專利名稱：時域反射儀校正系統(tǒng)及方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種測量儀器校正系統(tǒng)及方法，尤其是一種時域反射儀校正系統(tǒng)及方法。
背景技術：
時域反射儀是一種用于測試電子線路特性的設備。例如，時域反射儀在電子線路上發(fā)送一個脈沖信號，這個脈沖信號經(jīng)過一個開路的線路時，脈沖信號遇到開路會發(fā)射回發(fā)送端，時域反射儀通過分析接收到的脈沖信號計算出該電子線路的特性阻抗。然而，在利用時域反射儀進行電子線路特性的測試時，由于時域反射儀本身的誤差，如通道間的時間差、電纜長度及脈沖信號間的時間差等因素，可能造成測試的準確度下降。因此，對時域反射儀的校正極為重要。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提出一種時域反射儀校正系統(tǒng)，其可根據(jù)用戶選擇的通道， 自動地對該通道間的誤差進行校正。此外，還有必要提出一種時域反射儀校正方法，其可根據(jù)用戶選擇的通道，自動地對該通道間的誤差進行校正。一種時域反射儀校正系統(tǒng)，用于對一個時域反射儀進行校正。一個校正器通過電纜連接到該時域反射儀的通道上。該系統(tǒng)包括判斷模塊，用于判斷通過電纜連接到校正器上的通道的數(shù)目是否為2 ；通道開啟模塊，用于開啟所連接的兩條通道，使其處于工作狀態(tài)；參數(shù)設置模塊，用于將所連接的兩條通道的參數(shù)St印Deskew及Channel Deskew的值歸零；測量模塊，用于獲取上述連接的兩條通道在同一預設的時間點所測量到的最大特性阻抗，以及在將連接上述兩條通道與校正器的電纜切斷后，獲取該兩條通道測量到同一預設特性阻抗的時間；比較模塊，用于通過比較判斷上述獲取的兩個最大特性阻抗之間的差值是否在一個允許的特性阻抗范圍內(nèi)，以及通過比較判斷上述獲取的兩個時間之間的差值是否在一個允許的時間范圍內(nèi)；參數(shù)調(diào)整模塊，用于當上述兩個最大特性阻抗之間的差值不在所述允許的特性阻抗范圍內(nèi)時，根據(jù)該最大特性阻抗之間的差值調(diào)整其中一個通道的 Step Deskew的值，以及當上述兩個時間之間的差值不在所述允許的時間范圍內(nèi)時，根據(jù)該時間之間的差值調(diào)整其中一個通道的Channel Deskew的值?！N時域反射儀校正方法，用于對一個時域反射儀進行校正。該方法包括(a)將一個校正器通過電纜連接到上述時域反射儀的通道上；(b)判斷通過電纜連接到校正器上的通道的數(shù)目是否為2 ;(c)在通過電纜連接到校正器上的通道的數(shù)目是否為2的情況下， 開啟所連接的兩條通道，使其處于工作狀態(tài)；d)將所連接的兩條通道的參數(shù)StepDeskew及 Channel Deskew的值歸零；(e)獲取上述連接的兩條通道在同一預設時間點所測量到的最大特性阻抗；(f)通過比較判斷上述獲取的兩個最大特性阻抗之間的差值是否在一個允許的特性阻抗范圍內(nèi)；(g)當上述兩個最大特性阻抗之間的差值不在所述允許的特性阻抗范圍內(nèi)時，根據(jù)該最大特性阻抗之間的差值調(diào)整其中一個通道的St印Deskew的值；(h)重復步驟(e)至(g)，直至兩個最大特性阻抗之間的差值在所述允許的特性阻抗范圍內(nèi)；(i)將連接上述兩條通道與校正器的電纜切斷；(j)獲取該兩條通道測量到同一預設特性阻抗的時間；(k)通過比較判斷上述獲取的兩個時間之間的差值是否在一個允許的時間范圍內(nèi)； (1)當上述兩個時間之間的差值不在所述允許的時間范圍內(nèi)時，根據(jù)該時間之間的差值調(diào)整其中一個通道的Channel Deskew的值；及(m)重復步驟(j)至(1)，直至兩個時間之間的差值在所述允許的時間范圍內(nèi)。本發(fā)明所提供的時域反射儀校正系統(tǒng)及方法只需要用戶選擇時域反射儀上待校正的任意兩個通道，就能自動地對所選擇的通道間的誤差進行校正，減少人工校正所造成誤差，提高了精準性。


圖1是本發(fā)明時域反射儀校正系統(tǒng)較佳實施例的系統(tǒng)架構(gòu)圖。圖2是本發(fā)明時域反射儀校正系統(tǒng)較佳實施例的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明時域反射儀校正方法較佳實施例的方法流程圖。主要元件符號說明
權利要求
1.一種時域反射儀校正系統(tǒng)，其特征在于，一個待測的時域反射儀的通道通過電纜與一個校正器連接，該系統(tǒng)包括判斷模塊，用于判斷通過電纜連接到校正器上的通道的數(shù)目是否為2 ；通道開啟模塊，用于開啟所連接的兩條通道，使其處于工作狀態(tài)；參數(shù)設置模塊，用于將所連接的兩條通道的參數(shù)St印Deskew及Channel Deskew的值歸零；測量模塊，用于獲取上述連接的兩條通道在同一預設的時間點所測量到的最大特性阻抗，以及在將連接上述兩條通道與校正器的電纜切斷后，獲取該兩條通道測量到同一預設特性阻抗的時間；比較模塊，用于通過比較判斷上述獲取的兩個最大特性阻抗之間的差值是否在一個允許的特性阻抗范圍內(nèi)，以及通過比較判斷上述獲取的兩個時間之間的差值是否在一個允許的時間范圍內(nèi)；參數(shù)調(diào)整模塊，用于當上述兩個最大特性阻抗之間的差值不在所述允許的特性阻抗范圍內(nèi)時，根據(jù)該最大特性阻抗之間的差值調(diào)整其中一個通道的St印Deskew的值，使該兩條通道之間的脈沖時間差縮小，以及當上述兩個時間之間的差值不在所述允許的時間范圍內(nèi)時，根據(jù)該時間之間的差值調(diào)整其中一個通道的Channel Deskew的值，使該兩條通道之間的通道時間差縮小。
