專利名稱：寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)技術(shù)領(lǐng)域[0001]本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試針機(jī)構(gòu)，特別是涉及一種寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)。
背景技術(shù)：
[0002]國(guó)內(nèi)現(xiàn)有的RF射頻針卡制作主要是圓形棒材加工成錐形直針后進(jìn)行彎折制作，即最后形成彎的針。為保證接觸阻抗小于0.3ohms的良好性能要求，基本選用的材質(zhì)是鈹銅，其中鈹銅針的制作有以下幾個(gè)要點(diǎn):一、按測(cè)試的壓點(diǎn)要求選針；二、針尖長(zhǎng)一般為保證一定的使用壽命選擇7mils 9mils ;三、針尖部分為錐形,針桿部分為圓形；四、使用環(huán)氧包固定針的位置；五、對(duì)于針壓要求大、焊點(diǎn)(pad)間距小的芯片的測(cè)試，需要在保證針徑的前提下，采用多層布針的工藝技術(shù)。[0003]現(xiàn)在測(cè)試針的缺點(diǎn)如下:一、鈹銅針的材質(zhì)由97.6%銅和1.87%鈹合金經(jīng)熱處理而成，和鎢針相比非常軟；二、鈹銅的材質(zhì)疲勞強(qiáng)度低；三、針尖長(zhǎng)度不易做長(zhǎng)，使用壽命較短；四、對(duì)要求直徑大的棒針，若采用多層布針工藝技術(shù)，會(huì)影響針位固定；五、頻率的損耗大，對(duì)于頻率要求更寬的測(cè)試無法實(shí)現(xiàn)。實(shí)用新型內(nèi)容[0004]本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問題是提供一種寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)，其頻率測(cè)試性能更寬，延長(zhǎng)了使用壽命。[0005]本實(shí)用新型是通過下述技術(shù)方案來解決上述技術(shù)問題的:一種寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)，其特征在于，其包括直探針、焊錫、印刷電路板，直探針和印刷電路板之間通過焊錫焊接，直探針的截面形狀為橢圓形。[0006]優(yōu)選地，所述直探針的長(zhǎng)度為一厘米至三厘米。[0007]本實(shí)用新型的積極進(jìn)步效果在于:本實(shí)用新型能滿足焊點(diǎn)(pad)的中心距更小的芯片的測(cè)試要求，頻率測(cè)試性能更寬，延長(zhǎng)了使用壽命。


[0008]圖1為本實(shí)用新型寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)示意圖。[0009]圖2為本實(shí)用新型中直探針的截面形狀示意圖。
具體實(shí)施方式
[0010]
以下結(jié)合附圖給出本實(shí)用新型較佳實(shí)施例，以詳細(xì)說明本實(shí)用新型的技術(shù)方案。[0011]如圖1和圖2所示，本實(shí)用新型寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)包括直探針1、焊錫2、印刷電路板(PCB)3，直探針I(yè)和印刷電路板3之間通過焊錫2焊接，直探針I(yè)的截面形狀為橢圓形。直探針I(yè)的長(zhǎng)度為一厘米至三厘米，優(yōu)選地為二厘米。[0012]橢圓形的直探針不經(jīng)過彎折，直接使用焊錫焊接在印刷電路板上，這樣可以使用的部分(可測(cè)試部位)較長(zhǎng)，延長(zhǎng)了使用壽命。橢圓形的直探針左右兩邊的尺寸較傳統(tǒng)圓形探針的小，這樣就可以更密集的做針，而直探針上下的距離較傳統(tǒng)圓形探針的大，保證了直探針的抗壓強(qiáng)度。由于直探針決定了信號(hào)從針尖到印刷電路板的距離較現(xiàn)有的探針測(cè)試短且沒有彎折，減少了頻率的損耗，頻率測(cè)試性能更寬。[0013]本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行各種改型和改變。因此，本實(shí)用新型覆蓋了落入所附的權(quán)利要求書及其等同物的范圍內(nèi)的各種改型和改變。
權(quán)利要求1.一種寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)，其特征在于，其包括直探針、焊錫、印刷電路板，直探針和印刷電路板之間通過焊錫焊接，直探針的截面形狀為橢圓形。
2.如權(quán)利要求1所述的寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述直探針的長(zhǎng)度為一厘米至三厘米。
專利摘要本實(shí)用新型公開了一種寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)，其包括直探針、焊錫、印刷電路板，直探針和印刷電路板之間通過焊錫焊接，直探針的截面形狀為橢圓形。本實(shí)用新型寬頻測(cè)試針機(jī)構(gòu)的頻率測(cè)試性能更寬，延長(zhǎng)了使用壽命。
文檔編號(hào)G01R1/067GK202975068SQ201220536129
公開日2013年6月5日 申請(qǐng)日期2012年10月18日 優(yōu)先權(quán)日2012年10月18日
發(fā)明者王懿, 安奎 申請(qǐng)人:上海依然半導(dǎo)體測(cè)試有限公司