專利名稱：一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電磁場的場均勻性的校準技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
對于射頻電磁場，IEC61000系列標準給出了兩種電磁場的場均勻性的校準方法，即恒定場強校準法和恒定功率校準法。恒定場強校準法是通過調(diào)整前向輸出功率建立一個場強恒定的均勻場，然后用一個經(jīng)校準的場強探頭以指定的步長在每個頻段對待測區(qū)域內(nèi)的各個點進行測量。恒定功率校準法與之不同的是測量時保持前向輸出功率恒定。對于瞬變電磁場，MIL-STD-461F標準采用了上述恒定場強校準法。但是，恒定場強校準法存在以下不足(I)瞬變電磁場由脈沖信號源觸發(fā)的單脈沖信號產(chǎn)生，為了獲得恒定的電磁場，需要反復調(diào)節(jié)脈沖信號源的輸出功率，因此必須既可以準確監(jiān)測所用脈沖信號源的輸出功率，又可以對所用脈沖信號源的輸出功率進行微調(diào)，對包括脈沖信號源在內(nèi)的瞬變電磁場產(chǎn)生裝置的要求高；(2)通常需要用高壓探頭監(jiān)測脈沖信號源的輸出功率，在實際應用中有時很難實現(xiàn)；(3)校準時間較長，使用不方便。對于瞬變電磁場，如果采用恒定功率校準法，也存在以下問題(I)需要脈沖信號源多次觸發(fā)輸出多個單脈沖信號，各個單脈沖信號的幅度很難完全保持一致，即存在脈沖信號源輸出的各個單脈沖信號不穩(wěn)定的問題，導致瞬變電磁場均勻性校準的準確度降低；(2)對脈沖信號源輸出穩(wěn)定性的要求導致瞬變電磁場產(chǎn)生裝置的成本較高。用于校準瞬變電磁場的場均勻性的系統(tǒng)通常需要測試多個位置。校準瞬變電磁場的場均勻性時，不但需要支架支撐和固定測試探頭，而且需要通過支架調(diào)節(jié)測試探頭的位置和角度。具體地，校準瞬變電磁場的場均勻性時，通常需要通過調(diào)節(jié)支架來改變固定有探頭的測試桿的角度和長度，甚至需要通過調(diào)節(jié)支架實現(xiàn)測試桿繞固定軸的轉(zhuǎn)動?，F(xiàn)有技術(shù)中的支架都不能直接實現(xiàn)上述功能，因此在用于校準瞬變電磁場的場均勻性時非常不便。目前，非常需要一種對包括脈沖信號源在內(nèi)的瞬變電磁場產(chǎn)生裝置要求低、快速、準確且低成本的瞬變電磁場的場均勻性的校準系統(tǒng)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)。 本發(fā)明提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)包括支架、示波器、第一探頭和第二探頭；所述支架包括底座、轉(zhuǎn)軸、圓拱形的第一拱襯、圓拱形的第二拱襯、第一測試桿、第二測試桿、第一旋鈕、第二旋鈕、第一探頭固定裝置和第二探頭固定裝置；所述第一探頭固定于所述第一測試桿上，所述第二探頭固定于所述第二測試桿上，且所述第一探頭和所述第二探頭與所述示波器電連接；所述底座的上表面設(shè)有凸起，所述轉(zhuǎn)軸固定于所述凸起上，所述第一拱襯和所述第二拱襯設(shè)于所述底座的上表面，且所述凸起和所述轉(zhuǎn)軸穿過所述第一拱襯和所述第二拱襯的中空部分，所述第一拱襯所在的平面和所述第二拱襯所在的平面分別與所述底座的上
表面垂直；所述第一測試桿和所述第二測試桿的底端分別呈“h”字形，所述第一測試桿和所述第二測試桿的底端分別與所述轉(zhuǎn)軸鉸接，且所述第一測試桿和所述第二測試桿分別能夠繞所述轉(zhuǎn)軸轉(zhuǎn)動，所述第一拱襯被設(shè)置為穿過所述第一測試桿的底端的缺口，所述第二拱 襯被設(shè)置為穿過所述第二測試桿的底端的缺口；所述第一拱襯上設(shè)有圓拱形的第一凹槽，所述第一旋鈕上設(shè)有螺紋，所述第一測試桿底端的第二側(cè)板上設(shè)有與所述第一旋鈕配合的螺紋，所述第一旋鈕穿過所述第一測試桿底端的第一側(cè)板和所述第一凹槽與所述第一測試桿底端的第二側(cè)板配合，通過旋緊所述第一旋鈕能夠使所述第一測試桿的位置固定；所述第二拱襯上設(shè)有圓拱形的第二凹槽，所述第二旋鈕上設(shè)有螺紋，所述第二測試桿底端的第四側(cè)板上設(shè)有與所述第二旋鈕配合的螺紋，所述第二旋鈕穿過所述第二測試桿底端的第三側(cè)板和所述第二凹槽與所述第二測試桿底端的第四側(cè)板配合，通過旋緊所述第二旋鈕能夠使所述第二測試桿的位置固定； 所述第一探頭固定裝置設(shè)于所述第一測試桿上；所述第二探頭固定裝置設(shè)于所述第二測試桿上，所述第一探頭固定裝置能夠沿所述第一測試桿自由滑動，所述第二探頭固定裝置能夠沿所述第二測試桿自由滑動，所述第一探頭固定裝置上設(shè)有第三旋鈕，所述第二探頭固定裝置上設(shè)有第四旋鈕，通過旋緊所述第三旋鈕能夠使所述第一探頭固定裝置的位置固定，通過旋緊所述第四旋鈕能夠使所述第二探頭固定裝置的位置固定。