專利名稱：觸控面板測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
觸控面板測(cè)試裝置技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型為一種觸控面板測(cè)試裝置，尤指可于測(cè)試作業(yè)進(jìn)行前即可對(duì)所有測(cè)試頭機(jī)構(gòu)其測(cè)試頭完成下壓力量的校準(zhǔn)，進(jìn)而可達(dá)到提升測(cè)試精度與降低成本及提升測(cè)試效率的功效。
背景技術(shù)：
[0002]一般的觸控面板測(cè)試裝置，如中國(guó)臺(tái)灣專利公報(bào)第IC69505號(hào)「新型三測(cè)頭雙臺(tái)面可定位的觸控面板測(cè)試機(jī)」，請(qǐng)參閱圖1所示，其利用一 Z軸馬達(dá)11帶動(dòng)一測(cè)試頭機(jī)構(gòu)20 下降位移，而使該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)20其測(cè)試頭23可抵壓該待側(cè)的觸控面板12，再利用該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)20其荷重元21 (Load Cell)感應(yīng)偵測(cè)該彈簧22的變形量，而可換算出該測(cè)試頭23與觸控面板12之間的壓力，再通過該壓力等荷重資訊的回授與Z軸馬達(dá)11下降位移的補(bǔ)償機(jī)制，而使該測(cè)試頭23可依預(yù)先設(shè)定的力量抵壓該觸控面板12，進(jìn)而可達(dá)到測(cè)試該觸控面板12的目的。[0003]該「新型三測(cè)頭雙臺(tái)面可定位的觸控面板測(cè)試機(jī)」，其雖可達(dá)到測(cè)試該觸控面板 12的目的，惟因該測(cè)試頭23其下壓力量是由彈簧22其變形量所決定(彈性力學(xué)的胡克定律)，而該彈簧22的變形量則取決于Z軸馬達(dá)11下降位移的量，但該彈簧22本身并無任何可事先調(diào)整或設(shè)定其變形量的機(jī)構(gòu)設(shè)計(jì)，因而并無法預(yù)先設(shè)定或校準(zhǔn)該測(cè)試頭23其下壓的力量，因此該現(xiàn)有的觸控面板測(cè)試機(jī)雖可設(shè)有數(shù)個(gè)測(cè)試頭機(jī)構(gòu)20而可同時(shí)進(jìn)行多片觸控面板12的測(cè)試，但每一個(gè)測(cè)試頭機(jī)構(gòu)20都必須配置一 Z軸馬達(dá)11與一荷重元21，方可控制該測(cè)試頭23每次下壓的力量，進(jìn)而使得該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)20的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)復(fù)雜且制造成本提高；此外，又因該彈簧22的變形量與測(cè)試頭23其下壓力量無法事先調(diào)整與校準(zhǔn)，因此該測(cè)試頭23每一次下壓測(cè)試該觸控面板12時(shí)，系統(tǒng)皆須重復(fù)進(jìn)行荷重資訊的回授與Z軸馬達(dá)11位移補(bǔ)償?shù)葎?dòng)作與程序，導(dǎo)致測(cè)試速度變慢與測(cè)試效率不佳，進(jìn)而造成測(cè)試產(chǎn)能的降低。[0004]又如中國(guó)臺(tái)灣專利公報(bào)第M385755號(hào)「觸控面板測(cè)試設(shè)備」，請(qǐng)參閱圖2所示，其是由一 XYZ三軸機(jī)構(gòu)13帶動(dòng)數(shù)個(gè)偵測(cè)單元M水平或垂直位移，而使該偵測(cè)單元M其測(cè)試頭 25可下降抵壓該待測(cè)的觸控面板14，以達(dá)到測(cè)試該觸控面板14的目的，但此「觸控面板測(cè)試設(shè)備」并無荷重元或測(cè)試頭25下壓重量的感測(cè)與校正機(jī)構(gòu)，因此其雖具有數(shù)個(gè)偵測(cè)單元 24而可同時(shí)進(jìn)行多片觸控面板14的測(cè)試，卻無法對(duì)每一個(gè)測(cè)試頭25其下壓力量進(jìn)行預(yù)先且個(gè)別的校正，因而容易造成各測(cè)試頭25下壓力量不準(zhǔn)確且不一致，而會(huì)影響測(cè)試結(jié)果的正確性，進(jìn)而導(dǎo)致測(cè)試精準(zhǔn)度與測(cè)試良率的降低，故實(shí)有改進(jìn)的必要。[0005]是故，如何將上述等缺失加以摒除，即為本實(shí)用新型的設(shè)計(jì)人所欲解決的技術(shù)困難點(diǎn)的所在。