專利名稱：用于檢測熒光燈的壽命末期的電路的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及用于檢測熒光燈的壽命末期(end of life)的電路，并且更加具體地，涉及用于在壽命末期的早期檢測熒光燈的壽命末期以便對熒光燈的鎮(zhèn)流器、插座和相關電路進行有效保護的電路。
背景技術：
如果長時間使用熒光燈，則在熒光燈的末端處的每個陰極上涂敷的用于熱電子發(fā)射的輔助發(fā)射體的材料鋇(Ba)或鍶(Sr)，被吸收到其管的內壁或外壁中，并且燈絲上涂敷的材料的量逐漸減少。當一根燈絲上涂敷的材料的量減少到一定水平以下時，電流也減少。這樣一來熒光燈的電壓和電流就變得不對稱。如果涂敷的材料完全消失，則燈不再接通。
可容易地識別其燈絲已斷或熒光材料已完全消失的燈，因為這樣的燈不再接通。然而，在燈的熒光材料完全消失之前，難以在視覺上確定燈壽命是否處于末期。這樣一來，一般用戶就持續(xù)使用燈，即使該燈處在其壽命末期時。
當燈處在其壽命末期時，由于增加的燈絲熱阻和不變的電極電流，在熱電子發(fā)射材料減少的電極處生成熱。隨著燈接近其壽命末期，電極的溫度逐漸增加。如果電極生成強烈的熱，則熱可能熔化連接到電極的燈座，從而造成危險的狀況。這在下面參考附圖更加詳細地描述。
圖1圖示了所謂的電子鎮(zhèn)流器的構造?？刂破鱅C 10可交替地驅動兩個晶體管開關M1和M2，以在輸出端VA處生成方波。該方波然后傳遞通過產生正弦波的包括元件L、Cs和Cp的濾波器而到達熒光燈。諸如熒光燈之類的放電燈可具有負阻特性。這意味著在接通燈之后，電流持續(xù)增加。為了補償這種特性，放電燈需要這樣的電路，其防止放電燈的燈電流持續(xù)增加并且將燈電流穩(wěn)定在基本不變的水平。這種電路被稱為鎮(zhèn)流器。
為了提供并維持適當的燈電流，一些設計使用具有非常高的電感的電感器，因為常規(guī)的鎮(zhèn)流器直接使用60Hz電源。所以鎮(zhèn)流器需要大尺寸的線圈以提供足夠的阻抗。已開發(fā)了電子鎮(zhèn)流器以克服這個問題。
存在各種類型的電子鎮(zhèn)流器。常用的鎮(zhèn)流器之一是如圖1所示的半橋諧振逆變器。電子鎮(zhèn)流器可通過使用開關M1和M2接通和關斷電壓VDC以生成高頻AC電壓來減小電感器的尺寸。
在接通燈之前，燈的電極之間的電阻非常高。一旦燈接通，燈的電極之間的電阻就減少到幾百歐姆。在接通燈之前和之后，圖1的包括L、Cs、Cp和電極之間的電阻器的諧振電路的特性變化如圖2所示。符號“fr”表示圖1中顯示的元件L、Cs和Cp所具有的諧振頻率。符號“fo”表示圖1中顯示的開關M1和M2所具有的工作頻率。在圖2中，“點火之前”部分表示在燈接通之前元件L、Cs和Cp所具有的諧振特性曲線。另外，“點火之后”部分表示在燈接通之后元件L、Cs和Cp所具有的諧振特性曲線。如圖2所示，包括L、Cs和Cp的諧振電路的特性根據燈是否被接通而變化。
然而，如果長時間使用熒光燈，則涂敷在熒光燈陰極上的電子發(fā)射材料被逐漸吸收到其管上，從而減少了從電極發(fā)射到管中的熱電子的量，所述熱電子是從高溫金屬發(fā)射的電子。這種現象是燈的電極上涂敷的諸如Ba或Sr之類的材料附著到管的內表面上的熒光材料所造成的。因此，長時間使用的熒光燈的電極可變黑這個過程有時被稱作黑化(darkening)。
