專利名稱：用于測量導(dǎo)線上的電壓的方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種按照權(quán)利要求1的前序部分的特征的方法。

背景技術(shù)：
特別是在中壓技術(shù)中，通過使用在支座絕緣子中的套管式電容或環(huán)形電極可以實現(xiàn)相對于感性電壓互感器來說價格非常便宜的可以被用作所謂的初級互感器的容性分壓器。這樣的容性分壓器目前例如被用于電壓測試。但是由于電容的高的容差在容性分壓器情況下必須考慮到直至25％的測量誤差，假如沒有進(jìn)行合適的測量值校正。如果不校正，這種形式的互感器對于電壓測量來說通常是不合適的，因為對于測量應(yīng)用來說測量誤差通常必須小于5％。
為了使容性分壓器也能夠用于測量任務(wù)，需要進(jìn)行分壓器補償或者說需要進(jìn)行測量值校正。具有容性分壓器和合適的測量值校正的測量方法在德國專利申請公開DE10346356A1中公開。在該公知的方法中借助具有耦合到導(dǎo)線的容性分壓器和測量裝置的測量設(shè)備來測量導(dǎo)線上的電壓。首先測量其高壓端子與所述導(dǎo)線相連的容性分壓器的低壓端子上的電壓，以形成低壓測量值。所測量的低壓測量值用具有測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的反傳輸函數(shù)的校正單元來校正。在考慮校正的低壓測量值的情況下接著形成給出導(dǎo)線上的電壓的測量值。


發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，進(jìn)一步擴(kuò)展所描述種類的方法，使得其可以特別簡單地實施。
按照本發(fā)明，上述技術(shù)問題通過一種根據(jù)權(quán)利要求1的特征部分的方法解決。按照本發(fā)明的方法的優(yōu)選實施方式在從屬權(quán)利要求中給出。
按照本發(fā)明，對于低壓端子上兩種不同的負(fù)載狀態(tài)借助在低壓端子上的電壓確定測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)，并且在考慮該時間常數(shù)的條件下確定反傳輸函數(shù)。
按照本發(fā)明的方法的主要優(yōu)點在于，在該方法中無需附加地測量在容性分壓器上實際施加的初級電壓就可以進(jìn)行相位角補償或者說相位角校正，從而就是在測量設(shè)備運行期間也可以非常簡單地進(jìn)行相位角補償，并且特別是在測量設(shè)備運行期間還可以任意地重復(fù)。由此例如可以定期地或者連續(xù)地監(jiān)控通過反傳輸函數(shù)確定的相位角校正并且在測量設(shè)備中可能出現(xiàn)漂移現(xiàn)象的情況下匹配到各個新的條件。
用該方法例如可以測量輸電線的相線上的電壓。
優(yōu)選地，還考慮容性分壓器的幅值分壓比(

)；也就是該工作方式使得可以在形成測量值時使用所述低壓值、時間常數(shù)和幅值分壓比，由此可以根據(jù)幅值和相位進(jìn)行測量值校正。
優(yōu)選地通過測量在高壓端子上的電壓以形成高壓測量值，并且將高壓測量值和低壓測量值之間的比用作分壓值(Teilerwert)，來確定分壓值。分壓值的確定例如可以一次性地進(jìn)行并且在安裝測量設(shè)備時確定。
通過將一階高通濾波器用作反傳輸函數(shù)，可以特別簡單和由此具有優(yōu)勢地進(jìn)行相位角校正。
優(yōu)選地，用所確定的時間常數(shù)按照下式形成反傳輸函數(shù) 其中，T1表示所確定的時間常數(shù)，Tk表示另一個可自由選擇的時間常數(shù)并且K表示測量設(shè)備的變換系數(shù)。
優(yōu)選地，這樣選擇該可自由選擇的時間常數(shù)，使得其與測量裝置的電流輸入端上的時間常數(shù)一致。以這種方式可以將測量裝置的時間常數(shù)一起包括在相位角校正中。
例如，可以通過用來測量低壓端子上的電壓的測量裝置的內(nèi)阻來形成兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的一種。
兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的另一種例如可以如下地來形成除了測量裝置的內(nèi)阻還連接一個附加的電氣組件。作為附加的電氣組件優(yōu)選地連接附加的電阻或附加的電壓源。附加的電氣組件優(yōu)選地可以與測量裝置的內(nèi)阻電氣串聯(lián)或并聯(lián)。
在使用附加的電阻的情況下考慮到測量設(shè)備的簡單和低成本的結(jié)構(gòu)，優(yōu)選地將附加的電阻連接在低壓端子和內(nèi)阻之間。
測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)T1例如根據(jù)下式簡單和由此具有優(yōu)勢地確定
其中，RK1表示測量裝置的內(nèi)阻，RK2表示由測量裝置的內(nèi)阻與所連接的電阻的電阻和，

表示對于兩種不同的電氣負(fù)載狀態(tài)在低壓端子上的電壓的相位的相位差。
此外，本發(fā)明還涉及一種用于測量導(dǎo)線上的電壓的測量設(shè)備，具有其高壓端子與導(dǎo)線相連的容性分壓器，和測量裝置，該測量裝置測量容性分壓器的低壓端子上的電壓以形成低壓測量值并且用該低壓測量值形成給出導(dǎo)線上的電壓的測量值，其中，為了形成測量值將所測量的低壓測量值用具有測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的反傳輸函數(shù)的校正單元校正。
這樣的測量設(shè)備同樣在德國專利申請公開DE10346356A1中公開。
本發(fā)明關(guān)于這樣的測量設(shè)備的技術(shù)問題是，進(jìn)一步擴(kuò)展該測量設(shè)備，使得可以特別簡單地進(jìn)行測量值校正。
按照本發(fā)明該技術(shù)問題如下地解決這樣構(gòu)造測量裝置，使得其適合于借助在低壓端子上的電壓對于低壓端子上兩種不同的負(fù)載狀態(tài)測量測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)，并且在考慮這樣確定的時間常數(shù)的條件下形成反傳輸函數(shù)。
關(guān)于按照本發(fā)明的測量設(shè)備的優(yōu)點和關(guān)于按照本發(fā)明的測量設(shè)備的優(yōu)選實施方式參見關(guān)于按照本發(fā)明的方法的上面提到的實施方式。
測量設(shè)備優(yōu)選地具有可接通的電氣組件，其在接通的狀態(tài)下構(gòu)成兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的另一種。
測量裝置優(yōu)選地被構(gòu)造為具有用于轉(zhuǎn)換負(fù)載狀態(tài)和用于形成反傳輸函數(shù)的分析裝置。
可接通的電氣組件例如可以形成測量裝置的組成部分并且由分析裝置控制以便轉(zhuǎn)換負(fù)載狀態(tài)。
作為替換，附加的電氣組件還可以形成分開的、與測量裝置相連的校準(zhǔn)裝置的組成部分并且由分析裝置控制以便轉(zhuǎn)換負(fù)載狀態(tài)。
測量裝置優(yōu)選地具有用于測量在高壓端子上的電壓的電壓測量裝置，以便在考慮低壓測量值的條件下還可以確定容性分壓器的幅值分壓比。在高壓端子上的電壓的電壓測量值優(yōu)選地被饋入到分析裝置中用于進(jìn)一步處理。
此外，本發(fā)明還涉及一種針對用于測量導(dǎo)線上的電壓的測量設(shè)備的測量裝置，其中，所述測量裝置適合于測量容性分壓器的低壓端子上的電壓以形成低壓測量值并且用該低壓測量值形成給出導(dǎo)線上的電壓的測量值，其中，為了形成測量值所述測量裝置將所測量的低壓測量值用具有測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的反傳輸函數(shù)的校正單元校正。
這樣的測量裝置同樣在德國專利申請公開DE10346356A1中公開。
