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      電磁抗擾度測試設(shè)備的制作方法

      文檔序號:5892930閱讀:222來源:國知局
      專利名稱:電磁抗擾度測試設(shè)備的制作方法
      技術(shù)領(lǐng)域
      本實用新型涉及一種測試設(shè)備,尤其涉及一種電磁抗擾度測試設(shè)備。
      背景技術(shù)
      當電子產(chǎn)品受到電磁干擾時,可能會影響其正常運作。因此,許多電子產(chǎn)品須接受 電磁抗擾度測試,以確保其抗靜電放電干擾的能力。具體來說,電磁抗擾度測試包含了工頻 磁場(PFMF)測試、電性快速突波(EFT,ElectricalFast Transient)測試、雷擊(Surge)測 試、射頻傳導(CS)測試及電壓跌落及中斷(Dips)測試等。當對電子產(chǎn)品依序進行上述各種測試時,需不斷重新安排測試件(電子產(chǎn)品)與 測試設(shè)備,或?qū)y試件從一測試平臺移至另一測試平臺以進行另一測試,因此會耗費較多 時間。此外,過多的測試平臺會占據(jù)測試環(huán)境較多的配置空間。

      實用新型內(nèi)容本實用新型提供一種電磁抗擾度測試設(shè)備,可節(jié)省測試時間。本實用新型提出一種電磁抗擾度測試設(shè)備,適于對電子裝置進行電磁抗擾度測 試。這種電磁抗擾度測試設(shè)備包括承載座、支撐結(jié)構(gòu)、測試平臺、至少一支撐滑塊及工頻磁 場測試機器。支撐結(jié)構(gòu)配置在承載座上。測試平臺具有前端及后端且承載電子裝置,其中后 端配置在支撐結(jié)構(gòu)上,前端懸在承載座上方,前端面對承載座的表面具有至少一滑槽,滑槽 具有第一端及第二端,滑槽在第一端的深度小于滑槽在第二端的深度。支撐滑塊滑設(shè)于滑 槽,其中支撐滑塊滑動至第一端而接觸承載座,或滑動至第二端而與承載座之間具有間距, 感應(yīng)線圈越過該間距而套設(shè)于該前端。工頻磁場(PFMF)測試機器配置在承載座上而鄰近 測試平臺。在本實用新型的一實施例中,上述的電磁抗擾度測試設(shè)備還包括接地螺絲,配置 在承載座上。在本實用新型的一實施例中,上述的電磁抗擾度測試設(shè)備還包括置物平臺,配置 在承載座下方。在本實用新型的一實施例中,上述的至少一滑槽包括兩滑槽,該至少一支撐滑塊 包括兩支撐滑塊,當兩支撐滑塊分別位于兩對應(yīng)的第一端時,支撐結(jié)構(gòu)與兩支撐滑塊共同 支撐測試平臺。在本實用新型的一實施例中,上述的兩第一端分別位于前端相對的兩側(cè)邊,兩第 二端位于前端的中間區(qū)域且相鄰。在本實用新型的一實施例中,上述的電磁抗擾度測試設(shè)備還包括電性快速突波 (EFT, Electrical Fast Transient)測試機器,配置在承載座上而鄰近測試平臺。在本實用新型的一實施例中,上述的電磁抗擾度測試設(shè)備還包括雷擊(Surge)測 試機器,配置在承載座上而鄰近測試平臺。在本實用新型的一實施例中,上述的電磁抗擾度測試設(shè)備還包括射頻傳導(CS)測試機器,配置在承載座上而鄰近測試平臺。在本實用新型的一實施例中,上述的電磁抗擾度測試設(shè)備還包括電壓跌落及中斷 (Dips)測試機器,配置在承載座上而鄰近測試平臺?;谏鲜?,本實用新型的測試平臺具有滑槽,且滑槽在第一端及第二端具有不同 深度,因此滑設(shè)于滑槽的支撐滑塊可滑動至第一端而接觸承載座,以與支撐結(jié)構(gòu)共同支撐 測試平臺,支撐滑塊也可滑動至第二端而與承載座之間具有間距,以便于使用者將用于進 行工頻磁場測試的感應(yīng)線圈套設(shè)至測試平臺。借此,當使用者在此測試平臺依序進行工頻 磁場測試與其它種類的電磁抗擾度測試時,不需將測試平臺抬離承載座就可將感應(yīng)線圈套 設(shè)于測試平臺或從測試平臺取下,進而節(jié)省整體測試時間。為讓本實用新型的上述特征和優(yōu)點能更明顯易懂,下文特舉實施例,并配合附圖 作詳細說明如下。

      [0016]圖1為本實用新型一實施例的電磁抗擾度測試設(shè)備的立體圖。[0017]圖2A及圖2B為圖1的電磁抗擾度測試設(shè)備沿視角V的作動示意圖。[0018]圖3為圖2B的電磁抗擾度測試設(shè)備的部分結(jié)構(gòu)立體圖。[0019]附圖標記[0020]50 電子裝置;60 感應(yīng)線圈;[0021]100電磁抗擾度測試設(shè)備;110 承載座;[0022]120支撐結(jié)構(gòu);130 測試平臺;[0023]132前端;132a 滑槽;[0024]134后端;140 工頻磁場測試機器;[0025]150支撐滑塊;160 接地螺絲;[0026]170置物平臺;D 方向;[0027]El 笛一雜 弟 犧;E2 第._ 端;[0028]G 間距;V:視角。
