專利名稱：液晶顯示器面板的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及液晶顯示器面板的測(cè)試方法，其中將柵極驅(qū)動(dòng)電路整合于液晶顯示器面板之上。
背景技術(shù)：
隨著電子商品市場(chǎng)日漸蓬勃，對(duì)于液晶顯示器面板的需求量也越來越大。此需求是因?yàn)樵S多電子產(chǎn)品采用液晶顯示器(Liquid Crystal Display，LCD)，例如電視屏幕，計(jì)算機(jī)屏幕，以及手機(jī)屏幕。相對(duì)地，液晶顯示器面板的測(cè)試也成為量產(chǎn)液晶顯示器面板的關(guān)鍵步驟。目前液晶顯示器面板的測(cè)試方法包括全面接觸測(cè)試法(Full Contact) 以及短路桿測(cè)試法(Shorting Bar)。全面接觸測(cè)試法的優(yōu)點(diǎn)是其良好的測(cè)試功能，但會(huì)消耗許多芯片測(cè)試時(shí)間。短路桿測(cè)試法可縮短測(cè)試時(shí)間，因?yàn)榇藴y(cè)試法將所有柵線(gate line)分為奇數(shù)條及偶數(shù)條兩組，并將每組所有的時(shí)序信號(hào)輸入端連接在一起，所有的起始信號(hào)輸入端連接在一起，以及所有的下拉信號(hào)輸入端連接在一起。因此不需為每一條柵線輸入獨(dú)立的信號(hào)，而可于上述信號(hào)的連接點(diǎn)輸入一個(gè)信號(hào)。測(cè)試可先由開啟所有奇數(shù)柵線開始。完成奇數(shù)柵線后將其關(guān)閉，并打開所有偶數(shù)柵線進(jìn)行測(cè)試。面板測(cè)試區(qū)域?qū)Q定于一調(diào)變器，調(diào)變器并會(huì)同時(shí)提供像素電壓于所有的區(qū)域。
短路桿測(cè)試法適用于不具有柵極驅(qū)動(dòng)器的液晶顯示器面板。但是當(dāng)柵極驅(qū)動(dòng)器整合于液晶顯示器面板上(Gate On Array，GOA)時(shí)，短路桿測(cè)試法即無法以現(xiàn)有的方式使用。原因是在短路桿測(cè)試法里，用于啟動(dòng)?xùn)啪€的信號(hào)是直接由柵線的輸入端輸入，并不需經(jīng)過柵極驅(qū)動(dòng)器。當(dāng)柵極驅(qū)動(dòng)器與柵線電性連接時(shí)，短路桿測(cè)試法即無法直接套用于柵線的輸入端。
目前用于測(cè)試GOA技術(shù)面板的方法是由整合于面板上的第一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)器的輸入端輸入驅(qū)動(dòng)信號(hào)。當(dāng)?shù)谝粋€(gè)柵極驅(qū)動(dòng)器被驅(qū)動(dòng)時(shí)，即開啟第一條柵線。驅(qū)動(dòng)信號(hào)會(huì)由第一個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)器傳至第二個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)器，并關(guān)閉第一柵極驅(qū)動(dòng)器，而開啟第二條柵線，以此類推。
請(qǐng)參照?qǐng)D1，其示出目前GOA面板測(cè)試模式示意圖。如果依序從最上方的柵線往下測(cè)試，當(dāng)發(fā)現(xiàn)某一條柵線101上出現(xiàn)一個(gè)缺陷點(diǎn)102時(shí)，測(cè)試即終止，缺陷點(diǎn)102以后的其余柵線103都無法再測(cè)試。有待于修復(fù)被發(fā)現(xiàn)的缺陷點(diǎn)時(shí)再進(jìn)行第二次測(cè)試。如再次發(fā)現(xiàn)另一缺陷點(diǎn)(未示于圖中)，測(cè)試即終止，缺陷點(diǎn)102以后的其余柵線103都無需再測(cè)試，并拋棄此面板。因此，測(cè)試者無法知道缺陷點(diǎn)102之后是否還具有缺陷，若缺陷點(diǎn)102之后的柵線無缺陷，面板的拋棄形成一種材料的浪費(fèi)并降低產(chǎn)出。
因此，目前需要一種可以同時(shí)測(cè)試GOA面板上多條柵線的方法。當(dāng)多條柵線可被同時(shí)測(cè)量時(shí)，即可降低或解決柵線因順序問題而無法被測(cè)試的可能性。

