專利名稱:藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及ー種小角晶界的檢測(cè)設(shè)備,具體是ー種藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀。
背景技術(shù):
晶界上由于原子(離子)間結(jié)合鍵的變化及結(jié)構(gòu)畸變,界面將存在著比體內(nèi)高的剩余能量,這就是界面能。晶界上兩個(gè)晶粒的質(zhì)點(diǎn)排列取向有一定的差異,兩者都カ圖使晶界上的質(zhì)點(diǎn)排列符合于自己的取向,當(dāng)達(dá)到平衡吋,晶界上的原子就形成某種過渡的排列,顯然,晶界上原子排列的結(jié)構(gòu)缺陷集中,這給晶界帶來了不同于晶粒的ー些特殊性質(zhì)。多晶體的性質(zhì)不僅由晶粒內(nèi)部結(jié)構(gòu)和它們的缺陷所決定,而且還與晶界結(jié)構(gòu)、所占比例等因素有關(guān)。當(dāng)晶粒很小時(shí),晶界的影響不可忽視。 在人造藍(lán)寶石加工過程中,對(duì)于藍(lán)寶石晶界的檢測(cè)一直存很復(fù)雜的檢測(cè)方法,而且準(zhǔn)確性低。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型提供ー種檢測(cè)簡(jiǎn)單、使用方便,檢測(cè)晶界效率更高的藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀。本實(shí)用新型解決技術(shù)問題提供如下方案—種藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,包括燈箱、玻璃罩,其特征在于所述燈箱為四周密封的矩形箱體,所述燈箱內(nèi)安裝有照明光源,所述燈箱的頂面中心具有透光狹縫,所述狹縫上蓋有ー層偏光片,所述燈箱的頂面上罩有玻璃罩,所述玻璃罩的底部四周與燈箱上表面固定連接,所述玻璃罩的上表面與燈箱上表面之間水平平行,所述玻璃罩的上表面貼
有ー層偏光膜。所述玻璃罩的左、右兩側(cè)壁上貼有擋光片。所述玻璃罩的正上方為觀測(cè)區(qū)域。所述玻璃罩的前后端面上設(shè)有開ロ。 所述燈箱的側(cè)壁上設(shè)有光源電源線。本實(shí)用新型在使用時(shí),打開燈箱內(nèi)的電源,將待檢測(cè)的晶片放到燈箱上表面的偏光片上,將需要重點(diǎn)觀測(cè)的區(qū)域?qū)?zhǔn)透光狹縫,觀測(cè)人員站在檢測(cè)儀的ー側(cè),透過兩層偏光片觀測(cè)晶片,可以很直觀的看到晶片上的晶界。
圖I為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
參見附圖,一種藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,包括燈箱I、玻璃罩2,所述燈箱I為四周密封的矩形箱體,所述燈箱I內(nèi)安裝有照明光源3,所述燈箱I的頂面中心具有透光狹縫4,所述狹縫4上蓋有ー層偏光片5,所述燈箱I的頂面上罩有玻璃罩2,所述玻璃罩2的底部四周與燈箱I上表面固定連接,所述玻璃罩2的上表面與燈箱I上表面之間水平平行,所述玻璃罩2的上表面貼有ー層偏光膜6,所述玻璃罩2的左、右兩 側(cè)壁上貼有擋光片7,所述玻璃罩2的正上方為觀測(cè)區(qū)域,所述玻璃罩2的前后端面上設(shè)有開ロ 8,所述燈箱I的側(cè)壁上設(shè)有光源電源線9。
權(quán)利要求1.ー種藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,包括燈箱、玻璃罩,其特征在于所述燈箱為四周密封的矩形箱體,所述燈箱內(nèi)安裝有照明光源,所述燈箱的頂面中心具有透光狹縫,所述狹縫上蓋有ー層偏光片,所述燈箱的頂面上罩有玻璃罩,所述玻璃罩的底部四周與燈箱上表面固定連接,所述玻璃罩的上表面與燈箱上表面之間水平平行,所述玻璃罩的上表面貼有ー層偏光膜。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,其特征在于所述玻璃罩的左、右兩側(cè)壁上貼有擋光片。
3.根據(jù)權(quán)利要求I所述藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,其特征在于所述玻璃罩的正上方為觀測(cè)區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求I所述藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,其特征在于所述玻璃罩的前后端面上設(shè)有開ロ。
5.根據(jù)權(quán)利要求I所述藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,其特征在于所述燈箱的側(cè)壁上設(shè)有光源電源線。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種藍(lán)寶石晶體小角晶界檢測(cè)儀,包括燈箱、玻璃罩,所述燈箱為四周密封的矩形箱體,所述燈箱內(nèi)安裝有照明光源,所述燈箱的頂面中心具有透光狹縫,所述狹縫上蓋有一層偏光片,所述燈箱的頂面上罩有玻璃罩,所述玻璃罩的底部四周與燈箱上表面固定連接,所述玻璃罩的上表面與燈箱上表面之間水平平行,所述玻璃罩的上表面貼有一層偏光膜。本實(shí)用新型檢測(cè)簡(jiǎn)單、使用方便,檢測(cè)晶界效率更高。
文檔編號(hào)G01N21/87GK202486059SQ201220064210
公開日2012年10月10日 申請(qǐng)日期2012年2月24日 優(yōu)先權(quán)日2012年2月24日
發(fā)明者楊愛軍, 紀(jì)沿海, 鮑啟兵 申請(qǐng)人:安徽江威精密制造有限公司