檢測(cè)裝置及監(jiān)控系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種檢測(cè)裝置及監(jiān)控系統(tǒng)，檢測(cè)裝置對(duì)由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)，包括導(dǎo)電磁體、導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二、密封殼體；所述電磁體、導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均安裝于密封殼體內(nèi)；所述導(dǎo)電磁體可相對(duì)密封殼體運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)電磁體處于不同位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通或斷開連接。該檢測(cè)裝置利用磁體與鐵、鎳等金屬的吸引作用來使導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二連通或斷開連接，無需工作電源，而且不受環(huán)境影響，安全可靠。監(jiān)控系統(tǒng)包括安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品下方的至少一個(gè)上述檢測(cè)裝置，報(bào)警電路；所述檢測(cè)裝置串聯(lián)在一起組成檢測(cè)裝置組，檢測(cè)裝置組的兩端與報(bào)警電路電性相連。
【專利說明】檢測(cè)裝置及監(jiān)控系統(tǒng)【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種檢測(cè)裝置，尤其是一種利用磁體的磁性對(duì)由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)的裝置；本實(shí)用新型還涉及一種利用上述檢測(cè)裝置對(duì)由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品的位置進(jìn)行監(jiān)控的系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著時(shí)代的飛速發(fā)展，城市建設(shè)需要美化，通訊線纜只能從地下管道穿過，這樣就避免不了使用地井來中轉(zhuǎn)及維護(hù)線纜的正常通訊，但是在地面挖出地井，地井蓋在沒有監(jiān)控及限制的情況下，可能發(fā)生施工人員忘記蓋上地井蓋及有不法份子惡意盜竊地井蓋的情況，造成人或物掉落地井中，產(chǎn)生人身安全事故及財(cái)物損失。
[0003]申請(qǐng)?zhí)枮?01210176013.5的中國發(fā)明專利申請(qǐng)公開一種井蓋丟失檢測(cè)裝置，該檢測(cè)裝置包括微處理器電路、紅外輻射信號(hào)處理電路、紅外輻射檢測(cè)傳感器和電源電路。由于井內(nèi)環(huán)境十分惡劣，有泥土、污水、震動(dòng)、沒有電源等。當(dāng)檢測(cè)裝置的紅外輻射檢測(cè)傳感器的采集信號(hào)端被泥土、污水等覆蓋時(shí)，會(huì)導(dǎo)致接收的紅外信號(hào)失真，出現(xiàn)誤報(bào)警。另一方面，紅外輻射信號(hào)處理電路、紅外輻射檢測(cè)傳感器等電氣元件的采購成本較高，導(dǎo)致該檢測(cè)裝置制造成本高，難以大范圍應(yīng)用。
實(shí)用新型內(nèi)容
[0004]本實(shí)用新型目的在于，提供一種對(duì)由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)的裝置，利用該裝置可對(duì)由鑄鐵制造井蓋的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0005]本實(shí)用新型通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)該目的:
[0006]一種檢測(cè)裝置，包括導(dǎo)電磁體、導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二、密封殼體；所述電磁體、導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均安裝于密封殼體內(nèi)；所述導(dǎo)電磁體可相對(duì)密封殼體運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)電磁體處于不同位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通或斷開連接。
[0007]所述導(dǎo)電磁體為導(dǎo)電性能好的磁體。
[0008]所述檢測(cè)裝置安裝于鑄鐵制井蓋下方后，導(dǎo)電磁體由于井蓋的吸引，向井蓋一側(cè)移動(dòng)，使導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通或斷開連接。對(duì)導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二施加電壓，通過檢測(cè)導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間電流是否發(fā)生變化，可得知井蓋是否離開原位置。
[0009]進(jìn)一步的，所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向下凹陷的盤狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于盤狀體的底部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。 [0010]進(jìn)一步的，所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向上凹陷的盤狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于盤狀體的頂部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。[0011]進(jìn)一步的，所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向下凹陷的槽狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于槽狀體的底部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。
[0012]進(jìn)一步的，所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向上凹陷的槽狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于槽狀體的頂部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。
[0013]進(jìn)一步的，所述導(dǎo)電體一固定于密封殼體上；所述導(dǎo)電體二的一端與密封殼體相連，另一端為自由端；所述導(dǎo)電磁體固定于導(dǎo)電體二的自由端上。