發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的就是在提供一種液晶顯示器面板的測(cè)試方法，用以當(dāng)將柵極驅(qū)動(dòng)電路整合于液晶顯示器面板其上時(shí)，可同時(shí)測(cè)試多條柵線上的薄膜晶體管(Thin Film Transistor，TFT)。本發(fā)明一實(shí)施例將所選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器的正相時(shí)序信號(hào)輸入端(CK)、反相時(shí)序信號(hào)輸入端(XCK)以及下拉信號(hào)端(Pull Down)分別連接于一正相時(shí)序測(cè)試焊盤、一反相時(shí)序測(cè)試焊盤以及一下拉信號(hào)測(cè)試焊盤。由此即可將正相時(shí)序信號(hào)、反相時(shí)序信號(hào)以及下拉信號(hào)，同時(shí)分別輸入至所選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)的正相時(shí)序信號(hào)輸入端、反相時(shí)序信號(hào)輸入端以及下拉信號(hào)端。相同地，將所選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器的起始信號(hào)(Start Pulse)輸入端連接于一起始信號(hào)測(cè)試焊盤，并將起始信號(hào)同時(shí)輸入至所選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器的起始信號(hào)輸入端。上述的選定區(qū)域可包括整片面板。當(dāng)上述信號(hào)同時(shí)輸入后，即開啟所選定區(qū)域柵線上的所有薄膜晶體管。當(dāng)測(cè)試信號(hào)同時(shí)由所有數(shù)據(jù)線(data line)輸入時(shí)，所選定區(qū)域柵線上的所有薄膜晶體管即可同時(shí)進(jìn)行測(cè)試。
本發(fā)明所公開的另一個(gè)實(shí)施例是將液晶顯示器面板以分區(qū)的方式進(jìn)行測(cè)試。本實(shí)施例將面板劃分為多個(gè)區(qū)域，其中每個(gè)區(qū)域至少包括一條柵線。每個(gè)區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器的起始信號(hào)端連接于一起始信號(hào)測(cè)試焊盤上，每個(gè)區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器的正相時(shí)序信號(hào)輸入端連接于一正相時(shí)序測(cè)試焊盤上，每個(gè)區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器的反相時(shí)序信號(hào)輸入端連接于一反相時(shí)序測(cè)試焊盤上，以及每個(gè)區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器的下拉信號(hào)輸入端連接于一下拉信號(hào)測(cè)試焊盤上。因此，上述的信號(hào)可同時(shí)分別輸入至不同區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器，且對(duì)不同區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。
進(jìn)行測(cè)試之前不需要隔離每個(gè)區(qū)域的所有信號(hào)連接線或可將每個(gè)區(qū)域的所有信號(hào)連接線彼此電性隔離，避免各區(qū)域的信號(hào)進(jìn)入其它區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器中。若將每個(gè)區(qū)域的所有信號(hào)連接線彼此電性隔離時(shí)，測(cè)試完畢之后，即需將所有區(qū)域的信號(hào)連接線重新互相電性連接，使整片面板重新整體運(yùn)作。
在本發(fā)明中提供三種隔離與重新連接各區(qū)域的結(jié)構(gòu)或方法作為范例，其它任何可運(yùn)用于隔離與重新連接各區(qū)域的結(jié)構(gòu)或方法均可運(yùn)用于此。以起始信號(hào)為例(其它如正相時(shí)序信號(hào)、反相時(shí)序信號(hào)以及下拉訊號(hào)都相同)，第一種是在區(qū)域之間的起始信號(hào)連接線形成焊接橋接處，分別電性連接于兩起始信號(hào)連接線之間，并在測(cè)試之后以焊接的方式重新連接所有起始信號(hào)連接線。第二種是在區(qū)域之間的起始信號(hào)連接線間形成金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處，分別電性連接于兩起始信號(hào)連接線之間，并于測(cè)試之后以電壓擊穿的方式重新連接所有起始信號(hào)連接線。第三種是不需電性隔離即可達(dá)到面板分區(qū)的目的，此方法是以下拉信號(hào)關(guān)閉非測(cè)試中的柵線，以至起始信號(hào)無法開啟非測(cè)試中的柵極驅(qū)動(dòng)器。雖然所提供的隔離與重新連接各區(qū)域的結(jié)構(gòu)或方法公開如上，然而其并非用以限定本發(fā)明。本發(fā)明中所有的測(cè)試焊盤，包括正相時(shí)序測(cè)試焊盤、反相時(shí)序測(cè)試焊盤、下拉信號(hào)測(cè)試焊盤及起始信號(hào)測(cè)試焊盤，均是形成在基板的非工作區(qū)之上，在測(cè)試完成后被切除。
