專利名稱：四線式pcb測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及PCB測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種四線式PCB測(cè)試治具。
背景技術(shù)：
隨著電子技術(shù)的迅猛發(fā)展，印制線路板(PCB)的制作層數(shù)越來越高、線路密度越來越密、焊盤尺寸越做越小。對(duì)于PCB測(cè)試，待測(cè)的元件內(nèi)阻一般相差較大，有時(shí)可能需要測(cè)量內(nèi)阻上百兆歐姆的元件，有時(shí)可能需要測(cè)量一個(gè)幾毫歐姆的元件，而且PCB板的測(cè)試點(diǎn)多，元件的精度高，因此對(duì)PCB測(cè)試治具產(chǎn)生了更高的要求?，F(xiàn)有的測(cè)試治具，當(dāng)測(cè)量電阻值較大時(shí)，可以保證其測(cè)量精度，但測(cè)量電阻值較小的元件時(shí)，由于測(cè)試儀的測(cè)試探頭線本身有一定的內(nèi)阻，其與待測(cè)電阻值相差較小時(shí)，測(cè)量值會(huì)產(chǎn)生較大的誤差，無法保證測(cè)量的精度。通常情況下，PCB的開短路測(cè)試參數(shù)值中的開路阻抗設(shè)為25 Ω，當(dāng)檢測(cè)的線路阻值大于25 Ω時(shí)，測(cè)試儀判斷為開路，當(dāng)檢測(cè)的線路阻值小于25 Ω時(shí)，測(cè)試儀判斷為合格。故檢測(cè)儀對(duì)于阻值小于25Ω的線路則無法精確測(cè)試出其實(shí)際電阻值，25Ω以下的線路成為測(cè)試盲區(qū)。特別是針對(duì)HDI等高密度手機(jī)板，對(duì)銅厚要求嚴(yán)格，在實(shí)際生產(chǎn)中，PCB的某些缺陷如孔內(nèi)無銅、孔內(nèi)銅薄、孔內(nèi)空洞、線路缺口等等均會(huì)影響到線路阻值；當(dāng)檢測(cè)的線路阻值小于25 Ω，測(cè)試上述缺陷的PCB時(shí)，測(cè)試結(jié)果為合格，導(dǎo)致這些有缺陷的PCB在使用過程發(fā)生開路問題。因此，現(xiàn)有的測(cè)試治具已不能完成對(duì)其進(jìn)行完整測(cè)試，存在測(cè)試盲區(qū)。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于避免現(xiàn)有技術(shù)中的不足之處而提供一種測(cè)試精度高的四線式PCB測(cè)試治具，能夠檢測(cè)線路阻值達(dá)到ΙπιΩ的PCB板的線路缺口等各種開路問題。本實(shí)用新型的目的通過以下技術(shù)措施實(shí)現(xiàn)提供一種四線式PCB測(cè)試治具，包括有底座、壓板及探針，所述探針包括有第一接線端子、第二接線端子、第三接線端子和第四接線端子，所述第一接線端子、第二接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒流源電連接，所述第三接線端子、第四接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒壓源電連接；當(dāng)進(jìn)行PCB測(cè)試時(shí)，所述第一接線端子、第二接線端子的輸入端連接恒流源，所述第一接線端子、第二接線端子的輸出端連接PCB板待測(cè)電阻的兩端構(gòu)成電流供給電路；所述第三接線端子、第四接線端子的輸入端連接連恒壓源，所述第三接線端子、第四接線端子的輸出端連接PCB板待測(cè)電阻的兩端構(gòu)成電壓測(cè)定回路。其中，所述底座鉆設(shè)有與探針相對(duì)應(yīng)的鉆孔，所述探針一端與所述鉆孔內(nèi)的彈性件連接，所述彈性件通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)連接。其中，所述恒壓源為50 250V電壓的電源。其中，所述恒流源為10 IOOmA電流的電源。本實(shí)用新型的有益效果[0014]本實(shí)用新型的四線式PCB測(cè)試治具，包括有底座、壓板及探針，所述探針包括有第一接線端子、第二接線端子、第三接線端子和第四接線端子，所述第一接線端子、第二接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒流源電連接，所述第三接線端子、第四接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒壓源電連接；當(dāng)進(jìn)行PCB測(cè)試時(shí)，所述第一接線端子、第二接線端子的輸入端連接恒流源，所述第一接線端子、第二接線端子的輸出端連接PCB板待測(cè)電阻的兩端構(gòu)成電流供給電路，所述第三接線端子、第四接線端子的輸入端連接連恒壓源，所述第三接線端子、 第四接線端子的輸出端連接PCB板待測(cè)電阻的兩端構(gòu)成電壓測(cè)定回路。應(yīng)用上述四個(gè)接線端子進(jìn)行PCB測(cè)試時(shí)，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都有一個(gè)電流供給電路和電壓測(cè)定回路，所述電流供給電路和電壓測(cè)定回路完全獨(dú)立，由于電壓測(cè)定回路的輸入阻抗極高，使得排線阻抗和接觸阻抗得以完全忽略，從而PCB板待測(cè)電阻可以精密地測(cè)定出來，測(cè)試精度能達(dá)到1 πιΩ。

利用附圖對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步說明，但附圖中的內(nèi)容不構(gòu)成對(duì)本實(shí)用新型的任何限制。圖1為本實(shí)用新型的四線式PCB測(cè)試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。圖2為本實(shí)用新型的四線式PCB測(cè)試治具的電路原理示意圖。圖1至圖2中包括有底座1、壓板2、探針3、PCB板4。
具體實(shí)施方式