發(fā)明內(nèi)容[0006]有鑒于現(xiàn)有的觸控面板測(cè)試裝置，因無法對(duì)每一個(gè)測(cè)試頭其下壓力量進(jìn)行預(yù)先且個(gè)別的校正，導(dǎo)致測(cè)試精準(zhǔn)度與測(cè)試良率降低，因此本實(shí)用新型的目的在于提供一種觸控面板測(cè)試裝置，憑借該測(cè)試平臺(tái)一側(cè)設(shè)有荷重元，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)尚包含有一調(diào)整機(jī)構(gòu)，而可通過調(diào)整該調(diào)整機(jī)構(gòu)，調(diào)整并改變?cè)摐y(cè)試頭機(jī)構(gòu)其測(cè)試頭下壓的力量，而使可于測(cè)試作業(yè)進(jìn)行前即可對(duì)所有測(cè)試頭機(jī)構(gòu)其測(cè)試頭完成下壓力量的校準(zhǔn)，進(jìn)而使本實(shí)用新型可達(dá)到提升測(cè)試精度與降低成本及提升測(cè)試效率的功效。[0007]為達(dá)成以上的目的，本實(shí)用新型提供一種觸控面板測(cè)試裝置，其包含[0008]一機(jī)體，該機(jī)體內(nèi)設(shè)有控制單元；[0009]一進(jìn)出料裝置，該進(jìn)出料裝置設(shè)于該機(jī)體內(nèi)，該進(jìn)出料裝置包含有至少一個(gè)第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與至少一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，該測(cè)試平臺(tái)固設(shè)于該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)上方，該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與測(cè)試平臺(tái)分別與該機(jī)體的控制單元電連接，該測(cè)試平臺(tái)上尚包含有數(shù)個(gè)測(cè)試座與一荷重元，該荷重元與機(jī)體的控制單元電連接；[0010]一測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置設(shè)于該機(jī)體內(nèi)，且該測(cè)試裝置設(shè)于該進(jìn)出料裝置上方，該測(cè)試裝置包含有一第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與數(shù)個(gè)測(cè)試頭機(jī)構(gòu)，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)固設(shè)于該第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)下方，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)尚包含有一測(cè)試本體與一壓抵機(jī)構(gòu)及一測(cè)試頭，該壓抵機(jī)構(gòu)套設(shè)于該測(cè)試本體內(nèi)，該測(cè)試頭固設(shè)于壓抵機(jī)構(gòu)下方，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)尚包含有一調(diào)整機(jī)構(gòu)，該調(diào)整機(jī)構(gòu)與該壓抵機(jī)構(gòu)相穿固。[0011 ] 所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該測(cè)試頭為電阻式測(cè)試頭或?yàn)殡娙菔綔y(cè)試頭。[0012]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與測(cè)試平臺(tái)的數(shù)量均為兩個(gè)。[0013]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該調(diào)整機(jī)構(gòu)為迫緊旋鈕。[0014]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該壓抵機(jī)構(gòu)內(nèi)尚包含有一活動(dòng)件、一彈性件及一抵件，該彈性件一端與該活動(dòng)件相抵頂，該彈性件另一端與該抵件相抵頂。[0015]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該彈性件為精密彈簧。[0016]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)更進(jìn)一步包含有一第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)。[0017]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)尚包含有一氣壓缸與一從動(dòng)件， 該從動(dòng)件與該氣壓缸相固設(shè)。[0018]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該測(cè)試座一側(cè)設(shè)有信號(hào)插座，該信號(hào)插座與該機(jī)體的控制單元電連接。[0019]所述的觸控面板測(cè)試裝置，其中，該測(cè)試座上設(shè)有數(shù)個(gè)固定孔。[0020]通過該測(cè)試平臺(tái)一側(cè)設(shè)有荷重元，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)尚包含有一調(diào)整機(jī)構(gòu)，而可通過調(diào)整該調(diào)整機(jī)構(gòu)，調(diào)整并改變?cè)摐y(cè)試頭機(jī)構(gòu)其測(cè)試頭下壓的力量，而使可于測(cè)試作業(yè)進(jìn)行前即可對(duì)所有測(cè)試頭機(jī)構(gòu)其測(cè)試頭完成下壓力量的校準(zhǔn)，進(jìn)而使本實(shí)用新型可達(dá)到提升測(cè)試精度與降低成本及提升測(cè)試效率的功效。


