專利名稱:一種電工觸頭微電阻的測量方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明涉及一種電工觸頭電阻的測量方法。
背景技術(shù):
當(dāng)前,低壓電器電工觸頭的焊接普遍存在電氣性能不穩(wěn)定的問題,而作為核心檢 驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的待測工件電阻大約在微歐甚至小于1個(gè)微歐的數(shù)量級。由于存在各個(gè)界面接觸電 阻,導(dǎo)致其未消除的接觸電阻已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于待測工件電阻,因此,現(xiàn)有的電阻測量方法如電 橋法,其測量精度低、穩(wěn)定性差低,難以滿足指定的要求。并且,現(xiàn)有方法在低壓電器焊接設(shè) 備上很難操作,無法運(yùn)用于現(xiàn)場的工業(yè)生產(chǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了解決現(xiàn)有電工觸頭電阻的測量方法由于各界面的接觸電阻較大導(dǎo) 致其測量精度低的問題,從而提供一種電工觸頭微電阻的測量方法。一種電工觸頭微電阻的測量方法,它由以下步驟實(shí)現(xiàn)步驟一、將電工觸頭作為待測工件,將所述待測工件水平固定在正電極和負(fù)電極 之間;步驟二、向待測工件施加方向?yàn)樨Q直向下、大小為2KN 6KN的壓力;步驟三、在壓力穩(wěn)定后,通過正電極和負(fù)電極向待測工件通入3000A 6000A的加 熱電流并持續(xù)IOms IOOms后停止通電;步驟四、將所述待測工件冷卻2s 5s ;步驟五、通過正電極和負(fù)電極向待測工件通入5000A 10000A的電流,并測量待 測工件兩端的電壓值和通入待測工件的電流值;步驟六、根據(jù)步驟五獲得的電壓值和電流值,計(jì)算獲得待測工件的電阻值。待測工件與正電極的接觸面、待測量工件與負(fù)電極的接觸面之間均固定有一個(gè)高 度為0. Imm的銀墊片。步驟五中測量待測工件兩端的電壓值是通過電壓測量電路實(shí)現(xiàn)的。步驟五中所述測量通入待測工件的電流值是通過羅氏線圈電流傳感器實(shí)現(xiàn)的。步驟五通過正電極和負(fù)電極向待測工件通入5000A 10000A的電流是由中頻逆 變電源或交流電源提供的。本發(fā)明通過向電工觸頭施加較大的壓力以及在測量之前對電工觸頭進(jìn)行預(yù)熱的 方法,使電極和觸頭的接觸狀況更加良好,最大程度上消除了界面接觸電阻,從而提高了使 測量精確,本發(fā)明的測量精度較高,并且能夠非常方便地應(yīng)用于現(xiàn)場測量過程中。
圖1是本發(fā)明方法的測量原理示意圖。
具體實(shí)施例方式具體實(shí)施方式
一、結(jié)合圖1說明本具體實(shí)施方式
,一種電工觸頭微電阻的測量方 法,它由以下步驟實(shí)現(xiàn)步驟一、將電工觸頭作為待測工件3,將所述待測工件3水平固定在正電極1和負(fù) 電極2之間;步驟二、向待測工件3施加方向?yàn)樨Q直向下、大小為2KN 6KN的壓力;步驟三、在壓力穩(wěn)定后,通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3通入3000A 6000A 的加熱電流并持續(xù)IOms IOOms后停止通電;步驟四、將所述待測工件3冷卻2s 5s ;步驟五、通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3通入5000A 10000A的電流,并 測量待測工件3兩端的電壓值和通入待測工件3的電流值;步驟六、根據(jù)步驟五獲得的電壓值和電流值,計(jì)算獲得待測工件3的電阻值。待測工件3與正電極1的接觸面、待測工件3與負(fù)電極2的接觸面之間均固定有 一個(gè)高度為0. Imm的銀墊片6。步驟五中測量待測工件3兩端的電壓值是通過電壓測量電路4實(shí)現(xiàn)的。步驟五中所述測量通入待測工件3的電流值是通過羅氏線圈電流傳感器5實(shí)現(xiàn) 的。步驟五通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3通入5000A 10000A的電流是由 中頻逆變電源提供的。本實(shí)施方式所述的中頻逆變電源能夠?qū)崿F(xiàn)對電流大小和時(shí)間的精確控制。工作原理結(jié)合圖1說明本發(fā)明的工作原理,圖中標(biāo)記1為正電極、2為負(fù)電極、3 是待測工件、4為電壓測量電路、5為電流互感器、6是高度為0. Imm的銀墊片、F為施加的壓 力。本發(fā)明在通電測量之前,首先施加向待測量工作施加一個(gè)壓力,待到壓力穩(wěn)定下來以后 再使待測工件通過一個(gè)較小的預(yù)熱電流,這樣可以借助電極壓力以及電流的產(chǎn)熱使電極和 觸頭的接觸狀況更加良好,完全消除界面接觸電阻對待測工件的電阻的影響。由于預(yù)熱電 流產(chǎn)生的熱量致使觸頭和電極溫度的上升,這樣會(huì)導(dǎo)致觸頭的電阻值變大,因此需要在保 持壓力的條件下冷卻至室溫后再進(jìn)行測量。測量電阻的基本方法是使電阻通過一個(gè)電流,從而將電阻測量轉(zhuǎn)化為電壓信號的 測量。但是考慮到普通的恒流源無法提供所需要的大電流,因此該測量方法利用中頻逆變 電阻焊機(jī)使觸頭通過一個(gè)大的電流,從而將電阻的測量轉(zhuǎn)化為電壓的測量,電流值可以通 過電流傳感器讀出,進(jìn)而可以通過計(jì)算來換算出待測工件的電阻。電流和壓力的具體數(shù)值 可以根據(jù)具體的觸頭來確定。同時(shí),本發(fā)明在電極與觸頭之間增加一層0. Imm銀墊片6,由于銀片質(zhì)地很柔軟, 大大的改善電極與觸頭之間的接觸狀況,并且由于銀片的電阻非常小,從而減小了界面的 接觸電阻。本發(fā)明不僅克服了電工觸頭微電阻測試的精確度問題,還克服了界面接觸電阻帶 來的影響,操作方便,可以很好的應(yīng)用于現(xiàn)場的自動(dòng)化工業(yè)生產(chǎn)。另外,這種方法不僅可以 對焊接后的工件進(jìn)行無損檢測,而且可以對觸頭和觸橋進(jìn)行單獨(dú)的電阻測量,從而判斷單 個(gè)工件的質(zhì)量,甚至可以擴(kuò)大至很多微電阻設(shè)施的測量。
