專利名稱：連接器檢測(cè)系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種連接器檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
在通訊設(shè)備中，經(jīng)常需要通過連接器將其與其他設(shè)備相連接，然而檢驗(yàn)現(xiàn)有連接器是否接觸良好，通常是將連接器排線最外側(cè)兩條線的接觸針制作的很短，通過判斷連接器排線最外側(cè)兩條線是否接觸良好作為依據(jù)，如果連接器排線最外側(cè)兩條線接觸良好，則認(rèn)為連接器插緊，反之，則認(rèn)為連接器沒有插緊。但事實(shí)上，此種判斷方法只能判斷出連接器是否插緊，但無法判斷排線的其他線是否也全都接觸良好，如果連接器排線中有部分接觸處被空氣氧化，那么此種方法并不能發(fā)現(xiàn)，如果此時(shí)依然進(jìn)行傳輸信號(hào)進(jìn)行通信勢(shì)必會(huì)造成信號(hào)不完整，造成信號(hào)傳輸錯(cuò)誤的問題。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，有必要提供一種可以避免信號(hào)線未完全導(dǎo)通時(shí)進(jìn)行傳輸信號(hào)的連接器檢測(cè)系統(tǒng)。 —種連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其用于連接器。所述連接器包括第一連接部與第二連接部，
所述第一連接部與第二連接部分別包括多根對(duì)應(yīng)連接的第一組信號(hào)線及第二組信號(hào)線。所
述連接器檢測(cè)系統(tǒng)包括第一模塊、第二模塊、多個(gè)接地的第一電阻、多個(gè)接高電位的第二
電阻、檢測(cè)模塊及控制器。所述各第一電阻及第一組信號(hào)線均與所述第一模塊連接，所述
各第二電阻及第二組信號(hào)線均與所述第二模塊連接，所述第一模塊與第二模塊相連接，所
述控制器與所述檢測(cè)模塊、所述第一模塊及所述第二模塊均連接。當(dāng)測(cè)試時(shí)，所述控制器控
制所述各第一 電阻通過所述第一模塊并聯(lián)，所述各第二電阻通過所述第二模塊并聯(lián)，所述
各第一電阻及所述各第二電阻通過所述第一模塊及第二模塊串聯(lián)形成測(cè)試電路，所述檢測(cè)
模塊連接于所述第一模塊與第二模塊的連接處，用于檢測(cè)所述連接處的電壓值，所述檢測(cè)
模塊內(nèi)設(shè)置有閾值，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值小于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸
出低電平，當(dāng)所述測(cè)試電路完全導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值大于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸出高電
平，所述控制器根據(jù)高電平斷開所述第一電阻與所述第一模塊的連通，所述第二電阻與所
述第二模塊的連通，并控制第一模塊及第二模塊將所述第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線
對(duì)應(yīng)導(dǎo)通。 當(dāng)?shù)谝荒K與第二模塊的連接處如果有部分被氧化造成接觸不良時(shí)，該連接器檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路就無法完全導(dǎo)通，從而不將第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線對(duì)應(yīng)導(dǎo)通，只有第一模塊與第二模塊的連接處完全導(dǎo)通時(shí)，該連接器檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路才可以完全導(dǎo)通，此時(shí)控制器控制第一模塊與第二模塊斷開第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線的導(dǎo)通。從而避免由于因接觸不良導(dǎo)致信號(hào)傳輸不完整，傳輸錯(cuò)誤的問題。


圖1是本發(fā)明連接器檢測(cè)系統(tǒng)的功能模塊圖。
圖2是本發(fā)明連接器檢測(cè)系統(tǒng)的硬件架構(gòu)圖。
圖3是本發(fā)明連接器檢測(cè)系統(tǒng)組成檢測(cè)電路時(shí)的等效電路圖。
具體實(shí)施例方式