[0014]本實(shí)用新型另一目的在于，提供一種對(duì)由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品的位置進(jìn)行監(jiān)控的系統(tǒng)。該監(jiān)控系統(tǒng)可對(duì)由鑄鐵制造井蓋的位置進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控。
[0015]本實(shí)用新型通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)該目的:
[0016]一種監(jiān)控系統(tǒng)，包括安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品下方的至少一個(gè)上述檢測(cè)裝置，報(bào)警電路；所述檢測(cè)裝置串聯(lián)在一起組成檢測(cè)裝置組，檢測(cè)裝置組的兩端與報(bào)警電路電性相連。
[0017]相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型的有益效果如下:
[0018]1、該檢測(cè)裝置利用磁體與鐵、鎳等金屬的吸引作用來使導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二連通或斷開連接，無需工作電源，而且不受環(huán)境影響，安全可靠。
[0019]2、該檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)簡單，生產(chǎn)成本低。
[0020]3、該監(jiān)控系統(tǒng)可實(shí)時(shí)對(duì)檢測(cè)裝置上方的由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品進(jìn)行監(jiān)控。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0021]以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行詳細(xì)描述。
[0022]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施例一的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0023]圖2為圖1中導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二的A向視圖。
[0024]圖3為本實(shí)用新型實(shí)施例二的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0025]圖4為圖3中導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二的B向視圖。
[0026]圖5為本實(shí)用新型實(shí)施例三的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0027]圖6為圖3中導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二的C向視圖。
[0028]圖7為本實(shí)用新型實(shí)施例四的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0029]圖8為圖7中導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二的D向視圖。
[0030]圖9為本實(shí)用新型實(shí)施例五的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0031]圖10為本實(shí)用新型實(shí)施例六的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0032]圖11為本實(shí)用新型實(shí)施例七的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0033]圖12為本實(shí)用新型實(shí)施例八的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0034]圖13為本實(shí)用新型實(shí)施例九的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0035]圖中:1-導(dǎo)電磁體，2-導(dǎo)電體一，3-導(dǎo)電體二，4-密封殼體，5-導(dǎo)線，6-防水接頭，7-電阻器,8-擋件,9-扭力彈簧，10-燈泡，11-電源，12-導(dǎo)電體一上部，13-導(dǎo)電體二上部，14-導(dǎo)電體一下部，15-導(dǎo)電體二下部，16-旋轉(zhuǎn)桿。
【具體實(shí)施方式】
[0036]實(shí)施例一
[0037]如圖1與圖2所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體4。所述導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3均固定于密封殼體4內(nèi)，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3形成一中部向下凹陷的盤狀體，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3分離開，且導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間的縫隙通過盤狀體的底部中心處。所述盤狀體與密封殼體4的上壁圍成一相對(duì)封閉的空間，所述導(dǎo)電磁體I位于該封閉空間內(nèi)。所述導(dǎo)電磁體I為球狀體，所述導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間的縫隙的寬度小于導(dǎo)電磁體I的直徑，所述相對(duì)封閉的空間為導(dǎo)電磁體I運(yùn)動(dòng)空間。
[0038]當(dāng)該檢測(cè)裝置安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品下方時(shí)，由于被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品與導(dǎo)電磁體I的相互吸引，使導(dǎo)電磁體I從盤狀體底部向上運(yùn)動(dòng)，從而使導(dǎo)電體一2與導(dǎo)電體二3斷開連接。當(dāng)被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品離開原位置后，導(dǎo)電磁體I由于自身重力回落至盤狀體底部，導(dǎo)電磁體I同時(shí)與導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3接觸，此時(shí)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3連通。那么，對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓，通過檢測(cè)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間電流是否發(fā)生變化，可得知被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否離開原位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0039]為了便于對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓，所述檢測(cè)裝置還包括與導(dǎo)電體一
