專利名稱：集成電路的測(cè)試系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及集成電路測(cè)試，尤指一種應(yīng)用于集成電路測(cè)試的環(huán)回
(loop-back)測(cè)試方法及其相關(guān)電路。
背景技術(shù)：
收發(fā)機(jī)(transceiver)是指一種結(jié)合有傳送電路(transmitter)以及接收 電路(receiver)的電子裝置，集成電路是現(xiàn)代收發(fā)機(jī)中不可或缺的一部份。一 般而言，在收發(fā)機(jī)中，有很大部份的電路是由接收電路與傳送電路兩者共享， 除了共享的電路之外，收發(fā)機(jī)中尚包含有專供傳送電路與接收電路其各自功能 來使用的獨(dú)立電路存在，換句話說，收發(fā)機(jī)中專供傳送端運(yùn)作所使用的電路能 執(zhí)行其功能時(shí)，供接收端運(yùn)作所需使用的電路有可能無法執(zhí)行其功能，反之亦 然。因此，在集成電路中，需針對(duì)傳送功能以及接收功能分別進(jìn)行測(cè)試。
在傳統(tǒng)的測(cè)試系統(tǒng)之中，傳送功能的測(cè)試和接收功能的測(cè)試是分別進(jìn)行的。 請(qǐng)參閱圖1，圖1所示為用以測(cè)試集成電路的傳送功能的習(xí)知測(cè)試系統(tǒng)l()O的 示意圖。如圖1所示，測(cè)試系統(tǒng)100內(nèi)包含有一高頻無線射頻識(shí)別(Radio Frequency Identification, RFID)集成電路150， 一回路天線(loop antenna) 160以及一高階測(cè)試器170，其中高頻無線射頻識(shí)別集成電路150內(nèi)包含有一數(shù) 字處理器140、 一傳送電路130以及一接收電路120。高頻無線射頻識(shí)別集成電 路150傳送一訊號(hào)至回路天線160，接著回路天線160將訊號(hào)送至高階測(cè)試器 170供其監(jiān)測(cè)訊號(hào)的波形。為了確定高頻無線射頻識(shí)別集成電路150的功能是 否正常，高階測(cè)試器170會(huì)對(duì)接收進(jìn)來的訊號(hào)進(jìn)行復(fù)雜的分析處理。
請(qǐng)參閱圖2，圖2為用以測(cè)試集成電路的接收功能的習(xí)知測(cè)試系統(tǒng)200的 示意圖。在圖2中，與圖1所示的測(cè)試系統(tǒng)100具有相同功能的組件使用相同的標(biāo)號(hào)表示，除此之外，測(cè)試系統(tǒng)200內(nèi)包含有一響應(yīng)器(responder) 270， 此響應(yīng)器可為一標(biāo)簽(tag)或一近距離無線通訊(near field communication, NFC)裝置。此響應(yīng)器270在一主動(dòng)模式下系直接傳送數(shù)據(jù)給高頻無線射頻識(shí)別 集成電路150，或者在一被動(dòng)模式下響應(yīng)高頻無線射頻識(shí)別集成電路150所發(fā) 出的指令。如圖2所示，高頻無線射頻識(shí)別集成電路150對(duì)響應(yīng)器270的數(shù)據(jù) 進(jìn)行接收、解調(diào)以及譯碼，當(dāng)數(shù)據(jù)的位錯(cuò)誤率(bit error rate)高于某個(gè)臨 界值時(shí)，高頻無線射頻識(shí)別集成電路150的芯片即被判定為不良的集成電路芯 片。
習(xí)知測(cè)試系統(tǒng)100、 200中需要使用高階的電路以檢測(cè)集成電路的功能，因 此，造成測(cè)試系統(tǒng)昂貴且執(zhí)行的測(cè)試操作耗時(shí)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供一種集成電路的測(cè)試系統(tǒng)及方法，相對(duì) 于現(xiàn)有技術(shù)，本發(fā)明使用成本較低的電路即可完成測(cè)試。 為了解決以上技術(shù)問題，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案
本發(fā)明提供一種集成電路的測(cè)試系統(tǒng)。該測(cè)試系統(tǒng)包含有 一第一集成電