下面將結(jié)合附圖，對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步的詳細(xì)說明。 請(qǐng)參閱圖1及圖2，本發(fā)明提供的連接器檢測(cè)系統(tǒng)100用于檢測(cè)一連接器200的第一組信號(hào)線211及第二組信號(hào)線221是否正常通信。所述連接器200包括第一連接部210與第二連接部220，所述第一組信號(hào)線211固定于所述第一連接部210內(nèi)，所述第二組信號(hào)線221固定于第二連接部220內(nèi)。本實(shí)施方式中，所述第一連接部210屬于電腦，所述第二連接部220屬于擴(kuò)展塢。 所述連接器檢測(cè)系統(tǒng)100包括插緊模塊10、第一模塊30、第二模塊40、多個(gè)接地的第一電阻R1、多個(gè)接高電位的第二電阻R2、檢測(cè)模塊70、控制器80、報(bào)警模塊90。本實(shí)施方式中，所述多個(gè)第一電阻Rl相等，所述多個(gè)第二電阻R2相等。所述各第一電阻Rl及第一組信號(hào)線211均與所述第一模塊10連接，所述各第二電阻R2及第二組信號(hào)線221均與所述第二模塊20連接，所述第一模塊10與第二模塊20相連接。所述控制器80與所述插緊模塊10、所述檢測(cè)模塊70、所述第一模塊10及所述第二模塊20均連接。
所述插緊模塊10用于檢測(cè)所述連接器200的第一連接部210及第二連接部220是否插緊。本實(shí)施方式中，所述第一連接部210內(nèi)還安裝有兩條第一插緊線212，所述兩條第一插緊線212安裝于所述第一組信號(hào)線211兩側(cè)。所述第二連接部220內(nèi)還安裝有兩條第二插緊線222，所述兩條第二插緊線222安裝于所述第二組信號(hào)線221兩側(cè)。本實(shí)施方式中，由于第一連接部210屬于電腦，為了方便測(cè)試，將所述兩條第一插緊線212上各連接一個(gè)第三電阻230，所述第三電阻230另一端連接于高電位Vcc。所述兩條第二插緊線222接地。當(dāng)然，所述兩條第一插緊線212也可以接地，同時(shí)所述兩條第二插緊線222接與高電位Vcc連接的電阻。本實(shí)施方式中，當(dāng)?shù)谝贿B接部210與第二連接部220連接時(shí)，所述第一插緊線212與第二插緊線222連接，所述插緊模塊10電連接于所述兩個(gè)第三電阻230與所述第一連接部210的兩條第一插緊線212連接處0，并將所述兩條第一插緊線212上的信號(hào)進(jìn)行邏輯或處理，在運(yùn)算結(jié)果為高電平時(shí)，確定連接器200未插緊并進(jìn)行報(bào)警；本實(shí)施方式中，所述插緊模塊10通過電腦進(jìn)行報(bào)警。在運(yùn)算結(jié)果為低電平時(shí)，確定連接器200已插緊。本實(shí)施方式中，高電平用"1"表示，低電平用"0"表示，則所述兩條第一插緊線212的信號(hào)運(yùn)算結(jié)果可能出現(xiàn)00、01、10、11四種情況，其中，如為OO，則確定所述連接器200已插緊；如為01 、 10或11 ，則確定所述連接器200未插緊。 所述第一模塊30與第二模塊40相連接。本實(shí)施方式中，所述第一模塊30包括第一組控制開關(guān)31，所述第一組控制開關(guān)31電連接于所述第一組信號(hào)線211及多個(gè)第一電阻Rl之間，所述第二模塊40包括第二組控制開關(guān)41，所述第二組控制開關(guān)41電連接于所述第二組信號(hào)線221及多個(gè)第二電阻R2之間。所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41可以采用快速開關(guān)，也可以采用總線開關(guān)。本實(shí)施方式中采用總線開關(guān)。所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41中的每個(gè)控制開關(guān)分別包括控制端31D、31E、41D、41E，第一輸入端31A、41A、第二輸入端31C、41C以及輸出端31B、41B?？梢岳斫猓龅谝唤M控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41中的每個(gè)控制開關(guān)也可以由兩個(gè)單控制端開關(guān)組成，這兩個(gè)單控制端開關(guān)均具有一個(gè)控制端、一個(gè)輸入端、一個(gè)輸出端。將這兩個(gè)單控制端開關(guān)的輸出端相連接就可以做成上述具有兩個(gè)控制端的控制開關(guān)。本實(shí)施方式中，當(dāng)所述控制端31D、31E、41D、41E收到低電平信號(hào)時(shí)斷開第一輸入端31A、41A與輸出端31b、41B的連接，第二輸入端31C、41C與輸出端31B、41B的連接。當(dāng)所述控制端31D、31E、41D、41E收到高電平信號(hào)時(shí)導(dǎo)通第一輸入端31A、41A與輸出端31B、41B的連接，第二輸入端31C、41C與輸出端31B、41B的連接。 所述控制端31D、31E、41D、41E與控制器80連接，所述第一輸入端31A、41A分別與所述第一組信號(hào)線211及第二組信號(hào)線221連接，所述第二輸入端31C、41C分別與所述多個(gè)第一電阻Rl及多個(gè)第二電阻R2連接，所述輸出端31B位于所述控制端31D、31E之間，所述輸出端41B位于所述控制端41D、41E之間，輸出端31B與41B相連通。