本發(fā)明所公開的實(shí)施例提供一種液晶顯示器面板的測(cè)試方法，此方法可同時(shí)測(cè)試多數(shù)液晶顯示器面板的柵線。如此即可避免因?yàn)橐佬驕y(cè)試而可能無法測(cè)試到的缺陷盲點(diǎn)。并且此測(cè)試方法可以提升缺陷檢測(cè)率，即不需將只發(fā)現(xiàn)兩個(gè)缺陷的面板拋棄，而是可以同時(shí)檢測(cè)出所有缺陷并加以修復(fù)。另外，測(cè)試速度可因?yàn)橥瑫r(shí)測(cè)試而比先前技術(shù)的依序測(cè)試方法快。


為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征、優(yōu)點(diǎn)與實(shí)施例能更明顯易懂，附圖的詳細(xì)說明如下
圖1是目前GOA面板測(cè)試模式示意圖；圖2是依照本發(fā)明第一實(shí)施例的液晶顯示器面板選定區(qū)域示意圖；圖3是本發(fā)明GOA面板測(cè)試模式示意圖；圖4是依照本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板分區(qū)示意圖；圖5是依照本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板分區(qū)焊接橋接處示意圖；圖6是本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板分區(qū)金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處示意圖；圖7是本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板以下拉信號(hào)分區(qū)的示意圖。其中附圖標(biāo)記為101柵線102缺陷點(diǎn)103其余柵線201柵極驅(qū)動(dòng)器202柵線203面板玻璃204正相時(shí)序輸入端 205正相時(shí)序測(cè)試焊盤206反相時(shí)序輸入端 207起始信號(hào)輸入端208反相時(shí)序測(cè)試焊盤209起始信號(hào)測(cè)試焊盤210薄膜晶體管 211數(shù)據(jù)線212下拉信號(hào)輸入端 213下拉信號(hào)測(cè)試焊盤301柵線302缺陷點(diǎn)401柵線402柵極驅(qū)動(dòng)器403面板玻璃404正相時(shí)序輸入端405正相時(shí)序測(cè)試焊盤406反相時(shí)序輸入端407反相時(shí)序測(cè)試焊盤408起始信號(hào)輸入端409起始信號(hào)測(cè)試焊盤410區(qū)域411薄膜晶體管 412區(qū)域413數(shù)據(jù)線 414下拉信號(hào)輸入端415下拉信號(hào)測(cè)試焊盤501起始信號(hào)測(cè)試焊盤502焊接橋接處 502a焊接橋接處放大圖503區(qū)域504區(qū)域505起始信號(hào)測(cè)試焊盤506正相時(shí)序測(cè)試焊盤507正相時(shí)序測(cè)試焊盤508焊接橋接處
509反相時(shí)序測(cè)試焊盤 510反相時(shí)序測(cè)試焊盤511焊接橋接處 512下拉信號(hào)測(cè)試焊盤513下拉信號(hào)測(cè)試焊盤 514焊接橋接處515面板玻璃 601起始信號(hào)測(cè)試焊盤602金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處 603區(qū)域602a金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處放大圖604區(qū)域605起始信號(hào)測(cè)試焊盤 606正相時(shí)序測(cè)試焊盤607正相時(shí)序測(cè)試焊盤 609反相時(shí)序測(cè)試焊盤608金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處 610反相時(shí)序測(cè)試焊盤611金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處 612下拉信號(hào)測(cè)試焊盤614金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處 613下拉信號(hào)測(cè)試焊盤701柵極驅(qū)動(dòng)器 615面板玻璃703非測(cè)試中區(qū)域 702下拉信號(hào)輸入端704測(cè)試中區(qū)域具體實(shí)施方式
