專利名稱：一種固定齒偏差補(bǔ)償方法及其系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于全自動(dòng)生化分析儀承載比色杯的反應(yīng)盤(pán)，尤其涉及一種固定齒偏差的補(bǔ)償方法及其系統(tǒng)。
背景技術(shù)：
全自動(dòng)生化分析儀是根據(jù)光電比色原理來(lái)測(cè)量體液中某種特定化學(xué)成分的儀器。由于其測(cè)量速度快、準(zhǔn)確性高、消耗試劑量小，現(xiàn)已在各級(jí)醫(yī)院、防疫站、計(jì)劃生育服務(wù)站得到廣泛使用。但由于反應(yīng)盤(pán)的定位齒機(jī)械加工存在固有偏差，例如反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)一個(gè)固定齒時(shí)，控制步進(jìn)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)的理論步數(shù)為N步，但由于機(jī)械加工存在誤差，導(dǎo)致位置光耦檢測(cè)到·固定齒信號(hào)時(shí)所轉(zhuǎn)動(dòng)的步數(shù)為M步，從而產(chǎn)生了(N — M)步的誤差，使反應(yīng)盤(pán)停止定位時(shí)存在一定誤差，進(jìn)而影響加樣、加試劑及攪拌的位置，一定程度上限制了儀器的性能，降低了其測(cè)量效率。因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的在于提供一種固定齒偏差補(bǔ)償方法及其系統(tǒng)，以提高反應(yīng)盤(pán)的定位精度，提高全自動(dòng)生化分析儀的測(cè)量效率。本發(fā)明的技術(shù)方案如下
一種固定齒偏差的補(bǔ)償方法，其包括以下步驟
A、掃描所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的齒數(shù)與齒寬并記錄，選取所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的任意齒為基準(zhǔn)齒，以所述基準(zhǔn)齒為基準(zhǔn)位置計(jì)算每個(gè)齒與所述基準(zhǔn)齒的偏差，按照所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和轉(zhuǎn)動(dòng)所述反應(yīng)盤(pán)。所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其中，所述步驟A具體的包括:Al、所述全自動(dòng)生化儀上電后，反應(yīng)盤(pán)控制板掃描所述反應(yīng)盤(pán)的所有齒數(shù)與齒寬，并將所述齒數(shù)與齒寬記錄在所述全自動(dòng)生化儀的隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)。所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其中，所述步驟Al具體的包括所述反應(yīng)盤(pán)控制板按測(cè)試方向勻速旋轉(zhuǎn)進(jìn)行掃描，每個(gè)齒從低電平到高電平，齒計(jì)數(shù)的位置與所述偏差的位置為從高電平到低電平。所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其中，所述步驟A具體的包括
A2、所述基準(zhǔn)齒的齒計(jì)數(shù)為一，剩余齒的齒計(jì)數(shù)按照離所述基準(zhǔn)齒的距離依次加一；所述偏差等于對(duì)應(yīng)齒之齒計(jì)數(shù)減一乘以齒寬，然后再減去所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)。所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其中，所述步驟A2具體的包括將所有齒的偏差記錄在所述全自動(dòng)生化儀的隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)。所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其中，所述步驟A具體的包括
A3、啟動(dòng)電機(jī)將所述全自動(dòng)生化儀預(yù)計(jì)將所述反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)到某一齒處；
A4、檢測(cè)所述某一齒的齒計(jì)數(shù)，然后按照所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和確定執(zhí)行步數(shù)；
A5、所述電機(jī)減速執(zhí)行所述執(zhí)行步數(shù)直至停止。所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法,其中,所述齒寬為齒的寬度與齒縫的寬度。一種固定齒偏差補(bǔ)償系統(tǒng)，其包括用于控制電機(jī)運(yùn)行的控制單元，其中，所述固定齒偏差補(bǔ)償系統(tǒng)還包括用于記錄齒數(shù)、齒寬與偏差的隨機(jī)存儲(chǔ)器以及用于根據(jù)全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差執(zhí)行反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)步數(shù)的執(zhí)行單元，所述隨機(jī)存儲(chǔ)器與所述執(zhí)行單元均與所述控制單元通信連接。本發(fā)明提供的一種固定齒偏差補(bǔ)償方法及其系統(tǒng)，采用先掃描反應(yīng)盤(pán)選定一個(gè)基 準(zhǔn)齒，然后根據(jù)該基準(zhǔn)齒確定每個(gè)齒與基準(zhǔn)齒的偏差，最后根據(jù)全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和來(lái)轉(zhuǎn)動(dòng)反應(yīng)盤(pán)，消除了定位齒機(jī)械加工過(guò)程中存在固有偏差的缺陷，提高了反應(yīng)盤(pán)的定位精度，從而使反應(yīng)盤(pán)上的比色杯能準(zhǔn)確的到達(dá)指定位置，提高了全自動(dòng)生化分析儀的測(cè)量效率。