2.如權利要求1所述的時域反射儀校正系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括初始化模塊，用于初始化時域反射儀，使其恢復到出廠時的設置。
3.如權利要求1所述的時域反射儀校正系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括提示模塊，用于在沒有同時連接兩條通道的情況下，發(fā)出提示信息，以及當上述獲取的兩個最大特性阻抗之間的差值在所述允許的特性阻抗范圍內(nèi)時，提示將連接上述兩條通道與校正器的電纜切斷。
4.如權利要求1所述的時域反射儀校正系統(tǒng)，其特征在于，所述參數(shù)調(diào)整模塊調(diào)整其中一個通道的St印Deskew值及Channel Deskew值按照如下步驟執(zhí)行當兩個通道中的第一通道所測量到的特性阻抗大時，調(diào)整第二通道的Step Deskew的值，使其減小，或者調(diào)整第一通道的St印Deskew的值，使其增大；及當兩個通道中的第一通道測量到同一預設特性阻抗的時間短時，調(diào)整第二通道的 Channel Deskew的值，使其減小，或者調(diào)整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
5.如權利要求1所述的時域反射儀校正系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括顯示模塊，用于顯示校正之后的參數(shù)St印Deskew及ChannelDeskew的值。
6.一種時域反射儀校正方法，其特征在于，該方法包括(a)將一個校正器通過電纜連接到一個待測的時域反射儀的通道上；(b)判斷通過電纜連接到校正器上的通道的數(shù)目是否為2；(c)在通過電纜連接到校正器上的通道的數(shù)目為2的情況下，開啟所連接的兩條通道， 使其處于工作狀態(tài)；(d)將所連接的兩條通道的參數(shù)St印Deskew及ChannelDeskew的值歸零；(e)獲取上述連接的兩條通道在同一預設時間點所測量到的最大特性阻抗；(f)通過比較判斷上述獲取的兩個最大特性阻抗之間的差值是否在一個允許的特性阻抗范圍內(nèi)；(g)當 上述兩個最大特性阻抗之間的差值不在所述允許的特性阻抗范圍內(nèi)時，根據(jù)該最大特性阻抗之間的差值調(diào)整其中一個通道的StepDeskew的值，使該兩條通道之間的脈沖時間差縮??；(h)重復步驟(e)至(g)，直至兩個最大特性阻抗之間的差值在所述允許的特性阻抗范圍內(nèi)；(i)將連接上述兩條通道與校正器的電纜切斷；(j)獲取該兩條通道測量到同一預設特性阻抗的時間；(k)通過比較判斷上述獲取的兩個時間之間的差值是否在一個允許的時間范圍內(nèi)； (1)當上述兩個時間之間的差值不在所述允許的時間范圍內(nèi)時，根據(jù)該時間之間的差值調(diào)整其中一個通道的Channel Deskew的值，使該兩條通道之間的通道時間差縮小；及 (m)重復步驟(j)至(1)，直至兩個時間之間的差值在所述允許的時間范圍內(nèi)。
7.如權利要求6所述的時域反射儀校正方法，其特征在于，步驟(a)之前該方法還包括初始化時域反射儀，使其恢復到出廠時的設置。
8.如權利要求6所述的時域反射儀校正方法，其特征在于，步驟(b)之后該方法還包括在沒有同時連接兩條通道的情況下，發(fā)出提示信息。
9.如權利要求6所述的時域反射儀校正方法，其特征在于，所述調(diào)整其中一個通道的 Step Deskew值及Channel Deskew值的步驟包括當兩個通道中的第一通道所測量到的特性阻抗大時，調(diào)整第二通道的Step Deskew的值，使其減小，或者調(diào)整第一通道的St印Deskew的值，使其增大；及當兩個通道中的第一通道測量到同一預設特性阻抗的時間短時，調(diào)整第二通道的 Channel Deskew的值，使其減小，或者調(diào)整第一通道的Channel Deskew的值，使其增大。
10.如權利要求6所述的時域反射儀校正方法，其特征在于，步驟(m)之后該方法還包括顯示校正之后的參數(shù)St印Deskew及Channel Deskew的值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種時域反射儀校正方法，其利用電纜將時域反射儀上兩個通道連接到校正器上。該方法將兩條通道的Step Deskew及ChannelDeskew值歸零，獲取兩條通道在同一時間測量到的最大特性阻抗，及獲取兩條通道測量到同一特性阻抗的時間。判斷兩個特性阻抗之間的差值是否在一允許的范圍內(nèi)，及判斷兩個時間之間的差值是否在一允許的范圍內(nèi)。當特性阻抗之間的差值不在允許的范圍內(nèi)時，調(diào)整其中一個通道的Step Deskew值，當時間之間的差值不在允許的范圍內(nèi)時，調(diào)整其中一個通道的Channel Deskew值。本發(fā)明還提供一種時域反射儀校正系統(tǒng)。本發(fā)明根據(jù)用戶選擇的通道，自動對該通道間的誤差進行校正。
文檔編號G01R35/00GK102213754SQ20101013793
公開日2011年10月12日 申請日期2010年4月1日 優(yōu)先權日2010年4月1日
發(fā)明者李昇軍, 梁獻全, 許壽國 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司