專(zhuān)利名稱(chēng)：建筑構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
發(fā)明涉及一種建筑構(gòu)件性能檢測(cè)儀，尤其涉及一種利用荷重—形變檢驗(yàn)建筑工程混凝土板、梁、柱等構(gòu)件的結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀。
背景技術(shù)：
目前對(duì)建筑工程混凝土板、梁、柱等構(gòu)件的結(jié)構(gòu)性能檢測(cè)主要是手工計(jì)算試驗(yàn)過(guò)程中的計(jì)算量，用機(jī)電百分表、傳感器來(lái)實(shí)現(xiàn)手動(dòng)記錄，人為控制持荷時(shí)間，手動(dòng)出報(bào)表。這種模式存在許多的弊病。在實(shí)際操作過(guò)程中，由于具體試驗(yàn)人員的素質(zhì)參差不齊，手工計(jì)算效率低下，在人為把握持荷時(shí)間和加荷量的情況下，時(shí)間上的大打折扣和加荷量的不準(zhǔn)確使實(shí)驗(yàn)質(zhì)量大為下降。另外，試驗(yàn)數(shù)據(jù)完全由人工記錄，這樣就很難確保所有的記錄數(shù)據(jù)都是準(zhǔn)確可靠的，同時(shí)，試驗(yàn)后再手動(dòng)出報(bào)告也很大程度上降低了試驗(yàn)人員的工作效率，還不能保證報(bào)告與試驗(yàn)數(shù)據(jù)的一致性即報(bào)告的真實(shí)性。這其中摻雜進(jìn)了過(guò)多的人為因素，往往會(huì)出現(xiàn)讀數(shù)不夠準(zhǔn)確、持荷時(shí)間嚴(yán)重不足、出報(bào)表效率低下等這樣那樣的問(wèn)題，直接導(dǎo)致檢測(cè)質(zhì)量的下降。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上述的對(duì)建筑工程混凝土板、梁、柱等構(gòu)件的結(jié)構(gòu)性能檢測(cè)的方式存在著投入人工工作量大、檢測(cè)數(shù)據(jù)誤差大、檢測(cè)速度慢、效率低的問(wèn)題，本發(fā)明的目的是提供一種以微控制器為核心來(lái)保障試驗(yàn)采集數(shù)據(jù)準(zhǔn)確可靠的構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀，完成整個(gè)檢測(cè)過(guò)程中的數(shù)據(jù)計(jì)算及進(jìn)度控制、分析檢測(cè)結(jié)果；同時(shí)還實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)報(bào)告的自動(dòng)編制與電子化管理，大大簡(jiǎn)化了試驗(yàn)過(guò)程中人工計(jì)算與控制的工作量。
本發(fā)明的技術(shù)方案是以下述方式實(shí)現(xiàn)的一種構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀它主要是由微控制器為主要硬件構(gòu)成的儀器，與微控制器連接有液晶屏用于顯示整個(gè)試驗(yàn)流程的參考信息、按鍵用于用戶(hù)交互、時(shí)鐘芯片用于提供時(shí)間基準(zhǔn)、多路轉(zhuǎn)換芯片用于以輪詢(xún)方式采集各個(gè)通道的位移數(shù)據(jù)、FLASH存儲(chǔ)芯片用于存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)、SRAM存儲(chǔ)芯片用于數(shù)據(jù)暫存，其中a.以輪詢(xún)方式通過(guò)多路通道讀取各個(gè)數(shù)字位移計(jì)，并且自動(dòng)判斷各個(gè)通道是否連接，實(shí)時(shí)反映位移計(jì)連接情況的變化；b.可通過(guò)串口與上位機(jī)連接，實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)圖集數(shù)據(jù)庫(kù)的更新或在線(xiàn)更新程序的功能；c.采用FLASH存儲(chǔ)器，將其劃分為多個(gè)分區(qū)，實(shí)現(xiàn)多次檢測(cè)數(shù)據(jù)的保存和標(biāo)準(zhǔn)圖集數(shù)據(jù)庫(kù)的存儲(chǔ)；d.采用嵌入式軟件實(shí)現(xiàn)內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的讀取、更新操作；接收顯示百分表數(shù)據(jù)；進(jìn)行參數(shù)與檢測(cè)數(shù)據(jù)的計(jì)算處理與存儲(chǔ)；對(duì)按鍵事件作出反應(yīng)，進(jìn)行相應(yīng)操作；控制流程，過(guò)程中信息的顯示與圖形的繪制，提供了友好的操作界面；將試驗(yàn)中的各項(xiàng)參數(shù)與檢測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)自定義的記錄存儲(chǔ)系統(tǒng)完整的存儲(chǔ)；與上位機(jī)之間的數(shù)據(jù)通訊，還具有在線(xiàn)更新程序的功能。