由于從電極發(fā)射的熱電子的量減少，黑化減少了從電極提供到管中的電流的量。另外，熒光燈的電極上的電子發(fā)射材料的量可被減少到不同的水平。隨著從熒光燈的電極流入到其管中的燈電流下降，燈電壓增加到不同的水平。而且，隨著燈電流下降，燈的亮度也下降。這些跡象有時被稱為熒光燈壽命末期現象。通常，在熒光燈壽命末期的早期，不可能在視覺上確定其亮度是否已減小。
如果熒光燈的特定電極(燈絲)的壽命到了末期，那么從電極流向相對電極的電流量減少。燈電壓與燈電流相反地變化，如圖4所示。
如果壽命末期現象繼續(xù)，則熒光燈的電流和電壓的不對稱程度增加。如果燈電流減少到保持燈接通所需的最小電流以下，則燈將不會保持在接通狀態(tài)，而是將交替地接通和關斷。最后，如果電子發(fā)射材料從熒光燈的電極完全釋放，則燈永久保持在關斷狀態(tài)。
另外，如果熒光燈的電極上的電子發(fā)射材料的量減少，則電極的熱阻增加。如果圖1中的上電極變黑，則方向 上的電流(Ia)減少，同時方向 的電流(Ib)增加。由于電極的增加的熱阻和增加的電流Ib，在熒光燈的電極中生成高熱。這種熱可熔化連接到燈的電極的塑料插座。
圖3圖示了用于確定燈是否接近其壽命末期的常規(guī)方法。在這種常規(guī)方法中，對通過燈的電極之間的分壓而獲得的電壓進行檢測，并且如果檢測到的電壓高于預定基準電平，則確定燈處在其壽命末期，并且鎮(zhèn)流器被去激勵。
盡管這種方法的有利之處在于它可容易地檢測燈的壽命末期，但是它具有下述問題取決于如何選擇無源元件，保護電路可能操作異常。另外，如果在圖3中是第一陰極而不是第二陰極變黑，則黑化造成的電壓增加不能單獨用通過分壓檢測的電壓來檢測，從而無法正確地檢測出燈的壽命末期。
發(fā)明內容
簡短而概括地說，本發(fā)明的一些實施例包括用于檢測熒光燈的壽命末期的電路，其不僅有效地檢測熒光燈的兩個電極都已變黑的情況，而且還有效地檢測兩個電極中的一個已變黑的情況，以在壽命末期的早期檢測熒光燈的壽命末期，從而有效地保護熒光燈的鎮(zhèn)流器、插座和相關電路。
一些實施例包括用于檢測熒光燈的壽命末期的電路，該電路包括整流器，用于對從鎮(zhèn)流器檢測的電壓信號進行整流并輸出整流電壓；相位檢測器，用于檢測所述電壓信號的相位，并且輸出至少一個相位檢測信號；信號分離器，用于響應于所述至少一個相位檢測信號，在相位的基礎上從所述整流器分離所述整流電壓，以生成第一電壓信號和第二電壓信號；第一最大電平檢測器，用于檢測所述第一電壓信號的最大電平；第二最大電平檢測器，用于檢測所述第二電壓信號的最大電平；第一比較單元，用于將由所述第一最大電平檢測器檢測的所述第一最大電平和由所述第二最大電平檢測器檢測的所述第二最大電平相比較，并且進行關于所述第一和第二最大電平之間的差是否高于預定允許電平的檢測；以及控制器，用于響應于來自所述第一比較單元的所述檢測而確定所述熒光燈是否處在壽命末期。
在一些實施例中，用于檢測熒光燈的壽命末期的電路進一步包括緩沖器，用于緩沖從所述鎮(zhèn)流器檢測的所述電壓信號，所述緩沖器提供在所述鎮(zhèn)流器和所述整流器之間，并且所述緩沖器優(yōu)選地進行所述電壓信號的反相緩沖。
在一些實施例中，所述緩沖器包括比較器，用于通過反相端接收所述電壓信號，通過非反相端接收接地電壓，并且進行比較運算；以及電阻器，其提供在所述比較器的所述反相端和輸出端之間。
