專利名稱：衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種衛(wèi)星自動(dòng)化測試系統(tǒng)，特別是一種適用于衛(wèi)星整星AIT各階段低頻信號(hào)接口測試的系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
衛(wèi)星AIT階段中，綜合測試任務(wù)重，而目前測試數(shù)據(jù)和測試過程完全依賴人工操作，測試信息化和自動(dòng)化水平低，如何提高綜合測試信息化水平和測試效率，降低測試人員勞動(dòng)強(qiáng)度，是綜合測試領(lǐng)域研究的一個(gè)重要課題。衛(wèi)星低頻信號(hào)接口(簡稱低頻接口)測試屬于整星綜合測試一項(xiàng)重要測試內(nèi)容， 也是目前整星綜合測試中自動(dòng)化程度最低的測試項(xiàng)目。隨著衛(wèi)星功能的增加，衛(wèi)星單機(jī)設(shè)備持續(xù)增多，設(shè)備間低頻接口錯(cuò)綜復(fù)雜，然而目前低頻接口測試方法和手段并沒有隨著衛(wèi)星的變化而發(fā)生變化，低頻接口測試時(shí)主要還是人工操作、人工比對(duì)和記錄，測試受人工主觀因素影響較大、測試信息化程度低，測試效率不高。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的技術(shù)解決問題是克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種可靠性高、通用性好的衛(wèi)星低頻接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，適用于整星低頻信號(hào)間的接口測試，同時(shí)也適應(yīng)于整星電纜網(wǎng)和地面測試電纜網(wǎng)的導(dǎo)通絕緣檢查。本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，包括接點(diǎn)切換裝置、示波器、數(shù)字萬用表、監(jiān)控計(jì)算機(jī)和轉(zhuǎn)接電纜；接點(diǎn)切換裝置通過轉(zhuǎn)接電纜與星上設(shè)備連接，監(jiān)控計(jì)算機(jī)分別與接點(diǎn)切換裝置、示波器和萬用表連接；測試時(shí)，監(jiān)控計(jì)算機(jī)分別向接點(diǎn)切換裝置、示波器和萬用表發(fā)送指令，接點(diǎn)切換裝置將當(dāng)前測點(diǎn)與示波器和萬用表同時(shí)接通，接點(diǎn)切換裝置返回繼電器狀態(tài)信息至監(jiān)控計(jì)算機(jī)，同時(shí)示波器和萬用表返回星上設(shè)備的測試數(shù)據(jù)至監(jiān)控計(jì)算機(jī)。所述的接點(diǎn)切換裝置包括兩塊分別用于電纜端和設(shè)備端測量通道切換控制的通道切換板、一塊通道通斷板和一塊控制板；通道切換板共有80個(gè)通道，每一個(gè)通道有兩個(gè)繼電器，分別連接到測量口的正端和負(fù)端；通道通斷板由80個(gè)通道組成，每個(gè)通道設(shè)置一個(gè)連接電纜端和設(shè)備端接點(diǎn)的繼電器；通道通斷板共80個(gè)繼電器，分別連接在通道通斷板和控制板之間形成測量通道；控制板接收監(jiān)控計(jì)算機(jī)的控制指令，同時(shí)將各繼電器的狀態(tài)信息反饋給監(jiān)控計(jì)算機(jī)。所述的通道切換板包括控制FPGA、雙刀雙置繼電器和反饋檢測FPGA ；控制FPGA接收監(jiān)控計(jì)算機(jī)的控制指令，對(duì)控制指令進(jìn)行譯碼，輸出指令脈沖將與待測點(diǎn)對(duì)應(yīng)的雙刀雙置繼電器接通，反饋檢測FPGA檢測控制FPGA的指令信息和雙刀雙置繼電器的狀態(tài)信息，當(dāng)控制FPGA輸出的指令脈沖的唯一且與僅有與待測點(diǎn)相連的雙刀雙置繼電器閉合時(shí)，對(duì)待測點(diǎn)進(jìn)行測量同時(shí)將雙刀雙置繼電器的信息反饋至監(jiān)控計(jì)算機(jī)，否則向監(jiān)控計(jì)算機(jī)發(fā)出異常報(bào)警。