圖I為本發(fā)明中固定齒偏差補(bǔ)償方法的流程示意 圖2為本發(fā)明中反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的流程結(jié)構(gòu)示意 圖3為本發(fā)明中掃描齒與基準(zhǔn)齒之偏差的流程示意 圖4為本發(fā)明中實(shí)施例一的具體流程示意 圖5為本發(fā)明中固定齒偏差補(bǔ)償方法的具體流程示意 圖6為本發(fā)明中固定齒偏差補(bǔ)償系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明提供一種固定齒偏差補(bǔ)償方法及其系統(tǒng)，為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及效果更加清楚、明確，以下對(duì)本發(fā)明進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。本發(fā)明提供了一種固定齒偏差的補(bǔ)償方法，如圖I所示的，其包括以下步驟
步驟101 :掃描所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的齒數(shù)與齒寬并記錄，選取所述全自動(dòng)生化
儀反應(yīng)盤(pán)的任意齒為基準(zhǔn)齒，以所述基準(zhǔn)齒為基準(zhǔn)位置計(jì)算每個(gè)齒與所述基準(zhǔn)齒的偏差，按照所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和轉(zhuǎn)動(dòng)所述反應(yīng)盤(pán)。在本發(fā)明的另一較佳實(shí)施例中，所述步驟101具體的包括所述全自動(dòng)生化儀上電后，反應(yīng)盤(pán)控制板掃描所述反應(yīng)盤(pán)的所有齒數(shù)與齒寬，并將所述齒數(shù)與齒寬記錄在所述全自動(dòng)生化儀的隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)。更進(jìn)一步的，所述步驟101具體的包括所述反應(yīng)盤(pán)控制板按測(cè)試方向勻速旋轉(zhuǎn)進(jìn)行掃描，每個(gè)齒從低電平到高電平，齒計(jì)數(shù)的位置與所述偏差的位置為從高電平到低電平。在本發(fā)明的另一較佳實(shí)施例中，如圖3所示的，所述步驟101具體的包括所述基準(zhǔn)齒的齒計(jì)數(shù)為一，剩余齒的齒計(jì)數(shù)按照離所述基準(zhǔn)齒的距離依次加一；所述偏差等于對(duì)應(yīng)齒之齒計(jì)數(shù)減一乘以齒寬，然后再減去所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)。更進(jìn)一步的，所述步驟101具體的包括將所有齒的偏差記錄在所述全自動(dòng)生化儀的隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)。在本發(fā)明的另一較佳實(shí)施例中，如圖2、圖4與圖5所示的，所述步驟101具體的包括
步驟102 :設(shè)定某一齒為所述基準(zhǔn)齒，掃描所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的齒數(shù)與齒寬并記錄，以所述基準(zhǔn)齒為基準(zhǔn)位置計(jì)算每個(gè)齒與所述基準(zhǔn)齒的偏差；
步驟103 :啟動(dòng)電機(jī)將所述全自動(dòng)生化儀預(yù)計(jì)將所述反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)到某一齒處；
步驟104 :檢測(cè)所述某一齒的齒計(jì)數(shù)，然后按照所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和確定執(zhí)行步數(shù)；
步驟105 :所述電機(jī)減速執(zhí)行所述執(zhí)行步數(shù)直至停止。
其中，圖2與圖4中，A表示一個(gè)整齒的電機(jī)步數(shù)，C表示齒計(jì)數(shù)，D表示全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)，E表示偏差，F(xiàn)表示反應(yīng)盤(pán)上的總齒數(shù)，G表示電機(jī)的執(zhí)行步數(shù)，P表示每個(gè)齒行走的距離。并且上述的所述齒寬為齒的寬度與齒縫的寬度,更進(jìn)一步提高了齒在轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)的精確度。實(shí)施例一
為了更進(jìn)一步的描述本發(fā)明，以下列舉一更具體的實(shí)施例進(jìn)行更詳盡的說(shuō)明，例如反應(yīng)盤(pán)上的齒數(shù)為一百六十個(gè)。上電后反應(yīng)盤(pán)控制板立刻執(zhí)行齒差掃描，并將掃描的各位置齒差數(shù)據(jù)保存在隨機(jī)存儲(chǔ)器中；
啟動(dòng)電機(jī)按測(cè)試方向勻速旋轉(zhuǎn)，如圖2所示的，每個(gè)齒從低電平開(kāi)始到高電平結(jié)束，齒計(jì)數(shù)位置和齒偏差位置為從高電平到低電平的邊沿位置；每個(gè)齒的縫和齒按1:1配置，如果不是這個(gè)比例時(shí)按實(shí)際情況計(jì)算；建立字符型數(shù)組，使用1-160為對(duì)應(yīng)齒的偏差，并初始化為零；