在一些實施例中，所述整流器包括第一比較器，用于接收由所述緩沖器緩沖的所述電壓信號和所述接地電壓，并進行比較運算；第一二極管，其提供在所述第一比較器的輸出端和第一節(jié)點之間；第二二極管，其提供在所述第一比較器的所述輸出端和第二節(jié)點之間；以及第二比較器，用于接收來自所述第一節(jié)點的信號和來自所述第二節(jié)點的信號，并且進行比較運算以輸出所述整流電壓。
在一些實施例中，所述第一比較器通過反相端接收所述電壓信號，并且通過非反相端接收所述接地電壓，而所述第二比較器通過反相端接收來自所述第一節(jié)點的信號，并且通過非反相端接收來自所述第二節(jié)點的信號。
在一些實施例中，所述整流器進一步包括第一電阻器，其提供在所述第一比較器的所述反相端和所述第一節(jié)點之間；以及第二電阻器，其提供在所述第二比較器的輸出端和所述反相端之間。
在一些實施例中，來自所述第一比較器的所述輸出端的反向電壓被施加到所述第一二極管，并且來自所述第一比較器的所述輸出端的正向電壓被施加到所述第二二極管。
在一些實施例中，所述至少一個相位檢測信號包括第一相位檢測信號，其與所述電壓信號的正相位的檢測相關聯；以及第二相位檢測信號，其與所述電壓信號的負相位的檢測相關聯。
在一些實施例中，所述相位檢測器包括比較器，用于接收由所述緩沖器緩沖的所述電壓信號和接地電壓，并且進行比較運算以輸出所述第一相位檢測信號；以及反相器，用于將所述比較器的輸出反相以輸出所述第二相位檢測信號。
在一些實施例中，所述比較器通過反相端接收所述緩沖的電壓信號，并且通過非反相端接收所述接地電壓。
在一些實施例中，所述第一比較單元包括第一比較器，用于通過非反相端接收所述第一最大電平，通過反相端接收所述第二最大電平，并且進行比較運算；第二比較器，用于通過反相端接收所述第一最大電平，通過非反相端接收所述第二最大電平，并且進行比較運算；以及邏輯單元，用于在所述第一比較器的輸出信號和所述第二比較器的輸出信號之間進行邏輯運算。
在一些實施例中，所述邏輯單元進行邏輯和運算。
在一些實施例中，所述用于檢測熒光燈的壽命末期的電路進一步包括第二比較單元，用于將所述第一和第二最大電平與預定基準電壓相比較，并且進行關于是否所述第一和第二最大電平中的至少一個高于所述預定基準電壓的檢測，其中，所述控制器響應于來自所述第二比較單元的所述檢測而確定所述熒光燈是否處在壽命末期。
在一些實施例中，所述第二比較單元包括第一比較器，用于通過反相端接收所述第一最大電平，通過非反相端接收所述基準電壓，并且進行比較運算；第二比較器，用于通過反相端接收所述第二最大電平，通過非反相端接收所述基準電壓，并且進行比較運算；以及邏輯單元，用于在來自所述第一比較器的輸出信號和來自所述第二比較器的輸出信號之間進行邏輯運算。在一些實施例中，所述邏輯單元進行邏輯積運算。
從結合附圖進行的以下詳細描述中，將會更加清楚地理解本發(fā)明的上述以及其它的目的、特征和其它優(yōu)點。
圖1圖示了電子鎮(zhèn)流器的構造。
圖2圖示了在熒光燈接通之前和之后電子鎮(zhèn)流器的諧振特性的變化。
圖3是圖示用于檢測熒光燈的壽命末期的常規(guī)方法的示意圖。
圖4圖示了當熒光燈處在壽命末期時其電壓和電流的變化。
圖5圖示了根據本發(fā)明一實施例的用于檢測熒光燈的壽命末期的電路的構造。
圖6圖示了根據一實施例的用于檢測熒光燈的壽命末期的電路中包括的緩沖器、整流器和相位檢測器的構造。
圖7圖示了根據一實施例的用于檢測熒光燈的壽命末期的電路中包括的信號分離器的構造。