關(guān)于這樣的測量裝置本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是，進(jìn)一步擴(kuò)展該測量裝置，使得可以特別簡單地進(jìn)行測量值校正。
按照本發(fā)明該技術(shù)問題如下地解決該測量裝置適合于借助在低壓端子上的電壓對于低壓端子上兩種不同的負(fù)載狀態(tài)測量測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)，并且在考慮這樣確定的時間常數(shù)本身的條件下形成反傳輸函數(shù)。
關(guān)于按照本發(fā)明的測量裝置的優(yōu)點和關(guān)于按照本發(fā)明的測量裝置的優(yōu)選實施方式參見關(guān)于按照本發(fā)明的方法的上面提到的實施方式。
此外，本發(fā)明還涉及一種用于測量設(shè)備的校準(zhǔn)裝置。按照本發(fā)明，校準(zhǔn)裝置具有用于連接到測量裝置的控制端子，校準(zhǔn)裝置具有適合于連接到容性分壓器的電壓測量端子，校準(zhǔn)裝置具有與電壓測量端子相連的并且適合于連接到外部測量裝置的輸出端子，根據(jù)控制端子上的控制信號被斷開或被閉合的開關(guān)元件與所述控制端子相連，并且與所述開關(guān)元件一起在電壓端子和輸出端子之間可以連接可接通的電氣組件用于轉(zhuǎn)換負(fù)載狀態(tài)。



下面結(jié)合實施例對本發(fā)明作進(jìn)一步說明；在此，附圖示例性地 圖1示出了按照本發(fā)明的測量設(shè)備的第一實施例和按照本發(fā)明的測量裝置的實施例以及按照本發(fā)明的校準(zhǔn)裝置的實施例， 圖2示出了針對按照圖1的校準(zhǔn)裝置的第一開關(guān)狀態(tài)的測量裝置的等效電路圖， 圖3示出了針對按照圖1的校準(zhǔn)裝置的第二開關(guān)狀態(tài)的測量裝置的等效電路圖， 圖4示出了針對按照圖1的測量裝置的分析裝置的數(shù)字濾波器的實施例， 圖5示出了按照本發(fā)明的測量設(shè)備的第二實施例和按照本發(fā)明的測量裝置的實施例以及按照本發(fā)明的校準(zhǔn)裝置的實施例，以及 圖6示出了按照圖5的校正裝置的開關(guān)狀態(tài)的等效電路圖。
在圖1至6中為清楚起見相同或相似的元件使用同一個附圖標(biāo)記。

具體實施例方式 在圖1中示出了測量設(shè)備10的第一實施例。測量設(shè)備10具有容性分壓器20，其通過高壓電容Co和低壓電容CU1形成。高壓電容器Co的兩個端子中的一個形成容性分壓器20的高壓端子O20；高壓電容器Co的兩個端子中的另一個形成容性分壓器20的低壓端子U20。容性分壓器20的低壓端子U20此外與低壓電容CU1的一個端子相連，低壓電容CU1的另一個端子例如接地或接到另一個電位。
容性分壓器20的高壓端子O20連接到未進(jìn)一步示出的輸電線的相線30，以便可以測量相線30上的線電壓UE。
容性分壓器20的低壓端子U20連接到同軸電纜40的一端，該同軸電纜在電氣上形成電容CU2；該電容CU2與低壓電容CU1電氣并聯(lián)。
校準(zhǔn)裝置50與同軸電纜40的另一端相連，具體說利用其電壓測量端子M50相連。附加的電氣組件60連接到電壓測量端子M50，其中電氣組件60例如可以是電阻RZ。電氣組件60此外還與校準(zhǔn)裝置50的輸出端子A50相連。
此外，在圖1中還可以看出校準(zhǔn)裝置50的開關(guān)元件65，其開關(guān)端子與電壓測量端子M50和輸出端子A50相連，并且其控制端子與校準(zhǔn)裝置50的控制端子S50相連。
在校準(zhǔn)裝置50之后設(shè)置了測量裝置70，該測量裝置70例如可以通過現(xiàn)場設(shè)備或保護(hù)設(shè)備形成。測量裝置70具有電阻RK1，在電阻RK1之后連接感性互感器80、A/D轉(zhuǎn)換器90和分析裝置100。分析裝置100例如可以通過可編程的微處理器裝置形成，其中實現(xiàn)或可實現(xiàn)一個或多個數(shù)字濾波器。