[0021]圖1為現(xiàn)有的動(dòng)作示意圖；[0022]圖2為第二種現(xiàn)有的動(dòng)作示意圖；[0023]圖3為本實(shí)用新型的組合示意圖；[0024]圖4為本實(shí)用新型其測(cè)試平臺(tái)的部分示意圖；[0025]圖5為本實(shí)用新型其測(cè)試頭機(jī)構(gòu)的部分示意圖；[0026]圖6為本實(shí)用新型其動(dòng)作前示意圖；[0027]圖7為本實(shí)用新型其動(dòng)作后示意圖；[0028]圖8為本實(shí)用新型其測(cè)試頭機(jī)構(gòu)的校正動(dòng)作示意圖。[0029]附圖標(biāo)記說明11-Z軸馬達(dá)；12-觸控面板；13-XYZ三軸機(jī)構(gòu)；14-觸控面板； 20-測(cè)試頭機(jī)構(gòu)；21-荷重元；22-彈簧；23-測(cè)試頭；24-偵測(cè)單元；25-測(cè)試頭；3-機(jī)體； 31-控制單元；32-輸入裝置；33-輸出裝置；4-進(jìn)出料裝置；41-第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)；42-測(cè)試平臺(tái)；421-測(cè)試座；422-信號(hào)插座；423-固定孔；43-荷重元；5-測(cè)試裝置；51-第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)；52-測(cè)試頭機(jī)構(gòu)；521-測(cè)試本體；522-壓抵機(jī)構(gòu)；523-活動(dòng)件；524-彈性件；525-抵件；53-測(cè)試頭；54-調(diào)整機(jī)構(gòu)；55-第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)；551-氣壓缸；552-從動(dòng)件；6-觸控面板； 61-信號(hào)插頭；71-測(cè)試頭。
具體實(shí)施方式
[0030]為使貴審查員方便簡(jiǎn)捷了解本實(shí)用新型的其他特征內(nèi)容與優(yōu)點(diǎn)及其所達(dá)成的功效能夠更為顯現(xiàn)，茲將本實(shí)用新型配合附圖，詳細(xì)說明如下[0031]請(qǐng)參閱圖3所示，本實(shí)用新型提供一種觸控面板測(cè)試裝置，其包含[0032]一機(jī)體3，該機(jī)體3內(nèi)設(shè)有控制單元31，該控制單元31可為電腦主機(jī)或?yàn)槲⒖刂破?，該機(jī)體3尚包含有一輸入裝置32，該輸入裝置32與該控制單元31電連接，該輸入裝置 32可為鍵盤，又該機(jī)體3更可進(jìn)一步包含有一輸出裝置33，該輸出裝置33與該控制單元31 電連接，該輸出裝置33可為螢?zāi)唬籟0033]一進(jìn)出料裝置4，該進(jìn)出料裝置4設(shè)于該機(jī)體3內(nèi)，該進(jìn)出料裝置4包含有至少一個(gè)第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41與至少一個(gè)測(cè)試平臺(tái)42，該測(cè)試平臺(tái)42固設(shè)于該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41上方，該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41與測(cè)試平臺(tái)42分別與該機(jī)體3其控制單元31電連接，其中該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41可由馬達(dá)、滑軌、時(shí)規(guī)皮帶或鏈條等結(jié)構(gòu)所組成，使該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41可帶動(dòng)該測(cè)試平臺(tái)42水平位移，又該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41其細(xì)部構(gòu)造與動(dòng)作原理屬現(xiàn)有技術(shù)且非本實(shí)用新型技術(shù)特征，故在此不予詳述，在本實(shí)施例中，該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41與測(cè)試平臺(tái)42的數(shù)量均為兩個(gè)，通過本實(shí)用新型其進(jìn)出料裝置4包含有兩個(gè)第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41與兩個(gè)測(cè)試平臺(tái)42，當(dāng)其中一個(gè)測(cè)試平臺(tái)42進(jìn)行測(cè)試作業(yè)時(shí)，操作者即可利用另一個(gè)測(cè)試平臺(tái)42進(jìn)行上下料作業(yè)，而可充分利用上下料時(shí)間并使測(cè)試作業(yè)不會(huì)中斷，進(jìn)而可使本實(shí)用新型兼具提升測(cè)試效率的功效，該測(cè)試平臺(tái)42上尚包含有數(shù)個(gè)測(cè)試座421與一荷重元43 (Load Cell), 該荷重元43與機(jī)體3的控制單元31電連接，請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D4所示，該測(cè)試座421 —側(cè)設(shè)有信號(hào)插座422，該信號(hào)插座422與該機(jī)體3其控制單元31電連接，又該測(cè)試座421上可設(shè)有數(shù)個(gè)固定孔423，請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D6所示，該固定孔423可供與廠務(wù)設(shè)備的真空系統(tǒng)相連接，當(dāng)該真空系統(tǒng)作動(dòng)時(shí)，該測(cè)試座421其固定孔423可吸固置放于該測(cè)試座421上待測(cè)的觸控面板6，以達(dá)到固定該觸控面板6的目的，此種通過真空的吸附或釋放來固定待測(cè)元件如晶圓片或液晶面板的方式已普遍應(yīng)用于半導(dǎo)體或面板產(chǎn)業(yè)的機(jī)器設(shè)備，其相關(guān)原理與技術(shù)均為所屬技術(shù)領(lǐng)域中具有通常知識(shí)者所熟知，于此不再詳加贅述；[0034]一測(cè)試裝置5，該測(cè)試裝置5設(shè)于該機(jī)體3內(nèi)，且該測(cè)試裝置5設(shè)于該進(jìn)出料裝置 4上方，該測(cè)試裝置5包含有一第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)51與數(shù)個(gè)測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52固設(shè)于該第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)51下方，該第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)51可為XYZ三軸機(jī)構(gòu)，請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D5所示，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52尚包含有一測(cè)試本體521與一壓抵機(jī)構(gòu)522及一測(cè)試頭53，該壓抵機(jī)構(gòu)522套設(shè)于該測(cè)試本體521內(nèi)，該測(cè)試頭53固設(shè)于壓抵機(jī)構(gòu)522下方，其中該壓抵機(jī)構(gòu) 522內(nèi)尚包含有一活動(dòng)件523與一彈性件5 及一抵件525，該彈性件5 —端與該活動(dòng)件 523相抵頂，該彈性件5M另一端與該抵件525相抵頂，又該彈性件5M可為精密彈簧，該抵件525與測(cè)試頭53相固設(shè)，另該測(cè)試頭53可為電阻式測(cè)試頭或?yàn)殡娙菔綔y(cè)試頭，憑借該測(cè)試頭53可為電阻式測(cè)試頭或?yàn)殡娙菔綔y(cè)試頭，而使本實(shí)用新型可同時(shí)用于電阻式觸控面板或電容式觸控面板的測(cè)試，進(jìn)而可使本實(shí)用新型兼具提升適用性的功效，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu) 52尚可包含有一調(diào)整機(jī)構(gòu)M，該調(diào)整機(jī)構(gòu)M與該壓抵機(jī)構(gòu)522其活動(dòng)件523相穿固，該調(diào)整機(jī)構(gòu)討可為迫緊旋鈕，又該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52更可進(jìn)一步包含有一第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)55，該第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)陽設(shè)于該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52 —側(cè)，該第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)55與該機(jī)體3其控制單元31電連接，又該第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)陽尚包含有一氣壓缸551與一從動(dòng)件552，該從動(dòng)件552分別與該氣壓缸551及該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其壓抵機(jī)構(gòu)522的活動(dòng)件523相固設(shè)，該從動(dòng)件552可為板體；[0035]請(qǐng)參閱圖3、圖6所示，當(dāng)操作者將待測(cè)的觸控面板6置放于該測(cè)試平臺(tái)42其測(cè)試座421上，并將該觸控面板6其信號(hào)插頭61插于該信號(hào)插座422后，即可使該觸控面板6 