測(cè)試時(shí)，所述控制器80控制所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的兩個(gè)控制端31D、41D斷開第一輸入端31A與輸出端31B之間的通路，斷開第一輸入端41A與輸出端41B之間的通路，使得第一組信號(hào)線211及第二組信號(hào)線221的信號(hào)無法接入第一模塊30及第二模塊40，從而不影響測(cè)試，在沒有完全確定可以通信時(shí)也不會(huì)有信號(hào)損失。然后所述控制器80控制所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的控制端31E、41E接通輸出端31B與第二輸入端31C之間的通路，輸出端41B與第二輸入端41C之間的通路，使得第一電阻Rl及第二電阻Rl通過輸出端31B、41B導(dǎo)通，從而組成測(cè)試電路，該測(cè)試電路等效為圖3中的所述多個(gè)第一電阻R1互相并聯(lián)，所述多個(gè)第二電阻R2相互并聯(lián)，所述多個(gè)并聯(lián)后的第一電阻R1與所述多個(gè)并聯(lián)后的第二電阻R2串聯(lián)。 當(dāng)該檢測(cè)電路全部導(dǎo)通時(shí)，所述多個(gè)第一電阻R1將互相并聯(lián)，所述多個(gè)第二電阻R2相互并聯(lián)，所述多個(gè)并聯(lián)后的第一電阻R1與所述多個(gè)并聯(lián)后的第二電阻R2串聯(lián)，所述第一電阻R1與所述多個(gè)第二電阻R2串聯(lián)處將會(huì)存在一個(gè)電壓值V。根據(jù)V二 (Rl/n)/(R1/n+R2/n) X Vcc，如果所述第一模塊30與第二模塊40之間接觸不良，將導(dǎo)致第二電阻R2無法完全接入檢測(cè)電路，即測(cè)試電路無法完全導(dǎo)通，有公式可以看出，第二電阻R2接入的越少，電壓值V將變得越小。 所述檢測(cè)模塊70用于在形成檢測(cè)電路時(shí)檢測(cè)所述第一模塊30與第二模塊40連接處的電壓。本實(shí)施方式中，由于所述第一模塊30安裝于電腦內(nèi)，所以為方便測(cè)試，將所述檢測(cè)模塊70電連接于所述第一電阻Rl與第一模塊30的連接處的電壓值V，即第一組控制開關(guān)31的第二輸入端31C處的電壓值V。 所述檢測(cè)模塊70內(nèi)預(yù)先設(shè)置有閾值Vt，該閾值Vt滿足測(cè)試時(shí)，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，所述檢測(cè)的電壓值V小于閾值Vt，所述檢測(cè)模塊70輸出低電平。當(dāng)測(cè)試電路全部正常導(dǎo)通時(shí)，所述檢測(cè)的電壓值V大于閾值Vt，所述檢測(cè)模塊70輸出高電平。本實(shí)施方式中，所述閾值Vt預(yù)先進(jìn)行設(shè)置。所述閾值Vt就是當(dāng)測(cè)試電路全部導(dǎo)通時(shí)，即所述第二電阻R2將全部被接入時(shí)，Vt < V，從而所述檢測(cè)模塊70輸出高電平，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，即當(dāng)至少有一個(gè)第二電阻R2沒有接入時(shí)，Vt > V，所述檢測(cè)模塊70輸出低電平。
本實(shí)施方式中，所述控制器80初始時(shí)將所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的控制端31D、41D設(shè)置為低電平，將所述第一組控制開關(guān)31及第二組控制開關(guān)41的
6控制端31E、41E設(shè)置為高電平。本實(shí)施方式中，所述控制器80還獲取所述插緊模塊10的信號(hào)，當(dāng)所述插緊模塊10監(jiān)測(cè)到所述連接器200未插緊時(shí)，所述控制器80不進(jìn)行測(cè)試信號(hào)線的連接狀況。當(dāng)檢測(cè)到所述插緊模塊10發(fā)出的信號(hào)表明所述連接器200已插緊時(shí)。所述控制器80進(jìn)行測(cè)試信號(hào)線的連接狀況。 所述控制器80先僅向兩個(gè)控制端31E、41E輸出高電平信號(hào)，接通輸出端31B與第二輸入端31C之間的通路，輸出端41B與第二輸入端41C之間的通路，將第一電阻R1及第二電阻R2通過輸出端31B、41B導(dǎo)通，從而組成測(cè)試電路。 