圖8A圖示了根據一實施例的用于檢測熒光燈的壽命末期的電路中包括的第一比較單元的構造。
圖8B圖示了根據一實施例的用于檢測熒光燈的壽命末期的電路中包括的第二比較單元的構造。
圖9A圖示了當熒光燈處在其壽命末期時根據一實施例的用于檢測熒光燈的壽命末期的電路中包括的整流器所整流的電壓的波形。
圖9B圖示了在所述實施例中通過從電壓信號中分離正相部分和負相部分而獲得的第一電壓信號和第二電壓信號的波形，所述電壓信號是從鎮(zhèn)流器檢測的。
具體實施例方式
現在將參考附圖來詳細地描述本發(fā)明的實施例。本發(fā)明的實施例僅僅是為了示意性的目的被公開，而不應當被解釋為對本發(fā)明的范圍進行限制。
圖5圖示了用于對熒光燈的壽命末期進行檢測的電路50的一個實施例。
電路50可包括鎮(zhèn)流器100、緩沖器200、整流器300、相位檢測器400、信號分離器500、第一最大電平檢測器600、第二最大電平檢測器650、第一比較器單元700、第二比較器單元750以及控制器800。緩沖器200可緩沖從鎮(zhèn)流器100檢測的電壓信號Vdet。整流器300可對從緩沖器200接收的電壓信號Vdet1進行整流，并且輸出整流電壓Vrec。相位檢測器400可檢測電壓信號Vdet1的相位，并且輸出至少一個相位檢測信號。信號分離器500可接收所述整流電壓Vrec和所述至少一個相位檢測信號。信號分離器500可使用所述至少一個相位檢測信號的相位信息來分離所述整流電壓Vrec，并且生成第一電壓信號SWA和第二電壓信號SWB。第一最大電平檢測器600可檢測第一電壓信號SWA的最大電平SWA1。第二最大電平檢測器650可檢測第二電壓信號SWB的最大電平SWB1。第一比較單元700可比較第一和第二最大電平SWA1和SWB1，并且檢測第一和第二最大電平之間的差是否高于預定允許電平。第二比較單元750可將第一和第二最大電平SWA1和SWB1與預定基準電壓相比較，并且檢測是否第一最大電平SWA1和第二最大電平SWB1中的至少一個高于預定基準電壓。控制器800可響應于來自第一比較單元700的檢測結果和來自第二比較單元750的檢測結果而確定熒光燈是否處在其壽命末期。
現在將參考圖5至9B來詳細地描述電路50的操作。
鎮(zhèn)流器100可生成電壓信號Vdet，如圖6所示。電壓信號Vdet可通過經由電阻器R31和R32在熒光燈20的電極之間進行分壓而生成，并且可在電阻器R31和R32之間的節(jié)點處輸出。
緩沖器200可緩沖電壓信號Vdet并輸出電壓信號Vdet1。具體地，如圖6所示，電壓信號Vdet可輸入到緩沖器200中包括的比較器210的反相端。比較器210可將輸入的電壓信號Vdet與接地電壓相比較，并且生成電壓信號Vdet1。如果電壓信號Vdet為正(+)，則比較器210可將其反相并輸出負電壓。如果電壓信號Vdet為負(-)，則比較器210可將其反相并輸出正電壓。這樣一來，緩沖器200就進行了電壓信號Vdet的反相緩沖。
整流器300然后可接收電壓信號Vdet1并對其進行整流，并且輸出整流電壓Vrec。更加具體地，如圖6所示，電壓信號Vdet1可通過電阻器R7輸入到比較器310。比較器310然后可將電壓信號Vdet1與接地電壓相比較，并且向節(jié)點A輸出正或負電壓信號。如果電壓信號Vdet為正且因此通過進行電壓信號Vdet的反相緩沖而產生的電壓信號Vdet1為負，則比較器310可向節(jié)點A輸出正電壓信號。節(jié)點A的電壓信號可通過二極管D4而提供給比較器320的非反相端。比較器320可將輸入的電壓信號與其反相端的電壓信號相比較，并且以與節(jié)點A的電壓信號相同的相位來輸出整流電壓Vrec。
