢測方法包括下述步驟首先提供一間隙大小感測裝置;接著將該液晶面板直立,并對該液晶面板加熱,讓該液晶面板到達(dá)一檢測溫度;最后,以該間隙大小感測裝置對直立的該液晶面板進(jìn)行檢測,以量測該液晶面板的間隙大小變化。本發(fā)明的有益效果在于可有效的檢測出液晶面板因重力影響而產(chǎn)生的間隙大小不均勻現(xiàn)象,并且可確實(shí)的仿真實(shí)際使用的情況,檢測出實(shí)際使用時(shí)液晶面板所可能會產(chǎn)生的間隙大小問題。
      文檔編號G01R31/00GK1664536SQ20051006436
      公開日2005年9月7日 申請日期2005年4月14日 優(yōu)先權(quán)日2005年4月14日
      發(fā)明者黃泰棋, 廖智良 申請人:廣輝電子股份有限公司
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