測量設(shè)備10例如可以如下地被驅(qū)動 由分析裝置100依次將校準(zhǔn)裝置50的開關(guān)元件65置于下列開關(guān)狀態(tài) 由此，對于兩個開關(guān)狀態(tài)Z1和Z2形成等效電路圖，如在圖2和3中所示；在此，圖2示出對于開關(guān)元件65閉合的情況的等效電路圖，而圖3示出開關(guān)元件65斷開的情況的等效電路圖。RK2按照下式表示電阻RZ和RK1的電阻和 RK2＝RZ+RK1. 此時，根據(jù)等效電路圖可以計算分析裝置100中電壓UE和UA a)開關(guān)狀態(tài)Z1(開關(guān)元件65閉合) b)開關(guān)狀態(tài)Z2(開關(guān)元件65斷開) 其中對于參數(shù)V、T1、T2和CU下式成立 T1＝RK1·(CO+CU) T2＝RK2·(CO+CU) CU＝CU1+CU2 假定輸入電壓UE在補償過程期間保持恒定，則以下公式成立 在負(fù)載電阻RK1以及RK2改變時產(chǎn)生的角度突變

由下式計算
通過變形得到以下二次方程

其中 由此，產(chǎn)生如下用于計算想要的時間常數(shù)T1的公式
在該解中得出的視在解

或者可以通過利用對于該解的估計值的或然性測試，或者可以通過對于另一對校準(zhǔn)電阻RK列出公式來進(jìn)行。在兩種情況下得出的解是正確的解。
可以通過比較測量來確定容性分壓器20連同同軸電纜40的幅值分壓比V。為此，相線30上當(dāng)前的電壓幅值UE由在測量設(shè)備10中至少臨時存在的并且在圖1中由于清楚性原因沒有示出的附加的電壓測量裝置的顯示設(shè)備讀出并且作為在圖中沒有示出的分析裝置100的附加的測量值輸入端上的參考值，例如被手動地輸入到該分析裝置100。該輸入可以一次性地進(jìn)行并且例如在首次安裝測量設(shè)備時進(jìn)行。
為了對在圖1中對于開關(guān)狀態(tài)Z1用附圖標(biāo)記UA1表示的并且對于開關(guān)狀態(tài)Z2用附圖標(biāo)記UA2表示的電壓測量值進(jìn)行校正，在分析裝置100中例如采用數(shù)字濾波器110，如在圖4中示例性示出的。數(shù)字濾波器110的功能在于，校正通過容性分壓器20、同軸電纜40、校準(zhǔn)裝置50以及內(nèi)阻RK1確定的測量設(shè)備10的傳輸函數(shù)G，并且利用低壓測量值UA1和UA2在A/D轉(zhuǎn)換器90的輸出端形成校正后的測量值i(k)。為此，在分析裝置100中使用相對于待校正的傳輸函數(shù)G的反校正傳輸函數(shù)Gkorr。
因為反校正傳輸函數(shù)Gkorr用對于頻率f＝0具有無限放大的π單元表示，合適的是，將反校正傳輸函數(shù)設(shè)置為具有附加的極點(Polstelle)；以這種方式可以避免偏移問題(Offsetprobleme)。作為結(jié)果的校正傳輸函數(shù)例如形成具有另一個可自由選擇的特征時間常數(shù)的一階高通濾波器。如下合適地設(shè)置該時間常數(shù)，使得其與測量裝置70的電流輸入端M70的特征時間常數(shù)一致。以下公式示出了產(chǎn)生的校正傳輸函數(shù) TK表示自由選擇的時間常數(shù)，K表示測量設(shè)備的變換系數(shù)。K對應(yīng)于相線30上的電壓UE和沒有補償?shù)娜菪苑謮浩鞯牡蛪憾俗覷20上的電壓UA的商，并且由此在數(shù)值上理想地等于幅值分壓比V＝CO/(CO+CU)。如果測量設(shè)備的另一個元件導(dǎo)致放大誤差，則同樣用因數(shù)K校正該放大誤差；在這種情況下K和V不再相同。
在使用雙線性變換的條件下校正傳輸函數(shù)可以按照以下方式在z區(qū)域中被確定 數(shù)字濾波器110由此在z區(qū)域中具有以下傳輸函數(shù) 為了計算校正傳輸函數(shù)的相關(guān)系數(shù)得出如下公式 其中 fa在此表示所使用的采樣頻率。
在圖5中示出了測量設(shè)備10的第二實施例，其中作為附加的電氣組件60采用電壓源200。圖6示出形成的等效電路圖。