[0008]所述的通道通斷板包括控制FPGA、雙刀雙置繼電器和反饋檢測FPGA ；控制FPGA接收監(jiān)控計(jì)算機(jī)的控制指令，對(duì)控制指令進(jìn)行譯碼，輸出指令脈沖將與待測點(diǎn)對(duì)應(yīng)的雙刀雙置繼電器接通，反饋檢測FPGA檢測雙刀雙置繼電器的狀態(tài)信息并反饋至監(jiān)控計(jì)算機(jī)。所述的監(jiān)控計(jì)算機(jī)與接點(diǎn)切換裝置和示波器采用以太網(wǎng)方式進(jìn)行通信。所述的監(jiān)控計(jì)算機(jī)與萬用表采用USB轉(zhuǎn)以太網(wǎng)的方式進(jìn)行通信。本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比的優(yōu)點(diǎn)在于1、本實(shí)用新型低頻接口自動(dòng)測試系統(tǒng)將現(xiàn)有的無源轉(zhuǎn)接盒替換成有源的接點(diǎn)切換裝置，通過接口測試軟件控制接點(diǎn)切換裝置完成接點(diǎn)自動(dòng)切換，接口測試軟件采集測量儀器(萬用表和示波器)的測量結(jié)果并進(jìn)行比對(duì)，比對(duì)正確后保存測試結(jié)果并生成測試報(bào)告，從而提高低頻接口測試的信息化水平和測試效率，并最大限度地降低測試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度和危險(xiǎn)性；2、對(duì)于電纜網(wǎng)的并點(diǎn)，現(xiàn)有方法無法保證逐點(diǎn)遍歷，本實(shí)用新型低頻接口自動(dòng)測試系統(tǒng)采用并點(diǎn)屬性等同于正常測試點(diǎn)的原則，有效的保證了逐點(diǎn)遍歷測量，測試覆蓋性得以提高；3、現(xiàn)有低頻接口測試需要測試人員在星旁進(jìn)行操作，星旁操作危險(xiǎn)性高，人員勞動(dòng)強(qiáng)度大，本實(shí)用新型低頻接口測試系統(tǒng)采用遠(yuǎn)程控制接點(diǎn)切換裝置來完成低頻接口測試，測試人員在測試間內(nèi)即可進(jìn)行，測試人員勞動(dòng)強(qiáng)度大幅降低；4、對(duì)于同一個(gè)接口測試項(xiàng)目，如果進(jìn)行了多次測試，現(xiàn)有測試方法無法保證每次測試的測試條件完全一致，低頻接口測試系統(tǒng)對(duì)每一個(gè)測試項(xiàng)目均按照固定的測試流程進(jìn)行，每次測試的測試條件完全一致，有效地保證了每次測試數(shù)據(jù)的可比性；5、對(duì)于低頻接口測試數(shù)據(jù)判讀，現(xiàn)有的方法完全依賴人工一次判讀，判讀人員往往要依據(jù)經(jīng)驗(yàn)和記憶來進(jìn)行，判讀可靠性受判讀人員主觀因素影響較大，本實(shí)用新型低頻接口自動(dòng)測試系統(tǒng)可以將測試數(shù)據(jù)進(jìn)行歷史查詢，并且可以回放測試過程，數(shù)據(jù)判讀人員可以更準(zhǔn)確的把握當(dāng)時(shí)的測試狀態(tài)，測試數(shù)據(jù)判讀可靠性高。

圖1為本實(shí)用新型測試系統(tǒng)的組成原理圖；圖2為本實(shí)用新型接點(diǎn)切換裝置結(jié)構(gòu)圖；圖3為本實(shí)用新型接點(diǎn)切換裝置的控制原理圖；圖4為本實(shí)用新型接點(diǎn)切換裝置通道切換板工作原理圖；圖5為本實(shí)用新型接點(diǎn)切換裝置通道通斷板工作原理圖；圖6為本實(shí)用新型控制FPGA工作流程圖；圖7為本實(shí)用新型反饋檢測FPGA工作流程圖；圖8為本實(shí)用新型使用示波器測試時(shí)的測試流程圖。
具體實(shí)施方式