當(dāng)所述控制器80接收到所述檢測(cè)模塊70的高電平信號(hào)時(shí)，證明信號(hào)線已全部導(dǎo)通，所述控制器80向控制端31E、41E輸出低電平信號(hào)，斷開輸出端31B與第二輸入端31C之間的通路，斷開輸出端41B與第二輸入端41C之間的通路，斷開第一電阻Rl及第二電阻R2與第一模塊30及第二模塊40導(dǎo)通，以免影響后續(xù)的信號(hào)正常傳輸。所述控制器80再向控制端31D、41D輸出高電平信號(hào)，接通第一輸入端31A與輸出端31B之間的通路，接通第一輸入端41A與輸出端41B之間的通路，輸出端31B、41B導(dǎo)通，將第一組信號(hào)線211與第二組信號(hào)線221的信號(hào)接入第一模塊30及第二模塊40，并通過輸出端31B、41B導(dǎo)通，實(shí)現(xiàn)信號(hào)的正常通信。 所述報(bào)警模塊90與所述檢測(cè)模塊70連接，用于檢測(cè)時(shí)當(dāng)所述檢測(cè)模塊70輸出低
電平時(shí)，輸出報(bào)警信號(hào)。本實(shí)施方式中所述報(bào)警模塊90用于根據(jù)上述測(cè)試模塊70的高低
電平的輸出規(guī)則輸出的電信號(hào)判斷所述第一組信號(hào)線211與第二組信號(hào)線221是否全部導(dǎo)
通。本實(shí)施方式中，當(dāng)所述報(bào)警模塊90檢測(cè)到檢測(cè)模塊70輸出低電平時(shí)，通過電腦報(bào)警。 當(dāng)?shù)谝荒K與第二模塊的連接處如果有部分被氧化造成接觸不良時(shí)，該連接器檢
測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路就無法完全導(dǎo)通，從而不將第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線對(duì)應(yīng)導(dǎo)
通，只有第一模塊與第二模塊的連接處完全導(dǎo)通時(shí)，該連接器檢測(cè)系統(tǒng)的測(cè)試電路才可以
完全導(dǎo)通，此時(shí)控制器控制第一模塊與第二模塊斷開第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線的
導(dǎo)通。從而避免由于因接觸不良導(dǎo)致信號(hào)傳輸不完整，傳輸錯(cuò)誤的問題。 可以理解的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，可以根據(jù)本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思做
出其它各種相應(yīng)的改變與變形，而所有這些改變與變形都應(yīng)屬于本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
一種連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其用于連接器，所述連接器包括第一連接部與第二連接部，所述第一連接部與第二連接部分別包括多根對(duì)應(yīng)連接的第一組信號(hào)線及第二組信號(hào)線，其特征在于，所述連接器檢測(cè)系統(tǒng)包括第一模塊、第二模塊、多個(gè)接地的第一電阻、多個(gè)接高電位的第二電阻、檢測(cè)模塊及控制器，所述各第一電阻及第一組信號(hào)線均與所述第一模塊連接，所述各第二電阻及第二組信號(hào)線均與所述第二模塊連接，所述第一模塊與第二模塊相連接，所述控制器與所述檢測(cè)模塊、所述第一模塊及所述第二模塊均連接，當(dāng)測(cè)試時(shí)，所述控制器控制所述各第一電阻通過所述第一模塊并聯(lián)，所述各第二電阻通過所述第二模塊并聯(lián)，所述各第一電阻及所述各第二電阻通過所述第一模塊及第二模塊串聯(lián)形成測(cè)試電路，所述檢測(cè)模塊連接于所述第一模塊與第二模塊的連接處，用于檢測(cè)所述連接處的電壓值，所述檢測(cè)模塊內(nèi)預(yù)設(shè)置有閾值，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值小于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸出低電平，當(dāng)所述測(cè)試電路完全導(dǎo)通時(shí)，所述電壓值大于所述閾值，所述檢測(cè)模塊輸出高電平，所述控制器根據(jù)高電平斷開所述第一電阻與所述第一模塊的連通，所述第二電阻與所述第二模塊的連通，并控制第一模塊及第二模塊將所述第一組信號(hào)線與所述第二組信號(hào)線對(duì)應(yīng)導(dǎo)通。
