產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，包括匯入模塊、對齊模塊、計(jì)算模塊、查找模塊、第一圖形生成模塊以及顯示模塊。匯入模塊用于匯入產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)圖形的標(biāo)準(zhǔn)輪廓線以及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點(diǎn)云輪廓線；對齊模塊用于將所述點(diǎn)云輪廓線與所述標(biāo)準(zhǔn)輪廓線對齊；計(jì)算模塊用于計(jì)算對齊后的點(diǎn)云輪廓線中的每一點(diǎn)相對于標(biāo)準(zhǔn)輪廓線的偏差值；查找模塊用于找出所有偏差值中的最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)，并找出該最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)附近預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的點(diǎn)，形成一偏差隊(duì)列；第一圖形生成模塊用于將所述偏差隊(duì)列內(nèi)所有點(diǎn)的偏差值生成一折線圖；顯示模塊用于顯示所述折線圖。本發(fā)明還涉及一種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法。
【專利說明】產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明涉及一種產(chǎn)品檢測系統(tǒng)及方法，特別是關(guān)于一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng) 及方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 近年來，隨著計(jì)算機(jī)硬件性能的提高及價(jià)格的降低，其在掃描系統(tǒng)中被大量的引 入。做法一般是使用掃描裝置掃描產(chǎn)品W獲得組成該產(chǎn)品輪廓線的點(diǎn)云（即由多個(gè)H維離 散點(diǎn)組成的點(diǎn)的集合)，而后將點(diǎn)云數(shù)據(jù)輸入計(jì)算機(jī)，執(zhí)行相應(yīng)軟件可對點(diǎn)云數(shù)據(jù)進(jìn)行各種 處理。目前，市面上的產(chǎn)品檢測系統(tǒng)還沒有對產(chǎn)品組裝后的變形進(jìn)行分析的功能，不能夠分 析產(chǎn)品組裝后的變形情況，從而不便于產(chǎn)品組裝應(yīng)力的分析。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003] 鑒于W上內(nèi)容，有必要提供一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，能夠分析產(chǎn)品輪廓的 變形情況。
[0004] 此外，還有必要提供一種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，能夠分析產(chǎn)品輪廓的變形情 況。
[0005] -種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，運(yùn)行于計(jì)算設(shè)備中，該系統(tǒng)包括： 匯入模塊，用于匯入產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)圖形的標(biāo)準(zhǔn)輪廓線W及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點(diǎn)云輪 廓線； 對齊模塊，用于將所述點(diǎn)云輪廓線與所述標(biāo)準(zhǔn)輪廓線對齊； 計(jì)算模塊，用于計(jì)算對齊后的點(diǎn)云輪廓線中的每一點(diǎn)相對于標(biāo)準(zhǔn)輪廓線的偏差值； 查找模塊，用于找出所有偏差值中的最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)，并找出該最大偏差值對應(yīng) 的點(diǎn)附近預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的點(diǎn)，形成一偏差隊(duì)列； 第一圖形生成模塊，用于將所述偏差隊(duì)列內(nèi)所有點(diǎn)的偏差值生成一折線圖；W及 顯示模塊，用于顯示所述折線圖。
[0006] 一種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，運(yùn)行于計(jì)算設(shè)備中，該方法包括： 匯入產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)圖形的標(biāo)準(zhǔn)輪廓線W及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點(diǎn)云輪廓線； 將所述點(diǎn)云輪廓線與所述標(biāo)準(zhǔn)輪廓線對齊； 計(jì)算對齊后的點(diǎn)云輪廓線中的每一點(diǎn)相對于標(biāo)準(zhǔn)輪廓線的偏差值； 找出所有偏差值中的最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)，并找出該最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)附近預(yù)設(shè)范 圍內(nèi)的點(diǎn)，形成一偏差隊(duì)列； 將所述偏差隊(duì)列內(nèi)所有點(diǎn)的偏差值生成一折線圖；W及 顯示所述折線圖。
[0007] 所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)及方法通過將點(diǎn)云輪廓線構(gòu)成偏差隊(duì)列，并根據(jù) 偏差隊(duì)列內(nèi)的點(diǎn)的偏差值生成一折線圖，可方便用戶直觀地看出產(chǎn)品輪廓變形量的走勢， 為評判產(chǎn)品的成型品質(zhì)提供了有效依據(jù)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008] 圖1為本發(fā)明較佳實(shí)施方式的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)的應(yīng)用環(huán)境示意圖。
[0009] 圖2為圖1所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)的功能模塊圖。
[0010] 圖3為本發(fā)明較佳實(shí)施方式的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法的流程圖。
[0011] 圖4為應(yīng)用圖3所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法進(jìn)行分析的產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)輪廓線及 點(diǎn)云輪廓線的示意圖。
[0012] 圖5為應(yīng)用圖3所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法生成的折線圖。