所述的微控制器采用了8位微控制器W78E516，W78E516內(nèi)含64KB APROM用于存儲(chǔ)應(yīng)用程序和4KB LDROM用于存儲(chǔ)控制在系統(tǒng)編程操作的程序。
所述的微控制器外部進(jìn)行了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的擴(kuò)展，擴(kuò)展了兩個(gè)芯片SRAM62256和AT29C020；其中，AT29C020是256KB的FLASH芯片，用于試驗(yàn)數(shù)據(jù)的保存、內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)的保存，可以存儲(chǔ)15次完整的構(gòu)件試驗(yàn)的檢測(cè)過(guò)程數(shù)據(jù)記錄，以及5份構(gòu)件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)圖集的數(shù)據(jù)，AT29C020通過(guò)劃分為幾個(gè)區(qū)塊分別進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)。
P1.0用于高32K數(shù)據(jù)地址空間的分配，高電平時(shí)高32K數(shù)據(jù)地址空間由AT29C020占用，低電平時(shí)由時(shí)鐘芯片、液晶屏、8255等部件占用。
P1.4-P1.7口控制在高32K數(shù)據(jù)地址空間由AT29C020占用時(shí)，AT29C020中的哪一個(gè)32K區(qū)塊來(lái)作為當(dāng)前區(qū)塊占有高32K數(shù)據(jù)地址空間。
所述的微控制器外部進(jìn)行了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的擴(kuò)展，擴(kuò)展了兩個(gè)芯片SRAM62256和AT29C020，SRAM62256用于系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程中的暫存；AT29C020是256KB的FLASH芯片，用于試驗(yàn)數(shù)據(jù)的保存、內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)的保存，存儲(chǔ)15次構(gòu)件試驗(yàn)的數(shù)據(jù)記錄和5份標(biāo)準(zhǔn)圖集的數(shù)據(jù)，AT29C020的片選線(xiàn)連接到地址線(xiàn)最高位MA15，地址空間為0x8000-0xffff；AT29C020需要通過(guò)片選線(xiàn)將其分為8個(gè)32KB的區(qū)塊分別進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)。
本發(fā)明的發(fā)明點(diǎn)在于1.內(nèi)嵌有用于試驗(yàn)對(duì)象具有自行設(shè)計(jì)的記錄存儲(chǔ)系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)圖集檢測(cè)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，可自動(dòng)調(diào)出待檢型號(hào)構(gòu)件的試驗(yàn)參數(shù)，內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)可與上位機(jī)聯(lián)機(jī)實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)式更新；2.根據(jù)通過(guò)用戶(hù)交互選取的參數(shù)自動(dòng)計(jì)算出控制構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能試驗(yàn)加載過(guò)程的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，控制整個(gè)試驗(yàn)流程。
本發(fā)明的積極效果是構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀用數(shù)字位移計(jì)保障試驗(yàn)采集數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠，用智能化分析軟件代替手工計(jì)算，輔以?xún)?nèi)嵌的標(biāo)準(zhǔn)圖集檢驗(yàn)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，完成整個(gè)檢測(cè)過(guò)程中的計(jì)算及進(jìn)度控制、分析檢測(cè)結(jié)果；同時(shí)還實(shí)現(xiàn)了檢測(cè)報(bào)告的自動(dòng)編制與電子化管理，大大簡(jiǎn)化了試驗(yàn)過(guò)程中人工計(jì)算與控制的工作量，同時(shí)由于人為干擾的減少，可有效提高檢測(cè)的可靠度與準(zhǔn)確度。


