專利名稱：非接觸影像測量裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種顯微鏡測量裝置，尤其涉及一種可測量大型工 件的顯微鏡測量裝置。
背景技術(shù)：
如圖6所示，為現(xiàn)有的顯微鏡測量裝置，由圖中可見，該裝置設(shè)有 一平臺9 0,此平臺9 0是由操作滾輪9 1而進行X軸與Y軸水平方向 的位移，而顯微鏡9 2則位于平臺上方以滾輪9 1控制Z軸方向的垂直 位移。
然而，現(xiàn)有的顯微鏡測量裝置因平臺9 0尺寸較小，因此對于大型 的工件，則無法測量，且現(xiàn)有的顯微鏡測量裝置在調(diào)整顯微鏡倍率及光 源等，皆需手動調(diào)整，在操作上非常不方便。
再者，待測量物9 3需以非接觸影像測量裝置測量，尺寸是相當?shù)?微小，而測量儀器利用顯微鏡頭，其所需的精確度則更為嚴謹，因此測 量的精準度除裝置本身的測量器具精密度外，待測量物9 3于平臺9 0 上的定位亦會影響測量，亦即， 一般的待測量物9 3通常放置在平臺9 0上，而當操作滾輪9 1使平臺進行X軸與Y軸的位移時，待測量物9 3易在位移時造成移位現(xiàn)象(如圖7所示)，因此讓待測量物9 3于測量 的基準點偏移。
因此，如何解決上述現(xiàn)有的顯微鏡測量裝置，無法測量大型工件及 操作不易與測量精準度失準的問題，即為本實用新型的重點所在。
實用新型內(nèi)容
本實用新型所要解決的主要技術(shù)問題在于，克服現(xiàn)有技術(shù)存在的上 述缺陷，而提供一種非接觸影像測量裝置，其以非接觸的方式對大型工 件進行更精細的測量，在操作上非常方便，并在測量時被測物是固定不 動，不易有誤差產(chǎn)生。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是-一種非接觸影像測量裝置，其特征在于 一基座，該基座上設(shè)有一 大型的平臺，供放置大型尺寸的被測物，該基座于該平臺兩相對側(cè)分別 設(shè)有一立柱，且于二立柱間連結(jié)一橫柱，該橫柱由二立柱帶動于該平臺 上滑移，而該橫柱設(shè)有一滑座，該滑座是沿該橫柱軸向滑移，且該滑座 與該橫柱的滑移方向相互垂直，另，該滑座設(shè)有一顯微鏡組，該顯微鏡組 是沿該滑座軸向移動，供于該平臺上方垂直上下位移，且該顯微鏡組包 括一可旋轉(zhuǎn)的鼻輪及一同軸光源，該鼻輪設(shè)有數(shù)個不同倍率且朝平臺方 向設(shè)置的顯微鏡頭，該同軸光源是作為該顯微鏡頭測量時的光源。
前述的非接觸影像測量裝置，其中更包括有一電腦及一軸控卡，以 全自動方式來控制橫柱、滑座以及顯微鏡組位移，使該顯微鏡組可相對 該平臺進行X、 Y以及Z軸方向的位移，并可控制顯微鏡組的顯微鏡頭
擷取影像以及自動控制鼻輪旋轉(zhuǎn)調(diào)整不同倍率的顯微鏡頭來變倍。
前述的非接觸影像測量裝置，其中顯微鏡組是搭載高解析彩色攝影
機以及高速處理影像擷取卡，且以自動對焦控制器自動對焦。
前述的非接觸影像測量裝置，其中顯微鏡頭是利用同軸光源，于影
像擷取時借由電腦控制其光源亮度。
前述的非接觸影像測量裝置，其中基座上的平臺是以高精度鋁合金
或玻璃制成。
本實用新型的有益效果是，其以非接觸的方式對大型工件進行更精 細的測量，在操作上非常方便，并在測量時被測物是固定不動，不易有 誤差產(chǎn)生。以下結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。


圖1是本實用新型的立體外觀示意圖
圖2是本實用新型的滑座沿X軸滑動的示意圖
圖3是本實用新型的立柱帶動橫柱沿Y軸滑動的示意圖
圖4是本實用新型采同軸光的顯微鏡頭以及顯微鏡沿Z軸滑動的示
意圖
圖5是本實用新型的待測量物于平臺定位的示意圖 圖6是現(xiàn)有的非接觸影像測量裝置的立體外觀示意圖圖7是現(xiàn)有的非接觸影像測量裝置的平臺滑移導(dǎo)致待測量物位移的 示意圖
具體實施方式
請參閱圖1至圖5 ，圖中所示為本實用新型所選用的實施例結(jié)構(gòu)。
本實施例提供一種非接觸影像測量裝置，其包括
一基座1 ，該基座1上設(shè)有一大型的平臺1 1 ，供放置大型尺寸的 被測物，該基座l于該平臺l 1兩相對側(cè)分別設(shè)有一立柱3，且于二立 柱3間連結(jié)一橫柱4，該橫柱4由二立柱3帶動于該平臺1 l上滑移， 而該橫柱4設(shè)有一滑座5，該滑座5是沿該橫柱4軸向滑移，且該滑座
5與該橫柱4的滑移方向相互垂直，另該滑座5設(shè)有一顯微鏡組6，該 顯微鏡組6是沿該滑座5軸向移動，供于該平臺1 1上方垂直上下位移， 且該顯微鏡組6包括一可旋轉(zhuǎn)的鼻輪6 l及一同軸光源6 3，該鼻輪6