路、 一第一回路天線以及一測(cè)試電路。該第一集成電路用以調(diào)變一第一訊號(hào)以 產(chǎn)生一第一調(diào)變后訊號(hào)并傳送該第一調(diào)變后訊號(hào)，以及接收一第二調(diào)變后訊號(hào) 并解調(diào)變?cè)摰诙{(diào)變后訊號(hào)以產(chǎn)生一第二訊號(hào)。該第一回路天線耦接至該第一 集成電路，用以接收該第一調(diào)變后訊號(hào)并將該第一調(diào)變后訊號(hào)送回至該第一集 成電路作為該第二調(diào)變后訊號(hào)。該測(cè)試電路耦接至該第一集成電路，用以產(chǎn)生 該第一訊號(hào)至該第一集成電路，由該第一集成電路接收該第二訊號(hào)，并比較該 第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)以判斷該第一集成電路功能是否正常。
本發(fā)明提供一種集成電路的測(cè)試方法。該方法系包含有以下步驟產(chǎn)生一
第一訊號(hào)并將該第一訊號(hào)傳送至一第一集成電路；利用該第一集成電路對(duì)該第 一訊號(hào)進(jìn)行調(diào)變以產(chǎn)生一第一調(diào)變后訊號(hào)；將該第一調(diào)變后訊號(hào)傳送至一第一
回路天線；利用該第一回路天線將該第一調(diào)變后訊號(hào)傳送回該第一集成電路以作為一第二調(diào)變后訊號(hào)；利用該第一集成電路對(duì)該第二調(diào)變后訊號(hào)進(jìn)行解調(diào)變 以產(chǎn)生一第二訊號(hào)；以及比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)以判斷該第一集成電
路的功能是否正常。
本發(fā)明采用的集成電路的測(cè)試系統(tǒng)及方法，藉由同時(shí)將一集成電路的傳送 功能與接收功能的測(cè)試結(jié)合在單一測(cè)試流程之中，可大幅地降低測(cè)試系統(tǒng)的電 路成本，且提供了更具有效率的測(cè)試機(jī)制。


圖1為用以測(cè)試集成電路的傳送功能的習(xí)知測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。
圖2為用以測(cè)試集成電路的接收功能的習(xí)知測(cè)試系統(tǒng)的示意圖。 圖3為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)的一實(shí)施例的示意圖。 圖4為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)作流程圖。主要組件符號(hào)說明
100、200、300測(cè)試系統(tǒng)
120、320、420接收電路
130、330、430傳送電路
140、340、440數(shù)字處理器
150高頻無線射頻識(shí)別集成電路
160、360、460回路天線
170高階測(cè)試器
270回應(yīng)器
310測(cè)試電路
350第一集成電路
450第二集成電路
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明利用一測(cè)試系統(tǒng)來同時(shí)對(duì)一集成電路的訊號(hào)傳送質(zhì)量與訊號(hào)接收質(zhì)
量進(jìn)行測(cè)試。請(qǐng)參閱圖3，圖3所示為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)300的一實(shí)施例的示意
7圖。測(cè)試系統(tǒng)300可用以同時(shí)測(cè)試一個(gè)或一個(gè)以上的集成電路，在木實(shí)施例屮
以同時(shí)測(cè)試兩個(gè)集成電路來作為范例說明，然而，這并非用以限制本發(fā)明。如
圖3所示，測(cè)試系統(tǒng)300包含有一第一集成電路350、 一第二集成電路450、 一 第一回路天線360、 一第二回路天線460以及一測(cè)試電路310，其中第一回路天 線360耦接至第一集成電路350，而第二回路天線460耦接至第二集成電路450， 此外，測(cè)試電路310則耦接至第一集成電路350以及第二集成電路450。與習(xí) 知測(cè)試系統(tǒng)100與200相同的，第一集成電路350及第二集成電路450皆為高 頻無線射頻識(shí)別集成電路，且分別包含有數(shù)字處理器340 (440)、 一傳送電路 330 (430)以及一接收電路320 (420)。
