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      點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置的制作方法

      文檔序號(hào):6156608閱讀:295來源:國知局
      專利名稱:點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本發(fā)明涉及一種點(diǎn)擊劃線測試儀,特別是涉及一種點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置。
      背景技術(shù)
      在現(xiàn)有的點(diǎn)擊劃線測試儀中,測試筆頭的固定裝置如圖1所示,測試筆頭支架 2’穿設(shè)于固定支架1’中,測試筆頭3’固設(shè)于測試筆頭支架2’的下部,而測試筆頭 支架2’的頂部還設(shè)有一砝碼托盤4’,用于放置砝碼5’以對(duì)測試筆頭3’加壓。但 是,由于測試筆頭支架2’僅僅是穿設(shè)于固定支架1’中的,針對(duì)測試筆頭支架2’以 A-A'方向(如圖1所示)為軸線相對(duì)于固定支架1’的旋轉(zhuǎn)則沒有任何的抑制手段。 因此,在點(diǎn)擊劃線測試儀工作時(shí),測試筆頭支架2’會(huì)不定時(shí)地發(fā)生上述旋轉(zhuǎn),而又因?yàn)?測試筆頭3’是固設(shè)于測試筆頭支架2’中的,從而導(dǎo)致在測試進(jìn)行中,測試筆頭3’也 會(huì)跟著發(fā)生旋轉(zhuǎn),容易對(duì)測試樣品的表面帶來損傷,影響測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。發(fā)明內(nèi)容
      本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是為了克服現(xiàn)有技術(shù)中測試筆頭容易發(fā)生旋轉(zhuǎn)的缺 陷,提供一種能夠避免測試筆頭發(fā)生旋轉(zhuǎn)的點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置。
      本發(fā)明是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的
      一種點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置,其包括一固定支架,該固定支架中 穿設(shè)有一測試筆頭支架,該測試筆頭支架的頂部固設(shè)有一砝碼托盤,其特點(diǎn)在于,該砝 碼托盤與該固定支架通過一鎖定件相互鎖定。
      較佳地,該鎖定件為一單頭螺桿,該砝碼托盤下側(cè)設(shè)有一具有內(nèi)螺紋的第一開 孔,該單頭螺桿的具有外螺紋的一端適配地旋設(shè)于該第一開孔中,該固定支架的位于該 第一開孔正下方的位置處設(shè)有一第二開孔,該單頭螺桿的不具有外螺紋的一端適配地插 設(shè)于該第二開孔中。
      本發(fā)明的積極進(jìn)步效果在于通過一鎖定件將砝碼托盤與固定支架相互鎖定, 而由于砝碼托盤是固設(shè)于測試筆頭支架的頂部的,而測試筆頭又是固設(shè)于測試筆頭支架 中的,從而便實(shí)現(xiàn)了測試筆頭與固定支架之間的鎖定,徹底地避免了測試筆頭在測試進(jìn) 行中發(fā)生旋轉(zhuǎn)的不利情況,減小甚至消除了測試筆頭對(duì)測試樣品表面的損傷,保證了測 試結(jié)果的準(zhǔn)確性。


      圖1為現(xiàn)有的點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
      圖2為本發(fā)明的點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
      具體實(shí)施方式
      下面結(jié)合附圖給出本發(fā)明較佳實(shí)施例,以詳細(xì)說明本發(fā)明的技術(shù)方案。
      如圖2所示,本發(fā)明的點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置包括一固定支架1, 該固定支架1中穿設(shè)有一測試筆頭支架2,該測試筆頭支架2的下部固設(shè)有一測試筆頭 3,該測試筆頭支架2的頂部固設(shè)有一用于放置加壓砝碼5的砝碼托盤4,特別地,該砝碼 托盤4與該固定支架1通過一鎖定件相互鎖定。
      仍如圖2所示,該鎖定件可以選擇采用一單頭螺桿6,相應(yīng)地,在該砝碼托盤4 下側(cè)設(shè)置一具有內(nèi)螺紋的第一開孔(圖中未示),以使得該單頭螺桿6的具有外螺紋的一 端適配地旋設(shè)于該第一開孔中,另外,在該固定支架1的位于該第一開孔正下方的位置 處設(shè)置一第二開孔7,以使得該單頭螺桿6的不具有外螺紋的一端適配地插設(shè)于該第二開 孔7中。通過該單頭螺桿6的設(shè)計(jì),使得砝碼托盤4與固定支架1之間相互鎖定,而由 于砝碼托盤4是固設(shè)于測試筆頭支架2的頂部的,而測試筆頭3又是固設(shè)于測試筆頭支架 2中的,從而便實(shí)現(xiàn)了測試筆頭3與固定支架1之間的鎖定,徹底地避免了測試筆頭在測 試進(jìn)行中發(fā)生旋轉(zhuǎn)的不利情況,減小甚至消除了測試筆頭對(duì)測試樣品表面的損傷,保證 了測試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
      雖然以上描述了本發(fā)明的具體實(shí)施方式
      ,但是本領(lǐng)域的技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解,這 些僅是舉例說明,在不背離本發(fā)明的原理和實(shí)質(zhì)的前提下,可以對(duì)這些實(shí)施方式做出多 種變更或修改。因此,本發(fā)明的保護(hù)范圍由所附權(quán)利要求書限定。
      權(quán)利要求
      1.一種點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置,其包括一固定支架,該固定支架中穿 設(shè)有一測試筆頭支架,該測試筆頭支架的頂部固設(shè)有一砝碼托盤,其特征在于,該砝碼 托盤與該固定支架通過一鎖定件相互鎖定。
      2.如權(quán)利要求1所述的點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置,其特征在于,該鎖定件 為一單頭螺桿,該砝碼托盤下側(cè)設(shè)有一具有內(nèi)螺紋的第一開孔,該單頭螺桿的具有外螺 紋的一端適配地旋設(shè)于該第一開孔中,該固定支架的位于該第一開孔正下方的位置處設(shè) 有一第二開孔,該單頭螺桿的不具有外螺紋的一端適配地插設(shè)于該第二開孔中。
      全文摘要
      本發(fā)明公開了一種點(diǎn)擊劃線測試儀的測試筆頭固定裝置,其包括一固定支架,該固定支架中穿設(shè)有一測試筆頭支架,該測試筆頭支架的頂部固設(shè)有一砝碼托盤,該砝碼托盤與該固定支架通過一鎖定件相互鎖定。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了測試筆頭與固定支架之間的鎖定,徹底地避免了測試筆頭在測試進(jìn)行中發(fā)生旋轉(zhuǎn)的不利情況。
      文檔編號(hào)G01N3/04GK102023115SQ20091018749
      公開日2011年4月20日 申請(qǐng)日期2009年9月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年9月16日
      發(fā)明者李 杰 申請(qǐng)人:沈陽晨訊希姆通科技有限公司
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