與機(jī)體3其控制單元31電連接，而可供該控制單元31讀取該觸控面板6的資料以進(jìn)行后續(xù)測(cè)試，此時(shí)該操作者可通過該輸入裝置32輸入啟動(dòng)命令，該控制單元31即可令該進(jìn)出料裝置4其第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)41帶動(dòng)該測(cè)試平臺(tái)42水平位移至該測(cè)試裝置5下方，該控制單元 31可再令該測(cè)試裝置5其第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)51帶動(dòng)該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52垂直位移下降，請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D7所示，而使該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其測(cè)試頭53可抵壓該觸控面板6，又憑借該第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)51可為XYZ三軸機(jī)構(gòu)，而使該第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)52可繼續(xù)帶動(dòng)該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52與測(cè)試頭 53依照不同測(cè)試項(xiàng)目的需求直接于該觸控面板6上進(jìn)行水平位移，該觸控面板6即可將感應(yīng)該測(cè)試頭53所產(chǎn)生的信號(hào)與資料傳回該控制單元31，而使該控制單元31可將最終的測(cè)試結(jié)果顯示于該輸出裝置33上，進(jìn)而使本實(shí)用新型可達(dá)到測(cè)試該觸控面板6的目的。[0036]請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D3、圖5所示，憑借該測(cè)試平臺(tái)42 —側(cè)設(shè)有荷重元43，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52 尚包含有一調(diào)整機(jī)構(gòu)M，且該調(diào)整機(jī)構(gòu)M為迫緊旋鈕，請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D8所示，而使操作者可通過該輸入裝置32輸入相關(guān)控制命令，而使該控制單元31可令該測(cè)試裝置5其第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)51帶動(dòng)該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52水平與垂直位移，而使該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其測(cè)試頭53可下壓抵頂該荷重元43，該荷重元43即可將感測(cè)到的壓力與荷重資訊傳回該控制單元31，該控制單元31可再將該壓力與荷重資訊顯示于該顯示裝置33，此時(shí)該操作者即可通過調(diào)整該調(diào)整機(jī)構(gòu)M的旋轉(zhuǎn)方向，而使該調(diào)整機(jī)構(gòu)M可迫緊壓縮或放松該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其壓抵機(jī)構(gòu)522的彈性件524，而如圖8所示，而可調(diào)整并控制該彈性件524的變形量，而可憑借彈性力學(xué)的胡克定律，調(diào)整并改變?cè)摐y(cè)試頭機(jī)構(gòu)53其測(cè)試頭53下壓的力量，直到該顯示裝置 43所顯示的壓力與荷重資訊達(dá)到該操作者所要的數(shù)值為止，如此即可完成單一測(cè)試頭機(jī)構(gòu) 52其測(cè)試頭53下壓力量的校正程序，此時(shí)該操作者也可再依相同方法繼續(xù)校正其他測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52的測(cè)試頭53，而使本實(shí)用新型可于測(cè)試作業(yè)進(jìn)行的前，即可對(duì)所有測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52 其測(cè)試頭53完成下壓力量的校準(zhǔn)，而可避免現(xiàn)有的觸控面板測(cè)試裝置無法對(duì)每一個(gè)測(cè)試頭25其下壓力量進(jìn)行預(yù)先且個(gè)別的校正，導(dǎo)致測(cè)試精準(zhǔn)度與測(cè)試良率降低，或每一個(gè)測(cè)試頭機(jī)構(gòu)20都必須配置一 Z軸馬達(dá)11與一荷重元21，導(dǎo)致結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)復(fù)雜且制造成本提高，或因測(cè)試時(shí)才進(jìn)行即時(shí)的荷重感測(cè)導(dǎo)致測(cè)試速度變慢與測(cè)試效率降低等缺失，進(jìn)而使本實(shí)用新型可達(dá)到提升測(cè)試精度與降低成本及提升測(cè)試效率的功效。