如圖1所示，本實(shí)用新型衛(wèi)星低頻信號(hào)接口測試系統(tǒng)由接點(diǎn)切換裝置、示波器、數(shù)字萬用表、監(jiān)控計(jì)算機(jī)和轉(zhuǎn)接電纜組成。監(jiān)控計(jì)算機(jī)與接點(diǎn)切換裝置和示波器采用以太網(wǎng)通信方式，監(jiān)控計(jì)算機(jī)與萬用表采用USB轉(zhuǎn)以太網(wǎng)通信方式。接點(diǎn)切換裝置通過轉(zhuǎn)接電纜與星上設(shè)備連接正確后，監(jiān)控計(jì)算機(jī)分別向接點(diǎn)切換裝置、示波器和萬用表發(fā)送指令，接點(diǎn)切換裝置返回繼電器狀態(tài)信息，示波器和萬用表返回星上設(shè)備的測試數(shù)據(jù)。如圖2所示，接點(diǎn)切換裝置由電路板、蓄電池、內(nèi)置萬用表和接插件組成，蓄電池選用12V/5Ah鋰離子電池；萬用表模塊選擇Agilent U2741A模塊，該模塊直流供電，迷你 USB接口，可配備USB轉(zhuǎn)LAN接口 ；接插件型號(hào)選用⑶1-51ZJ和⑶1-37ZJ。監(jiān)控計(jì)算機(jī)發(fā)送指令到接點(diǎn)切換裝置的控制板，控制板解析指令并產(chǎn)生指令脈沖到目標(biāo)切換板，目標(biāo)切換板繼電器進(jìn)行相應(yīng)動(dòng)作，同時(shí)將繼電器狀態(tài)返回到控制板，控制板將所有繼電器狀態(tài)打包發(fā)送到監(jiān)控計(jì)算機(jī)。監(jiān)控計(jì)算機(jī)判讀繼電器狀態(tài)正確后，讀取示波器或者萬用表測量結(jié)果，從而完成一次測量過程。如圖3所示，接點(diǎn)切換裝置的電路板由兩塊通道切換板(分別用于電纜端和設(shè)備端測量通道的切換控制)、通道通斷板、控制板組成。通道切換板共有80個(gè)通道，每一個(gè)通道有兩個(gè)繼電器，分別連接到測量口的正端和負(fù)端，因此一個(gè)通斷切換板共160個(gè)繼電器。 通道切換板繼電器選用歐姆龍G6K系列非磁保持繼電器，繼電器耐壓AC750V以上，接觸電阻小于ΙΟΟπιΩ，絕緣電阻1000ΜΩ以上，使用壽命5，000萬次以上。通道通斷板由80個(gè)通道組成，每個(gè)通道一個(gè)繼電器，分別連接電纜端和設(shè)備端的接點(diǎn)，通斷板共80個(gè)繼電器。 通斷板繼電器選用歐姆龍G6K系列磁保持繼電器，繼電器耐壓AC750V以上，接觸電阻小于 IOOm Ω，絕緣電阻1000Μ Ω以上，使用壽命5，000萬次以上?？刂瓢暹x用單片機(jī)和FPGA進(jìn)行控制和狀態(tài)采集，單片機(jī)選用Atmegl64型單片機(jī)，F(xiàn)PGA選用altera公司30萬門FPGA。圖4和圖5分別給出了接點(diǎn)切換裝置中，通道切換板和通道通斷板的原理圖。在圖4中，單片機(jī)接收到上位機(jī)指令，經(jīng)過CRC校驗(yàn)分析正確后，將指令數(shù)據(jù)發(fā)送給控制FPGA， 控制FPGA譯碼產(chǎn)生控制脈沖信號(hào)，脈沖信號(hào)經(jīng)過驅(qū)動(dòng)電路后驅(qū)動(dòng)繼電器接通和斷開，同時(shí)將每一個(gè)繼電器狀態(tài)返回到反饋檢測FPGA中，進(jìn)行唯一性判決，唯一性判決分兩步進(jìn)行， 第一步檢查控制FPGA輸出指令脈沖的唯一性，第二步檢測目標(biāo)測量端(正端或者負(fù)端)當(dāng)前處于空閑狀態(tài)(沒有接通任何測量通道)，只有兩步都滿足判決通過，控制FPGA的指令正常輸出。當(dāng)判決不通過時(shí)，F(xiàn)PGA返回異常狀態(tài)到單片機(jī)，單片機(jī)發(fā)送到監(jiān)控計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)報(bào)警提示人工進(jìn)行確認(rèn)。下面以一路繼電器通路為例說明圖4測量通道切換板中的連接關(guān)系。