專利名稱：電阻測(cè)試治具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及軟性電路板加工領(lǐng)域，尤其涉及一種電阻測(cè)試治具。
背景技術(shù)：
低電阻線圈剛性印制線路板生產(chǎn)出來后，需要通過電阻檢測(cè)，檢測(cè)電阻值在合格范圍內(nèi)才能使用?，F(xiàn)時(shí)的電阻測(cè)試一般是用萬用表逐個(gè)手動(dòng)測(cè)試，操作繁冗、測(cè)試效率低下。因此，亟待一種操作方便，且測(cè)試效率高的電阻測(cè)試治具。

實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于提供一種操作方便，且測(cè)試效率高的電阻測(cè)試治具。為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型的技術(shù)方案為:提供一種電阻測(cè)試治具，包括機(jī)架、上壓板、上壓板升降機(jī)構(gòu)、測(cè)試夾具及若干測(cè)試表，所述測(cè)試夾具的測(cè)試端面上設(shè)有若干測(cè)試區(qū)域，所述測(cè)試區(qū)域上分別設(shè)有一對(duì)測(cè)試端口，所述上壓板位于所述測(cè)試夾具的測(cè)試端面的上方，所述上壓板的上端與所述上壓板升降機(jī)構(gòu)相接，所述上壓板升降機(jī)構(gòu)帶動(dòng)上壓板上下垂直運(yùn)動(dòng)，所述上壓板的下端面設(shè)有若干對(duì)與所述測(cè)試端口對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針，所述測(cè)試表固接于所述機(jī)架上，所述測(cè)試表的測(cè)試連接端與相應(yīng)的一對(duì)測(cè)試探針電性相接。所述上壓板升降機(jī)構(gòu)上設(shè)有啟動(dòng)按鈕及停止按鈕。所述上壓板升降機(jī)構(gòu)包括兩導(dǎo)桿，所述導(dǎo)桿的下端固接于所述上壓板的上端，所述導(dǎo)桿的上端滑動(dòng)連接于所述機(jī)架上。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實(shí)用新型電阻測(cè)試治具通過測(cè)試夾具固定待測(cè)產(chǎn)品，通過多對(duì)探針與測(cè)試端口的配合實(shí)現(xiàn)同時(shí)測(cè)試多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品，操作方便，測(cè)試效率高。通過以下的描述并結(jié)合附圖，本實(shí)用新型將變得更加清晰，這些附圖用于解釋本實(shí)用新型的實(shí)施例。

圖1為本實(shí)用新型電阻測(cè)試治具的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
參考圖1，本實(shí)用新型電阻測(cè)試治具100包括機(jī)架10、上壓板20、上壓板升降機(jī)構(gòu)30、測(cè)試夾具40及若干測(cè)試表50。本實(shí)施例中，所述測(cè)試表50為萬用表,數(shù)量為4個(gè)。所述測(cè)試夾具40的測(cè)試端面41上設(shè)有若干測(cè)試區(qū)域(圖未示)，所述測(cè)試區(qū)域上設(shè)有一對(duì)測(cè)試端口(圖未示)。所述上壓板20位于所述測(cè)試夾具40的測(cè)試端面的上方。所述上壓板20的上端與所述上壓板升降機(jī)構(gòu)30相接，所述上壓板升降機(jī)構(gòu)30帶動(dòng)上壓板20上下垂直運(yùn)動(dòng)。所述上壓板20的下端面設(shè)有若干對(duì)與所述測(cè)試端口對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針(圖未示)，所述測(cè)試表50固接于所述機(jī)架10上，所述測(cè)試表50的測(cè)試連接端與相應(yīng)的一對(duì)測(cè)試探針電性相接。具體地，所述上壓板升降機(jī)構(gòu)30包括兩導(dǎo)桿31，所述導(dǎo)桿31的下端固接于所述上壓板20的上端，所述導(dǎo)桿31的上端滑動(dòng)連接于所述機(jī)架10上。較佳者，所述上壓板升降機(jī)構(gòu)30上設(shè)有啟動(dòng)按鈕32及停止按鈕33。