結(jié)合以下實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明本實(shí)用新型的四線式PCB測(cè)試治具的實(shí)施例1如圖1、圖2所示，包括有底座1、壓板2及探針3，所述探針3包括有第一接線端子、第二接線端子、第三接線端子和第四接線端子，所述第一接線端子、第二接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒流源電連接，所述第三接線端子、第四接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒壓源電連接。如圖2所示，其中，R1、R2、R3、R4為饋線電阻，Rpcb為待測(cè)電阻，Il為電流供給電路的電流，12為電壓測(cè)定回路的電流。當(dāng)進(jìn)行PCB測(cè)試時(shí)，所述第一接線端子、第二接線端子的輸入端連接恒流源，所述第一接線端子、第二接線端子的的輸出端連接PCB板4待測(cè)電阻Rpcb的兩端構(gòu)成電流供給電路，所述第三接線端子、第四接線端子的輸入端連接連恒壓源，所述第三接線端子、第四接線端子的輸出端連接PCB板4待測(cè)電阻Rpcb的兩端構(gòu)成電壓測(cè)定回路。應(yīng)用上述四個(gè)接線端子進(jìn)行PCB測(cè)試時(shí)，每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都有一個(gè)電流供給電路和電壓測(cè)定回路，所述電流供給電路和電壓測(cè)定回路完全獨(dú)立，由于電壓測(cè)定回路的輸入阻抗極高，使得流過電壓測(cè)定回路的電流12極小，近似為零，排線阻抗和接觸阻抗得以完全忽略，從而PCB板測(cè)試點(diǎn)的待測(cè)電阻值Rpcb可以精密地測(cè)定出來，解決了 PCB板因孔內(nèi)無銅、 孔內(nèi)銅薄、孔內(nèi)空洞以及線路缺口等不良造成的開路問題。本實(shí)施例中，所述恒壓源為50 250V電壓的電源，所述恒流源為10 IOOmA電流的電源，PCB板待測(cè)電阻值為ΙπιΩ 100Ω，本實(shí)用新型的四線式PCB測(cè)試治具有效地將測(cè)試精度提高到Im Ω。[0025]本實(shí)施例中，所述底座1鉆設(shè)有與探針相對(duì)應(yīng)的鉆孔，所述探針一端與所述鉆孔內(nèi)的彈性件連接，所述彈性件通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)連接。最后應(yīng)當(dāng)說明的是，以上實(shí)施例僅用于說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案而非對(duì)本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限制，盡管參照較佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作了詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)理解，可以對(duì)本實(shí)用新型的技術(shù)方案進(jìn)行修改或者等同替換，而不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的實(shí)質(zhì)和范圍。
權(quán)利要求1.一種四線式PCB測(cè)試治具，包括有底座、壓板及探針，其特征在于所述探針包括有第一接線端子、第二接線端子、第三接線端子和第四接線端子，所述第一接線端子、第二接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒流源電連接，所述第三接線端子、第四接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒壓源電連接；當(dāng)進(jìn)行PCB測(cè)試時(shí)，所述第一接線端子、第二接線端子的輸入端連接恒流源，所述第一接線端子、第二接線端子的輸出端連接PCB板待測(cè)電阻的兩端構(gòu)成電流供給電路；所述第三接線端子、第四接線端子的輸入端連接連恒壓源，所述第三接線端子、第四接線端子的輸出端連接PCB板待測(cè)電阻的兩端構(gòu)成電壓測(cè)定回路。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四線式PCB測(cè)試治具，其特征在于所述底座鉆設(shè)有與探針相對(duì)應(yīng)的鉆孔，所述探針一端與所述鉆孔內(nèi)的彈性件連接，所述彈性件通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的四線式PCB測(cè)試治具，其特征在于所述恒壓源為50 250V 電壓的電源。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的四線式PCB測(cè)試治具，其特征在于所述恒流源為10 IOOmA 電流的電源。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種四線式PCB測(cè)試治具，包括有底座、壓板及探針，所述探針包括有第一接線端子、第二接線端子、第三接線端子和第四接線端子，所述第一接線端子、第二接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒流源電連接，所述第三接線端子、第四接線端子通過導(dǎo)線與測(cè)試機(jī)的恒壓源電連接。應(yīng)用上述四個(gè)接線端子，對(duì)應(yīng)PCB板每個(gè)測(cè)試點(diǎn)都有一個(gè)完全獨(dú)立的電流供給電路和電壓測(cè)定回路，由于電壓測(cè)定回路的輸入阻抗極高，使得排線阻抗和接觸阻抗得以完全忽略，從而PCB板待測(cè)電阻可以精密地測(cè)定出來，其測(cè)試精度能達(dá)到1mΩ。
文檔編號(hào)G01R31/28GK202018494SQ20112007312
公開日2011年10月26日 申請(qǐng)日期2011年3月18日 優(yōu)先權(quán)日2011年3月18日
發(fā)明者蘇寶軍 申請(qǐng)人:東莞市連威電子有限公司