專利名稱：一種電子元件測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測試裝置，具體涉及的是一種電子元件測試裝置。
背景技術(shù)：
電子產(chǎn)品入庫前需對(duì)電子元件進(jìn)行檢測方可入庫，但因缺少自動(dòng)測試裝置，不能 準(zhǔn)確判斷電子元件是否合格，無法給品管人員提供重要的品質(zhì)根據(jù)。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目在于克服上述不足，提供一種電子元件測試裝置。本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是這樣的一種電子元件測試裝置，采用多諧振蕩 電路作為元件采集的信號(hào)源，其輸出信號(hào)發(fā)送到單片機(jī)控制電路，由單片機(jī)控制電路輸出 控制報(bào)警電路；所述單片機(jī)控制電路與萬年日歷電路組成的數(shù)據(jù)通信電路，其輸出的數(shù)據(jù) 信息經(jīng)單片機(jī)控制電路存入到存儲(chǔ)電路的數(shù)據(jù)庫中。所述單片機(jī)控制電路還連接一鍵盤操作電路，通過鍵盤操作電路輸出的數(shù)據(jù)指令 控制驅(qū)動(dòng)顯示電路。通過采用前述技術(shù)方案，本實(shí)用新型的有益效果是該裝置采用多諧振蕩電路檢 測判斷電子元件的性能，并集中記錄、保存、查詢等為一體，通過顯示、存儲(chǔ)功能，準(zhǔn)確判斷 元件質(zhì)量情況。

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的方框結(jié)構(gòu)示意圖。圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的電路原理圖。
具體實(shí)施方式
以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
來進(jìn)一步說明本實(shí)用新型。如圖1、圖2所示，一種電子元件測試裝置，采用多諧振蕩電路1作為元件采集的信 號(hào)源，所述多諧振蕩電路1由555時(shí)基電路U1、電阻R1、電容Cl等組成，振蕩頻率約為1HZ， 在測試可控硅元件時(shí)，接通開關(guān)T，555時(shí)基電路Ul的第3腳輸出低電平信號(hào)，經(jīng)電阻R4、可 控硅SCR、晶體管VT2形成閉合回路，此時(shí)單片機(jī)ICl的第36腳也呈低電平狀態(tài)，經(jīng)單片機(jī) ICl內(nèi)部程序控制處理分兩路輸出，第一路由單片機(jī)ICl的第38腳輸出低電平信號(hào)，推動(dòng)揚(yáng) 聲器YD發(fā)出“嘀嘀。。?！钡穆曧懀硎敬丝煽刂乒鑃CR為正常元件，第二路輸出由單片機(jī)ICl 的第1、2、3、4腳與顯示芯片IC2的第3、4、5、6腳組成顯示數(shù)據(jù)通信電路，由單片機(jī)ICl發(fā) 出數(shù)據(jù)指令驅(qū)動(dòng)顯示芯片IC2顯示當(dāng)前狀態(tài)。并由單片機(jī)ICl的第沈、6、觀端與萬年日歷 集成芯片IC4的第5、6、7端組成的數(shù)據(jù)通信電路，經(jīng)單片機(jī)ICl內(nèi)部程序判斷讀取萬年日 歷集成芯片IC4的當(dāng)前時(shí)間，通過單片機(jī)ICl的第27J8端與2如02存儲(chǔ)芯片IC3的第5、 6端組成串行通信電路，將所測量數(shù)據(jù)信息存入到2如02存儲(chǔ)芯片IC3的ROM數(shù)據(jù)庫中，由按鍵K1、K2、K3和電阻R7組成鍵盤操作電路24，當(dāng)按下按鍵Kl時(shí)，顯示芯片IC2顯示時(shí)間 閃爍，再按下按鍵Κ2時(shí)單片機(jī)ICl輸出數(shù)據(jù)指令驅(qū)動(dòng)顯示芯片IC2，用于修改與操作、查詢 檢測測量控制硅SCR的狀態(tài)時(shí)間控制指令。 以上顯示和描述了本實(shí)用新型的基本原理和主要特征及其優(yōu)點(diǎn)，本行業(yè)的技術(shù)人 員應(yīng)該了解，本實(shí)用新型不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說明中描述的只是說明本 實(shí)用新型的原理，在不脫離本實(shí)用新型精神和范圍的前提下，本實(shí)用新型還會(huì)有各種變化 和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都落入要求保護(hù)的本實(shí)用新型范圍內(nèi)，本實(shí)用新型要求保護(hù)范圍 由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。
權(quán)利要求1.一種電子元件測試裝置，其特征在于采用多諧振蕩電路(1)作為元件采集的信 號(hào)源，其輸出信號(hào)發(fā)送到單片機(jī)控制電路0)，由單片機(jī)控制電路( 輸出控制報(bào)警電路 (21)；所述單片機(jī)控制電路(2)與萬年日歷電路02)組成的數(shù)據(jù)通信電路，其輸出的數(shù)據(jù) 信息經(jīng)單片機(jī)控制電路( 存入到存儲(chǔ)電路的數(shù)據(jù)庫中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元件測試裝置，其特征在于所述單片機(jī)控制電路 (2)還連接一鍵盤操作電路(M)，通過鍵盤操作電路04)輸出的數(shù)據(jù)指令控制驅(qū)動(dòng)顯示電 路(25)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種電子元件測試裝置，采用多諧振蕩電路作為元件采集的信號(hào)源，其輸出信號(hào)發(fā)送到單片機(jī)控制電路，由單片機(jī)控制電路輸出控制報(bào)警電路；所述單片機(jī)控制電路與萬年日歷電路組成的數(shù)據(jù)通信電路，其輸出的數(shù)據(jù)信息經(jīng)單片機(jī)控制電路存入到存儲(chǔ)電路的數(shù)據(jù)庫中，該裝置采用多諧振蕩電路檢測判斷電子元件的性能，并集中記錄、保存、查詢等為一體，通過顯示、存儲(chǔ)功能，準(zhǔn)確判斷元件質(zhì)量情況。
文檔編號(hào)G01R31/00GK201926725SQ201020692300
公開日2011年8月10日 申請(qǐng)日期2010年12月31日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月31日
發(fā)明者傅清河, 黃飛鶴 申請(qǐng)人:黃飛鶴