2、導(dǎo)電體二 3相接的導(dǎo)線5，所述導(dǎo)線5通過防水接頭6穿過密封殼體4。
[0040]為防止對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓后，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3連通時(shí)產(chǎn)生過大電流，所述導(dǎo)線5上還連接電阻器7。
[0041]為使導(dǎo)電磁體I落在盤狀體底部后處于穩(wěn)定狀態(tài)，不受外界較小振動(dòng)的影響，所述盤狀體的底部為直徑略大于導(dǎo)電磁體I直徑的半圓盤。
[0042]實(shí)施例二
[0043]如圖3與圖4所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體
4。所述導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3均固定于密封殼體4內(nèi)，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3形成一中部向上凹陷的盤狀體，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3分離開，且導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間的縫隙通過盤狀體的頂部中心處。所述檢測(cè)裝置還包括擋件8，所述擋件8位于盤狀體所包籠的區(qū)域內(nèi)，且擋件8與盤狀體內(nèi)壁存在縫隙；所述擋件8與盤狀體圍成一相對(duì)封閉的空間；所述擋件8與盤狀體內(nèi)壁之間的縫隙，以及導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間的縫隙的寬度均小于導(dǎo)電磁體I的直徑，所述導(dǎo)電磁體I位于該相對(duì)封閉空間內(nèi)。
[0044]當(dāng)該檢測(cè)裝置安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品下方時(shí)，由于被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品與導(dǎo)電磁體I的相互吸引，使導(dǎo)電磁體I從盤狀體底部向上運(yùn)動(dòng)，直至導(dǎo)電磁體I同時(shí)與導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3相接觸，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3連通。當(dāng)被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品離開原位置后，導(dǎo)電磁體I由于自身重力回落至盤狀體底部，導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3斷開連接。那么，對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓，通過檢測(cè)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間電流是否發(fā)生變化，可得知被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否離開原位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)。[0045]所述檢測(cè)裝置還包括與導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3相接的導(dǎo)線5，該導(dǎo)線5上連接電阻器7。所述導(dǎo)線5穿過密封殼體4。
[0046]實(shí)施例三
[0047]如圖5與圖6所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體4。所述導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3均固定于密封殼體4內(nèi)，所述導(dǎo)電體一上部12與導(dǎo)電體二上部13形成一中部向下凹陷的槽狀體，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3分離開，且導(dǎo)電體一上部12與導(dǎo)電體二上部13之間的縫隙位于槽狀體的底部。所述槽狀體與密封殼體4的上壁、四周側(cè)壁形成一相對(duì)封閉的空間，所述導(dǎo)電磁體I位于該相對(duì)封閉的空間內(nèi)，且僅能在該相對(duì)封閉空間的移動(dòng)。
[0048]所述導(dǎo)電體一下部14、導(dǎo)電體二下部15均為導(dǎo)電柱，所述導(dǎo)電柱下端穿過所述密封殼體4。該檢測(cè)裝置與實(shí)施例一中檢測(cè)裝置的工作原理相同，在此就不再詳細(xì)描述。
[0049]實(shí)施例四
[0050]如圖7和圖8所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體4。所述導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3均固定于密封殼體4內(nèi)，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3形成一中部向上凹陷的槽狀體，導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3分離開，且導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間的縫隙通過槽狀體的頂部。所述檢測(cè)裝置還包括擋件8，所述擋件8位于槽狀體所包籠的區(qū)域內(nèi)，且擋件8與槽狀體內(nèi)壁相接觸；所述擋件8與槽狀體圍成一相對(duì)封閉的空間，所述導(dǎo)電磁體I位于該相對(duì)封閉空間內(nèi)，且僅能在該相對(duì)封閉空間的移動(dòng)。
[0051]所述檢測(cè)裝置還包括與導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3相接的導(dǎo)線5，該導(dǎo)線5穿過密封殼體4。該檢測(cè)裝置與實(shí)施例二中檢測(cè)裝置的工作原理相同，在此就不再詳細(xì)描述。
[0052]實(shí)施例五
[0053]如圖9所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體4 ;所述導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3均安裝于密封殼體4內(nèi)。所述導(dǎo)電體二 3為彈性體，其上端與密封殼體4固定連接，下端為自由端；所述導(dǎo)電磁體I固定安裝于導(dǎo)電體二 3的下端。所述導(dǎo)電體一 2固定于導(dǎo)電磁體I下方；所述導(dǎo)電磁體I在沒有外力或外力作用力較小的情況下，由于自身重力及導(dǎo)電體二 3的作用下，與導(dǎo)電體一 2接觸，使導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3連通。