[0013] 圖6為應(yīng)用圖3所示的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法生成的數(shù)值區(qū)間標(biāo)示圖。
[0014] 圖7為圖3中步驟S2的具體作業(yè)流程圖。
[00巧]主要元件符號說?_

【權(quán)利要求】
1. 一種產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，運(yùn)行于計(jì)算設(shè)備中，其特征在于，該系統(tǒng)包括： 匯入模塊，用于匯入產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)圖形的標(biāo)準(zhǔn)輪廓線以及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點(diǎn)云輪 廓線； 對齊模塊，用于將所述點(diǎn)云輪廓線與所述標(biāo)準(zhǔn)輪廓線對齊； 計(jì)算模塊，用于計(jì)算對齊后的點(diǎn)云輪廓線中的每一點(diǎn)相對于標(biāo)準(zhǔn)輪廓線的偏差值； 查找模塊，用于找出所有偏差值中的最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)，并找出該最大偏差值對應(yīng) 的點(diǎn)附近預(yù)設(shè)范圍內(nèi)的點(diǎn)，形成一偏差隊(duì)列； 第一圖形生成模塊，用于將所述偏差隊(duì)列內(nèi)所有點(diǎn)的偏差值生成一折線圖；以及 顯示模塊，用于顯示所述折線圖。
2. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于：所述對齊模塊包括： 整體對齊單元，用于采用最小二乘法將點(diǎn)云輪廓線與標(biāo)準(zhǔn)輪廓線進(jìn)行整體對齊；以及 局部對齊單元，用于將完成整體對齊后的點(diǎn)云輪廓線再通過最小二乘法與對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn) 輪廓線進(jìn)行局部對齊。
3. 如權(quán)利要求2所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于：所述局部對齊單元通 過構(gòu)建一矩形框，該矩形框沿著該點(diǎn)云輪廓線的走向連續(xù)對該點(diǎn)云輪廓線進(jìn)行局部截取， 然后將每一次局部截取時(shí)位于該矩形框內(nèi)的所有點(diǎn)利用最小二乘法進(jìn)行對齊判斷，實(shí)現(xiàn)局 部對齊。
4. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于：所述查找模塊通過查 找最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)兩側(cè)偏差值最小的點(diǎn)，將所查找到的兩個(gè)偏差值最小的點(diǎn)及二者之 間的所有點(diǎn)構(gòu)成所述偏差隊(duì)列。
5. 如權(quán)利要求1所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析系統(tǒng)，其特征在于，所述產(chǎn)品輪廓變形量 分析系統(tǒng)還包括： 第二圖形生成模塊，用于根據(jù)點(diǎn)云輪廓線、標(biāo)準(zhǔn)輪廓線及點(diǎn)云輪廓線中各點(diǎn)的偏差值 生成一數(shù)值區(qū)間標(biāo)示圖，以指明點(diǎn)云輪廓線中每一點(diǎn)對應(yīng)的偏差值所屬的數(shù)值區(qū)間； 其中，顯示模塊在顯示所述折線圖時(shí)，將所述數(shù)值區(qū)間標(biāo)示圖與所述折線圖一起進(jìn)行 顯不。
6. -種產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，運(yùn)行于計(jì)算設(shè)備中，其特征在于，該方法包括： (a) 匯入產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)圖形的標(biāo)準(zhǔn)輪廓線以及通過掃描獲得的產(chǎn)品的點(diǎn)云輪廓線； (b) 將所述點(diǎn)云輪廓線與所述標(biāo)準(zhǔn)輪廓線對齊； (c) 計(jì)算對齊后的點(diǎn)云輪廓線中的每一點(diǎn)相對于標(biāo)準(zhǔn)輪廓線的偏差值； (d) 找出所有偏差值中的最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)，并找出該最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)附近預(yù) 設(shè)范圍內(nèi)的點(diǎn)，形成一偏差隊(duì)列； (e) 將所述偏差隊(duì)列內(nèi)所有點(diǎn)的偏差值生成一折線圖；以及 (f) 顯示所述折線圖。
7. 如權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于：步驟（b)具體包括： (g) 采用最小二乘法將點(diǎn)云輪廓線與標(biāo)準(zhǔn)輪廓線進(jìn)行整體對齊；以及 (h) 將完成整體對齊后的點(diǎn)云輪廓線再通過最小二乘法與對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)輪廓線進(jìn)行局部 對齊。
8. 如權(quán)利要求7所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于：步驟（h)具體為： 構(gòu)建一矩形框； 該矩形框沿著該點(diǎn)云輪廓線的走向連續(xù)對該點(diǎn)云輪廓線進(jìn)行局部截??； 將每一次局部截取時(shí)位于該矩形框內(nèi)的所有點(diǎn)利用最小二乘法進(jìn)行對齊判斷，實(shí)現(xiàn)局 部對齊。
9. 如權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于：步驟（d)中，形成偏差 隊(duì)列的方法具體為： 查找最大偏差值對應(yīng)的點(diǎn)兩側(cè)偏差值最小的點(diǎn)，將所查找到的兩個(gè)偏差值最小的點(diǎn)及 二者之間的所有點(diǎn)構(gòu)成所述偏差隊(duì)列。
10. 如權(quán)利要求6所述的產(chǎn)品輪廓變形量分析方法，其特征在于，該方法還包括： 根據(jù)點(diǎn)云輪廓線、標(biāo)準(zhǔn)輪廓線及點(diǎn)云輪廓線中各點(diǎn)的偏差值生成一數(shù)值區(qū)間標(biāo)示圖， 以指明點(diǎn)云輪廓線中每一點(diǎn)對應(yīng)的偏差值所屬的數(shù)值區(qū)間； 其中，步驟（h)具體為：將所述數(shù)值區(qū)間標(biāo)示圖與所述折線圖一起進(jìn)行顯示。
【文檔編號】G01B21/32GK104422422SQ201310387265
【公開日】2015年3月18日 申請日期:2013年8月30日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月30日
【發(fā)明者】張旨光, 吳新元 申請人:鴻富錦精密工業(yè)（深圳）有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司