選取轉(zhuǎn)動(dòng)方向上所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)歸零點(diǎn)后的第一個(gè)齒作為基準(zhǔn)齒，所述基準(zhǔn)齒的基準(zhǔn)位置之偏差為E [I] =0,齒計(jì)數(shù)C=I,電機(jī)步數(shù)D=O ；
檢測(cè)到計(jì)數(shù)信號(hào)時(shí)，C加I，同時(shí)計(jì)算出齒C的偏差為E[C] = 300* (C-I)-D,例如果第一個(gè)齒的寬度步數(shù)即所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)D=295步，那么E [2] =300* (C-I)-D=300* (2-1)-295 = 5;如果第一個(gè)齒的寬度步數(shù)即所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù) D=307 步，那么 E[2]=300*(C-l)-D=300*(2-l)-307 = -7;
按上述步驟重復(fù)記錄，直到一百六十個(gè)齒的位置全部記錄完成為止；
所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)停止位置在第一個(gè)齒的齒峰中間位置，例如C=I,齒寬為150,則距齒開(kāi)始位置為齒縫+齒/2 =150+150/2 = 275步，則停止定位時(shí)的所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)的理論值275步。其更加具體的為所述全自動(dòng)生化儀進(jìn)行測(cè)試時(shí)，所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)的執(zhí)行步數(shù)是理論值與齒的偏差的和。假設(shè)預(yù)計(jì)轉(zhuǎn)到反應(yīng)盤(pán)齒的第η個(gè)位置，則啟動(dòng)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)；
然后所述全自動(dòng)生化儀檢測(cè)到計(jì)數(shù)信號(hào)時(shí)，則C執(zhí)行加I ;如果C>F，則C=I ;如果C=n，則所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)的執(zhí)行步數(shù)為G=275+E[C]；
所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)執(zhí)行所述執(zhí)行步數(shù)，直到停止反應(yīng)盤(pán)到達(dá)對(duì)應(yīng)位置。
在掃描每個(gè)齒與所述基準(zhǔn)齒之偏差的過(guò)程中，如圖3所示的，其更為具體的是 步驟106 :所述全自動(dòng)生化儀啟動(dòng)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng),判斷所述全自動(dòng)生化儀的電機(jī)是否為歸
零位置下沿，若為否，則重復(fù)判斷；
步驟107 :若為是，則判斷所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)是否為計(jì)算位置下降沿，若為否，重復(fù)判斷；
步驟108 :若為是，則判斷所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)是否為計(jì)算位置上升沿，若為否，則重復(fù)判斷；
步驟109 :若為是，則確定所述基準(zhǔn)齒，其中所述基準(zhǔn)齒計(jì)數(shù)為零，所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)為零，偏差為零；
步驟110 :判斷對(duì)應(yīng)齒行走的距離下降沿，所述對(duì)應(yīng)齒的齒計(jì)數(shù)按照離所述基準(zhǔn)齒的距離依次加一；如果齒計(jì)數(shù)大于反應(yīng)盤(pán)上的總齒數(shù)，則停止對(duì)所述對(duì)應(yīng)齒的掃描；
步驟111 :判斷所述步驟109中所述對(duì)應(yīng)齒的齒計(jì)數(shù)，若所述對(duì)應(yīng)齒的齒計(jì)數(shù)大于反應(yīng)盤(pán)上的總齒數(shù)，則按照所述偏差等于對(duì)應(yīng)齒之齒計(jì)數(shù)減一乘以齒寬，然后再減去所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)之規(guī)則，記錄對(duì)應(yīng)齒的偏差，直至將每個(gè)齒的偏差記錄完畢。從而消除固定齒由于機(jī)械加工產(chǎn)生的固有誤差，使反應(yīng)杯每次都能非常精準(zhǔn)的到達(dá)正確位置，提高了反應(yīng)盤(pán)的定位精度。本發(fā)明還提供了一種固定齒偏差補(bǔ)償系統(tǒng)，如圖6所示的，其包括用于控制電機(jī)運(yùn)行的控制單元1，所述控制單元I可以采用現(xiàn)有的技術(shù)手段，比如微處理器等。所述固定齒偏差補(bǔ)償系統(tǒng)還包括用于記錄齒數(shù)、齒寬與偏差的隨機(jī)存儲(chǔ)器2以及用于根據(jù)全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差執(zhí)行反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)步數(shù)的執(zhí)行單元3，所述隨機(jī)存儲(chǔ)器2與所述執(zhí)行單元3均與所述控制單元I通信連接，其通信方式可以采用集成的技術(shù)手段來(lái)實(shí)現(xiàn)。使固定齒偏差補(bǔ)償方法更加流暢的運(yùn)行，提高了反應(yīng)盤(pán)的定位精度。