專利名稱：光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型屬于測(cè)試領(lǐng)域，是一種光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
光電耦合器(以下簡(jiǎn)稱光耦)作為電路隔離器件已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用，但如何充分利用光耦隔離、傳輸?shù)奶攸c(diǎn)是本領(lǐng)域技術(shù)人員一直研究而尚未完善的課題。光耦的技術(shù)參數(shù)主要有發(fā)光二極管正向壓降Vf、正向電流If、輸出電流Ic、電流傳輸比CTR、輸入級(jí)與輸出級(jí)之間的絕緣電阻、集電極-發(fā)射極反向擊穿電壓V(BR)·和集電極-發(fā)射極飽和壓降 Vce(sat)。電流傳輸比是光耦的重要參數(shù)，通常用直流電流傳輸比來表示，但光耦的電流傳輸比范圍很大，通常在設(shè)計(jì)、檢測(cè)和替換時(shí)尚不知道光耦電流傳輸比的具體值，很容易損壞器件，或?qū)崿F(xiàn)不了應(yīng)有的功能。那么，快速、準(zhǔn)確、方便的測(cè)試出光耦的電流傳輸比是十分重要的。
發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是，提供一種能夠方便快捷的測(cè)試出光耦的電流傳輸比CTR，直觀的理解光耦電器特性的光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置。解決其技術(shù)問題所采取的技術(shù)方案是，一種光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置，它包括電源供電電路，其特征是還包括光耦測(cè)試電路，所述的光耦測(cè)試電路具有光耦I(lǐng)C1，光耦I(lǐng)Cl的1腳、電流表Al、 可變電阻R1、開關(guān)Sl與電源供電電路的電源VCC連接，光耦I(lǐng)Cl的4腳、電流表A2、可變電阻R2與電源VCC連接，光耦I(lǐng)Cl的2、3腳并接發(fā)光二極管D7、D8與地連接。本實(shí)用新型的光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置，通過調(diào)節(jié)可變電阻Rl、R2的阻值，使光耦I(lǐng)Cl工作在線性放大區(qū)，兩個(gè)電流表Al和A2顯示的值就是輸入和輸出電路，電流傳輸比CTR就等于電流表A2表的值比電流表Al表的值。能夠方便、快捷的測(cè)試出光耦的電流傳輸比CTR，直觀的理解光耦電器特性。

圖1為光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置的電源供電電路原理圖。圖2為光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置的光耦測(cè)試電路原理圖。
具體實(shí)施方式
參照?qǐng)D1和圖2，本實(shí)用的一種光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置包括電源供電電路和光耦測(cè)試電路，所述的光耦測(cè)試電路具有光耦I(lǐng)C1，光耦I(lǐng)Cl的1腳、電流表Al、可變電阻R1、開關(guān)Sl與電源供電電路的電源VCC連接，光耦I(lǐng)Cl的4腳、電流表A2、可變電阻R2 與電源VCC連接，光耦I(lǐng)Cl的2、3腳并接發(fā)光二極管D7、D8與地連接。參照?qǐng)D1，電源電路的接線端子J1、J2連接220V電壓，變壓器Tl前端用熱敏電阻 R3和壓敏電阻R30做過壓過流保護(hù)，經(jīng)變壓器Tl后，得到15V交流電，之后采用四個(gè)整流二極管D1、D2、D3、D4組成的整流橋，將交流變成直流，穩(wěn)壓芯片U3其型號(hào)78L05可以輸出穩(wěn)定的5V電源，電容C1、C2、C3、C4起到濾波的作用，這樣可以輸出為光耦I(lǐng)Cl測(cè)試電路提供 5V穩(wěn)壓電源。 參照?qǐng)D2，光耦測(cè)試電路由電源VCC供電電路提供5V電壓，閉合開關(guān)Si,調(diào)節(jié)可變電阻Rl、R2的阻值，使光耦I(lǐng)Cl工作在線性放大區(qū)，兩個(gè)電流表Al和A2顯示的值就是輸入和輸出電路，電流傳輸比CTR就等于電流表A2表的值比電流表Al表的值。這時(shí)，發(fā)光二極管D7，D8都被點(diǎn)亮，光耦I(lǐng)Cl正向電流If增大或減小，光耦I(lǐng)Cl輸出電流Ie也隨著增大或減小，即光耦I(lǐng)Cl電流傳輸比CTR=Ie/IF。調(diào)節(jié)可變電阻Rl時(shí)，保證光耦I(lǐng)Cl正向電流If滿足其電器特性，正向電流If最小保證二極管導(dǎo)通，最大不應(yīng)超過其規(guī)定的極限值， 調(diào)節(jié)可變電阻R2時(shí)，應(yīng)注意可變電阻R2的阻值。在可變電阻R2阻值最大時(shí)，不應(yīng)使輸出電流Ic=VCC/R2<IfXCTO,如果輸出電流Ic<IFXCTR時(shí)，光耦I(lǐng)Cl飽和導(dǎo)通，沒有工作在放大區(qū)，這時(shí)的電流傳輸比CTR會(huì)失真；在可變電阻R2阻值最小時(shí)，不應(yīng)使輸出電流Ic=VCC/ R2>IfXCTR,如果輸出電流IC>IFX CTR時(shí)，光耦I(lǐng)Cl工作在截止?fàn)顟B(tài)，也沒有工作在放大區(qū)， 這時(shí)的電流傳輸比CTR也會(huì)失真。
權(quán)利要求1. 一種光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置，它包括電源供電電路，其特征是還包括光耦測(cè)試電路，所述的光耦測(cè)試電路具有光耦(IC1)，光耦(ICl)的1腳、電流表(Al)、可變電阻(R1)、開關(guān)(Si)與電源供電電路的電源(VCC)連接，光耦(ICl)的4腳、電流表(A2)、可變電阻(R2)與電源(VCC)連接，光耦(ICl)的2、3腳并接發(fā)光二極管(D7、D8)與地連接。
專利摘要本實(shí)用新型是一種光電耦合器電流傳輸比測(cè)試裝置，它包括電源供電電路，其特點(diǎn)是還包括光耦測(cè)試電路，所述的光耦測(cè)試電路具有光耦I(lǐng)C1，光耦I(lǐng)C1的1腳、電流表A1、可變電阻R1、開關(guān)S1與電源供電電路的電源VCC連接，光耦I(lǐng)C1的4腳、電流表A2、可變電阻R2與電源VCC連接，光耦I(lǐng)C1的2、3腳并接發(fā)光二極管D7、D8與地連接。通過調(diào)節(jié)可變電阻R1、R2的阻值，使光耦I(lǐng)C1工作在線性放大區(qū)，兩個(gè)電流表A1和A2顯示的值就是輸入和輸出電路，電流傳輸比CTR就等于電流表A2表的值比電流表A1表的值。能夠方便、快捷的測(cè)試出光耦的電流傳輸比CTR，直觀的理解光耦電器特性。
文檔編號(hào)G01R19/10GK202330531SQ20112043294
公開日2012年7月11日 申請(qǐng)日期2011年11月4日 優(yōu)先權(quán)日2011年11月4日
發(fā)明者孫毅成, 朱有, 武新旗, 王乙童, 王晉宇, 蔣彬, 閻勁光, 魏卓 申請(qǐng)人:深圳市江機(jī)實(shí)業(yè)有限公司