優(yōu)選地，所述第一拱襯和所述第二拱襯上分別設(shè)有角度刻度。優(yōu)選地，所述第一測試桿的底端設(shè)有第一角度觀察窗，所述第二測試桿的底端設(shè)有第二角度觀察窗。優(yōu)選地，所述第一測試桿和所述第二測試桿上分別設(shè)有長度刻度。優(yōu)選地，所述第一探頭固定裝置上設(shè)有第一長度觀察窗，所述第二探頭固定裝置上設(shè)有第二長度觀察窗。優(yōu)選地，所述凸起呈圓拱形。本發(fā)明具有如下有益效果(I)所述系統(tǒng)對包括脈沖信號源在內(nèi)的瞬變電磁場產(chǎn)生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準；(2)所述系統(tǒng)的支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調(diào)節(jié)探頭的位置和角度；(3)所述系統(tǒng)的支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高；(4)所述系統(tǒng)制作成本低，使用方便。


圖I為本發(fā)明實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)的示意圖；圖2為本發(fā)明實施例的支架I的第一拱襯的示意圖；圖3為本發(fā)明實施例的支架I的第二拱襯的示意圖；圖4為本發(fā)明實施例的支架I的第一測試桿的側(cè)視圖；圖5為本發(fā)明實施例的支架I的第一測試桿的正視圖；圖6為本發(fā)明實施例的支架I的第二測試桿的側(cè)視圖；
圖7為本發(fā)明實施例的支架I的第二測試桿的正視圖。
具體實施例方式下面結(jié)合附圖及實施例對本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容作進一步的描述。本實施例提供的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)包括支架I、示波器2、第一探頭3和第二探頭4，如圖I所示。支架I包括底座11、轉(zhuǎn)軸12、圓拱形的第一拱襯131、圓拱形的第二拱襯132、第一測試桿141、第二測試桿142、第一旋鈕151、第二旋鈕152、第一探頭固定裝置161和第二探頭固定裝置162。第一探頭3固定于第一測試桿141上，第二探頭4固定于第二測試桿142上，且第一探頭3和第二探頭4與示波器2電連接，如圖I所示。底座11的上表面設(shè)有凸起17，轉(zhuǎn)軸12固定于凸起17上，如圖I所示。在本實施例中，凸起17呈例如圓拱形。第一拱襯131和第二拱襯132設(shè)于底座11的上表面，且凸起17和轉(zhuǎn)軸12穿過第一拱襯131和第二拱襯132的中空部分，第一拱襯131所在的平面和第二拱襯132所在的平面分別與底座11的上表面垂直。第一測試桿141和第二測試桿142的底端分別呈“h”字形，如圖4和圖6所示。第一測試桿141和第二測試桿142的底端分別與轉(zhuǎn)軸12鉸接，且第一測試桿141和第二測試桿142分別能夠繞轉(zhuǎn)軸12轉(zhuǎn)動。第一拱襯131被設(shè)置為穿過例如第一測試桿141的底端的缺口 1412 ;第二拱襯132被設(shè)置為穿過例如第二測試桿142的底端的缺口 1422。第一拱襯131上設(shè)有圓拱形的第一凹槽1311，如圖I和圖2所示。第一旋鈕151上設(shè)有螺紋，第一測試桿141底端的第二側(cè)板1414上設(shè)有與第一旋鈕151配合的螺紋。第一旋鈕151穿過第一測試桿141底端的第一側(cè)板1413和第一凹槽1311與第一測試桿41底端的第二側(cè)板414配合，通過旋緊第一旋鈕51能夠使第一測試桿41的位置固定。第二拱襯132上設(shè)有圓拱形的第二凹槽1321，如圖I和圖3所示。第二旋鈕152上設(shè)有螺紋，第二測試桿142底端的第四側(cè)板1424上設(shè)有與第二旋鈕152配合的螺紋。