圖1為本發(fā)明儀器面板與傳感器連接示意圖；圖2為本發(fā)明的系統(tǒng)整體框架圖；圖3為硬件系統(tǒng)連接框圖；圖4為本發(fā)明微控制器端口連接示意圖；圖5為外擴(kuò)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及其與微控制器連接示意圖；圖6為本發(fā)明的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間地址分配的硬件實(shí)現(xiàn)電路圖；圖7為本發(fā)明數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間的地址分配示意圖；圖8為本發(fā)明的標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)庫(kù)的存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)示意圖；
圖9為嵌入式軟件功能框圖；圖10為本發(fā)明嵌入式軟件中獲取下一個(gè)可用的型號(hào)名稱(chēng)的流程圖；圖11嵌入式軟件中遍歷讀取標(biāo)志長(zhǎng)度可選值的流程圖；圖12為本發(fā)明嵌入式軟件中從上位機(jī)下載一份標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)的流程圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說(shuō)明。
由圖1可以看出儀器采用四個(gè)通道的接口與采集形變信號(hào)的數(shù)字位移計(jì)連接。
如圖2的系統(tǒng)整體框架圖所示，構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀用數(shù)字百分表獲取試件形變量，顯示并向檢測(cè)儀傳輸，用智能化分析軟件輔以?xún)?nèi)嵌的標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)，完成整個(gè)檢測(cè)過(guò)程中的計(jì)算及進(jìn)度控制、分析檢測(cè)結(jié)果；上位機(jī)軟件接收檢測(cè)儀上傳數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)，具有數(shù)據(jù)管理、報(bào)表打印功能，可對(duì)檢測(cè)儀內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)維護(hù)更新。
如圖3硬件系統(tǒng)框架結(jié)構(gòu)圖所示，硬件設(shè)計(jì)上，以微控制器為核心，通過(guò)多路轉(zhuǎn)換采集各個(gè)通道的位移數(shù)據(jù)，采集鍵盤(pán)輸入實(shí)現(xiàn)用戶(hù)交互，從時(shí)鐘芯片獲得時(shí)間基準(zhǔn)，信息在液晶屏上實(shí)現(xiàn)顯示，將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)于FLASH存儲(chǔ)器上，并可通過(guò)串口與上位機(jī)連接，實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)上傳、標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)參數(shù)庫(kù)更新，同時(shí)有如下特點(diǎn)a.以輪詢(xún)方式通過(guò)多路通道讀取各個(gè)數(shù)字百分表，并且自動(dòng)判斷各個(gè)同時(shí)是否連接，可以實(shí)時(shí)反映新添加的百分表數(shù)據(jù)；b.可通過(guò)串口與上位機(jī)(PC機(jī))連接，可以實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)圖集數(shù)據(jù)庫(kù)的更新，還具有在線(xiàn)更新程序的功能；c.采用FLASH存儲(chǔ)器，將其劃分為多個(gè)分區(qū)，實(shí)現(xiàn)多次檢測(cè)數(shù)據(jù)的保存和標(biāo)準(zhǔn)圖集數(shù)據(jù)庫(kù)的存儲(chǔ)。
由圖4可以看出系統(tǒng)的微控制器采用了華邦公司的8位微控制器W78E516，其屬于8051單片機(jī)系列。W78E516內(nèi)含64KB APROM用于存儲(chǔ)應(yīng)用程序和4KB LDROM用于存儲(chǔ)控制在系統(tǒng)編程操作的程序，其端口連接關(guān)系如圖5所示P1.0用于高32K數(shù)據(jù)地址空間的分配，高電平時(shí)高32K數(shù)據(jù)地址空間由AT29C020占用，低電平時(shí)由時(shí)鐘芯片、液晶屏、8255等部件占用。P1.4-P1.7口控制在高32KB數(shù)據(jù)地址空間由AT29C020占用時(shí)，AT29C020中的哪一個(gè)32K區(qū)塊來(lái)作為當(dāng)前區(qū)塊占有高32K數(shù)據(jù)地址空間。
W78E516可應(yīng)用在系統(tǒng)編程技術(shù)即ISP，可以依據(jù)系統(tǒng)環(huán)境和需要，通過(guò)軟件控制，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)遠(yuǎn)程升級(jí)和調(diào)試，提高產(chǎn)品的適應(yīng)性。