可以利用以下的公式計算輸入電壓UE 假定已知電阻R并且電壓UK在兩個開關(guān)狀態(tài)Z1和Z2中分別取兩個不同的已知電壓值UK1和UK2，則對于兩種開關(guān)狀態(tài)Z1和Z2可以列出以下公式 在此假定，輸入電壓UE對于兩種開關(guān)狀態(tài)是常量。利用結(jié)合圖1至4在上面已經(jīng)討論的相同的方法求解示出的公式，從而在分析裝置100中確定反校正傳輸函數(shù)Gkorr并且可以進(jìn)一步使用。
權(quán)利要求
1.一種用于借助測量設(shè)備(10)測量導(dǎo)線(30)上的電壓(UE)的方法，該測量設(shè)備具有耦合到所述導(dǎo)線的容性分壓器(20)和測量裝置(70)，其中，在該方法中，
-測量其高壓端子(O20)與所述導(dǎo)線相連的所述容性分壓器的低壓端子(U20)上的電壓(UA)，以形成低壓測量值(UA1，UA2)，并且
-利用所述低壓測量值形成給出所述導(dǎo)線上的電壓的測量值(ik)，其中
-為了形成所述測量值，利用具有相對于測量設(shè)備的傳輸函數(shù)(G)的反傳輸函數(shù)(GKorr)的校正單元(110)校正所測量的低壓測量值，
其特征在于，
借助低壓端子上的電壓對于低壓端子上的兩種不同的負(fù)載狀態(tài)(Z1，Z2)確定所述測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)(T1)，并且
-在考慮該時間常數(shù)的條件下確定所述反傳輸函數(shù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，測量輸電線的相線上的電壓。
3.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，使用一階高通濾波器作為反傳輸函數(shù)。
4.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，利用所述時間常數(shù)根據(jù)下式形成反傳輸函數(shù)
其中，T1表示所述時間常數(shù)，Tk表示另一個可自由選擇的時間常數(shù)并且K表示所述測量設(shè)備的變換系數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，這樣選擇所述可自由選擇的時間常數(shù)，使得其與所述測量裝置的電流輸入端上的時間常數(shù)一致。
6.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，通過用來測量低壓端子上的電壓的測量裝置的內(nèi)阻(RK1)形成兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的一種。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，如下地形成兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的另一種除了所述測量裝置的內(nèi)阻還補充連接一個附加的電氣組件(60)。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的方法，其特征在于，補充連接附加的電阻(Rz)或附加的電壓(UK)作為附加的電氣組件。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的方法，其特征在于，所述附加的電氣組件與所述內(nèi)阻電氣串聯(lián)或并聯(lián)。
10.根據(jù)權(quán)利要求7-9中任一項所述的方法，其特征在于，所述附加的電阻連接在所述低壓端子和所述內(nèi)阻之間。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的方法，其特征在于，所述測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)T1根據(jù)下式確定
其中，RK1表示所述測量裝置的內(nèi)阻，RK2表示所述測量裝置的內(nèi)阻與所連接的電阻的電阻和，
