手持?jǐn)?shù)字集成電路參數(shù)測試儀的制作方法
【專利摘要】一種手持?jǐn)?shù)字集成電路參數(shù)測試儀，涉及一種集成電路參數(shù)測試儀，包括電源管理模塊、中央控制模塊、芯片測試接口、通信模塊、人機(jī)接口模塊組成，電源管理模塊輸出端與中央控制模塊的電源輸入端連接，中央控制模塊包括單片機(jī)Ⅰ、單片機(jī)Ⅱ，單片機(jī)Ⅰ與芯片測試接口連接，單片機(jī)Ⅱ分別通過I/O管腳與通信模塊、人機(jī)接口模塊直接連接，單片機(jī)Ⅰ、單片機(jī)Ⅱ之間直接通過SPI總線進(jìn)行連接；通信模塊包括串行通信接口芯片及其外圍電路，該通信模塊的輸出端與上位機(jī)的輸入端連接。本發(fā)明具有功能完善、工作穩(wěn)定、操作簡單、體積小巧、成本低廉等優(yōu)點(diǎn)，可以作為教學(xué)儀器或檢測儀表，適合推廣到學(xué)校實驗室或業(yè)余電子愛好者之中。
【專利說明】手持?jǐn)?shù)字集成電路參數(shù)測試儀
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種集成電路參數(shù)測試儀，特別是一種手持?jǐn)?shù)字集成電路參數(shù)測試儀。
【背景技術(shù)】
[0002]在進(jìn)行電子系統(tǒng)的開發(fā)設(shè)計或相關(guān)實踐教學(xué)中，會使用很多的數(shù)字集成電路芯片。很多場合下會重復(fù)利用芯片，此時難免會遇到芯片失效的情況。使用了損壞的數(shù)字集成電路芯片會極大地增加電路系統(tǒng)的調(diào)試難度，而在使用芯片之前，卻又無法通過常見的儀器儀表檢測芯片的功能是否完好。工程上使用的專業(yè)級的集成電路測試儀器功能完善，但同時具有價格昂貴、操作復(fù)雜、體積龐大等缺點(diǎn)，難以廣泛引入實驗室，在廣大電子愛好者群體之中無法普及。
[0003]
【發(fā)明者】于維佳, 莫振棟 申請人:柳州鐵道職業(yè)技術(shù)學(xué)院