2. 如權(quán)利要求1所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述連接器檢測(cè)系統(tǒng)還包括報(bào)警模塊及插緊模塊，所述報(bào)警模塊與所述檢測(cè)模塊相連接，所述插緊模塊與所述控制器相連接，所述報(bào)警模塊用于所述測(cè)試模塊在測(cè)試中輸出低電平時(shí)發(fā)出報(bào)警信號(hào)，插緊模塊用于檢測(cè)所述連接器是否插緊，所述控制器還根據(jù)所述插緊模塊檢測(cè)到所述連接器插緊時(shí)對(duì)第一模塊及第二模塊進(jìn)行控制，所述連接器第一連接部與第二連接部還分別對(duì)應(yīng)包括兩條插緊線，兩個(gè)連接于高電位的第三電阻，所述第一連接部的插緊線電連接于所述第三電阻，所述第二連接部的插緊線接地。
3. 如權(quán)利要求2所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述插緊模塊電連接于所述兩個(gè)第三電阻與所述第一連接部的插緊線連接處，并將所述第一連接部的兩根插緊線上的信號(hào)進(jìn)行邏輯或處理，在運(yùn)算結(jié)果為高電平時(shí)，確定連接器未插緊并進(jìn)行告警；在運(yùn)算結(jié)果為低電平時(shí)，確定連接器已插緊。
4. 如權(quán)利要求1所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述多個(gè)第一電阻阻值相同，所述多個(gè)第二電阻阻值相同。
5. 如權(quán)利要求1所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一模塊包括第一組控制開關(guān)，所述第二模塊包括第二組控制開關(guān)，所述第一組控制開關(guān)電連接于所述第一組信號(hào)線及多個(gè)第一電阻之間，所述第二組控制開關(guān)電連接于所述第二組信號(hào)線及多個(gè)第二電阻之間，所述第一組控制開關(guān)及第二組控制開關(guān)中的每個(gè)控制開關(guān)均包括兩個(gè)控制端、兩個(gè)輸入端以及一個(gè)輸出端，所述兩個(gè)控制端與控制器相連接，所述第一組控制開關(guān)的兩個(gè)輸入端分別與所述第一組信號(hào)線及多個(gè)接地的第一電阻連接，所述第二組控制開關(guān)的兩個(gè)輸入端分別與所述第二組信號(hào)線及多個(gè)接高電位的第二電阻連接，所述第一組控制開關(guān)的輸出端與所述第二組控制開關(guān)的輸出端相導(dǎo)通。
6. 如權(quán)利要求5所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測(cè)模塊電連接于所述第一組控制開關(guān)與第一電阻連接處。
7. 如權(quán)利要求5所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一組控制開關(guān)及第二組控制開關(guān)的每個(gè)控制開關(guān)由兩個(gè)單控制端開關(guān)組成，所述兩個(gè)單控制端開關(guān)均具有一個(gè)控制端、一個(gè)輸入端、一個(gè)輸出端，所述兩個(gè)單控制端開關(guān)的輸出端相連接。
8.如權(quán)利要求5所述的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，所述第一組控制開關(guān)及第二組控制開關(guān)采用快速開關(guān)或總線開關(guān)。
全文摘要
本發(fā)明提供檢測(cè)連接器的連接器檢測(cè)系統(tǒng)，連接器有第一、二組信號(hào)線。系統(tǒng)包括第一、二模塊、第一、二電阻、檢測(cè)模塊及控制器。第一電阻及第一組信號(hào)線與第一模塊連接，第二電阻及第二組信號(hào)線與第二模塊連接，第一、二模塊連接，控制器與各模塊連接。測(cè)試時(shí)控制器控制第一電阻通過第一模塊并聯(lián)，第二電阻通過第二模塊并聯(lián)，兩電阻通過兩模塊串聯(lián)成測(cè)試電路，檢測(cè)模塊連接第一、二模塊連接處，檢測(cè)連接處電壓值，檢測(cè)模塊預(yù)設(shè)閾值，當(dāng)測(cè)試電路未全部導(dǎo)通電壓值小于閾值，檢測(cè)模塊輸出低電平，否則輸出高電平。控制器根據(jù)高電平斷開第一、二電阻與第一、二模塊，用第一、二模塊將第一、二組信號(hào)線導(dǎo)通。系統(tǒng)當(dāng)?shù)谝?、二模塊不完全導(dǎo)通時(shí)不接入信號(hào)。
文檔編號(hào)G01R31/02GK101769977SQ20081030666
公開日2010年7月7日 申請(qǐng)日期2008年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2008年12月30日
發(fā)明者聶劍揚(yáng) 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司