由圖4還可以看出微控制器外部進(jìn)行了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的擴(kuò)展，擴(kuò)展了兩個(gè)芯片SRAM62256和AT29C020，其端口連接關(guān)系如圖5所示。
由圖4、圖5還可看出SRAM62256用于系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程中的暫存。AT29C020是256KB的FLASH芯片，用于試驗(yàn)數(shù)據(jù)的保存、內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)的保存等等，可以存儲(chǔ)15次構(gòu)件試驗(yàn)的數(shù)據(jù)記錄和5份標(biāo)準(zhǔn)圖集的數(shù)據(jù)，這個(gè)存儲(chǔ)量對(duì)于檢測(cè)儀的正常使用環(huán)境來(lái)說(shuō)已經(jīng)足夠了。AT29C020的片選線(xiàn)連接到地址線(xiàn)最高位MA15，因此其地址空間為0x8000-0xffff。因?yàn)?x8000-0xffff只含32KB，AT29C020需要通過(guò)片選線(xiàn)將其分為8個(gè)32KB的區(qū)塊分別進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)。
由圖6可以看出程序地址空間為64KB，0x0000-0xffff，全部由微控制器W78E516的內(nèi)部程序存儲(chǔ)器占用。
數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間為64KB，0x0000-0xffff，其空間分配的硬件實(shí)現(xiàn)電路如圖6所示，空間分配邏輯示意圖如圖7所示SRAM62256的片選線(xiàn)連接到地址線(xiàn)最高位MA15，占用了64KB數(shù)據(jù)地址空間中的0x0000-0x7fff共32KB空間。
0x8000-0xffff的高32KB空間由AT29C020、8255、液晶屏、時(shí)鐘芯片共享。P1.0(SEL_DMEM)用于高32K數(shù)據(jù)地址空間的分配，高電平時(shí)高32K數(shù)據(jù)地址空間由AT29C020占用，低電平時(shí)由時(shí)鐘芯片、液晶屏、8255等部件控制。8255、液晶屏、時(shí)鐘芯片通過(guò)74HC139將MA14、MA13譯碼完成地址分配。而液晶屏的數(shù)據(jù)、控制端口通過(guò)MA8來(lái)加以區(qū)分。
另外，因?yàn)?x8000-0xffff只含32KB，AT29C020需要通過(guò)片選線(xiàn)微控制器端口P1.4-P1.7將其分為8個(gè)32KB的區(qū)塊分別進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)，其中P1.7是備用，便于將來(lái)系統(tǒng)需升級(jí)時(shí)直接用AT29C040代替AT29C020實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)量翻番。
由圖8、圖9可以看出軟件設(shè)計(jì)上，嵌入式軟件實(shí)現(xiàn)了內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的讀取、更新操作；接收顯示百分表數(shù)據(jù)；進(jìn)行參數(shù)與檢測(cè)數(shù)據(jù)的計(jì)算處理與存儲(chǔ)；對(duì)按鍵事件作出反應(yīng)，進(jìn)行相應(yīng)操作；控制流程，過(guò)程中信息的顯示與圖形的繪制，提供了友好的操作界面；將試驗(yàn)中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)通過(guò)自定義的文件系統(tǒng)完整的存儲(chǔ)；與上位機(jī)之間的數(shù)據(jù)通訊，還具有在線(xiàn)更新程序的功能。
上位機(jī)軟件接收檢測(cè)儀上傳數(shù)據(jù)并存儲(chǔ)，具有數(shù)據(jù)管理、報(bào)表打印功能，可對(duì)檢測(cè)儀內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)維護(hù)更新。
由圖8可以看出參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)記錄存儲(chǔ)體系的實(shí)現(xiàn)，即將存儲(chǔ)空間劃分為多個(gè)分區(qū)，第一個(gè)分區(qū)作為主分區(qū)。每個(gè)分區(qū)內(nèi)劃分有多個(gè)頁(yè)面。主分區(qū)的第一個(gè)頁(yè)面存儲(chǔ)基本信息，包括存儲(chǔ)的圖集數(shù)量和每個(gè)圖集的標(biāo)識(shí)，并且指向由主分區(qū)其他頁(yè)面保存的各個(gè)圖集的型號(hào)列表，每個(gè)頁(yè)面保存一個(gè)圖集型號(hào)列表，而每個(gè)圖集的型號(hào)列表頁(yè)面又指向該圖集對(duì)應(yīng)的其他分區(qū)，每個(gè)分區(qū)存儲(chǔ)1-2個(gè)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)中由某一個(gè)頁(yè)面保存的該型號(hào)參數(shù)的詳細(xì)記錄，從而建立起一個(gè)樹(shù)型的存儲(chǔ)結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)了圖集參數(shù)庫(kù)的存儲(chǔ)與相關(guān)操作。
