專利名稱：一種軸速檢測裝置的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及速度檢測裝置，尤其是一種利用紅外技術對軸速進行檢測的裝置。
背景技術：
在一些機械、交通、發(fā)動機、機床等技術領域，設備中部件的轉速的數值似乎需要進行控制的。當設備中的不見轉動太快時會引起部件或其它不見設備的損壞，轉速過慢時滿足不了設備的需要。在一些精細設備上，比如數控機床，在加工的零件一般都是要求精加工的，這些數控機床對加工軸的轉速是需要精確控制的，對軸進行精確控制就需要對軸的轉速進行精確的檢測。還有一些測速的設備，比如車速的測量，也是靠檢測車軸的轉速進行計算的?，F有的一些軸速檢測裝置，是在軸承與軸承座間設置機械彈觸部件，通過彈性部件觸發(fā)計數裝置對軸承的轉速進行轉速檢測。這種機械彈觸部件磨損很大，需要經常更換這種機械彈觸部件，造成制造與使用維護成本比較高；由于磨損，也會降低檢測的精度。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的是提供一種軸速檢測裝置，利用紅外計數，通過計算在規(guī)定的時間內接受到的紅外光的次數計算軸速。為了達到以下目的，本發(fā)明采用以下技術方案
一種軸速檢測裝置，包括紅外發(fā)光部分和紅外檢測計數部分，紅外發(fā)光部分包括至少一個紅外發(fā)光頭，所述紅外發(fā)光頭置于軸承側表面；紅外檢測計數部分，包括與紅外發(fā)光頭對應數量的紅外探測頭、計數器，還包括一 MCU、一顯示裝置，紅外探頭與紅外發(fā)光頭對應設置；計數器的輸入端與紅外探測頭的輸出端連接，對接收到的紅外光次數進行計數，并將計數結果送至MCU ；MCU的輸入端口與計數器的輸出端口連接，接收計數器的計數值，并驅動顯示裝置顯示計數值。本發(fā)明的技術方案中，所述紅外發(fā)光頭的數為2 4個。作為優(yōu)選，所述紅外光發(fā)光頭為優(yōu)選為2個。本發(fā)明的技術方案中，所述MCU包括但不限于單片機、FPGA、DSP、專用IC的任一種。本發(fā)明的技術方案中，所述限制裝置包括但不限于七段數碼管顯示裝置、LED顯示器、液晶顯示器中的任一種顯示裝置。本發(fā)明的技術方案中，作為優(yōu)選，還包括計時器，所述計時器的輸出端與計數器的清零端連接，在規(guī)定的計時滿足時將計數器的計數值清零。所述計時器的輸出端與MCU的一個輸入端連接。本發(fā)明的有益技術效果本發(fā)明不使用機械彈觸部件，而是采用在待測軸上設置紅外發(fā)光部分，并設置有紅外檢測計數部分；紅外發(fā)光部分的紅外發(fā)光頭設置在待測軸的外側面上，與紅外發(fā)光頭對應設置的紅外檢測頭在每次檢測紅外光以后就使技術器計數一次，MCU接受計數器的計數值計算軸轉速并驅動顯示裝置顯示計算出來的軸轉速。由于沒有機械的磨損，紅外器件的使用壽命又比較長，紅外檢測技術比較成熟，因此使用維護成本比較低，檢測效率和準確度比較高。


本發(fā)明將通過例子并參照附圖的方式說明，其中 圖1是本發(fā)明軸速檢測裝置的實施例一的原理圖。圖2是本發(fā)明軸速檢測裝置的實施例二的原理圖。圖3是本發(fā)明軸速檢測裝置的實施例三的原理圖。圖中附圖標記說明:110、210、310為紅外發(fā)光頭，121、221、321為紅外探測頭， 122、222、322 為計數器，120、220、320 為 MCU，124、224、324 為顯示裝置，223、323 為計時器。
具體實施例方式本說明書中公開的所有特征，或公開的所有方法或過程中的步驟，除了互相排斥的特征和/或步驟以外，均可以以任何方式組合。本說明書(包括任何附加權利要求、摘要和附圖)中公開的任一特征，除非特別敘述，均可被其他等效或具有類似目的的替代特征加以替換。即，除非特別敘述，每個特征只是一系列等效或類似特征中的一個例子而已。在對實施例進行詳細說明之前，先說明下圖中附圖標記110、210、310為紅外發(fā)光頭，121、221、321 為紅外探測頭，122、222、322 為計數器，120,220,320 為 MCU，124、224、 324為顯示裝置，223、323為計時器。實施例一