另一方面，如果電壓信號Vdet為負且因此通過進行電壓信號Vdet的反相緩沖而產生的電壓信號Vdet1為正，則比較器310可向節(jié)點A輸出負電壓信號。節(jié)點A的電壓信號可通過二極管D1而提供給比較器320的反相端。比較器320可將輸入的電壓信號與其非反相端的電壓信號相比較，并且以與節(jié)點A的電壓信號相反的相位輸出整流電壓Vrec。
因此，通過緩沖器200和整流器300生成的整流電壓Vrec是來自鎮(zhèn)流器100的電壓信號Vdet的全波整流形式，如圖9a所示。
相位檢測器400可檢測電壓信號Vdet1的相位，并且輸出相位檢測信號PHA和相位檢測信號PHB。具體地，如圖6所示，如果電壓信號Vdet為正且因此通過進行電壓信號Vdet的反相緩沖而產生的電壓信號Vdet1為負，則相位檢測器400中包括的比較器410可將電壓信號Vdet1與接地電壓相比較并輸出正電壓信號，從而生成“高”相位檢測信號PHA。因此，在電壓信號Vdet為正的間隔中，生成“高”或“使能的”相位檢測信號PHA以檢測正電壓信號Vdet。
另一方面，如果電壓信號Vdet為負且因此通過進行電壓信號Vdet的反相緩沖而產生的電壓信號Vdet1為正，則比較器410可將電壓信號Vdet1與接地電壓相比較并輸出負電壓信號，從而生成“高”相位檢測信號PHB。因此，在電壓信號Vdet為負的間隔中，生成“高”或“使能的”相位檢測信號PHB以檢測負電壓信號Vdet。
響應于相位檢測信號PHA和相位檢測信號PHB，信號分離器500可在相位的基礎上分離從整流器300接收的整流電壓Vrec，以生成第一電壓信號SWA和第二電壓信號SWB，如圖5所示。更加具體地，如圖7所示，信號分離器500中的第一采樣器510可通過以下來生成第一電壓信號SWA分離整流電壓Vrec中對應于相位檢測信號PHA被使能的間隔(亦即電壓信號Vdet為正的間隔)的那個部分。因此，第一電壓信號SWA可具有如圖9B所示的形式。第二采樣器520可通過以下生成第二電壓信號SWB分離整流電壓Vrec中對應于相位檢測信號PHB被使能的間隔(亦即電壓信號Vdet為負的間隔)的那個部分。因此，第二電壓信號SWB可具有如圖9B所示的形式。
可通過采樣將相應相位的信號從其它信號分離的其它類型的采樣電路，同樣可用于信號分離器500和第一與第二采樣器510與520。
圖5進一步圖示出，第一最大電平檢測器600可檢測第一電壓信號SWA的最大電平并輸出第一最大電平SWA1，并且第二最大電平檢測器650可檢測第二電壓信號SWB的最大電平并輸出第二最大電平SWB1。檢測輸入信號的最大電平、輸出檢測到的電平并且在特定的間隔中維持該電平的任何類型的最大電平檢測電路都可用作第一和第二最大電平檢測器600和650。
圖5進一步圖示出，第一比較單元700可將第一最大電平SWA1與第二最大電平SWB1相比較，檢測SWA1和SWB1之間的差是否高于預定允許電平，并且輸出其檢測信號壽命末期EOL。