本發(fā)明提供一種液晶顯示器面板的測(cè)試方法，用以當(dāng)將柵極驅(qū)動(dòng)電路整合于液晶顯示器面板之上時(shí)，可同時(shí)測(cè)試多條柵線上的薄膜晶體管。本發(fā)明的第一實(shí)施例是將液晶顯示器面板上選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器的正相時(shí)序輸入端、反相時(shí)序輸入端以及起始信號(hào)輸入端分別電性連接于對(duì)應(yīng)的測(cè)試焊盤。當(dāng)選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器開啟柵線后，即可對(duì)所有選定區(qū)域內(nèi)薄膜晶體管所代表的像素進(jìn)行測(cè)試。
請(qǐng)參照?qǐng)D2，其示出了依照本發(fā)明第一實(shí)施例的液晶顯示器面板選定區(qū)域的示意圖。柵極驅(qū)動(dòng)器201與柵線202整合于面板玻璃203上。將選定區(qū)域里的柵極驅(qū)動(dòng)器201的正相時(shí)序輸入端204電性連接于一正相時(shí)序測(cè)試焊盤205。此測(cè)試焊盤205可延伸至面板玻璃203以外，用以輸入正相時(shí)序信號(hào)。相同的，反相時(shí)序輸入端206、下拉信號(hào)輸入端212以及起始信號(hào)輸入端207都可以相同模式連接。將選定區(qū)域里的柵極驅(qū)動(dòng)器201的反相時(shí)序輸入端206電性連接于一反相時(shí)序測(cè)試焊盤208。此測(cè)試焊盤208可延伸至面板玻璃203以外，用以輸入反相時(shí)序信號(hào)。將選定區(qū)域里的柵極驅(qū)動(dòng)器201的下拉信號(hào)輸入端212電性連接于一下拉信號(hào)測(cè)試焊盤213。此測(cè)試焊盤可延伸至面板玻璃203以外，用以輸入下拉信號(hào)。將選定區(qū)域里的柵極驅(qū)動(dòng)器201的起始信號(hào)輸入端207電性連接于一起始信號(hào)測(cè)試焊盤209。此測(cè)試焊盤可延伸至面板玻璃203以外，用以輸入起始信號(hào)。當(dāng)正相時(shí)序信號(hào)、反相時(shí)序信號(hào)、下拉信號(hào)以及起始信號(hào)分別輸入正相時(shí)序測(cè)試焊盤205、反相時(shí)序測(cè)試焊盤208、下拉信號(hào)測(cè)試焊盤213以及起始信號(hào)測(cè)試焊盤209時(shí)，柵極驅(qū)動(dòng)器201則開始驅(qū)動(dòng)所有選定區(qū)域中的柵線202及其上的薄膜晶體管210。測(cè)試信號(hào)傳送至所有數(shù)據(jù)線211，選定區(qū)域中的所有薄膜晶體管210即同時(shí)承受測(cè)試電壓以進(jìn)行測(cè)試。圖2的選定區(qū)域范圍是為舉例而放大，其并非被限于所示出的范圍。選定區(qū)域可以包括整片液晶顯示器面板的所有柵線。
請(qǐng)參照?qǐng)D3，其示出本發(fā)明GOA面板測(cè)試模式示意圖。當(dāng)可以同時(shí)測(cè)試面板所有柵線301時(shí)，面板上所有缺陷點(diǎn)302即可同時(shí)被發(fā)現(xiàn)，且不存留任何測(cè)試盲點(diǎn)。
本發(fā)明的第二實(shí)施例是將液晶顯示器面板劃分于多個(gè)區(qū)域而分別對(duì)區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。將液晶顯示器面板劃分為多個(gè)區(qū)域。請(qǐng)參照?qǐng)D4，其示出依照本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板分區(qū)示意圖。每個(gè)區(qū)域至少包括一條柵線401。柵極驅(qū)動(dòng)器402與柵線401整合于面板玻璃403上。在此以劃分后的兩個(gè)區(qū)域?yàn)槔允境鰠^(qū)域之間的劃分點(diǎn)。分別將區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器402的正相時(shí)序輸入端404電性連接于一正相時(shí)序測(cè)試焊盤。此測(cè)試焊盤405可延伸至面板玻璃403以外，用以分別輸入正相時(shí)序信號(hào)。分別將區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器402的反相時(shí)序輸入端406電性連接于一反相時(shí)序測(cè)試焊盤407。此測(cè)試焊盤407可延伸至面板玻璃403以外，用以分別輸入反相時(shí)序信號(hào)。分別將區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器402的下拉信號(hào)輸入端414電性連接于一下拉信號(hào)測(cè)試焊盤415。此測(cè)試焊盤可延伸至面板玻璃403以外，用以分別輸入下拉信號(hào)。分別將各區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器402的起始信號(hào)輸入端408電性連接于一起始信號(hào)測(cè)試焊盤409。此測(cè)試焊盤可延伸至面板玻璃403以外，用以分別輸入起始信號(hào)。