如圖1，是本發(fā)明的一種軸速檢測裝置的一個實施例的原理圖。一種軸速檢測裝置，包括紅外發(fā)光部分和紅外檢測計數部分，紅外發(fā)光部分包括至少一個紅外發(fā)光頭，所述紅外發(fā)光頭置于軸承側表面；紅外檢測計數部分，包括與紅外發(fā)光頭對應數量的紅外探測頭、計數器，還包括一 MCU、一顯示裝置，紅外探頭與紅外發(fā)光頭對應設置；計數器的輸入端與紅外探測頭的輸出端連接，對接收到的紅外光次數進行計數，并將計數結果送至MCU ；MCU的輸入端口與計數器的輸出端口連接，接收計數器的計數值，并驅動顯示裝置顯示計數值。本發(fā)明的技術方案中，所述紅外發(fā)光頭的數為2 4個。作為優(yōu)選，所述紅外光發(fā)光頭為優(yōu)選為2個。本實施例中以2個紅外發(fā)光頭為例予以說明，想對應的，紅外檢測技術部分包括2個紅外探測頭和兩個計數器。紅外發(fā)光頭設置在軸承的側面外側，跟隨軸承的旋轉而旋轉；與紅外發(fā)光頭相對應的紅外探測頭與紅外發(fā)光頭所處的旋轉平面正對平行。在軸轉動過程中，紅外發(fā)光頭隨軸一起轉動，軸每轉動一圈，紅外探測頭就可以撲捉到一次，沒撲捉到一次代表軸轉動一圈，從而觸發(fā)計數器加1。設置兩個或多個紅外探頭是保證檢測的精確性。UCU接收到計數器的計數值后，通過某時間段內的計數值計算軸的轉速， 并驅動顯示裝置顯示軸轉速值。采用兩個或更多的紅外探測頭，是為了保證探測的精確性， MCU對接收的兩路或更多路的計數值進行均值計算，以得到更準確的轉速值。實施例二
圖2是本發(fā)明一種軸速檢測裝置的另一個實施例的原理圖。是在實施例一的技術上加上一個計時器，計時器與輸出端與計數器的清零端連接，設置計時器的計時時間段值，當計時滿足條件時，向計數器發(fā)送清零指令，此時計數器的技術值清零，從零開始計數。這樣，就可以時MCU接收對計時器設定時間段內的值進行平均計算，得到時間段內的轉速值，可以降低MCU的性能要求，采用一個普通的單片機即可完成軸速檢測的計算工作，因此可以降低成本，電路結構也比較簡單。實施例三
圖3是本發(fā)明一種軸速檢測裝置的又一個實施例的原理圖。是在實施例基礎上做的近一步的改進。計時器的輸出信號同時連接至MCU，在收到計時器的信號時出發(fā)接收計數器清零那刻得值，平時處于非計算狀態(tài)，這樣就近一步降低了 MCU對性能的要求，可以采用普通的單片機實現MCU的功能，并且計算算法簡單，電路結構也簡單。在本發(fā)明的上述三個實施例中，所述MCU包括但不限于單片機、FPGA、DSP、專用IC 的任一種。在本發(fā)明的上述三個實施例中，所述限制裝置包括但不限于七段數碼管顯示裝置、LED顯示器、液晶顯示器中的任一種顯示裝置。本發(fā)明并不局限于前述的具體實施方式
。本發(fā)明擴展到任何在本說明書中披露的新特征或任何新的組合，以及披露的任一新的方法或過程的步驟或任何新的組合。
權利要求
1.一種軸速檢測裝置，其特征在于，包括紅外發(fā)光部分和紅外檢測計數部分， 紅外發(fā)光部分包括至少一個紅外發(fā)光頭，所述紅外發(fā)光頭置于軸承側表面；紅外檢測計數部分，包括與紅外發(fā)光頭對應數量的紅外探測頭、計數器，還包括一 MCU、 一顯示裝置，其中紅外探頭與紅外發(fā)光頭對應設置，計數器的輸入端與紅外探測頭的輸出端連接，對接收到的紅外光次數進行計數，并將計數結果送至MCU，MCU的輸入端口與計數器的輸出端口連接，接收計數器的計數值，并驅動顯示裝置顯示計數值。
2.根據權利要求1所述的軸速檢測裝置，其特征在于，所述紅外發(fā)光頭的數為2 4個。
3.根據權利要求2所述的軸速檢測裝置，其特征在于，所述紅外光發(fā)光頭為2個。
4.根據權利要求1、2或3所述的軸速檢測裝置，其特征在于，所述MCU包括但不限于單片機、FPGA、DSP、專用IC的任一種。
5.根據權利要求1、2或3所述的軸速檢測裝置，其特征在于，所述限制裝置包括但不限于七段數碼管顯示裝置、LED顯示器、液晶顯示器中的任一種顯示裝置。
6.根據權利要求1、2或3所述的軸速檢測裝置，其特征在于，還包括計時器，所述計時器的輸出端與計數器的清零端連接，在規(guī)定的計時滿足時將計數器的計數值清零。
7.根據權利要求6所述的軸速檢測裝置，其特征在于，所述計時器的輸出端與MCU的一個輸入端連接。
全文摘要
本發(fā)明公開一種軸速檢測裝置，包括紅外發(fā)光部分和紅外檢測計數部分，紅外發(fā)光部分包括至少一個紅外發(fā)光頭，所述紅外發(fā)光頭置于軸承側表面；紅外檢測計數部分，包括與紅外發(fā)光頭對應數量的紅外探測頭、計數器，還包括一MCU、一顯示裝置；計數器的輸入端與紅外探測頭的輸出端連接，對接收到的紅外光次數進行計數，并將計數結果送至MCU，MCU的輸入端口與計數器的輸出端口連接，接收計數器的計數值，并驅動顯示裝置顯示計數值。本發(fā)明采用實用壽命時間長且技術成熟的紅外探頭，不會產生機械彈觸部件的摩擦，因此不用經常更換檢測部件，因此使用成本低，檢測精確度高。
文檔編號G01P3/36GK102360022SQ20111016255
公開日2012年2月22日 申請日期2011年9月16日 優(yōu)先權日2011年9月16日
發(fā)明者張宇 申請人:江陰盈譽科技有限公司