由圖10可以看出利用內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)圖集庫(kù)進(jìn)行輔助參數(shù)輸入的操作是以根據(jù)用戶(hù)輸入，獲取下一個(gè)可用的型號(hào)名稱(chēng)的流程為例先選取FLASH存儲(chǔ)芯片上圖集匯總信息的存儲(chǔ)區(qū)域(32KB)，將地址指針指向該圖集的構(gòu)件型號(hào)名稱(chēng)列表區(qū)段的存儲(chǔ)地址，根據(jù)當(dāng)前調(diào)整項(xiàng)為長(zhǎng)度或是寬度，查詢(xún)調(diào)整方向是向前或向后，獲取上或下一個(gè)可用的標(biāo)志長(zhǎng)度或?qū)挾刃蛱?hào)，由此得到由長(zhǎng)度、寬度組成的型號(hào)名稱(chēng)；遍歷型號(hào)表，如果該型號(hào)不存在，調(diào)整寬度值為下一個(gè)可用值，重新根據(jù)標(biāo)志寬度的序號(hào)取得其字符名稱(chēng)。
由圖10、圖11可以看出根據(jù)型號(hào)名稱(chēng)獲取對(duì)應(yīng)的檢測(cè)參數(shù)的過(guò)程是以當(dāng)前圖集序號(hào)、當(dāng)前鋼筋類(lèi)別、構(gòu)件型號(hào)與等級(jí)為參數(shù)調(diào)用子程序，確定FLASH存儲(chǔ)芯片上圖集匯總信息的存儲(chǔ)分區(qū)，換算出當(dāng)前鋼筋類(lèi)別、當(dāng)前構(gòu)件型號(hào)與等級(jí)的檢驗(yàn)參數(shù)的存儲(chǔ)位置，讀取各檢驗(yàn)參數(shù)并賦值給相應(yīng)的全程變量用于刷新檢驗(yàn)參數(shù)輸入界面。
由圖12可以看出標(biāo)準(zhǔn)圖集庫(kù)下載更新是以從上位機(jī)下載一份標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)為例，實(shí)現(xiàn)握手協(xié)議以后，先接收一個(gè)存儲(chǔ)區(qū)段的圖集構(gòu)件型號(hào)表的數(shù)據(jù)，將圖集構(gòu)件型號(hào)表的數(shù)據(jù)寫(xiě)入存儲(chǔ)體的合適位置并校核寫(xiě)入數(shù)據(jù)的正確性；每個(gè)圖集有多個(gè)鋼筋類(lèi)別，對(duì)一個(gè)特定鋼筋類(lèi)別，逐一遍歷各個(gè)型號(hào)，只要未遍歷完，就獲取下一個(gè)型號(hào)編號(hào)，完成請(qǐng)求應(yīng)答過(guò)程后下載一個(gè)型號(hào)的檢驗(yàn)參數(shù)并存儲(chǔ)至相應(yīng)的存儲(chǔ)區(qū)段，并在液晶屏上顯示傳輸進(jìn)度。
權(quán)利要求
1.一種建筑構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀它主要是以微控制器為主要硬件構(gòu)成的儀器，與微控制器連接有液晶屏用于顯示整個(gè)試驗(yàn)流程的參考信息、按鍵用于用戶(hù)交互、時(shí)鐘芯片用于提供時(shí)間基準(zhǔn)、多路轉(zhuǎn)換芯片用于以輪詢(xún)方式采集各個(gè)通道的位移數(shù)據(jù)、FLASH存儲(chǔ)芯片用于存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)、SRAM存儲(chǔ)芯片用于數(shù)據(jù)暫存，其特征在于a.以輪詢(xún)方式通過(guò)多路通道讀取各個(gè)數(shù)字百分表，并且自動(dòng)判斷各個(gè)同時(shí)是否連接，實(shí)時(shí)反映新添加的百分表數(shù)據(jù)；b.可通過(guò)串口與上PC位機(jī)連接，實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)圖集檢驗(yàn)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的更新或在線(xiàn)更新程序的功能；c.采用FLASH存儲(chǔ)器，將其劃分為多個(gè)分區(qū)，實(shí)現(xiàn)多次檢測(cè)數(shù)據(jù)的保存和標(biāo)準(zhǔn)圖集檢驗(yàn)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的存儲(chǔ)。d.