1設(shè)有數(shù)個不同倍率且朝平臺方向設(shè)置的顯微鏡頭6 2 ，該同軸光源6
3是作為該顯微鏡頭6 2測量時的光源。
在本實施例中，是通過電腦及軸控卡，以全自動方式來控制橫柱、 滑座以及顯微鏡組位移，使該顯微鏡組可相對該平臺進行X、 Y以及Z 軸方向的位移，并可控制顯微鏡組6的顯微鏡頭6 2擷取影像以及自動 控制鼻輪6 l旋轉(zhuǎn)調(diào)整不同倍率的顯微鏡頭6 2來變倍，以進行測量。
再者，在本實施例中，該基座l上的平臺l l是以高精度鋁合金或 玻璃制成，而該顯微鏡組6是搭載高解析彩色攝影機以及高速處理影像 擷取卡，且以自動對焦控制器自動對焦，該顯微鏡頭6 l是利用同軸光 源6 3，在影像擷取時借由控制電腦控制其光源亮度。
請參閱圖2至圖4所示，借由電腦操控該立柱3、滑座5以及顯微 鏡組6進行X、 Y以及Z軸的位移，并選擇所需倍率的顯微鏡頭6 2, 使該顯微鏡頭6 2移動至測量位置后，即可進行非接觸方式的測量動作。
由上述的說明不難發(fā)現(xiàn)本實用新型的優(yōu)點，是在于將顯微鏡組裝設(shè) 于一大型平臺上，且該顯微鏡組可相對該平臺進行X、 Y以及Z軸方向 的位移，以非接觸的方式對大型工件進行更精細的測量。
再者，該顯微鏡組的移動及倍率調(diào)整與光源調(diào)整皆以電腦自動控制， 在操作上非常方便。另外，由于被測物2是固定于該平臺1 l上，而顯微鏡組6于X、 Y以及Z軸的移動則借由基座1上的立柱3橫柱4及滑座5分別執(zhí)行， 而以被測物的工件不動，以顯微鏡組移動的方式測量，如圖5所示，相 對地被測物2則不會造成于平臺1l上滑移的風(fēng)險，以增加測量時的精度。
權(quán)利要求1. 一種非接觸影像測量裝置，其特征在于一基座，該基座上設(shè)有一大型的平臺，供放置大型尺寸的被測物，該基座于該平臺兩相對側(cè)分別設(shè)有一立柱，且于二立柱間連結(jié)一橫柱，該橫柱由二立柱帶動于該平臺上滑移，而該橫柱設(shè)有一滑座，該滑座是沿該橫柱軸向滑移，且該滑座與該橫柱的滑移方向相互垂直，另，該滑座設(shè)有一顯微鏡組，該顯微鏡組是沿該滑座軸向移動，供于該平臺上方垂直上下位移，且該顯微鏡組包括一可旋轉(zhuǎn)的鼻輪及一同軸光源，該鼻輪設(shè)有數(shù)個不同倍率且朝平臺方向設(shè)置的顯微鏡頭，該同軸光源是作為該顯微鏡頭測量時的光源。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的非接觸影像測量裝置，其特征在于更 包括有一電腦及一軸控卡，以全自動方式來控制橫柱、滑座以及顯微鏡 組位移，使該顯微鏡組可相對該平臺進行X、 Y以及Z軸方向的位移， 并可控制顯微鏡組的顯微鏡頭擷取影像以及自動控制鼻輪旋轉(zhuǎn)調(diào)整不同 倍率的顯微鏡頭來變倍。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的非接觸影像測量裝置，其特征在于所 述顯微鏡組是搭載高解析彩色攝影機以及高速處理影像擷取卡，且以自 動對焦控制器自動對焦。
4. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的非接觸影像測量裝置，其特征在于所述顯微鏡頭是利用同軸光源，于影像擷取時借由電腦控制其光源亮度。
5. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的非接觸影像測量裝置，其特征在于所 述基座上的平臺是以高精度鋁合金或玻璃制成。
專利摘要一種非接觸影像測量裝置，一基座，該基座上設(shè)有一大型的平臺，供放置大型尺寸的被測物，該基座于該平臺兩相對側(cè)分別設(shè)有一立柱，且于二立柱間連結(jié)一橫柱，該橫柱由二立柱帶動于該平臺上滑移，而該橫柱設(shè)有一滑座，該滑座是沿該橫柱軸向滑移，且該滑座與該橫柱的滑移方向相互垂直，另，該滑座設(shè)有一顯微鏡組，該顯微鏡組是沿該滑座軸向移動，供于該平臺上方垂直上下位移，且該顯微鏡組包括一可旋轉(zhuǎn)的鼻輪及一同軸光源，該鼻輪設(shè)有數(shù)個不同倍率且朝平臺方向設(shè)置的顯微鏡頭，該同軸光源是作為該顯微鏡頭測量時的光源。本實用新型以非接觸的方式對大型工件進行更精細的測量，在操作上非常方便，并在測量時被測物是固定不動，不易有誤差產(chǎn)生。
文檔編號G01B9/04GK201273811SQ200820136049
公開日2009年7月15日 申請日期2008年9月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年9月27日
發(fā)明者楊信杰 申請人:源臺精密科技股份有限公司