第二旋鈕152穿過第二測試桿142底端的第三側(cè)板1423和第二凹槽1321與第二測試桿142底端的第四側(cè)板1424配合，通過旋緊第二旋鈕152能夠使第二測試桿142的位置固定。第一探頭固定裝置161設(shè)于第一測試桿141上；第二探頭固定裝置162設(shè)于第二測試桿142上，如圖I所示。第一探頭固定裝置161能夠沿第一測試桿141自由滑動；第二探頭固定裝置162能夠沿第二測試桿142自由滑動。第一探頭固定裝置161上設(shè)有例如第三旋鈕1611 ;第二探頭固定裝置162上設(shè)有例如第四旋鈕1621，如圖5和圖7所示。通過旋緊第三旋鈕1611能夠使第一探頭固定裝置161的位置固定；通過旋緊第四旋鈕1621能夠使第二探頭固定裝置162的位置固定。在本實施例中，第一探頭固定裝置161用于固定例如測試探頭181，第二探頭固定裝置162用于固定例如參考探頭182。在本實施例中，第一拱襯131和第二拱襯132上分別設(shè)有角度刻度。如圖5和圖7所不，第一測試桿141的底端設(shè)有例如第一角度觀察窗1411,第二測試桿142的底端設(shè)有例如第二角度觀察窗1421，用于觀察角度刻度值。第一測試桿141和第二測試桿142上分別設(shè)有長度刻度。第一探頭固定裝置161上設(shè)有第一長度觀察窗1612，第二探頭固定裝置162上設(shè)有第二長度觀察窗1622，用于觀察長度刻度。 在本實施例中，第一探頭3和第二探頭4都通過例如光纖與示波器2電連接。第一探頭3和第二探頭4用于感測電磁場的場強。示波器2用于測量第一探頭3和/或第二探頭4的輸出以計算場強值。所述系統(tǒng)對包括脈沖信號源在內(nèi)的瞬變電磁場產(chǎn)生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準；所述系統(tǒng)的支架不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調(diào)節(jié)探頭的位置和角度；所述系統(tǒng)的支架對探頭的位置和角度的調(diào)節(jié)精度高；所述系統(tǒng)制作成本低，使用方便。應當理解，以上借助優(yōu)選實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案進行的詳細說明是示意性的而非限制性的。本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員在閱讀本發(fā)明說明書的基礎(chǔ)上可以對各實施例所記載的技術(shù)方案進行修改，或者對其中部分技術(shù)特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術(shù)方案的本質(zhì)脫離本發(fā)明各實施例技術(shù)方案的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)，其特征在于， 該系統(tǒng)包括支架(I)、示波器(2)、第一探頭(3)和第二探頭(4)； 所述支架(I)包括底座(11)、轉(zhuǎn)軸(12)、圓拱形的第一拱襯(131)、圓拱形的第二拱襯(132)、第一測試桿(141)、第二測試桿(142)、第一旋鈕(151)、第二旋鈕(152)、第一探頭固定裝置(161)和第二探頭固定裝置(162)； 所述第一探頭(3)固定于所述第一測試桿(141)上，所述第二探頭(4)固定于所述第二測試桿(142)上，且所述第一探頭(3)和所述第二探頭(4)與所述示波器(2)電連接； 所述底座(11)的上表面設(shè)有凸起(17)，所述轉(zhuǎn)軸(12)固定于所述凸起(17)上，所述第一拱襯(131)和所述第二拱襯(132)設(shè)于所述底座(11)的上表面，且所述凸起(17)和所述轉(zhuǎn)軸(12)穿過所述第一拱襯(131)和所述第二拱襯(132)的中空部分，所述第一拱襯(131)所在的平面和所述第二拱襯(132)所在的平面分別與所述底座(11)的上表面垂直； 所述第一測試桿(141)和所述第二測試桿(142)的底端分別呈“h”字形，所述第一測試桿(141)和所述第二測試桿(142)的底端分別與所述轉(zhuǎn)軸(12)鉸接，且所述第一測試桿(141)和所述第二測試桿(142)分別能夠繞所述轉(zhuǎn)軸(12)轉(zhuǎn)動，所述第一拱襯(131)被設(shè)置為穿過所述第一測試桿(141)的底端的缺口(1412)，所述第二拱襯(132)被設(shè)置為穿過所述第二測試桿(142)的底端的缺口(1422)； 