[0037]請(qǐng)?jiān)賲㈤唸D5、圖7所示，又通過該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52更包含有一第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)55，該第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)55尚包含有一氣壓缸551與一從動(dòng)件552，該從動(dòng)件552分別與該氣壓缸551 及該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其壓抵機(jī)構(gòu)522的活動(dòng)件523相固設(shè)，而使該控制單元31可個(gè)別控制該第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)陽其氣壓缸551作動(dòng)，而使該氣壓缸551可控制該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其測(cè)試頭53是否下降到可抵壓該待測(cè)的觸控面板6的高度位置，當(dāng)該測(cè)試平臺(tái)42其某一個(gè)測(cè)試座421未放置有待測(cè)的觸控面板6時(shí)，該控制單元31即可令該相對(duì)應(yīng)的測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)55的氣壓缸551不作動(dòng)，而可避免該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)52其測(cè)試頭53仍然下壓而撞到該測(cè)試座421，造成該測(cè)試頭53或機(jī)臺(tái)的損壞，而使本實(shí)用新型可單獨(dú)控制各測(cè)試頭 53的下壓動(dòng)作，因而即使當(dāng)測(cè)試座421未放置觸控面板6時(shí)，也無須先將該測(cè)試頭53拆下， 進(jìn)而可使本實(shí)用新型兼具可達(dá)到更佳安全性與提升使用便利性的功效。[0038]為使本實(shí)用新型更加顯現(xiàn)出其進(jìn)步性與實(shí)用性，茲與現(xiàn)有作一比較分析如下[0039]現(xiàn)有技術(shù)[0040]1、每一個(gè)測(cè)試頭須搭配一個(gè)Z軸馬達(dá)與荷重元，結(jié)構(gòu)復(fù)雜，制造成本提高。[0041]2、無法個(gè)別預(yù)先校正測(cè)試頭的下壓力量，測(cè)試精度與測(cè)試良率降低。[0042]本實(shí)用新型優(yōu)點(diǎn)[0043]1、所有測(cè)試頭可共用一個(gè)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)，結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)化，制造成本降低。[0044]2、所有測(cè)試頭的下壓力量可預(yù)先個(gè)別校正，測(cè)試精度與測(cè)試良率提高。
權(quán)利要求1.一種觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，包含一機(jī)體，該機(jī)體內(nèi)設(shè)有控制單元；一進(jìn)出料裝置，該進(jìn)出料裝置設(shè)于該機(jī)體內(nèi)，該進(jìn)出料裝置包含有至少一個(gè)第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與至少一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，該測(cè)試平臺(tái)固設(shè)于該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)上方，該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與測(cè)試平臺(tái)分別與該機(jī)體的控制單元電連接，該測(cè)試平臺(tái)上尚包含有數(shù)個(gè)測(cè)試座與一荷重元， 