單片機(jī)通過 16位地址總線低8位AD0-AD7和16位數(shù)據(jù)總線低8位D0-D7將指令數(shù)據(jù)發(fā)送到控制FPGA 中，控制FPGA進(jìn)行指令譯碼，同時(shí)反饋檢測FPGA進(jìn)行唯一性判決，判決通過后輸出指令脈沖ql，ql經(jīng)過驅(qū)動(dòng)電路成為Q1，Q1加載到繼電器Dl線圈上，使得繼電器Dl線圈流有電流， 繼電器Dl線圈吸合繼電器Dl觸點(diǎn)，將星上測點(diǎn)nl與測量端口 +連接，星上測點(diǎn)nl由星上測點(diǎn)ml經(jīng)過40mA保險(xiǎn)管得到，由于繼電器Dl為雙刀雙置繼電器，所以當(dāng)繼電器Ql線圈流有電流時(shí)，繼電器Ql的VCC與檢測信號(hào)pi連接，檢測信號(hào)Pl通過電阻R，得到FQl進(jìn)入反饋檢測FPGA進(jìn)行狀態(tài)檢測，檢測結(jié)果通過16位地址總線高8位AD8-AD15和16位數(shù)據(jù)總線高8位D8-D15返回給單片機(jī)。圖4中剩余各路與第一路的工作方式相同。圖5與圖4類似，區(qū)別在于圖5中只控制通道的通斷，接點(diǎn)不接入示波器或者萬用表的測量端口，故不進(jìn)行唯一性判決。另外，該通道繼電器需要長時(shí)間保持一個(gè)狀態(tài)，為了節(jié)省功耗，選用磁保持繼電器。同樣，以一路繼電器通路為例說明圖5中測量通道通斷板的連接關(guān)系。單片機(jī)通過16位地址總線低8位AD0-AD7和16位數(shù)據(jù)總線低8位D0-D7將指令數(shù)據(jù)發(fā)送到控制 FPGA中，控制FPGA譯碼產(chǎn)生指令脈沖ql_S和ql_R，ql_S為繼電器Dl接通線圈控制信號(hào)， ql_R為繼電器Dl斷開線圈控制信號(hào)，ql_S和ql_R經(jīng)過驅(qū)動(dòng)電路后得到Q1_S和Q1_R分別加載到繼電器Dl接通線圈和斷開線圈上，當(dāng)Q1_S為高電平時(shí)，繼電器Dl接通，星上測點(diǎn) ml與星上測點(diǎn)nl接通，代表設(shè)備端和電纜端的1點(diǎn)接通。同時(shí)VCC和檢測信號(hào)pi接通， Pl經(jīng)過電阻R得到FQO送進(jìn)反饋檢測FPGA，F(xiàn)PGA將檢測結(jié)果通過16位地址總線高8位 AD8-AD15和16位數(shù)據(jù)總線高8位D8-D15返回給單片機(jī)。同理，當(dāng)Q1_R為高電平時(shí)，星上測點(diǎn)ml與星上測點(diǎn)nl斷開。圖5中剩余各路與第一路相似。圖6為控制FPGA工作流程圖。控制FPGA在進(jìn)行上電初始化后，循環(huán)檢測單片機(jī)指令，當(dāng)檢測到指令時(shí)，讀取數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)鎖存到寄存器中，然后判讀反饋檢測FPGA返回的狀態(tài)信息，信息正常則譯碼輸出指令脈沖，信息異常則清空寄存器數(shù)據(jù)，返回初始狀態(tài)。圖7為反饋檢測FPGA工作流程圖。反饋檢測FPGA上電初始化后，循環(huán)檢測控制 FPGA輸出I/O端口電平，當(dāng)端口電平高電平唯一或者沒有高電平，則滿足唯一性判決條件， 反饋檢測FPGA輸出控制信號(hào)給后續(xù)指令驅(qū)動(dòng)電路加電，并返回正常信息到控制FPGA，若檢測到控制FPGA輸出端口高電平不唯一，則不滿足唯一性判決條件，反饋檢測FPGA不給后續(xù)驅(qū)動(dòng)電路加電，并將錯(cuò)誤I/O端口返回給單片機(jī)，同時(shí)返回異常信息到控制FPGA。當(dāng)加電正常后，反饋檢測循環(huán)檢測測量繼電器狀態(tài)，如果測量正端同一時(shí)刻有小于或者等于一個(gè)繼電器接通，同時(shí)測量負(fù)端同一時(shí)刻有小于或者等于一個(gè)繼電器接通，則判定繼電器狀態(tài)正確，反饋FPGA將繼電器狀態(tài)信息編碼返回到單片機(jī)，同時(shí)返回正常信息至控制FPGA。圖8為示波器的通用測試流程。上位機(jī)與示波器和萬用表采用Agilent和 Tektronix公開協(xié)議，上位機(jī)和接點(diǎn)切換控制器通信采用動(dòng)態(tài)鏈接庫進(jìn)行通信通信糾錯(cuò)方式采用16bits CRC校驗(yàn)方式。