所述第一拱襯(131)上設(shè)有圓拱形的第一凹槽(1311)，所述第一旋鈕(151)上設(shè)有螺紋，所述第一測試桿(141)底端的第二側(cè)板(1414)上設(shè)有與所述第一旋鈕(151)配合的螺紋，所述第一旋鈕(151)穿過所述第一測試桿(141)底端的第一側(cè)板(1413)和所述第一凹槽(1311)與所述第一測試桿(141)底端的第二側(cè)板(1414)配合，通過旋緊所述第一旋鈕(151)能夠使所述第一測試桿(141)的位置固定； 所述第二拱襯(132)上設(shè)有圓拱形的第二凹槽(1321)，所述第二旋鈕(152)上設(shè)有螺紋，所述第二測試桿(142)底端的第四側(cè)板(1424)上設(shè)有與所述第二旋鈕(152)配合的螺紋，所述第二旋鈕(152)穿過所述第二測試桿(142)底端的第三側(cè)板(1423)和所述第二凹槽(1321)與所述第二測試桿(142)底端的第四側(cè)板(1424)配合，通過旋緊所述第二旋鈕(152)能夠使所述第二測試桿(142)的位置固定； 所述第一探頭固定裝置(161)設(shè)于所述第一測試桿(141)上；所述第二探頭固定裝置(162)設(shè)于所述第二測試桿(142)上，所述第一探頭固定裝置(161)能夠沿所述第一測試桿(141)自由滑動，所述第二探頭固定裝置(162)能夠沿所述第二測試桿(142)自由滑動，所述第一探頭固定裝置(161)上設(shè)有第三旋鈕(1611)，所述第二探頭固定裝置(162)上設(shè)有第四旋鈕(1621)，通過旋緊所述第三旋鈕(1611)能夠使所述第一探頭固定裝置(161)的位置固定，通過旋緊所述第四旋鈕(1621)能夠使所述第二探頭固定裝置(162)的位置固定。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一拱襯(131)和所述第二拱襯(132)上分別設(shè)有角度刻度。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一測試桿(141)的底端設(shè)有第一角度觀察窗(1411)，所述第二測試桿(142)的底端設(shè)有第二角度觀察窗(1421)。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一測試桿(141)和所述第二測試桿(142)上分別設(shè)有長度刻度。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)，其特征在于，所述第一探頭固定裝置(161)上設(shè)有第一長度觀察窗(1612)，所述第二探頭固定裝置(162)上設(shè)有第二長度觀察窗(1622)。
6.根據(jù)權(quán)利要求I所述的用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)，其特征在于，所述凸起(17)呈圓拱形。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種用于校準瞬變電磁場場均勻性的帶支架的系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括支架(1)、示波器(2)、第一探頭(3)和第二探頭(4)；支架(1)包括底座(11)、轉(zhuǎn)軸(12)、圓拱形的第一拱襯(131)、圓拱形的第二拱襯(132)、第一測試桿(141)、第二測試桿(142)、第一旋鈕(151)、第二旋鈕(152)、第一探頭固定裝置(161)和第二探頭固定裝置(162)；第一探頭(3)固定于第一測試桿(141)上，第二探頭(4)固定于第二測試桿(142)上，且第一探頭(3)和第二探頭(4)與示波器(2)電連接。所述系統(tǒng)對包括脈沖信號源在內(nèi)的瞬變電磁場產(chǎn)生裝置的要求低，能夠快速、準確地對瞬變電磁場的場均勻性進行校準。所述系統(tǒng)的支架既能用于支撐和固定探頭，又能用于調(diào)節(jié)探頭的位置和角度。所述系統(tǒng)的支架對探頭位置和角度的調(diào)節(jié)精度高。
文檔編號G01R29/08GK102830290SQ20121030904
公開日2012年12月19日 申請日期2012年8月27日 優(yōu)先權(quán)日2012年8月27日
發(fā)明者姚利軍, 沈濤, 黃建領(lǐng) 申請人:北京無線電計量測試研究所