所有起始信號(hào)測(cè)試焊盤409、正相時(shí)序測(cè)試焊盤405、反相時(shí)序測(cè)試焊盤407以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤415互相電性隔離。舉例而言，當(dāng)起始信號(hào)傳送至區(qū)域410的起始信號(hào)測(cè)試焊盤409、正相時(shí)序傳送至區(qū)域410的正相時(shí)序測(cè)試焊盤405、反相時(shí)序傳送至區(qū)域410的反相時(shí)序測(cè)試焊盤407以及下拉信號(hào)傳送至區(qū)域410的下拉信號(hào)測(cè)試焊盤415時(shí)，區(qū)域410的柵極驅(qū)動(dòng)器則開始驅(qū)動(dòng)區(qū)域410中的柵線401及其上的薄膜晶體管411。測(cè)試信號(hào)傳送至所有區(qū)域的數(shù)據(jù)線413，區(qū)域410中的所有薄膜晶體管411即同時(shí)承受測(cè)試電壓以進(jìn)行測(cè)試。區(qū)域410測(cè)試完成后，此時(shí)再利用另一組起始信號(hào)傳送至區(qū)域412的起始信號(hào)測(cè)試焊盤409、正相時(shí)序傳送至區(qū)域412的正相時(shí)序測(cè)試焊盤405、反相時(shí)序傳送至區(qū)域412的反相時(shí)序測(cè)試焊盤407以及下拉信號(hào)傳送至區(qū)域412的下拉信號(hào)測(cè)試焊盤415，并停止驅(qū)動(dòng)區(qū)域410的柵線401。區(qū)域412的柵極驅(qū)動(dòng)器402則開始驅(qū)動(dòng)區(qū)域412中的柵線401及其上的薄膜晶體管411。測(cè)試信號(hào)傳送至所有區(qū)域的數(shù)據(jù)線413，區(qū)域412中的所有薄膜晶體管411即同時(shí)承受測(cè)試電壓以進(jìn)行測(cè)試。分區(qū)測(cè)試的測(cè)試順序不限于由上方的區(qū)域依序往下測(cè)試，而可由面板下方的區(qū)域由下往上進(jìn)行測(cè)試，并可同時(shí)從上方以及下方的區(qū)域開始進(jìn)行測(cè)試。
如此類推，液晶顯示器面板的所有區(qū)域?qū)⒎謩e進(jìn)行測(cè)試。當(dāng)所有區(qū)域測(cè)試完畢后，將所有區(qū)域的信號(hào)連接線重新電性連接。
上述的第二實(shí)施例中，為要達(dá)到區(qū)域之間的信號(hào)測(cè)試焊盤互相電性隔離，以及在測(cè)試完畢后互相電性連接，在此舉出兩種隔離及連接方式。第一種請(qǐng)參照?qǐng)D5，其示出依照本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板分區(qū)焊接橋接處示意圖。本范例是在區(qū)域的起始信號(hào)測(cè)試焊盤501及起始信號(hào)測(cè)試焊盤505之間形成焊接橋接處502、正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤506及正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤507之間形成焊接橋接處508、反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤509及反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤510之間形成焊接橋接處511以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤512及反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤513之間形成焊接橋接處514。所有橋接處都設(shè)置于面板玻璃515(基板工作區(qū))上。以焊接橋接處502為例，其焊接橋接處放大圖502a由箭頭所指出。其它焊接橋接處的放大圖都相同。舉例而言，區(qū)域503及區(qū)域504之間的焊接橋接處502、508、511以及514使傳送至起始信號(hào)測(cè)試焊盤501、正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤506、反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤509以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤512的信號(hào)無法傳送到起始信號(hào)焊盤505、正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤507、反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤510以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤513。當(dāng)所有區(qū)域測(cè)試完畢后，以焊錫電性連接焊接橋接處502、508、511以及514，則可進(jìn)一步進(jìn)行后續(xù)的測(cè)試，例如面板的全面測(cè)試。
