專利名稱：一種非晶帶材厚度的測量方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及非晶帶材領(lǐng)域，尤其涉及一種非晶帶材厚度的測量方法及裝置。
背景技術(shù)：
非晶合金帶材采用的是冷卻速度大約106°C /秒的超急冷凝固技術(shù)，從鋼液到薄帶成品的一次成型制備而成的。與傳統(tǒng)的金屬磁性材料相比，由于非晶合金原子排列無序，沒有晶體的各向異性，且電阻率高，因此具有高的導(dǎo)磁率和低的鐵損，是優(yōu)良的軟磁材料，代替硅鋼、坡莫合金和鐵氧體等作為變壓器鐵芯、互感器等，可大大提高變壓器效率、縮小體積、降低能耗。由于非晶合金制造過程節(jié)能，同時其磁性能優(yōu)良，并能夠降低變壓器使用過程中的損耗，因此被稱為二十一世紀綠色材料、電子材料。目前多采用X射線法和激光法對非晶帶材進行在線測厚，它們具有相同的優(yōu)點，既能夠?qū)崿F(xiàn)對帶材厚度實時檢測，從而對生產(chǎn)過程起到指導(dǎo)作用，但它們各自也存在很多缺陷。X射線法的缺陷主要包括x射線測厚儀體積龐大、不易維護、使用時需要經(jīng)常校準且射線發(fā)射管易老化、輻射污染強等；在線測厚時由于剛噴制出的帶材表面熱量未完全散去，導(dǎo)致測量所得厚度值誤差較大。激光法測厚則對測量環(huán)境要求相對較高，如溫度、空氣中粉塵度等，而非晶帶材生產(chǎn)過程中高溫、粉塵多的惡劣環(huán)境會影響測量結(jié)果的準確性。要想準確把握生產(chǎn)出的非晶帶材的厚度，從而為客戶提供準確的帶材信息，提高市場競爭力，則需要克服上述現(xiàn)有技術(shù)存在的弊端，探索出一種能夠準確測量非晶帶材厚度的方法，保證所得結(jié)果準確率高、誤差小。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是克服以上現(xiàn)有技術(shù)存在的缺陷，實現(xiàn)對帶材厚度的準確測量，測
量精度高、誤差小。為此，在第一方面，本發(fā)明提供一種非晶帶材厚度的準確測量方法，所述方法采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產(chǎn)的分卷環(huán)節(jié)，在接近導(dǎo)輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測微位移傳感器探頭到導(dǎo)輥表面的距離變化，根據(jù)檢測得到的傳感器探頭到導(dǎo)輥表面的距離變化確定非晶帶材厚度。為此，在第二方面，本發(fā)明提供一種非晶帶材厚度的測量裝置，其特征在于，所述裝置包括帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器，所述帶材分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷；所述電磁式微位移傳感器用于測量非晶帶材厚度的變化；所述PLC控制器從測量得到的非晶帶材厚度的變化中計算得到非晶帶材厚度；優(yōu)選地，測量裝置包括上位機，所述上位機接收來自PLC控制器的結(jié)果，直觀的顯示帶材的厚度結(jié)果及變化曲線。優(yōu)選地，所述帶材分卷裝置包括放卷機、收卷機及過渡輥系，其中過渡輥系又包括三個導(dǎo)輥，主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷。優(yōu)選地，所述電磁式微位移傳感器安裝在帶材分卷裝置過渡輥系中第二個導(dǎo)輥的正上方，精準捕捉物體的微小位移變化。優(yōu)選地，所述上位機還具有存儲數(shù)據(jù)、自動生成厚度檢測報告的功能。根據(jù)本發(fā)明實施例可精確地表征帶材的厚度，測量環(huán)境良好，干擾較少。


圖1是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種非晶帶材厚度的測量方法的邏輯框圖。圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種非晶帶材厚度的測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施例方式下面通過附圖和實施例，對本發(fā)明的技術(shù)方案做進一步的詳細描述。為了準確測量非晶帶材的厚度，本發(fā)明采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產(chǎn)的分卷環(huán)節(jié)，在例如接近導(dǎo)輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測微位移傳感器探頭到導(dǎo)輥表面的距離變化，及時反饋給PLC進行信號轉(zhuǎn)換、數(shù)據(jù)處理，傳送給上位機，在上位機上即可精確的表征帶材的厚度，測量環(huán)境良好，干擾較少。圖2是根據(jù)本發(fā)明實施例的一種非晶帶材厚度的測量裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。如圖2所示，該實施例的一種非晶帶材厚度的準確測量裝置，包括帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器及上位機，所述帶材分卷裝置包括放卷機、收卷機及過渡輥系，其中過渡輥系又包括三個導(dǎo)輥。所述分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷，即大卷分卷成卷徑相同的小卷；過渡輥系主要起減震、提高平穩(wěn)性的作用，減小從放卷機軸傳遞出的帶材的抖動、顛簸。所述電磁式微位移傳感器可以采用目前世界上較先進的電磁傳感器，分辨率可達