      具體實施方式
      圖1為本實用新型一實施例的電磁抗擾度測試設(shè)備的立體圖。請參考圖1,本實 施例的電磁抗擾度測試設(shè)備100適于對電子裝置50進行電磁抗擾度測試。電磁抗擾度測 試設(shè)備100包括承載座110、支撐結(jié)構(gòu)120、測試平臺130及工頻磁場測試機器140。支撐 結(jié)構(gòu)120配置在承載座110上。測試平臺130配置在支撐結(jié)構(gòu)120上且承載電子裝置50。 工頻磁場測試機器140配置在承載座110上而鄰近測試平臺130,以透過感應(yīng)線圈60對電 子裝置50進行工頻磁場測試。本實施例的承載座110的材質(zhì)例如為銅、鋁或其它適當金屬 材料,而測試平臺130的材質(zhì)例如為絕緣材質(zhì)。圖2A及圖2B為圖1的電磁抗擾度測試設(shè)備沿視角V的作動示意圖。請先參考圖 1、圖2A及圖2B,測試平臺130具有前端132及后端134,后端134配置在支撐結(jié)構(gòu)120上, 前端132懸在承載座110上方,且前端132面對承載座110的表面具有至少一滑槽132a (示 為兩個),各滑槽132a具有第一端El及第二端E2,滑槽132a在第一端El的深度小于滑槽在第二端E2的深度。電磁抗擾度測試設(shè)備100還包括至少一支撐滑塊150 (示為兩個)。各支撐滑塊 150分別滑設(shè)于滑槽132a,其中支撐滑塊150適于沿滑槽132a滑動至第一端El而接觸承 載座110 (如圖1及圖2A所示),或沿滑槽132a滑動至第二端E2而與承載座110之間具有 間距G(如圖2B所示)。圖3為圖2B的電磁抗擾度測試設(shè)備的部分結(jié)構(gòu)立體圖。通過上述配置方式,當使 用者欲將感應(yīng)線圈60套設(shè)于測試平臺130以便于對電子裝置進行工頻磁場測試時,可將支 撐滑塊150滑動至滑槽132a的第二端E2 (如圖2B及圖3所示),以使圖3中的感應(yīng)線圈60 可沿方向D越過間距G(標示在圖2B)而移至圖1所示位置以套設(shè)于測試平臺130的前端 132。在感應(yīng)線圈60套設(shè)于測試平臺130之后,使用者可將支撐滑塊150滑動至滑槽132a 的第一端El (如圖1及圖2A所示),以使支撐滑塊150與支撐結(jié)構(gòu)120共同支撐測試平臺 130。此外,當使用者欲將感應(yīng)線圈60從測試平臺130取下時,可先將支撐滑塊150滑 動至滑槽132a的第二端E2,以使套設(shè)于測試平臺130的感應(yīng)線圈60可越過間距G(標示在 圖2B)而如圖3所示移離測試平臺130。通過上述配置方式,當使用者在測試平臺130依序進行工頻磁場測試與其它種類 的電磁抗擾度測試時,不需將測試平臺130抬離承載座110就可將感應(yīng)線圈60套設(shè)于測試 平臺130或從測試平臺130取下,進而節(jié)省整體測試時間。值得注意的是,本實施例的兩滑 槽132a的兩第一端El分別位于測試平臺130的前端132相對的兩側(cè)邊,而兩滑槽132a的 兩第二端E2位于測試平臺130的前端132的中間區(qū)域且相鄰,以使兩支撐滑塊150分別位 于兩第一端El時可穩(wěn)固地與支撐結(jié)構(gòu)120共同支撐測試平臺130。請參考圖1及圖3,在本實施例中,電磁抗擾度測試設(shè)備100還包括接地螺絲160, 接地螺絲160配置在承載座110上,以使承載座110在測試時可透過接地螺絲160進行接 地。此外,本實施例中的電磁抗擾度測試設(shè)備100還包括置物平臺170,置物平臺170配置 在承載座110下方,使用者可將各種測試所需器材(未示出)擺放在置物平臺170。當使用者欲對電子裝置50進行其它種類的電磁抗擾度測試時,可在承載座110配 置其它種類的測試機器。舉例而言,可在承載座110上配置電性快速突波測試機器、雷擊測 試機器、射頻傳導測試機器或電壓跌落及中斷測試機器,以對電子裝置50進行電性快速突 波測試、雷擊測試、射頻傳導測試或電壓跌落及中斷測試。值得注意的是,在承載座110的擺放空間足夠的情況下,上述電性快速突波測試 機器、雷擊測試機器、射頻傳導測試機器、電壓跌落及中斷測試機器及圖1中的工頻磁場測 試機器140可同時擺放于承載座110而鄰近測試平臺130,以節(jié)省替換測試機器的時間。此 外,也可將兩種以上的測試整合在同一機器,舉例而言,可將電性快速突波測試及雷擊測試 整合于一電性快速突波測試/雷擊測試機器,或?qū)⒐ゎl磁場測試與電壓跌落及中斷測試整 合于一工頻磁場/電壓跌落及中斷測試機器,以節(jié)省承載座110上的擺放空間。