專(zhuān)利名稱(chēng)：測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)及方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)及方法，尤其涉及一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)及方法。
背景技術(shù)：
在執(zhí)行自動(dòng)化測(cè)試時(shí)，機(jī)械手臂得到了廣泛的應(yīng)用。目前，控制機(jī)械手臂測(cè)試待測(cè)物需提前選擇一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)定位點(diǎn)，以該定位點(diǎn)為基準(zhǔn)位置，尋找測(cè)試點(diǎn)，以測(cè)試物體。然而，在實(shí)際工作中，由于長(zhǎng)時(shí)間的操作、長(zhǎng)距離的移動(dòng)機(jī)械手臂，使得機(jī)械手臂累積了許多誤差， 這些誤差常會(huì)造成機(jī)械手臂的誤操作，輕則影響生產(chǎn)效率，重則危害操作人員的生命安全。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于以上內(nèi)容，有必要提供一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其無(wú)需自行計(jì)算線路的長(zhǎng)度，可避免許多無(wú)法細(xì)算及小數(shù)點(diǎn)進(jìn)位的問(wèn)題，提升了測(cè)試的準(zhǔn)確度，及排除了由于測(cè)不準(zhǔn)而破壞探針的問(wèn)題。還有必要提供一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法，其無(wú)需自行計(jì)算線路的長(zhǎng)度，可避免許多無(wú)法細(xì)算及小數(shù)點(diǎn)進(jìn)位的問(wèn)題，提升了測(cè)試的準(zhǔn)確度，及排除了由于測(cè)不準(zhǔn)而破壞探針的問(wèn)題。一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)，包括設(shè)置模塊，用于在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個(gè)定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入模塊，用于導(dǎo)入電路板的各線路名稱(chēng)、各線路上的測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱(chēng)、測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個(gè)列表中；計(jì)算模塊，用于接收用戶于所述列表中選取的線路名稱(chēng)，載入該線路上的測(cè)試點(diǎn)，計(jì)算各測(cè)試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較模塊，用于比較上述各測(cè)試點(diǎn)與距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個(gè)最小距離值；優(yōu)化排序模塊，用于以構(gòu)成所述最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測(cè)試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對(duì)上述各測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及記錄模塊，用于將所述優(yōu)化排序后的測(cè)試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測(cè)線路列表中。一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法，包括以下步驟在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個(gè)定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)的最大距離 ’導(dǎo)入電路板的各線路名稱(chēng)、各線路上的測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱(chēng)、 測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個(gè)列表中；接收用戶于所述列表中選取的線路名稱(chēng)，載入該線路上的測(cè)試點(diǎn)，計(jì)算各測(cè)試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較上述各測(cè)試點(diǎn)與距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個(gè)最小距離值； 以構(gòu)成該最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測(cè)試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對(duì)上述各測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及將優(yōu)化排序后的測(cè)試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測(cè)線路列表中。相較于現(xiàn)有技術(shù)，所述測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)及方法，其可對(duì)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行查找與優(yōu)化排序，并按照該優(yōu)化排序控制機(jī)械手臂上的探針自動(dòng)地查找各測(cè)試點(diǎn)，以完成精確測(cè)試電路板的目的，避免了機(jī)械手臂由于長(zhǎng)時(shí)間長(zhǎng)距離的移動(dòng)所造成的誤差，及排除了由于測(cè)不準(zhǔn)而破壞探針的問(wèn)題。


圖I是本發(fā)明測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)較佳實(shí)施例的運(yùn)行環(huán)境示意圖。圖2是圖I中測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)的功能模塊圖。圖3是本發(fā)明測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法較佳實(shí)施例的作業(yè)流程圖。主要元件符號(hào)說(shuō)明
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)包括設(shè)置模塊，用于在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個(gè)定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入模塊，用于導(dǎo)入電路板的各線路名稱(chēng)、各線路上的測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱(chēng)、測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個(gè)列表中；計(jì)算模塊，用于接收用戶于所述列表中選取的線路名稱(chēng)，載入該線路上的測(cè)試點(diǎn)，計(jì)算各測(cè)試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較模塊，用于比較上述各測(cè)試點(diǎn)與距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個(gè)最小距離值；優(yōu)化排序模塊，用于以構(gòu)成所述最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測(cè)試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對(duì)上述各測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及記錄模塊，用于將所述優(yōu)化排序后的測(cè)試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測(cè)線路列表中。