應(yīng)當(dāng)理解的是，本發(fā)明的應(yīng)用不限于上述的舉例，對(duì)本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，可以根據(jù)上述說(shuō)明加以改進(jìn)或變換，所有這些改進(jìn)和變換都應(yīng)屬于本發(fā)明所附權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種用于全自動(dòng)生化分析儀反應(yīng)盤(pán)的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其包括以下步驟 A、掃描所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的齒數(shù)與齒寬并記錄，選取所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的任意齒為基準(zhǔn)齒，以所述基準(zhǔn)齒為基準(zhǔn)位置計(jì)算每個(gè)齒與所述基準(zhǔn)齒的偏差，按照所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和轉(zhuǎn)動(dòng)所述反應(yīng)盤(pán)。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述步驟A具體的包括Al、所述全自動(dòng)生化儀上電后，反應(yīng)盤(pán)控制板掃描所述反應(yīng)盤(pán)的所有齒數(shù)與齒寬，并將所述齒數(shù)與齒寬記錄在所述全自動(dòng)生化儀的隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述步驟Al具體的包括所述反應(yīng)盤(pán)控制板按測(cè)試方向勻速旋轉(zhuǎn)進(jìn)行掃描，每個(gè)齒從低電平到高電平，齒計(jì)數(shù)的位置與所述偏差的位置為從高電平到低電平。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述步驟A具體的包括 A2、所述基準(zhǔn)齒的齒計(jì)數(shù)為一,剩余齒的齒計(jì)數(shù)按照離所述基準(zhǔn)齒的距離依次加一；所述偏差等于對(duì)應(yīng)齒之齒計(jì)數(shù)減一乘以齒寬，然后再減去所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述步驟A2具體的包括將所有齒的偏差記錄在所述全自動(dòng)生化儀的隨機(jī)存儲(chǔ)器內(nèi)。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述步驟A具體的包括 A3、啟動(dòng)電機(jī)將所述全自動(dòng)生化儀預(yù)計(jì)將所述反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)到某一齒處； A4、檢測(cè)所述某一齒的齒計(jì)數(shù)，然后按照所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和確定執(zhí)行步數(shù)； A5、所述電機(jī)減速執(zhí)行所述執(zhí)行步數(shù)直至停止。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的固定齒偏差補(bǔ)償方法，其特征在于，所述齒寬為齒的寬度與齒縫的覽度。
8.一種用于全自動(dòng)生化分析儀反應(yīng)盤(pán)的固定齒偏差補(bǔ)償系統(tǒng)，其包括用于控制電機(jī)運(yùn)行的控制單元，其特征在于，所述固定齒偏差補(bǔ)償系統(tǒng)還包括用于記錄齒數(shù)、齒寬與偏差的隨機(jī)存儲(chǔ)器以及用于根據(jù)全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差執(zhí)行反應(yīng)盤(pán)轉(zhuǎn)動(dòng)步數(shù)的執(zhí)行單元，所述隨機(jī)存儲(chǔ)器與所述執(zhí)行單元均與所述控制單元通信連接。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種固定齒偏差補(bǔ)償方法及其系統(tǒng)，其包括掃描所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的齒數(shù)與齒寬并記錄，選取所述全自動(dòng)生化儀反應(yīng)盤(pán)的任意齒為基準(zhǔn)齒，以所述基準(zhǔn)齒為基準(zhǔn)位置計(jì)算每個(gè)齒與所述基準(zhǔn)齒的偏差，按照所述全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和轉(zhuǎn)動(dòng)所述反應(yīng)盤(pán)，以及執(zhí)行該方法的系統(tǒng)。采用先掃描反應(yīng)盤(pán)選定一個(gè)基準(zhǔn)齒，然后根據(jù)該基準(zhǔn)齒確定每個(gè)齒與基準(zhǔn)齒的偏差，最后根據(jù)全自動(dòng)生化儀電機(jī)步數(shù)與所述偏差的和來(lái)轉(zhuǎn)動(dòng)反應(yīng)盤(pán)，消除了定位齒機(jī)械加工過(guò)程中存在固有偏差的缺陷，提高了反應(yīng)盤(pán)的定位精度，從而使反應(yīng)盤(pán)上的比色杯能準(zhǔn)確的到達(dá)指定位置，提高了全自動(dòng)生化分析儀的測(cè)量效率。
文檔編號(hào)G01N35/02GK102901834SQ201210391469
公開(kāi)日2013年1月30日 申請(qǐng)日期2012年10月16日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月16日
發(fā)明者張力沖, 汪博, 劉寒冰, 白曉亮, 鐘維峰, 王兆申 申請(qǐng)人:長(zhǎng)春迪瑞醫(yī)療科技股份有限公司