使用本實(shí)用新型電阻測(cè)試治具100時(shí)，將待測(cè)產(chǎn)品放到測(cè)試治具40的測(cè)試端面上的測(cè)試區(qū)域內(nèi)，并將待測(cè)產(chǎn)品的兩端接到對(duì)應(yīng)的一 對(duì)測(cè)試端口上，啟動(dòng)啟動(dòng)按鈕32，上壓板20升降機(jī)構(gòu)30驅(qū)動(dòng)上壓板20下行，測(cè)試探針抵頂對(duì)應(yīng)的測(cè)試端口并發(fā)生微小彈性形變，使測(cè)試探針與對(duì)應(yīng)的測(cè)試端口充分接觸。此時(shí)測(cè)試表50顯示待測(cè)產(chǎn)品的阻值，判斷合格品與不良品后。啟動(dòng)停止按鈕，上壓板20往回上行，然后取下產(chǎn)品進(jìn)行壞板標(biāo)識(shí)。本實(shí)用新型電阻測(cè)試治具通過測(cè)試夾具固定待測(cè)產(chǎn)品，通過多對(duì)探針與測(cè)試端口的配合實(shí)現(xiàn)同時(shí)測(cè)試多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品，操作方便，測(cè)試效率高。以上結(jié)合最佳實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行描述，但本實(shí)用新型并不局限于以上揭示的實(shí)施例，而應(yīng)當(dāng)涵蓋各種根據(jù)本實(shí)施例的本質(zhì)進(jìn)行的修改、等效組合。
權(quán)利要求1.一種電阻測(cè)試治具，其特征在于:包括機(jī)架、上壓板、上壓板升降機(jī)構(gòu)、測(cè)試夾具及若干測(cè)試表，所述測(cè)試夾具的測(cè)試端面上設(shè)有若干測(cè)試區(qū)域，所述測(cè)試區(qū)域上分別設(shè)有一對(duì)測(cè)試端口，所述上壓板位于所述測(cè)試夾具的測(cè)試端面的上方，所述上壓板的上端與所述上壓板升降機(jī)構(gòu)相接，所述上壓板升降機(jī)構(gòu)帶動(dòng)上壓板上下垂直運(yùn)動(dòng)，所述上壓板的下端面設(shè)有若干對(duì)與所述測(cè)試端口對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針，所述測(cè)試表固接于所述機(jī)架上，所述測(cè)試表的測(cè)試連接端與相應(yīng)的一對(duì)測(cè)試探針電性相接。
2.如權(quán)利要求1所述的電阻測(cè)試治 具，其特征在于:所述上壓板升降機(jī)構(gòu)上設(shè)有啟動(dòng)按鈕及停止按鈕。
3.如權(quán)利要求1所述的電阻測(cè)試治具，其特征在于:所述上壓板升降機(jī)構(gòu)包括兩導(dǎo)桿，所述導(dǎo)桿的下端固接于所述上壓板的上端，所述導(dǎo)桿的上端滑動(dòng)連接于所述機(jī)架上。
專利摘要本實(shí)用新型公開一種電阻測(cè)試治具，包括機(jī)架、上壓板、上壓板升降機(jī)構(gòu)、測(cè)試夾具及若干測(cè)試表，所述測(cè)試夾具的測(cè)試端面上設(shè)有若干測(cè)試區(qū)域，所述測(cè)試區(qū)域上分別設(shè)有一對(duì)測(cè)試端口，所述上壓板位于所述測(cè)試夾具的測(cè)試端面的上方，所述上壓板的上端與所述上壓板升降機(jī)構(gòu)相接，所述上壓板升降機(jī)構(gòu)帶動(dòng)上壓板上下垂直運(yùn)動(dòng)，所述上壓板的下端面設(shè)有若干對(duì)與所述測(cè)試端口對(duì)應(yīng)的測(cè)試探針，所述測(cè)試表固接于所述機(jī)架上，所述測(cè)試表的測(cè)試連接端與相應(yīng)的一對(duì)測(cè)試探針電性相接。該電阻測(cè)試治具通過測(cè)試夾具固定待測(cè)產(chǎn)品，通過多對(duì)探針與測(cè)試端口的配合實(shí)現(xiàn)同時(shí)測(cè)試多個(gè)待測(cè)產(chǎn)品，操作方便，測(cè)試效率高。
文檔編號(hào)G01R27/02GK203117290SQ20122072555
公開日2013年8月7日 申請(qǐng)日期2012年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月26日
發(fā)明者鐘偉忠, 陸利軍, 岳少群 申請(qǐng)人:東莞市康莊電路有限公司