專利名稱：棱鏡監(jiān)測裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種定位監(jiān)測裝置。
背景技術：
目前，市面上的監(jiān)測棱鏡結構復雜，體積較大，市場售價較高，再加上根據(jù)具體的 監(jiān)測項目不同，這些監(jiān)測棱鏡通用性較差，很難大范圍推廣。
發(fā)明內(nèi)容本實用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術的不足提供一種結構簡單，使用方便的棱鏡 監(jiān)測裝置。為實現(xiàn)上述目的，本實用新型采取的技術方案為一種棱鏡監(jiān)測裝置，包括有棱 鏡，與棱鏡固連的外殼體，還包括有支撐桿，棱鏡的外殼體通過連接裝置活動連接在支撐桿 上。進一步，所述的連接裝置為與所述支撐桿固連的至少一個螺母。進一步，所述的螺母固定焊接在支撐桿上。進一步，所述的外殼體上設有螺紋，所述螺紋與所述螺母上的螺紋相匹配設置。進一步，所述的連接裝置是在支撐桿上設有的至少一個連接孔。進一步，所述的連接孔內(nèi)設有螺紋。進一步，所述的外殼體上設有螺紋，所述螺紋與連接孔內(nèi)設有的螺紋相匹配設置。由于棱外殼是螺紋連接在支撐桿上，既保證棱鏡的穩(wěn)定性，又可以在監(jiān)測結束回 收棱鏡頭，以備重復利用。進一步，所述的外殼體卡設或粘接在連接孔內(nèi)。這里的連接方式可以是多種的，不 限以上所述幾種。本實用新型的有益效果是1)效率高，如結合測量機器人(智能全站儀)的自動化監(jiān)測功能，效率是常規(guī)方法 的十倍以上；2)精度高，采用較高精度的全站儀完全可以達到mm級精度；3)適用面廣，可應用于各種形狀的基坑及不規(guī)則建(構)筑物水平位移監(jiān)測；4)較為經(jīng)濟，棱鏡頭的循環(huán)利用可大大的節(jié)省成本。

圖1為本實用新型實施例1的側剖視結構示意圖；圖2為本實用新型實施例2的側剖視結構示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖對本實用新型的原理和特征進行描述，所舉實例只用于解釋本實用新型，并非用于限定本實用新型的范圍。實施例1，如圖1所示，一種棱鏡監(jiān)測裝置，包括有棱鏡，與棱鏡固連的外殼體2，還 包括有支撐桿3，棱鏡的外殼體2通過連接裝置活動連接在支撐桿3上。所述的連接裝置 為與所述支撐桿3固連的一個螺母4。所述的螺母4固定焊接在支撐桿3上。所述的外殼 體2上設有螺紋21，所述螺紋與所述螺母上的螺紋相匹配設置，使得外殼體2旋接在螺母4 上。實施例2，如圖2，一種棱鏡監(jiān)測裝置，包括有棱鏡1，與棱鏡1固連的外殼體2，還 包括有支撐桿3，棱鏡的外殼體2通過連接裝置活動連接在支撐桿3上。所述的連接裝置是 在支撐桿3上設有的一個連接孔5，所述的連接孔5內(nèi)設有螺紋。所述的外殼體2上設有螺 紋，所述螺紋與連接孔5內(nèi)設有的螺紋相匹配設置，使得外殼體2旋接在連接孔5內(nèi)。以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，并不用以限制本實用新型，凡在本實用 新型的精神和原則之內(nèi)，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本實用新型的保 護范圍之內(nèi)。
權利要求一種棱鏡監(jiān)測裝置，包括有棱鏡，與棱鏡固連的外殼體，其特征在于，還包括有支撐桿，棱鏡的外殼體通過連接裝置活動連接在支撐桿上。
2.如權利要求1所述的棱鏡監(jiān)測裝置，其特征在于，所述的連接裝置為與所述支撐桿 固連的至少一個螺母。
3.如權利要求2所述的棱鏡監(jiān)測裝置，其特征在于，所述的螺母固定焊接在支撐桿上。
4.如權利要求1至3任一所述的棱鏡監(jiān)測裝置，其特征在于，所述的外殼體上設有螺 紋，所述螺紋與所述螺母上的螺紋相匹配設置。
5.如權利要求1所述的棱鏡監(jiān)測裝置，其特征在于，所述的連接裝置是在支撐桿上設 有的至少一個連接孔。
6.如權利要求5所述的棱鏡監(jiān)測裝置，其特征在于，所述的連接孔內(nèi)設有螺紋。
7.如權利要求1或5或6所述的棱鏡監(jiān)測裝置，其特征在于，所述的外殼體上設有螺 紋，所述螺紋與連接孔內(nèi)設有的螺紋相匹配設置。
8.如權利要求1或5或6所述的棱鏡監(jiān)測裝置，其特征在于，所述的外殼體卡設或粘接 在連接孔內(nèi)。
專利摘要本實用新型涉及一種定位監(jiān)測裝置，包括有棱鏡，與棱鏡固連的外殼體，還包括有支撐桿，棱鏡的外殼體通過連接裝置活動連接在支撐桿上。本實用新型的優(yōu)點是效率高，精度高，采用較高精度的全站儀完全可以達到mm級精度；適用面廣，可應用于各種形狀的基坑及不規(guī)則建(構)筑物水平位移監(jiān)測；較為經(jīng)濟，棱鏡頭的循環(huán)利用可大大的節(jié)省成本。
文檔編號G01B11/02GK201600126SQ201020300099
公開日2010年10月6日 申請日期2010年1月5日 優(yōu)先權日2010年1月5日
發(fā)明者劉衡秋, 周宏磊, 朱國祥, 朱志剛, 殷文彥, 陳國華 申請人:北京市勘察設計研究院有限公司