第二種請(qǐng)參照?qǐng)D6，其示出本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板分區(qū)金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處示意圖。本例子是在區(qū)域的起始信號(hào)測(cè)試焊盤601及起始信號(hào)測(cè)試焊盤605之間形成金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處602、正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤606及正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤607之間形成金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處608、反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤609及反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤610之間形成金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處611以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤612及反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤613之間形成金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處614。所有橋接處都設(shè)置于面板玻璃615(基板工作區(qū))上。以金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處602為例，其金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處放大圖602a由箭頭所指出。舉例而言，區(qū)域603及區(qū)域604之間的金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處602、608、611以及614使傳送至起始信號(hào)焊盤601、正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤606、反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤609以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤612的信號(hào)無法傳送到起始信號(hào)焊盤605、正相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤607、反相時(shí)序信號(hào)測(cè)試焊盤610以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤613。當(dāng)所有區(qū)域測(cè)試完畢后，因工作信號(hào)電壓高于測(cè)試信號(hào)電壓，所以當(dāng)工作電壓為信號(hào)電壓時(shí)，即可擊穿金屬氧化物半導(dǎo)體，以電性連接金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處602、608、611以及614，則可進(jìn)一步進(jìn)行后續(xù)的測(cè)試，例如面板的全面測(cè)試。
設(shè)置橋接處的目的是為區(qū)域做分割，使各區(qū)域可獨(dú)立進(jìn)行測(cè)試。如不設(shè)置橋接處，也可利用下拉信號(hào)來開啟或關(guān)閉測(cè)試中及非測(cè)試中的區(qū)域。參照?qǐng)D7，其示出本發(fā)明第二實(shí)施例的液晶顯示器面板以下拉信號(hào)分區(qū)的示意圖。圖中每一個(gè)區(qū)域之內(nèi)的柵極驅(qū)動(dòng)器701都可由下拉信號(hào)輸入端702輸入一下拉信號(hào)。此下拉信號(hào)可將區(qū)域內(nèi)的起始信號(hào)下拉至接地。如此一來，輸入下拉信號(hào)至非測(cè)試中的區(qū)域703，即可將測(cè)試中的區(qū)域704分別獨(dú)立測(cè)試。