具體實(shí)施方式
二、本具體實(shí)施方式
與具體實(shí)施方式
一所述的一種電工觸頭微電阻 的測量方法的區(qū)別在于,步驟二中通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3施加的壓力為 3KN 5KN。
具體實(shí)施方式
三、本具體實(shí)施方式
與具體實(shí)施方式
一所述的一種電工觸頭微電阻 的測量方法的區(qū)別在于,步驟三中通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3通入的加熱電流 為 1000A 5000A。
具體實(shí)施方式
四、本具體實(shí)施方式
與具體實(shí)施方式
一所述的一種電工觸頭微電阻 的測量方法的區(qū)別在于,步驟三中通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3通入的加熱電流 為 2000A 4000A。
具體實(shí)施方式
五、本具體實(shí)施方式
與具體實(shí)施方式
一所述的一種電工觸頭微電阻 的測量方法的區(qū)別在于,步驟五中通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3通入的電流為 6000A 9000A。
具體實(shí)施方式
六、本具體實(shí)施方式
與具體實(shí)施方式
一所述的一種電工觸頭微電阻 的測量方法的區(qū)別在于,步驟五中通過正電極1和負(fù)電極2向待測工件3通入的電流為 7000A 8000A。
權(quán)利要求
一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征是它由以下步驟實(shí)現(xiàn)步驟一、將電工觸頭作為待測工件(3),將所述待測工件(3)水平固定在正電極(1)和負(fù)電極(2)之間;步驟二、向待測工件(3)施加方向?yàn)樨Q直向下、大小為2KN~6KN的壓力;步驟三、在壓力穩(wěn)定后,通過正電極(1)和負(fù)電極(2)向待測工件(3)通入3000A~6000A的加熱電流并持續(xù)10ms~100ms后停止通電;步驟四、將所述待測工件(3)冷卻2s~5s;步驟五、通過正電極(1)和負(fù)電極(2)向待測工件(3)通入5000A~10000A的電流,并測量待測工件(3)兩端的電壓值和通入待測工件(3)的電流值;步驟六、根據(jù)步驟五獲得的電壓值和電流值,計(jì)算獲得待測工件(3)的電阻值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,待測工件(3) 與正電極(1)的接觸面、待測工件(3)與負(fù)電極(2)的接觸面之間均固定有一個(gè)高度為 0. Imm的銀墊片(6)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟五中測 量待測工件(3)兩端的電壓值是通過電壓測量電路(4)實(shí)現(xiàn)的。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟五中所 述測量通入待測工件(3)的電流值是通過羅氏線圈電流傳感器(5)實(shí)現(xiàn)的。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟五通過 正電極(1)和負(fù)電極(2)向待測工件(3)通入5000A 10000A的電流是由中頻逆變電源 提供的。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟二中通 過正電極(1)和負(fù)電極⑵向待測工件⑶施加的壓力為3KN 5KN。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟三中通 過正電極(1)和負(fù)電極⑵向待測工件⑶通入的加熱電流為1000A 5000A。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟三中通 過正電極⑴和負(fù)電極(2)向待測工件(3)通入的加熱電流為2000A 4000A。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟五中通 過正電極⑴和負(fù)電極(2)向待測工件(3)通入的電流為6000A 9000A。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電工觸頭微電阻的測量方法,其特征在于,步驟五中通 過正電極⑴和負(fù)電極(2)向待測工件(3)通入的電流為7000A 8000A。
全文摘要
一種電工觸頭微電阻的測量方法,涉及一種電工觸頭電阻的測量方法。它解決了現(xiàn)有電工觸頭電阻的測量方法由于各界面的接觸電阻較大導(dǎo)致其測量精度低的問題。其方法是一、將電工觸頭作為待測工件,將所述待測工件固定在正電極和負(fù)電極之間;二、向待測工件施加2KN~6KN的壓力;三、在壓力穩(wěn)定后,向待測工件通入3000A~6000A的加熱電流并持續(xù)10ms~100ms后停止通電;四、將所述待測工件冷卻2s~5s;五、向待測工件通入5000A~10000A的電流,并測量待測工件兩端的電壓值和通入待測工件的電流值;六、計(jì)算獲得待測工件的電阻值。本發(fā)明適用于電工觸頭微電阻的測量。
文檔編號G01R27/08GK101975890SQ20101052253
公開日2011年2月16日 申請日期2010年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2010年10月28日
發(fā)明者張忠典, 朱世良, 李冬青, 梅冬勝, 湯有良, 羅斌, 邱建明 申請人:哈爾濱工業(yè)大學(xué)