該荷重元與機(jī)體的控制單元電連接；一測(cè)試裝置，該測(cè)試裝置設(shè)于該機(jī)體內(nèi)，且該測(cè)試裝置設(shè)于該進(jìn)出料裝置上方，該測(cè)試裝置包含有一第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與數(shù)個(gè)測(cè)試頭機(jī)構(gòu)，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)固設(shè)于該第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)下方，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)尚包含有一測(cè)試本體與一壓抵機(jī)構(gòu)及一測(cè)試頭，該壓抵機(jī)構(gòu)套設(shè)于該測(cè)試本體內(nèi)，該測(cè)試頭固設(shè)于壓抵機(jī)構(gòu)下方，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)尚包含有一調(diào)整機(jī)構(gòu)，該調(diào)整機(jī)構(gòu)與該壓抵機(jī)構(gòu)相穿固。
2.如權(quán)利要求1所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試頭為電阻式測(cè)試頭或?yàn)殡娙菔綔y(cè)試頭。
3.如權(quán)利要求1所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與測(cè)試平臺(tái)的數(shù)量均為兩個(gè)。
4.如權(quán)利要求1所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該調(diào)整機(jī)構(gòu)為迫緊旋鈕。
5.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該壓抵機(jī)構(gòu)內(nèi)尚包含有一活動(dòng)件、一彈性件及一抵件，該彈性件一端與該活動(dòng)件相抵頂，該彈性件另一端與該抵件相抵頂。
6.如權(quán)利要求5所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該彈性件為精密彈簧。
7.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試頭機(jī)構(gòu)更進(jìn)一步包含有一第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)。
8.如權(quán)利要求7所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該第三傳動(dòng)機(jī)構(gòu)尚包含有一氣壓缸與一從動(dòng)件，該從動(dòng)件與該氣壓缸相固設(shè)。
9.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試座一側(cè)設(shè)有信號(hào)插座，該信號(hào)插座與該機(jī)體的控制單元電連接。
10.如權(quán)利要求1至4中任一項(xiàng)所述的觸控面板測(cè)試裝置，其特征在于，該測(cè)試座上設(shè)有數(shù)個(gè)固定孔。
專利摘要本實(shí)用新型提供一種觸控面板測(cè)試裝置，包含一機(jī)體，內(nèi)設(shè)有控制單元；一進(jìn)出料裝置，設(shè)于機(jī)體內(nèi)，包含有至少一個(gè)第一傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與至少一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，測(cè)試平臺(tái)上包含有測(cè)試座與一荷重元；一測(cè)試裝置，設(shè)于機(jī)體內(nèi)，且測(cè)試裝置設(shè)于進(jìn)出料裝置上方，測(cè)試裝置包含有一第二傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與測(cè)試頭機(jī)構(gòu)，測(cè)試頭機(jī)構(gòu)包含有一測(cè)試本體與一壓抵機(jī)構(gòu)及一測(cè)試頭，測(cè)試頭機(jī)構(gòu)包含一調(diào)整機(jī)構(gòu)，調(diào)整機(jī)構(gòu)與壓抵機(jī)構(gòu)相穿固；測(cè)試平臺(tái)一側(cè)設(shè)有荷重元，測(cè)試頭機(jī)構(gòu)包含有一調(diào)整機(jī)構(gòu)，通過調(diào)整該調(diào)整機(jī)構(gòu)，調(diào)整并改變測(cè)試頭機(jī)構(gòu)其測(cè)試頭下壓的力量，可于測(cè)試作業(yè)進(jìn)行前即可對(duì)所有測(cè)試頭機(jī)構(gòu)其測(cè)試頭完成下壓力量的校準(zhǔn)，可達(dá)到提升測(cè)試精度與降低成本及提升測(cè)試效率的功效。
文檔編號(hào)G01L25/00GK202274967SQ20112038656
公開日2012年6月13日 申請(qǐng)日期2011年10月12日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月12日
發(fā)明者林源記, 陳圣杰 申請(qǐng)人:亞克先進(jìn)科技股份有限公司