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種同時(shí)測(cè)試GOA液晶顯示器面板上區(qū)域內(nèi)的所有薄膜晶體管的方法。當(dāng)薄膜晶體管可同時(shí)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，即提高面板缺陷的檢測(cè)率，并可加快測(cè)試速度。另一方面，本發(fā)明的測(cè)試方法可減少拋棄良好面板所產(chǎn)生的資源浪費(fèi)，也即提高面板生產(chǎn)效率。
雖然本發(fā)明已以實(shí)施例公開如上，然而其并非用以限定本發(fā)明，任何本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內(nèi)，當(dāng)可作各種的更動(dòng)與潤飾，因此本發(fā)明的保護(hù)范圍應(yīng)以后附的權(quán)利要求書范圍為準(zhǔn)。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中液晶顯示器面板具有多個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路與多條柵線整合于其上，所述方法至少包含同時(shí)輸入一正相時(shí)序信號(hào)、一反相時(shí)序信號(hào)以及一下拉信號(hào)至所選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器的一正相時(shí)序輸入端、一反相時(shí)序輸入端以及一下拉信號(hào)輸入端；同時(shí)輸入一起始信號(hào)至所述柵極驅(qū)動(dòng)器的一起始信號(hào)輸入端，以同時(shí)啟動(dòng)所述選定區(qū)域的柵線，且同時(shí)開啟所述選定區(qū)域的薄膜晶體管；以及同時(shí)由多條數(shù)據(jù)線送入一測(cè)試信號(hào)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中所述選定區(qū)域的正相時(shí)序輸入端連接至一正相時(shí)序測(cè)試焊盤。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中所述選定區(qū)域的反相時(shí)序輸入端連接至一反相時(shí)序測(cè)試焊盤。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中所述選定區(qū)域的下拉信號(hào)輸入端連接至一下拉信號(hào)測(cè)試焊盤。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中所述選定區(qū)域的起始信號(hào)輸入端連接至一起始信號(hào)測(cè)試焊盤。
6.一種測(cè)試液晶顯示器面板的方法，液晶顯示器面板具有多個(gè)柵極驅(qū)動(dòng)電路與多條柵線整合于其上，所述方法至少包含劃分多條柵線為多個(gè)區(qū)域；同時(shí)輸入一正相時(shí)序信號(hào)、一反相時(shí)序信號(hào)以及一下拉信號(hào)至每一所述區(qū)域中的所述柵極驅(qū)動(dòng)器的一正相時(shí)序輸入端、一反相時(shí)序輸入端以及一下拉信號(hào)輸入端；同時(shí)由所有多個(gè)數(shù)據(jù)線送入一測(cè)試信號(hào)；以及分別輸入一起始信號(hào)至每一所述區(qū)域中的柵極驅(qū)動(dòng)器的一起始信號(hào)輸入端，用以先后啟動(dòng)所述區(qū)域的所述柵線，且分別開啟所述區(qū)域的多個(gè)薄膜晶體管以進(jìn)行測(cè)試。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中所述區(qū)域的正相時(shí)序輸入端連接至一正相時(shí)序測(cè)試焊盤。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中所述區(qū)域的反相時(shí)序輸入端連接至一反相時(shí)序測(cè)試焊盤。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中每一所述區(qū)域中的下拉信號(hào)輸入端連接至一下拉信號(hào)測(cè)試焊盤。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中每一所述區(qū)域中的起始信號(hào)輸入端連接至一起始信號(hào)測(cè)試焊盤。
11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中每一所述區(qū)域包含至少一條柵線。
12.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中分區(qū)測(cè)試可通過輸入一下拉信號(hào)于多個(gè)非測(cè)試中的區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器，以關(guān)閉所述區(qū)域中的薄膜晶體管。