為了簡(jiǎn)明起見，在接下來的說明將著重在第一集成電路350的測(cè)試流程， 而第二集成電路450的測(cè)試流程系與第一集成電路350的測(cè)試流程完全相同。 測(cè)試電路310會(huì)產(chǎn)生一第一訊號(hào)并將該第一訊號(hào)傳送至第一集成電路350。數(shù) 字處理器340會(huì)調(diào)變?cè)摰谝挥嵦?hào)以產(chǎn)生一第一調(diào)變后訊號(hào)并將該第一調(diào)變后訊 號(hào)經(jīng)由傳送電路330傳送至第一回路天線360，由上所述可知，此時(shí)第一集成 電路350的功能系作為一傳送電路。在本實(shí)施例中，該第一訊號(hào)系為一基頻頻 率的訊號(hào)，而對(duì)第一訊號(hào)進(jìn)行的調(diào)變的動(dòng)作即是將該第一訊號(hào)轉(zhuǎn)換成射頻訊號(hào)。
當(dāng)?shù)谝换芈诽炀€360接收到該第一調(diào)變后訊號(hào)(亦即射頻訊號(hào))之后，第 一回路天線360會(huì)將該第一調(diào)變后訊號(hào)回傳至第一集成電路350，該回傳的訊 號(hào)可視為一第二調(diào)變后訊號(hào)。第一集成電路350即經(jīng)由接收電路320接收該第 二調(diào)變后訊號(hào)，并且數(shù)字處理器340對(duì)該第二調(diào)變后訊號(hào)進(jìn)行解調(diào)變，以將該 第二調(diào)變后訊號(hào)轉(zhuǎn)換回一基頻頻率的第二訊號(hào)。由上敘述可知，第一集成電路 350此時(shí)的功能系作為一接收器(接收電路)來使用。
接著，第二訊號(hào)(解調(diào)變后的訊號(hào))被傳送至測(cè)試電路310，以供測(cè)試電 路310對(duì)上述的第一訊號(hào)以及第二訊號(hào)進(jìn)行比較。由于除了調(diào)變與解調(diào)變之外， 訊號(hào)并未進(jìn)行其它的處理，因此，該第一訊號(hào)與該第二訊號(hào)理論上應(yīng)當(dāng)是彼此 相同的，這也就是說，藉由對(duì)該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)進(jìn)行比較，即可直接判斷第一集成電路350的功能是否正常。由于進(jìn)行比較的第一訊號(hào)以及第二訊
號(hào)為基頻訊號(hào)，因此相較于習(xí)知技術(shù)，本實(shí)施例可大大地降低對(duì)訊號(hào)進(jìn)行分析 的復(fù)雜度。
除此之外，由于訊號(hào)同時(shí)被使用在傳送流程以及接收流程中，當(dāng)?shù)谝患?br> 電路350中出現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)即可在第一時(shí)間被偵測(cè)出。對(duì)于判斷集成電路350的功 能是否正常并不需要分辨出錯(cuò)誤出現(xiàn)于傳送功能或是接收功能上，所以相較于 習(xí)知技術(shù)，本發(fā)明可以更有效率地測(cè)試集成電路。
第二集成電路450可以使用完全相同的方法進(jìn)行測(cè)試。對(duì)第二集成電路450 進(jìn)行測(cè)試時(shí)，測(cè)試電路310同樣地會(huì)將第一訊號(hào)傳送至第二集成電路450。即 便第二集成電路450所具有的調(diào)變系數(shù)(modulation index)很可能不同于第 一集成電路350的調(diào)變系數(shù)，只要第二集成電路450的功能正常，在訊號(hào)被第 二回路天線460回傳至第二集成電路450并進(jìn)行解調(diào)變之后，第二集成電路450 所產(chǎn)生的第四訊號(hào)理應(yīng)與當(dāng)初由測(cè)試電路310所發(fā)出的第一訊號(hào)彼此完全一 致。請(qǐng)注意，為簡(jiǎn)明起見，由第二集成電路傳送回測(cè)試電路310的訊號(hào)于圖3 中以第四訊號(hào)來加以標(biāo)示。
請(qǐng)參閱圖4，圖4為本發(fā)明測(cè)試系統(tǒng)的運(yùn)作流程圖。請(qǐng)注意，倘若實(shí)質(zhì)上 可達(dá)到相同的結(jié)果，并不一定需要遵照?qǐng)D4所示的流程中的步驟順序來依序進(jìn) 行，其它步驟亦可能插入其中。本流程包含有以下步驟
步驟400:流程開始。
步驟402:產(chǎn)生一第一訊號(hào)。
步驟404:利用一集成電路對(duì)第一訊號(hào)進(jìn)行調(diào)變以產(chǎn)生第一調(diào)變后訊號(hào)。 步驟406:將第一調(diào)變后訊號(hào)傳送至一回路天線。
步驟408:利用該回路天線將該第一調(diào)變后訊號(hào)回傳至該集成電路以作為