圖8A圖示了第一比較單元700的詳細操作。第一比較單元700中的比較器710可通過非反相端接收第一最大電平SWA1，并且通過反相端接收第二最大電平SWB1。比較器710可分別比較第一和第二最大電平SWA1和SWB1，并且輸出作為結果的比較。如果第一最大電平SWA1比第二最大電平SWB1高出多于預定允許電平，則比較器710可輸出高電平信號，否則可輸出低電平信號。
比較器720可通過反相端接收第一最大電平SWA1，并且通過非反相端接收第二最大電平SWB1。比較器720可分別比較第一和第二最大電平SWA1和SWB1，并且輸出比較的結果。如果第二最大電平SWB1比第一最大電平SWA1高出多于預定允許電平，則比較器720可輸出高電平信號，否則可輸出低電平信號。
邏輯單元730可計算來自比較器710的信號和來自比較器720的信號的OR門并輸出檢測信號EOL。如果第一和第二最大電平SWA1和SWB1之間的差高于允許電平，則通過邏輯單元730輸出高檢測信號EOL，否則輸出低電平信號。
響應于來自第一比較器單元700的檢測結果EOL，控制器800可確定熒光燈是否處在其壽命末期。具體地，如果檢測信號EOL為高，則控制器800可確定熒光燈處在其壽命末期，且因此關斷鎮(zhèn)流器100。
如上所述，用于對熒光燈壽命末期進行檢測的電路的實施例可將與電壓信號Vdet為正的間隔中的電壓信號Vdet的最大電平相對應的第一最大電平SWA1和與電壓信號Vdet為負的間隔中的電壓信號Vdet的最大電平相對應的第二最大電平SWB1相比較，然后如果第一和第二最大電平SWA1和SWB1之間的差高于預定允許電平，則確定熒光燈處在其壽命末期。如果在圖6中只有熒光燈20的第一陰極變黑，則常規(guī)方法不能檢測所述黑化，因為常規(guī)方法僅檢測電壓信號為正的間隔中的電壓信號的最大電平。然而，上述實施例通過比較第一和第二最大電平SWA1和SWB1，不僅可檢測上電極的黑化，而且還可檢測下電極的黑化。因此，這些實施例使得可以在壽命末期過程的早期檢測熒光燈性能的衰退，并且可以有效地保護熒光燈的鎮(zhèn)流器、插座和其它相關電路。
另外，第二比較單元750可將第一和第二最大電平SWA1和SWB1與預定基準電壓VREF相比較，并且檢測是否第一最大電平SWA1和第二最大電平SWB1中的至少一個高于預定基準電壓VREF，并且輸出其檢測信號過電壓保護OVP。
圖8B圖示了第二比較單元750的詳細操作。第二比較單元750中的比較器760可通過反相端接收第一最大電平SWA1，通過非反相端接收基準電壓VREF，將第一最大電平SWA1與基準電壓VREF相比較，并且輸出比較的結果。如果第一最大電平SWA1高于基準電壓VREF，則比較器760可輸出低電平信號，否則可輸出高電平信號。
比較器770可通過反相端接收第二最大電平SWB1，通過非反相端接收基準電壓VREF，將第二最大電平SWB1與基準電壓VREF相比較，并且輸出比較的結果。如果第二最大電平SWB1高于基準電壓VREF，則比較器770可輸出低電平信號，否則可輸出高電平信號。
邏輯單元780可計算來自比較器760的信號和來自比較器770的信號的AND門并輸出檢測信號OVP。因此，如果來自比較器760或770的任一信號為低，則邏輯單元780可輸出低電平檢測信號OVP。這樣一來，如果第一最大電平SWA1或第二最大電平SWB1高于基準電壓VREF，則檢測信號OVP為低。
響應于從第二比較單元750接收的檢測結果OVP，控制器800可確定熒光燈是否處在其壽命末期。具體地，如果檢測信號OVP為低，則控制器800可確定熒光燈處在其壽命末期，并因此關斷鎮(zhèn)流器100。