[0054]當(dāng)該檢測(cè)裝置安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品下方時(shí)，由于被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品與導(dǎo)電磁體I的相互吸引，使導(dǎo)電磁體I向上運(yùn)動(dòng)與導(dǎo)電體一 2分離開，從而使導(dǎo)電體一2與導(dǎo)電體二3斷開連接。當(dāng)被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品離開原位置后，導(dǎo)電磁體I由于自身重力及導(dǎo)電體二 3的作用下復(fù)位，導(dǎo)電磁體I同時(shí)與導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3接觸，此時(shí)導(dǎo)電體一2與導(dǎo)電體二 3連通。那么，對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓，通過檢測(cè)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間電流是否發(fā)生變化，可得知被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否離開原位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0055]所述檢測(cè)裝置還包括與導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3相接的導(dǎo)線5，該導(dǎo)線5穿過密封殼體4。
[0056]實(shí)施例六
[0057]如圖10所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體4 ;所述導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3均安裝于密封殼體4內(nèi)。所述導(dǎo)電體二 3右端可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝于殼體內(nèi)的安裝柱上，左端為自由端，所述導(dǎo)電磁體I固定安裝于導(dǎo)電體一 2的自由端。所述檢測(cè)裝置還包括扭力彈簧9，所述扭力彈簧9套設(shè)于安裝柱上，且其一扭臂與導(dǎo)電體二 3右部固定相連，另一扭臂與密封殼體4固定相連。所述導(dǎo)電體一 2安裝于導(dǎo)電磁體I上方，當(dāng)導(dǎo)電體二 3及導(dǎo)電磁體I沒有外力或外力作用力較小的情況下，導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體二 3均與導(dǎo)電體一 2分離開。
[0058]當(dāng)該檢測(cè)裝置安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品下方時(shí)，由于被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品與導(dǎo)電磁體I的相互吸引，使導(dǎo)電磁體I向上運(yùn)動(dòng)直至與導(dǎo)電體一 2接觸，導(dǎo)電體一2與導(dǎo)電體二3連通。當(dāng)被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品離開原位置后，導(dǎo)電磁體I由于自身重力及扭力彈簧9的作用下復(fù)位，導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體二 3均與導(dǎo)電體一 2分離開，此時(shí)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3斷開連接。那么，對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓，通過檢測(cè)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間電流是否發(fā)生變化，可得知被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否離開原位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0059]所述檢測(cè)裝置還包括與導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3相接的導(dǎo)線5，該導(dǎo)線5穿過密封殼體4。
[0060]實(shí)施例七
[0061]如圖11所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體4 ;所述導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3均安裝于密封殼體4內(nèi)。所述導(dǎo)電體一 2為環(huán)形導(dǎo)電體，固定安裝于密封殼體4內(nèi)；所述導(dǎo)電體二 3右端可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝于殼體內(nèi)的安裝柱上，左端為自由端，該自由端穿過所述導(dǎo)電體一 2 ;所述導(dǎo)電磁體I固定安裝于導(dǎo)電體一 2的自由端。所述檢測(cè)裝置還包括扭力彈簧9，所述扭力彈簧9套設(shè)于安裝柱上，且其一扭臂與導(dǎo)電體二 3右部固定相連，另一扭臂與密封殼體4固定相連。當(dāng)導(dǎo)電體二 3及導(dǎo)電磁體I沒有外力或外力作用力較小的情況下，導(dǎo)電體二 3的中心軸與導(dǎo)電體二 3的中心軸重合，導(dǎo)電體二 3、導(dǎo)電磁體I均與導(dǎo)電體一 2分離。
[0062]當(dāng)該檢測(cè)裝置安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品下方時(shí)，由于被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品與導(dǎo)電磁體I的相互吸引，使導(dǎo)電磁體I向上運(yùn)動(dòng)直至與導(dǎo)電體一 2接觸，導(dǎo)電體一2與導(dǎo)電體二3連通。當(dāng)被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品離開原位置后，導(dǎo)電磁體I由于自身重力及扭力彈簧9的作用下復(fù)位，導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體二 3均與導(dǎo)電體一 2分離開，此時(shí)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3斷開連接。那么，對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓，通過檢測(cè)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間電流是否發(fā)生變化，可得知被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否離開原位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0063]實(shí)施例八