整個(gè)測試流程分為設(shè)置接點(diǎn)切換裝置狀態(tài)確認(rèn)、示波器狀態(tài)設(shè)置、接點(diǎn)切換裝置接點(diǎn)設(shè)置、讀取和處理測試數(shù)據(jù)，以及恢復(fù)接點(diǎn)切換裝置狀態(tài)等步驟組成。在測試開始前，需要確認(rèn)接點(diǎn)切換裝置地址以及所有測量繼電器狀態(tài)，保證所有測量繼電器狀態(tài)均為斷開狀態(tài)。當(dāng)有多個(gè)切換裝置時(shí)，需要分配地址。然后設(shè)置示波器狀態(tài)，根據(jù)測試項(xiàng)目中待測信號(hào)的標(biāo)稱值來設(shè)置示波器橫、縱坐標(biāo)分辨率、觸發(fā)源和觸發(fā)電平等信息，示波器設(shè)置完成后，再根據(jù)測試項(xiàng)目中待測信號(hào)的接點(diǎn)信息對(duì)接點(diǎn)切換裝置進(jìn)行設(shè)置，注意接通接點(diǎn)時(shí)一定是先接通信號(hào)的負(fù)點(diǎn)、地點(diǎn)或回線，然后再接通信號(hào)正線，斷開接點(diǎn)則恰恰相反，先斷信號(hào)正點(diǎn)再斷信號(hào)負(fù)點(diǎn)、地點(diǎn)或回線。在判定設(shè)置正確后，讀取測試結(jié)果并將測試結(jié)果與標(biāo)稱值進(jìn)行比對(duì)，判斷數(shù)據(jù)是否正常。最后恢復(fù)接點(diǎn)切換裝置狀態(tài)，保證一次測試完成后，接點(diǎn)切換裝置所有測量繼電器均為斷開狀態(tài)。本低頻信號(hào)接口測試系統(tǒng)主要采用了如下可靠性和安全性設(shè)計(jì)(1)單片機(jī)、FPGA和繼電器等關(guān)鍵器件選用普軍級(jí)芯片，其它器件選用工業(yè)級(jí)以提高器件的可靠運(yùn)行。(2)單片機(jī)在常態(tài)下(不收上位機(jī)指令)處于定時(shí)傳輸繼電器狀態(tài)的穩(wěn)定運(yùn)行狀態(tài)，以提高單片機(jī)的穩(wěn)定運(yùn)行。(3)繼電器狀態(tài)定時(shí)采集，當(dāng)繼電器出現(xiàn)異常接通時(shí)，F(xiàn)PGA自動(dòng)斷開該繼電器，同時(shí)將整個(gè)過程返回到上位機(jī)。[0039](4)在每一路測量通道上接入40mA保險(xiǎn)絲，確保在繼電器工作異常情況下，通路及時(shí)斷開，保證星地?cái)嚅_，保護(hù)星上設(shè)備安全。(5) FPGA設(shè)計(jì)唯一性判決器，在每次進(jìn)行繼電器接通指令脈沖譯碼前，需要判斷目標(biāo)測量通路是否有其它繼電器接通，如果有，則FPGA終止譯碼，同時(shí)將該繼電器編號(hào)和繼電器狀態(tài)返回給單片機(jī)，單片機(jī)再發(fā)給上位機(jī)進(jìn)行處理。(6)系統(tǒng)所有有源設(shè)備均采用直流供電，以提高系統(tǒng)的運(yùn)行穩(wěn)定性。(7)嚴(yán)格控制測試流程，及時(shí)采集上位機(jī)發(fā)送指令前后狀態(tài)，確保指令執(zhí)行狀態(tài)及時(shí)可靠判讀。本實(shí)用新型說明書中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容屬本領(lǐng)域技術(shù)人員的公知技術(shù)。
權(quán)利要求1.衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于包括接點(diǎn)切換裝置、示波器、數(shù)字萬用表、監(jiān)控計(jì)算機(jī)和轉(zhuǎn)接電纜；接點(diǎn)切換裝置通過轉(zhuǎn)接電纜與星上設(shè)備連接，監(jiān)控計(jì)算機(jī)分別與接點(diǎn)切換裝置、示波器和萬用表連接；測試時(shí)，監(jiān)控計(jì)算機(jī)分別向接點(diǎn)切換裝置、示波器和萬用表發(fā)送指令，接點(diǎn)切換裝置將當(dāng)前測點(diǎn)與示波器和萬用表同時(shí)接通，接點(diǎn)切換裝置返回繼電器狀態(tài)信息至監(jiān)控計(jì)算機(jī)，同時(shí)示波器和