2.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，所述計(jì)算模塊還用于計(jì)算上述各個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間的距離。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，該系統(tǒng)還包括控制模塊，用于控制機(jī)械手臂測(cè)試上述待測(cè)線路列表中第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)上的待測(cè)物體，根據(jù)第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的位置、所述優(yōu)化排序及上述計(jì)算出的測(cè)試點(diǎn)間的距離確定下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的相對(duì)位置，并測(cè)試該下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)上的待測(cè)物體，直至測(cè)試完所述待測(cè)線路列表中各測(cè)試點(diǎn)上的待測(cè)物體。
4.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，所述優(yōu)化排序模塊是依據(jù)各測(cè)試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離由小到大或由大到小的順序?qū)ι鲜龈鳒y(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序。
5.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)，其特征在于，所述記錄模塊還用于當(dāng)上述各測(cè)試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離超過(guò)所設(shè)置的最大距離時(shí)，發(fā)出超范圍警報(bào)，并將該測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入所述基準(zhǔn)點(diǎn)的超出范圍列表中。
6.一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法，其特征在于，該方法包括如下步驟在電路板的電路圖上建立空間坐標(biāo)系，并在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個(gè)定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入電路板的各線路名稱(chēng)、各線路上的測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值，并將該導(dǎo)入的線路名稱(chēng)、測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入一個(gè)列表中；接收用戶于所述列表中選取的線路名稱(chēng)，載入該線路上的測(cè)試點(diǎn)，計(jì)算各測(cè)試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較上述各測(cè)試點(diǎn)與距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)間的距離值，找出一個(gè)最小距離值； 以構(gòu)成該最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測(cè)試點(diǎn)與該基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對(duì)上述各測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序；及將優(yōu)化排序后的測(cè)試點(diǎn)存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的待測(cè)線路列表中。
7.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法，其特征在于，該方法還包括當(dāng)上述各測(cè)試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離超過(guò)所設(shè)置的最大距離時(shí)，發(fā)出超范圍警報(bào)；及將該測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值存入該基準(zhǔn)點(diǎn)的超出范圍列表中。
8.如權(quán)利要求6所述的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法，其特征在于，所述優(yōu)化排序是指依據(jù)各測(cè)試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離由小到大或由大到小的順序?qū)ι鲜龈鳒y(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序。
9.如權(quán)利要求6或8所述的測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法,其特征在于,該方法還包括:(a)計(jì)算上述各個(gè)測(cè)試點(diǎn)之間的距離；(b)控制機(jī)械手臂測(cè)試所述待測(cè)線路列表中第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)上的待測(cè)物體'及(c)根據(jù)第一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的位置、所述優(yōu)化排序及上述計(jì)算出的測(cè)試點(diǎn)間的距離確定下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)的相對(duì)位置，并測(cè)試該下一個(gè)測(cè)試點(diǎn)上的待測(cè)物體，直到測(cè)試完上述待測(cè)線路列表中各測(cè)試點(diǎn)上的待測(cè)物體。
全文摘要
一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化方法，包括以下步驟在該空間坐標(biāo)系內(nèi)設(shè)置至少一個(gè)定位點(diǎn)，及設(shè)置定位點(diǎn)到測(cè)試點(diǎn)的最大距離；導(dǎo)入電路板的各線路名稱(chēng)、各線路上的測(cè)試點(diǎn)及各測(cè)試點(diǎn)的坐標(biāo)值；接收用戶選取的線路名稱(chēng)，載入該線路上的測(cè)試點(diǎn)，計(jì)算各測(cè)試點(diǎn)到各定位點(diǎn)的距離，以查找到距離各測(cè)試點(diǎn)最近的定位點(diǎn)；比較各測(cè)試點(diǎn)與其最近的定位點(diǎn)間的距離，找出一個(gè)最小距離值；以構(gòu)成該最小距離值的定位點(diǎn)為基準(zhǔn)點(diǎn)，依據(jù)各測(cè)試點(diǎn)與基準(zhǔn)點(diǎn)間的距離遠(yuǎn)近對(duì)各測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行優(yōu)化排序并存儲(chǔ)該優(yōu)化排序后的測(cè)試點(diǎn)。本發(fā)明還提供一種測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)查找與優(yōu)化系統(tǒng)。利用本發(fā)明可提高測(cè)試精度。
文檔編號(hào)G01B21/04GK102607491SQ201110022769
公開(kāi)日2012年7月25日 申請(qǐng)日期2011年1月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月20日
發(fā)明者李昇軍, 梁獻(xiàn)全, 許壽國(guó) 申請(qǐng)人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司