13.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中各區(qū)域進(jìn)行測(cè)試的順序是由面板上方的區(qū)域開始由上往下進(jìn)行測(cè)試，由面板下方的區(qū)域開始由下往上進(jìn)行測(cè)試，或同時(shí)由面板上方以及下方的區(qū)域開始進(jìn)行測(cè)試。
14.根據(jù)權(quán)利要求11所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中每一所述區(qū)域中的所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤、所述正相時(shí)序測(cè)試焊盤、所述反相時(shí)序測(cè)試焊盤以及所述下拉信號(hào)測(cè)試焊盤分別電性隔離。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中還包括在面板測(cè)試完成后重新將所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤、所述正相時(shí)序測(cè)試焊盤、所述反相時(shí)序測(cè)試焊盤以及所述下拉信號(hào)測(cè)試焊盤分別電性連接。
16.如根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中電性隔離每一所述區(qū)域中的所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤的方法包括形成金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處分別電性連接于兩所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤的連接線之間、兩所述正相時(shí)序測(cè)試焊盤的連接線之間、兩所述反相時(shí)序測(cè)試焊盤的連接線之間以及兩所述下拉信號(hào)測(cè)試焊盤的連接線之間。
17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中電性隔離每一所述區(qū)域中的所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤的方法包括形成焊接橋接處分別電性連接于兩所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤的連接線之間、兩所述正相時(shí)序測(cè)試焊盤的連接線之間、兩所述反相時(shí)序測(cè)試焊盤的連接線之間以及兩所述下拉信號(hào)測(cè)試焊盤的連接線之間。
18.根據(jù)權(quán)利要求15所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中重新電性連接的方法包括施加一電壓于所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤、所述正相時(shí)序測(cè)試焊盤、所述反相時(shí)序測(cè)試焊盤以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤，以擊穿所述金屬氧化物半導(dǎo)體橋接處。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中重新電性連接的方法包括以焊錫連接所述起始信號(hào)測(cè)試焊盤、所述正相時(shí)序測(cè)試焊盤、所述反相時(shí)序測(cè)試焊盤以及下拉信號(hào)測(cè)試焊盤的所述焊接橋接處。
全文摘要
一種測(cè)試液晶顯示器面板的方法，其中液晶顯示器面板將柵極驅(qū)動(dòng)電路與柵線整合于其上，此方法至少包含同時(shí)輸入正相時(shí)序信號(hào)、反相時(shí)序信號(hào)以及下拉信號(hào)至所選定區(qū)域的柵極驅(qū)動(dòng)器的正相時(shí)序輸入端、反相時(shí)序輸入端以及下拉信號(hào)輸入端。同時(shí)輸入起始信號(hào)至柵極驅(qū)動(dòng)器的起始信號(hào)輸入端，以同時(shí)啟動(dòng)該選定區(qū)域的柵線，且同時(shí)開啟該選定區(qū)域的薄膜晶體管。以及同時(shí)由所有數(shù)據(jù)線送入一測(cè)試信號(hào)。本發(fā)明所公開的測(cè)試液晶顯示器面板的方法也可使用分區(qū)測(cè)試的方式進(jìn)行測(cè)試。其中此方法將面板分割為多個(gè)區(qū)域并分別于不同區(qū)域進(jìn)行測(cè)試。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1996445SQ20071000127
公開日2007年7月11日 申請(qǐng)日期2007年1月11日 優(yōu)先權(quán)日2007年1月11日
發(fā)明者俞善仁, 陳靜茹 申請(qǐng)人:友達(dá)光電股份有限公司