一第二調(diào)變后訊號(hào)。
步驟410:利用該集成電路對(duì)該第二調(diào)變后訊號(hào)進(jìn)行解調(diào)變以產(chǎn)生-一第二訊號(hào)。步驟412:比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)。
步驟414:判斷該第一訊號(hào)與該第二訊號(hào)是否彼此相同？若相同，則執(zhí)行 步驟418;否則，則執(zhí)行步驟416。
步驟416:判斷此集成電路的功能不正常(未通過測(cè)試)。 步驟418:判斷此集成電路的功能正常(通過測(cè)試)。
如圖3所示，測(cè)試系統(tǒng)300可利用測(cè)試電路310同時(shí)對(duì)兩個(gè)不同的集成電 路進(jìn)行測(cè)試，也就是說，第一訊號(hào)被同時(shí)傳送至第一集成電路350以及第二集 成電路450，而且各自被調(diào)變后形成第一調(diào)變后訊號(hào)及第三調(diào)變后訊號(hào)，并且 分別進(jìn)一步被傳送至第一回路天線360以及第一回路天線460。倘若第一集成 電路350與第二集成電路450的調(diào)變系數(shù)相異，則第一調(diào)變后訊號(hào)與第三調(diào)變 后訊號(hào)也會(huì)彼此相異。由于對(duì)第一訊號(hào)進(jìn)行成對(duì)的操作(亦即調(diào)變與解調(diào)變操 作)，所以不管經(jīng)由第一集成電路350與第二集成電路450所分別產(chǎn)生的第一調(diào) 變后訊號(hào)與第三調(diào)變后訊號(hào)彼此間是否相同，都不會(huì)影響到測(cè)試電路310對(duì)第 一集成電路350與第二集成電路450的測(cè)試結(jié)果，因?yàn)楸景l(fā)明的測(cè)試系統(tǒng)是根 據(jù)訊號(hào)之間的一致性(例如比對(duì)第一訊號(hào)與第二訊號(hào)，和比對(duì)第一訊號(hào)與第四 訊號(hào))，而非根據(jù)訊號(hào)本身所傳遞的內(nèi)容。
在上述的揭露中，第一回路天線360與第二回路天線460分別將第一調(diào)變 后訊號(hào)與第三調(diào)變后訊號(hào)回傳給第一集成電路350以及第二集成電路450以作 為第二調(diào)變后訊號(hào)(輸入至第一集成電路350)以及作為第四調(diào)變后訊號(hào)(輸 入至第二集成電路450)，而數(shù)字處理器340與數(shù)字處理器440則分別對(duì)該第二 調(diào)變后訊號(hào)以及該第四調(diào)變后訊號(hào)進(jìn)行解調(diào)變以分別產(chǎn)生出第二訊號(hào)以及第四 訊號(hào)給測(cè)試電路310。測(cè)試電路310接著便將所接收的第二訊號(hào)與第四訊號(hào)(皆 為基頻訊號(hào))與測(cè)試電路310當(dāng)初發(fā)送的第一訊號(hào)(基頻訊號(hào))進(jìn)行比對(duì)。若 比對(duì)結(jié)果完全相符，這意味著第一集成電路350與第二集成電路450兩者皆可 正常運(yùn)作；而若第二訊號(hào)(或第四訊號(hào))與第一訊號(hào)的比對(duì)結(jié)果不相符，則代 表第一集成電路350 (或第二集成電路450)為一個(gè)不良的集成電路，表示其傳送功能、接收功能或兩者可能無法正常運(yùn)作。當(dāng)集成電路的其中一個(gè)功能異常 即無法正常運(yùn)作，因此無須再細(xì)究是哪一個(gè)功能發(fā)生異常。
測(cè)試電路310可經(jīng)由不同的方法來判斷集成電路的功能是否正常。舉例來
說，測(cè)試電路310可以計(jì)算所發(fā)送的訊號(hào)的準(zhǔn)位轉(zhuǎn)換(transition)次數(shù)以及所 接收的訊號(hào)的準(zhǔn)位轉(zhuǎn)換次數(shù)，而在其它實(shí)施例中，測(cè)試電路310亦可比較傳送 訊號(hào)與接收訊號(hào)的數(shù)據(jù)內(nèi)容(如波形)，雖然這會(huì)需要較多的操作時(shí)間。所有可 應(yīng)用來比較集成電路所產(chǎn)生的訊號(hào)與由測(cè)試電路所發(fā)出的訊號(hào)的方法皆落于本 發(fā)明的范疇之中。在本發(fā)明用以比對(duì)兩基頻訊號(hào)(第一訊號(hào)與第二訊號(hào)或第一 訊號(hào)與第四訊號(hào))的實(shí)施例中，系計(jì)數(shù)兩個(gè)基頻訊號(hào)的上升緣(rising edge) 或下降緣(falling edge)的次數(shù)，并判斷兩個(gè)計(jì)數(shù)值是否相符。也就是說， 當(dāng)?shù)谝挥嵦?hào)的上升緣(或下降緣)次數(shù)等于第二訊號(hào)(或第四訊號(hào))的上升緣 (或下降緣)次數(shù)，則判斷第一訊號(hào)相同于第二訊號(hào)(或第四訊號(hào))。