用于檢測熒光燈壽命末期的電路的上述實施例可將與電壓信號Vdet為正的間隔中的電壓信號Vdet的最大電平相對應的第一最大電平SWA1和與電壓信號Vdet為負的間隔中的電壓信號Vdet的最大電平相對應的第二最大電平SWB1與預定基準電壓VREF相比較，然后如果第一或第二最大電平SWA1和SWB1高于基準電壓VREF，則確定熒光燈處在其壽命末期。因此，即使當在圖6中由于熒光燈20的上和下電極兩者的黑化而導致第一和第二最大電平SWA1和SWB1之間的差很小時，通過將第一和第二最大電平SWA1和SWB1與基準電壓VREF相比較并且檢測兩個電極的黑化，也可在壽命末期過程的早期檢測出熒光燈性能的劣化。
上述實施例提供了用于檢測熒光燈壽命末期的電路。實施例不僅有效地檢測熒光燈兩個電極的同時黑化，而且還檢測兩個電極中只有一個已黑化的情形。所述實施例足夠靈敏以在壽命末期過程的早期檢測熒光燈性能的衰退，從而有效地保護熒光燈的鎮(zhèn)流器、插座和其它相關電路。
盡管為了示意性的目的已公開了本發(fā)明的實施例，但是本領域技術人員將會意識到，在不脫離僅由所附權利要求來限定的本發(fā)明的范圍和精神的情況下，各種修改、添加和替換都是可能的。
權利要求
1.一種用于檢測熒光燈的壽命末期的電路，所述電路包括整流器，用于對從鎮(zhèn)流器接收的電壓信號進行整流并輸出整流電壓；相位檢測器，用于檢測所述電壓信號的相位，并且輸出相位檢測信號；信號分離器，用于響應于所述相位檢測信號，在相位的基礎上分離從所述整流器接收的所述整流電壓，以生成第一電壓信號和第二電壓信號；第一最大電平檢測器，用于檢測所述第一電壓信號的最大電平；第二最大電平檢測器，用于檢測所述第二電壓信號的最大電平；第一比較單元，用于將由所述第一最大電平檢測器檢測的所述第一最大電平和由所述第二最大電平檢測器檢測的所述第二最大電平相比較，并且檢測所述第一和第二最大電平之間的差是否高于預定允許電平；以及控制器，用于響應于來自所述第一比較單元的所述檢測結果而確定所述熒光燈是否處在壽命末期。
2.根據權利要求1所述的電路，進一步包括緩沖器，用于緩沖從所述鎮(zhèn)流器檢測的所述電壓信號，所述緩沖器耦合在所述鎮(zhèn)流器和所述整流器之間。
3.根據權利要求2所述的電路，其中，所述緩沖器被配置成進行所述電壓信號的反相緩沖。
4.根據權利要求3所述的電路，其中，所述緩沖器包括比較器，用于通過反相端接收所述電壓信號，通過非反相端接收接地電壓，并且進行比較運算；以及電阻器，其提供在所述比較器的所述反相端和輸出端之間。
5.根據權利要求2所述的電路，其中，所述整流器包括第一比較器，用于接收由所述緩沖器緩沖的所述電壓信號和所述接地電壓，并進行比較運算；第一二極管，其提供在所述第一比較器的輸出端和第一節(jié)點之間；第二二極管，其提供在所述第一比較器的所述輸出端和第二節(jié)點之間；以及第二比較器，用于接收來自所述第一節(jié)點的信號和來自所述第二節(jié)點的信號，并且進行比較運算以輸出所述整流電壓。
6.根據權利要求5所述的電路，其中，所述第一比較器通過反相端接收所述電壓信號，并且通過非反相端接收所述接地電壓。
7.根據權利要求6所述的電路，其中，所述第二比較器通過反相端接收來自所述第一節(jié)點的信號，并且通過非反相端接收來自所述第二節(jié)點的信號。