表示對于兩種不同的電氣負(fù)載狀態(tài)在低壓端子上的電壓的相位的相位差。
12.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其特征在于，
-確定所述容性分壓器的幅值分壓比(V)，并且
-在形成所述測量值時考慮所述低壓測量值、所述時間常數(shù)和所述幅值分壓比(V)。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法，其特征在于，通過測量高壓端子上的電壓以形成高壓測量值并且使用在高壓測量值和低壓測量值之間的比作為幅值分壓比(V)，來確定幅值分壓比(V)。
14.一種用于測量導(dǎo)線(30)上的電壓的測量設(shè)備(10)，包括
-容性分壓器(20)，其高壓端子(O20)與所述導(dǎo)線相連，和
-測量裝置(70)，該測量裝置測量所述容性分壓器的低壓端子(U20)上的電壓以形成低壓測量值(UA1，UA2)并且用該低壓測量值形成給出導(dǎo)線上的電壓的測量值(i(k))，其中，為了形成所述測量值，將所測量的低壓測量值利用具有相對于測量設(shè)備的傳輸函數(shù)(G)的反傳輸函數(shù)(GKorr)的校正單元(110)校正，
其特征在于，
-借助低壓端子上的電壓對于低壓端子上的兩種不同的負(fù)載狀態(tài)(Z1，Z2)確定所述測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)(T1)，并且
-在考慮這樣確定的時間常數(shù)的條件下確定所述反傳輸函數(shù)。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測量設(shè)備，其特征在于，通過所述測量裝置的內(nèi)阻形成兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的一種。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的測量設(shè)備，其特征在于，所述測量設(shè)備具有可接通的電氣組件，該電氣組件在接通的狀態(tài)下形成兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的另一種。
17.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的測量設(shè)備，其特征在于，所述測量裝置具有分析裝置(100)，用于轉(zhuǎn)換所述負(fù)載狀態(tài)并且用于形成所述反傳輸函數(shù)。
18.根據(jù)權(quán)利要求16或17中任一項所述的測量設(shè)備，其特征在于，所述可接通的電氣組件形成所述測量裝置的組成部分，并且由所述分析裝置控制以便轉(zhuǎn)換所述負(fù)載狀態(tài)。
19.根據(jù)權(quán)利要求16或17中任一項所述的測量設(shè)備，其特征在于，附加的電氣組件形成單獨的、與所述測量裝置相連的校準(zhǔn)裝置(50)的組成部分并且由所述分析裝置控制以轉(zhuǎn)換所述負(fù)載狀態(tài)。
20.根據(jù)權(quán)利要求16或19中任一項所述的測量設(shè)備，其特征在于，所述附加的電氣組件通過附加的電阻或者附加的電壓源形成。
21.根據(jù)權(quán)利要求16或20中任一項所述的測量設(shè)備，其特征在于，所述附加的電氣組件可以與所述測量裝置的內(nèi)阻電氣串聯(lián)或并聯(lián)。
22.根據(jù)權(quán)利要求16或21中任一項所述的測量設(shè)備，其特征在于，所述可接通的電氣組件通過附加的電阻形成，其可以被連接在所述低壓端子和所述內(nèi)阻之間。
23.根據(jù)上述權(quán)利要求中任一項所述的測量設(shè)備，其特征在于，所述測量設(shè)備具有電壓測量裝置，用于測量高壓端子上的電壓。