請(qǐng)注意，因?yàn)橛傻谝患呻娐?50與第二集成電路450所接收的訊號(hào)在進(jìn) 行解調(diào)變之后便直接與測(cè)試電路310所產(chǎn)生的訊號(hào)進(jìn)行比較，故本發(fā)明所揭露 的方法與電路可應(yīng)用在所有采用不同編碼技術(shù)的集成電路之中。
藉由同時(shí)將一集成電路的傳送功能與接收功能的測(cè)試結(jié)合在單一測(cè)試流程 之中，本發(fā)明相較于習(xí)知技術(shù)而言可大幅地降低測(cè)試系統(tǒng)的電路成本，且提供 了更具有效率的測(cè)試機(jī)制。
以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例，凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所做的均等 變化與修飾，皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1. 一種集成電路的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，其包含有一第一集成電路，用以調(diào)變一第一訊號(hào)以產(chǎn)生一第一調(diào)變后訊號(hào)并傳送該第一調(diào)變后訊號(hào)，以及用以接收一第二調(diào)變后訊號(hào)并解調(diào)變?cè)摰诙{(diào)變后訊號(hào)以產(chǎn)生一第二訊號(hào)；一第一回路天線，耦接至該第一集成電路，用以接收該第一調(diào)變后訊號(hào)并將該第一調(diào)變后訊號(hào)回傳至該第一集成電路以作為該第二調(diào)變后訊號(hào)；以及一測(cè)試電路，耦接至該第一集成電路，用以產(chǎn)生該第一訊號(hào)至該第一集成電路，自該第一集成電路接收該第二訊號(hào)，并比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)以判斷該第一集成電路的功能是否正常。
2. 如權(quán)利要求1所述的集成電路的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，其更包含有一第二集成電路，耦接至該測(cè)試電路，用以接收該第--訊號(hào)，調(diào)變?cè)摰谝?訊號(hào)以產(chǎn)生一第三調(diào)變后訊號(hào)并傳送該第三調(diào)變后訊號(hào)，以及接收一第四調(diào)變后訊號(hào)并解調(diào)變?cè)摰谒恼{(diào)變后訊號(hào)以產(chǎn)生一第四訊號(hào)；以及一第二回路天線，耦接至該第二集成電路，用以接收該第三調(diào)變后訊號(hào)并將該第三調(diào)變后訊號(hào)回傳至該第二集成電路以作為該第四調(diào)變后訊號(hào)；其中該測(cè)試電路由該第二集成電路接收該第四訊號(hào)，并比較該第一訊號(hào)以及該第四訊號(hào)以判斷該第二集成電路的功能是否正常。
3. 如權(quán)利要求2所述的集成電路的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該第一集成電路以及該第二集成電路系具有相異的調(diào)變系數(shù)。
4. 如權(quán)利要求1所述的集成電路的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試電路系 藉由比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)的準(zhǔn)位轉(zhuǎn)換次數(shù)來進(jìn)行該第一訊號(hào)以及該 第二訊號(hào)的比較。
5. 如權(quán)利要求1所述的集成電路的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該測(cè)試電路系 藉由比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)的波形來進(jìn)行該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)的比較。