綜上所述,本實用新型的測試平臺具有滑槽,且滑槽在第一端及第二端具有不同 深度,因此滑設(shè)于滑槽的支撐滑塊可滑動至第一端而接觸承載座,以與支撐結(jié)構(gòu)共同支撐 測試平臺,支撐滑塊也可滑動至第二端而與承載座之間具有間距,以便于使用者將用于進 行工頻磁場測試的感應(yīng)線圈套設(shè)至測試平臺。借此,當使用者在此測試平臺依序進行工頻磁場測試與其它種類的電磁抗擾度測試時,不需將測試平臺抬離承載座就可將感應(yīng)線圈套 設(shè)于測試平臺或從測試平臺取下,進而節(jié)省整體測試時間。 雖然本實用新型已以實施例揭示如上,然其并非用于限定本實用新型,任何所屬 技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員,在不脫離本實用新型的精神和范圍內(nèi),當可作些許的更動與潤飾,故 本實用新型的保護范圍當視后附的權(quán)利要求所界定的范圍為準。
      權(quán)利要求一種電磁抗擾度測試設(shè)備,適于對一電子裝置進行電磁抗擾度測試,該電磁抗擾度測試設(shè)備包括一承載座;一支撐結(jié)構(gòu),配置在該承載座上;一測試平臺,具有一前端及一后端且承載該電子裝置,其中該后端配置在該支撐結(jié)構(gòu)上,該前端懸在該承載座上方,該前端面對該承載座的表面具有至少一滑槽,該滑槽具有一第一端及一第二端,該滑槽在該第一端的深度小于該滑槽在該第二端的深度;至少一支撐滑塊,滑設(shè)于該滑槽,其中該支撐滑塊滑動至該第一端而接觸該承載座,或滑動至該第二端而與該承載座之間具有一間距,一感應(yīng)線圈越過該間距而套設(shè)于該前端;以及一工頻磁場測試機器,配置在該承載座上而鄰近該測試平臺。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,還包括一接地螺絲,配置在該承載座上。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,還包括一置物平臺,配置在該承載座 下方。
      4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,其中該至少一滑槽包括兩滑槽,該至 少一支撐滑塊包括兩支撐滑塊,當該兩支撐滑塊分別位于兩對應(yīng)的該第一端時,該支撐結(jié) 構(gòu)與該兩支撐滑塊共同支撐該測試平臺。
      5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,其中該兩第一端分別位于該前端相對 的兩側(cè)邊,該兩第二端位于該前端的中間區(qū)域且相鄰。
      6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,還包括一電性快速突波測試機器,配 置在該承載座上而鄰近該測試平臺。
      7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,還包括一雷擊測試機器,配置在該承 載座上而鄰近該測試平臺。
      8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,還包括一射頻傳導測試機器,配置在 該承載座上而鄰近該測試平臺。
      9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁抗擾度測試設(shè)備,還包括一電壓跌落及中斷測試機器, 配置在該承載座上而鄰近該測試平臺。
      專利摘要本實用新型提供一種電磁抗擾度測試設(shè)備,包括承載座、支撐結(jié)構(gòu)、測試平臺、至少一支撐滑塊及一工頻磁場測試機器。支撐結(jié)構(gòu)配置在承載座上。測試平臺具有前端及后端且承載電子裝置,其中后端配置在支撐結(jié)構(gòu)上,前端懸于承載座上方,前端面對承載座的表面具有至少一滑槽,滑槽具有第一端及第二端,滑槽在第一端的深度小于滑槽在第二端的深度。支撐滑塊滑設(shè)于滑槽,其中支撐滑塊滑動至第一端而接觸承載座,或滑動至第二端而與承載座之間具有間距,感應(yīng)線圈越過該間距而套設(shè)于該前端。工頻磁場測試機器配置在承載座上而鄰近測試平臺。
      文檔編號G01R31/00GK201697984SQ20102022507
      公開日2011年1月5日 申請日期2010年6月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年6月9日
      發(fā)明者劉宏徹, 陳志超 申請人:英業(yè)達股份有限公司
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