O.02um,測量精度達O. 5um，能夠精準捕捉物體的微小位移變化，測量精度高，將其安裝在帶材分卷裝置過渡輥系中第二個導(dǎo)輥的正上方。所述PLC控制器為實現(xiàn)本測量裝置的信號采集處理、分析計算等功能。所述上位機接收來自PLC控制器的結(jié)果，現(xiàn)場操作人員能夠通過上位機直觀的看到帶材的厚度結(jié)果及變化曲線。在非晶帶材分卷裝置中，將電磁式微位移傳感器I固定在過渡輥系第二個導(dǎo)輥4的正上方，電磁式微位移傳感器I米集電磁式微位移傳感器探頭至第二個導(dǎo)棍4表面之間的距離信號。在無帶材通過導(dǎo)輥時，PLC采集距離信號，經(jīng)過信號的轉(zhuǎn)換處理，換算成第一位移信號SI ;同理，當(dāng)有帶材通過導(dǎo)輥時，得到的距離信號換算成第二位移信號S2，PLC將第一位移信號SI和第二位移信號S2進行運算處理，得到帶材厚度AS = S1-S2，將計算結(jié)果傳輸至上位機，現(xiàn)場操作人員即可通過上位機直觀的得到帶材的厚度及變化曲線。同時上位機還可存儲數(shù)據(jù)結(jié)果，以便后續(xù)進行查找或追溯；出具檢測出的厚度報告，為客戶提供準確、直觀的帶材厚度信息。應(yīng)當(dāng)理解，根據(jù)本發(fā)明的一種非晶帶材厚度的準確測量裝置，可以包括采樣模塊和運算模塊，上位機可以包括顯示器，用于顯示數(shù)據(jù)和變化曲線。以上所述的具體實施方式
，對本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和有益效果進行了進一步詳細說明，所應(yīng)理解的是，以上所述僅為本發(fā)明的具體實施方式
而已，并不用于限定本發(fā)明的保護范圍，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)，所做的任何修改、等同替換、改進等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種非晶帶材厚度的測量方法，所述方法:采用高精度電磁式微位移傳感器，在非晶帶材生產(chǎn)的分卷環(huán)節(jié)，在接近導(dǎo)輥的位置安裝高精度電磁式微位移傳感器，通過檢測傳感器探頭到導(dǎo)輥表面的距離變化，根據(jù)檢測得到的傳感器探頭到導(dǎo)輥表面的距離變化確定非晶帶材厚度。
2.一種非晶帶材厚度的測量裝置，其特征在于，所述裝置包括:帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器， 所述帶材分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷； 所述電磁式微位移傳感器用于測量非晶帶材厚度的變化； 所述PLC控制器從測量得到的非晶帶材厚度的變化中計算得到非晶帶材厚度。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非晶帶材厚度的測量裝置，其特征在于，包括上位機，所述上位機接收來自PLC控制器的結(jié)果，直觀的顯示帶材的厚度結(jié)果及變化曲線。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非晶帶材厚度的測量裝置，其特征在于，所述帶材分卷裝置包括放卷機、收卷機及過渡輥系，其中過渡輥系又包括三個導(dǎo)輥，主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種非晶帶材厚度的測量裝置，其特征在于，所述電磁式微位移傳感器安裝在帶材分卷裝置過渡輥系中第二個導(dǎo)輥的正上方，精準捕捉物體的微小位移變化。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的上位機，其特征在于，所述上位機還具有存儲數(shù)據(jù)、自動生成厚度檢測報告的功能 。
全文摘要
本發(fā)明公開一種非晶帶材厚度的測量方法及裝置。包括帶材分卷裝置、電磁式微位移傳感器、PLC控制器，所述帶材分卷裝置的主要作用是將自動卷取后的帶材進行分卷；所述電磁式微位移傳感器用于測量非晶帶材厚度的變化；所述PLC控制器從測量得到的非晶帶材厚度的變化中計算得到非晶帶材厚度。測量環(huán)境良好，干擾較少，從而為客戶提供非晶帶材準確的厚度信息。
文檔編號G01B7/06GK103075956SQ201210583310
公開日2013年5月1日 申請日期2012年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月28日
發(fā)明者李曉雨, 王玲, 姜寧, 李晨, 王安慶 申請人:青島云路新能源科技有限公司