8.根據權利要求7所述的電路，其中，所述整流器進一步包括第一電阻器，其耦合在所述第一比較器的所述反相端和所述第一節(jié)點之間；以及第二電阻器，其提供在所述第二比較器的輸出端和所述反相端之間。
9.根據權利要求5所述的電路，其中，來自所述第一比較器的所述輸出端的反向電壓被施加到所述第一二極管，并且來自所述第一比較器的所述輸出端的正向電壓被施加到所述第二二極管。
10.根據權利要求2所述的電路，其中，所述相位檢測信號包括第一相位檢測信號，其與所述電壓信號的正相位的檢測相關聯；以及第二相位檢測信號，其與所述電壓信號的負相位的檢測相關聯。
11.根據權利要求10所述的電路，其中，所述相位檢測器包括比較器，用于接收由所述緩沖器緩沖的所述電壓信號和接地電壓，并且進行比較運算以輸出所述第一相位檢測信號；以及反相器，用于對所述比較器的輸出進行反相以輸出所述第二相位檢測信號。
12.根據權利要求11所述的電路，其中，所述比較器通過反相端接收所述緩沖的電壓信號，并且通過非反相端接收所述接地電壓。
13.根據權利要求1所述的電路，其中，所述第一比較單元包括第一比較器，用于通過非反相端接收所述第一最大電平，通過反相端接收所述第二最大電平，并且進行比較運算；第二比較器，用于通過反相端接收所述第一最大電平，通過非反相端接收所述第二最大電平，并且進行比較運算；以及邏輯單元，用于在所述第一比較器的輸出信號和所述第二比較器的輸出信號之間進行邏輯運算。
14.根據權利要求13所述的電路，其中，所述邏輯單元被配置成進行邏輯和運算。
15.根據權利要求1所述的電路，進一步包括第二比較單元，用于將所述第一和第二最大電平與預定基準電壓相比較，并且檢測是否所述第一和第二最大電平中的至少一個高于所述預定基準電壓，其中，所述控制器響應于來自所述第二比較單元的所述檢測而確定所述熒光燈是否處在壽命末期。
16.根據權利要求15所述的電路，其中，所述第二比較單元包括第一比較器，用于通過反相端接收所述第一最大電平，通過非反相端接收所述基準電壓，并且進行比較運算；第二比較器，用于通過反相端接收所述第二最大電平，通過非反相端接收所述基準電壓，并且進行比較運算；以及邏輯單元，用于在來自所述第一比較器的輸出信號和來自所述第二比較器的輸出信號之間進行邏輯運算。
17.根據權利要求16所述的電路，其中，所述邏輯單元被配置成進行邏輯積運算。
18.根據權利要求1所述的電路，其中，所述鎮(zhèn)流器被配置成通過在所述熒光燈的電極之間進行分壓來生成所述電壓信號。
19.根據權利要求1所述的電路，其中，所述控制器被配置成如果確定所述熒光燈處在壽命末期則關斷所述鎮(zhèn)流器。
全文摘要
提供了一種用于檢測熒光燈的壽命末期的電路。在該電路中，整流器對從鎮(zhèn)流器檢測的電壓信號進行整流。相位檢測器檢測所述電壓信號的相位并輸出至少一個相位檢測信號。信號分離器響應于所述相位檢測信號，在相位的基礎上分離整流電壓以生成第一和第二電壓信號。第一最大電平檢測器檢測第一電壓信號的最大電平。第二最大電平檢測器檢測第二電壓信號的最大電平。第一比較單元比較第一和第二最大電平，并檢測其差是否高于預定允許電平。控制器響應于來自第一比較單元的檢測而確定熒光燈是否處在壽命末期。
文檔編號G01R31/44GK101082656SQ20071010736
公開日2007年12月5日 申請日期2007年5月29日 優(yōu)先權日2006年5月30日
發(fā)明者李榮植, 曹烓鉉 申請人:快捷韓國半導體有限公司