6. 如權(quán)利要求1所述的集成電路的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，該第一集成電 路系為一無線射頻識(shí)別集成電路。
7. —種集成電路的測(cè)試方法，其特征在于，其包含有產(chǎn)生一第一訊號(hào)并將該第一訊號(hào)傳送至一第一集成電路；利用該第一集成電路對(duì)該第一訊號(hào)進(jìn)行調(diào)變以產(chǎn)生一第一調(diào)變后訊號(hào)；將該第一調(diào)變后訊號(hào)傳送至一第一回路天線；利用該第一回路天線將該第一調(diào)變后訊號(hào)回傳至該第一集成電路以作為一 第二調(diào)變后訊號(hào)；利用該第一集成電路對(duì)該第二調(diào)變后訊號(hào)進(jìn)行解調(diào)變以產(chǎn)生一第二訊號(hào)；以及比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)以判斷該第一集成電路的功能是否正常。
8. 如權(quán)利要求7所述的集成電路的測(cè)試方法，其特征在于，更包含有將該第一訊號(hào)傳送至一第二集成電路；利用該第二集成電路對(duì)該第一訊號(hào)進(jìn)行調(diào)變以產(chǎn)生一第三調(diào)變后訊號(hào)； 將該第三調(diào)變后訊號(hào)傳送至一第二回路天線；利用該第二回路天線將該第三調(diào)變后訊號(hào)回傳至該第二集成電路以作為一 第四調(diào)變后訊號(hào)；利用該第二集成電路對(duì)該第四調(diào)變后訊號(hào)進(jìn)行解調(diào)變以產(chǎn)生一第四訊號(hào)；以及比較該第一訊號(hào)以及該第四訊號(hào)以判斷該第二集成電路的功能是否正常。
9. 如權(quán)利要求8所述的集成電路的測(cè)試方法，其特征在于，該第一集成電路以及該第二集成電路系具有相異的調(diào)變系數(shù)。
10. 如權(quán)利要求7所述的集成電路的測(cè)試方法，其特征在于，比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)以判斷該第一集成電路的功能是否正常的步驟包含 比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)的準(zhǔn)位轉(zhuǎn)換次數(shù)。
11. 如權(quán)利要求7所述的集成電路的測(cè)試方法，其特征在于，比較該第一訊 號(hào)以及該第二訊號(hào)以判斷該第一集成電路的功能是否正常的步驟包含-比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)兩者的波形。
12. 如權(quán)利要求7所述的集成電路的測(cè)試方法，其特征在于，該第一集成電 路系為 一無線射頻識(shí)別集成電路。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種集成電路的測(cè)試系統(tǒng)及方法，可大幅地降低測(cè)試系統(tǒng)的電路成本，且提供了更具有效率的測(cè)試機(jī)制。包含有一第一集成電路，用以調(diào)變一第一訊號(hào)以產(chǎn)生一第一調(diào)變后訊號(hào)并傳送該第一調(diào)變后訊號(hào)，以及接收一第二調(diào)變后訊號(hào)并解調(diào)變?cè)摰诙{(diào)變后訊號(hào)以產(chǎn)生一第二訊號(hào)；一第一回路天線，耦接至該第一集成電路，用以接收該第一調(diào)變后訊號(hào)并將該第一調(diào)變后訊號(hào)回傳至該第一集成電路以作為該第二調(diào)變后訊號(hào)；以及一測(cè)試電路，耦接至該第一集成電路，用以產(chǎn)生該第一訊號(hào)至該第一集成電路，由該第一集成電路接收該第二訊號(hào)，并比較該第一訊號(hào)以及該第二訊號(hào)以判斷該第一集成電路之的功能是否正常。
文檔編號(hào)G01R31/28GK101446621SQ200810177359
公開日2009年6月3日 申請(qǐng)日期2008年11月18日 優(yōu)先權(quán)日2007年11月28日
發(fā)明者葉俊文, 謝志遠(yuǎn) 申請(qǐng)人:晨星軟件研發(fā)(深圳)有限公司;晨星半導(dǎo)體股份有限公司