萬用表返回星上設(shè)備的測試數(shù)據(jù)至監(jiān)控計(jì)算機(jī)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于所述的接點(diǎn)切換裝置包括兩塊分別用于電纜端和設(shè)備端測量通道切換控制的通道切換板、一塊通道通斷板和一塊控制板；通道切換板共有80個(gè)通道，每一個(gè)通道有兩個(gè)繼電器，分別連接到測量口的正端和負(fù)端；通道通斷板由80個(gè)通道組成，每個(gè)通道設(shè)置一個(gè)連接電纜端和設(shè)備端接點(diǎn)的繼電器；通道通斷板共80個(gè)繼電器，分別連接在通道通斷板和控制板之間形成測量通道；控制板接收監(jiān)控計(jì)算機(jī)的控制指令，同時(shí)將各繼電器的狀態(tài)信息反饋給監(jiān)控計(jì)算機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于所述的通道切換板包括控制FPGA、雙刀雙置繼電器和反饋檢測FPGA ；控制FPGA接收監(jiān)控計(jì)算機(jī)的控制指令，對(duì)控制指令進(jìn)行譯碼，輸出指令脈沖將與待測點(diǎn)對(duì)應(yīng)的雙刀雙置繼電器接通，反饋檢測FPGA檢測控制FPGA的指令信息和雙刀雙置繼電器的狀態(tài)信息，當(dāng)控制FPGA輸出的指令脈沖的唯一且與僅有與待測點(diǎn)相連的雙刀雙置繼電器閉合時(shí)，對(duì)待測點(diǎn)進(jìn)行測量同時(shí)將雙刀雙置繼電器的信息反饋至監(jiān)控計(jì)算機(jī)，否則向監(jiān)控計(jì)算機(jī)發(fā)出異常報(bào)警。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于所述的通道通斷板包括控制FPGA、雙刀雙置繼電器和反饋檢測FPGA ；控制FPGA接收監(jiān)控計(jì)算機(jī)的控制指令，對(duì)控制指令進(jìn)行譯碼，輸出指令脈沖將與待測點(diǎn)對(duì)應(yīng)的雙刀雙置繼電器接通，反饋檢測FPGA檢測雙刀雙置繼電器的狀態(tài)信息并反饋至監(jiān)控計(jì)算機(jī)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于所述的監(jiān)控計(jì)算機(jī)與接點(diǎn)切換裝置和示波器采用以太網(wǎng)方式進(jìn)行通信。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，其特征在于所述的監(jiān)控計(jì)算機(jī)與萬用表采用USB轉(zhuǎn)以太網(wǎng)的方式進(jìn)行通信。
專利摘要衛(wèi)星低頻信號(hào)接口自動(dòng)測試系統(tǒng)，由接點(diǎn)切換裝置、示波器、數(shù)字萬用表、監(jiān)控計(jì)算機(jī)和轉(zhuǎn)接電纜組成。監(jiān)控計(jì)算機(jī)與接點(diǎn)切換裝置和示波器采用以太網(wǎng)通信方式，監(jiān)控計(jì)算機(jī)與萬用表采用USB轉(zhuǎn)以太網(wǎng)通信方式。接點(diǎn)切換裝置通過轉(zhuǎn)接電纜與星上設(shè)備連接正確后，監(jiān)控計(jì)算機(jī)分別向接點(diǎn)切換裝置、示波器和萬用表發(fā)送指令，接點(diǎn)切換裝置返回繼電器狀態(tài)信息，示波器和萬用表返回星上設(shè)備的測試數(shù)據(jù)。本實(shí)用新型具有可靠性高，通用性好的特點(diǎn)，適用于整星低頻信號(hào)間的接口測試，同時(shí)也適應(yīng)于整星電纜網(wǎng)和地面測試電纜網(wǎng)的導(dǎo)通絕緣檢查。
文檔編號(hào)G01R31/02GK202189106SQ20112027183
公開日2012年4月11日 申請(qǐng)日期2011年7月28日 優(yōu)先權(quán)日2011年7月28日
發(fā)明者李砥擎, 焦榮惠, 陳粵 申請(qǐng)人:中國空間技術(shù)研究院