采用嵌入式軟件實(shí)現(xiàn)內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)圖集檢驗(yàn)參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的讀取、更新操作；接收顯示百分表數(shù)據(jù)；進(jìn)行參數(shù)與檢測(cè)數(shù)據(jù)的計(jì)算處理與存儲(chǔ)；對(duì)按鍵事件作出反應(yīng)，進(jìn)行相應(yīng)操作；控制流程，過(guò)程中信息的顯示與圖形的繪制，提供了友好的操作界面；將試驗(yàn)中的各項(xiàng)參數(shù)與檢測(cè)數(shù)據(jù)通過(guò)自定義的記錄存儲(chǔ)系統(tǒng)完整的存儲(chǔ)；與上位機(jī)之間的數(shù)據(jù)通訊，還具有在線(xiàn)更新程序的功能。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的建筑構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀其特征在于微控制器采用了8位微控制器W78E516，內(nèi)含64KB APROM用于存儲(chǔ)應(yīng)用程序和4KBLDROM用于存儲(chǔ)控制在系統(tǒng)編程操作的程序。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的建筑構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀其特征在于微控制器外部進(jìn)行了數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器的擴(kuò)展，擴(kuò)展了兩個(gè)芯片SRAM62256和AT29C020；SRAM62256用于系統(tǒng)運(yùn)行過(guò)程中的暫存；AT29C020是256KB的FLASH芯片，用于試驗(yàn)數(shù)據(jù)的保存、內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)庫(kù)的保存，AT29C020的片選線(xiàn)連接到地址線(xiàn)最高位MA15，地址空間為0x8000-0xffff；AT29C020需要通過(guò)片選線(xiàn)將其分為8個(gè)32KB的區(qū)塊分別進(jìn)行訪(fǎng)問(wèn)；可以存儲(chǔ)15次完整的構(gòu)件試驗(yàn)的檢測(cè)過(guò)程數(shù)據(jù)記錄，以及5份構(gòu)件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)圖集的數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的建筑構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀其特征在于通過(guò)微控制器的P1端口控制高32KB數(shù)據(jù)地址空間的分配，高32KB數(shù)據(jù)地址空間或者由AT29C020占用，或者由時(shí)鐘芯片、液晶屏、端口擴(kuò)展芯片8255三個(gè)部件共同占用；以及高32K數(shù)據(jù)地址空間由AT29C020占用時(shí)，AT29C020中的哪一個(gè)32KB區(qū)塊來(lái)作為當(dāng)前區(qū)塊占有高32KB數(shù)據(jù)地址空間。
全文摘要
一種建筑構(gòu)件結(jié)構(gòu)性能智能檢測(cè)儀它主要是由以微控制器為主要硬件構(gòu)成的儀器，與微控制器連接有液晶屏、按鍵、時(shí)鐘芯片、多路轉(zhuǎn)換芯片、FLASH存儲(chǔ)芯片、SRAM存儲(chǔ)芯片；接收顯示百分表數(shù)據(jù)；通過(guò)內(nèi)嵌的用于試驗(yàn)對(duì)象的標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)可自動(dòng)調(diào)出待檢型號(hào)構(gòu)件的試驗(yàn)參數(shù)，采用嵌入式軟件實(shí)現(xiàn)內(nèi)嵌標(biāo)準(zhǔn)圖集參數(shù)數(shù)據(jù)庫(kù)的讀取、更新操作；根據(jù)通過(guò)用戶(hù)交互選取的參數(shù)可自動(dòng)計(jì)算出控制試驗(yàn)加載過(guò)程的各項(xiàng)數(shù)據(jù)，控制整個(gè)試驗(yàn)流程；進(jìn)行參數(shù)與檢測(cè)數(shù)據(jù)的計(jì)算處理與存儲(chǔ)；對(duì)按鍵事件作出反應(yīng)，進(jìn)行相應(yīng)操作；過(guò)程中信息的顯示與圖形的繪制，提供了友好的操作界面；將試驗(yàn)中的各項(xiàng)數(shù)據(jù)通過(guò)自定義的記錄存儲(chǔ)系統(tǒng)完整的存儲(chǔ)；與上位機(jī)之間可進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊。
文檔編號(hào)G01M99/00GK1920516SQ20061010704
公開(kāi)日2007年2月28日 申請(qǐng)日期2006年9月14日 優(yōu)先權(quán)日2006年9月14日
發(fā)明者王霆, 劉宏奎, 劉新生, 欒景陽(yáng), 劉付林, 馮勇, 曹偉, 張永利 申請(qǐng)人:河南省建筑科學(xué)研究院有限公司