24.一種用于根據(jù)權(quán)利要求14-23中任一項所述的用于測量導(dǎo)線上的電壓的測量設(shè)備的測量裝置(70)，其中，所述測量裝置適合于測量容性分壓器的低壓端子上的電壓以形成低壓測量值并且用所述低壓測量值形成給出導(dǎo)線上的電壓的測量值，其中，為了形成所述測量值所述測量裝置利用具有相對于所述測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的反傳輸函數(shù)的校正單元校正所測量的低壓測量值，
其特征在于，
所述測量裝置適合于借助低壓端子上的電壓對于低壓端子上的兩種不同的負(fù)載狀態(tài)確定所述測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)，并且在考慮這樣確定的時間常數(shù)的條件下確定所述反傳輸函數(shù)。
25.根據(jù)權(quán)利要求24所述的測量裝置，其特征在于，所述測量裝置具有分析裝置，用于轉(zhuǎn)換所述負(fù)載狀態(tài)并形成反傳輸函數(shù)。
26.根據(jù)權(quán)利要求24-25中任一項所述的測量裝置，其特征在于，通過所述測量裝置的內(nèi)阻形成所述兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的一種。
27.根據(jù)權(quán)利要求26所述的測量裝置，其特征在于，
-所述測量裝置具有可接通的電氣組件，其在接通的狀態(tài)下形成所述兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的另一種，并且
-所述可接通的電氣組件由所述分析裝置控制以轉(zhuǎn)換所述負(fù)載狀態(tài)。
28.根據(jù)權(quán)利要求25-27中任一項所述的測量裝置，其特征在于，
-所述分析裝置具有用于連接到可接通的電氣組件的控制端子，該電氣組件在接通的狀態(tài)下形成所述兩種電氣負(fù)載狀態(tài)中的另一種，并且
-所述可接通的電氣組件由所述分析裝置控制以轉(zhuǎn)換所述負(fù)載狀態(tài)。
29.一種用于根據(jù)權(quán)利要求14-23中任一項所述的測量設(shè)備的校準(zhǔn)裝置(50)，其特征在于，
-所述校準(zhǔn)裝置具有用于連接到所述測量裝置的控制端子(S50)，
-所述校準(zhǔn)裝置具有適合于連接到容性分壓器的電壓測量端子(M50)，
-所述校準(zhǔn)裝置具有與所述電壓測量端子相連的并且適合于連接到外部測量裝置的輸出端子(A50)，
-根據(jù)控制端子上的控制信號被斷開或被閉合的開關(guān)元件(65)與所述控制端子相連，并且
-與所述開關(guān)元件一起在電壓端子和輸出端子之間可以連接用于轉(zhuǎn)換負(fù)載狀態(tài)的可接通的電氣組件(Rz)。
全文摘要
本發(fā)明除了別的之外涉及一種用于借助測量設(shè)備(10)測量導(dǎo)線(30)上的電壓(UE)的方法，該測量設(shè)備具有耦合到所述導(dǎo)線的容性分壓器(20)和測量裝置(70)，其中，在該方法中，測量其高壓端子(O20)與所述導(dǎo)線相連的所述容性分壓器的低壓端子(U20)上的電壓(UA)，以形成低壓測量值(UA1，UA2)并且用所述低壓測量值形成給出所述導(dǎo)線上的電壓的測量值(ik)，其中，為了形成所述測量值，利用具有相對于測量設(shè)備的傳輸函數(shù)(G)的反傳輸函數(shù)(GKorr)的校正單元(110)校正所測量的低壓測量值。按照本發(fā)明，借助低壓端子上的電壓對于低壓端子上的兩種不同的負(fù)載狀態(tài)(Z1，Z2)確定所述測量設(shè)備的傳輸函數(shù)的時間常數(shù)(T1)，并且在考慮該時間常數(shù)的條件下確定所述反傳輸函數(shù)。
文檔編號G01R19/25GK101535818SQ200680056258
公開日2009年9月16日 申請日期2006年10月30日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月30日
發(fā)明者安德烈亞斯·朱里希 申請人:西門子公司