[0064]如圖12所示，該檢測(cè)裝置包括導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3、密封殼體4、旋轉(zhuǎn)桿16 ;所述導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體一 2、旋轉(zhuǎn)桿16均安裝于密封殼體4內(nèi)。所述旋轉(zhuǎn)桿16右端可轉(zhuǎn)動(dòng)地安裝于殼體內(nèi)的安裝柱上，左端為自由端，所述導(dǎo)電磁體I固定安裝于導(dǎo)電體一 2的自由端，所述導(dǎo)電體二 3固定安裝于旋轉(zhuǎn)桿16左部上端。所述檢測(cè)裝置還包括扭力彈簧9，所述扭力彈簧9套設(shè)于安裝柱上，且其一扭臂與旋轉(zhuǎn)桿16右部固定相連，另一扭臂與密封殼體4固定相連。所述導(dǎo)電體一 2安裝于導(dǎo)電磁體I上方，當(dāng)導(dǎo)電體二 3及導(dǎo)電磁體I沒有外力或外力作用力較小的情況下，導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體二 3均與導(dǎo)電體一 2分離開。[0065]當(dāng)該檢測(cè)裝置安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品下方時(shí)，由于被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品與導(dǎo)電磁體I的相互吸引，使導(dǎo)電磁體I向上運(yùn)動(dòng)直至與導(dǎo)電體一 2接觸，導(dǎo)電體一2與導(dǎo)電體二3連通。當(dāng)被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品離開原位置后，導(dǎo)電磁體I由于自身重力及扭力彈簧9的作用下復(fù)位，導(dǎo)電磁體1、導(dǎo)電體二 3均與導(dǎo)電體一 2分離開，此時(shí)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3斷開連接。那么，對(duì)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3施加電壓，通過檢測(cè)導(dǎo)電體一 2與導(dǎo)電體二 3之間電流是否發(fā)生變化，可得知被監(jiān)測(cè)產(chǎn)品是否離開原位置，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)監(jiān)測(cè)產(chǎn)品的位置進(jìn)行檢測(cè)。
[0066]所述檢測(cè)裝置還包括與導(dǎo)電體一 2、導(dǎo)電體二 3相接的導(dǎo)線5，該導(dǎo)線5穿過密封殼體4。
[0067]實(shí)施例九
[0068]如圖13所示，該監(jiān)控系統(tǒng)包括四個(gè)檢測(cè)裝置、報(bào)警電路以及電源11 ;所述檢測(cè)裝置與實(shí)施例一中的完全相同，在此不再詳細(xì)描述。所述報(bào)警電路為一燈泡10，所述各檢測(cè)裝置及燈泡10通過導(dǎo)線5串聯(lián)相接，并由電源11進(jìn)行供電。應(yīng)該理解，所述報(bào)警電路還可以為其它可發(fā)送信號(hào)的裝置或電路。
[0069]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的部分實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種檢測(cè)裝置，其特征在于:包括導(dǎo)電磁體、導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二、密封殼體；所述電磁體、導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均安裝于密封殼體內(nèi)；所述導(dǎo)電磁體可相對(duì)密封殼體運(yùn)動(dòng)，導(dǎo)電磁體處于不同位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通或斷開連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向下凹陷的盤狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于盤狀體的底部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:所述盤狀體與密封殼體內(nèi)壁圍成一相對(duì)封閉的空間，所述導(dǎo)電磁體位于該空間內(nèi)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向上凹陷的盤狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于盤狀體的頂部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向下凹陷的槽狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于槽狀體的底部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:所述槽狀體與密封殼體內(nèi)壁圍成一相對(duì)封閉的空間，所述導(dǎo)電磁體位于該空間內(nèi)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:所述導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二均固定于密封殼體上，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二形成一中部向上凹陷的槽狀體，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二分離開；所述導(dǎo)電磁體位于槽狀體的頂部時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間連通；導(dǎo)體磁體位于其它位置時(shí)，導(dǎo)電體一與導(dǎo)電體二之間斷開連接。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:所述導(dǎo)電體一固定于密封殼體上；所述導(dǎo)電體二的一端與密封殼體相連，另一端為自由端；所述導(dǎo)電磁體固定于導(dǎo)電體二的自由端上。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測(cè)裝置，其特征在于:還包括分別與導(dǎo)電體一、導(dǎo)電體二相連的兩根導(dǎo)線。
10.一種監(jiān)控系統(tǒng)，其特征在于:包括安裝于由鐵、鎳等中一種或多種制成的產(chǎn)品下方的至少一個(gè)權(quán)利要求1至9任一項(xiàng)所述的檢測(cè)裝置，以及報(bào)警電路；所述檢測(cè)裝置串聯(lián)在一起組成檢測(cè)裝置組，檢測(cè)裝置組的兩端與報(bào)警電路電性相連。
【文檔編號(hào)】G01B7/00GK203454964SQ201320425147
【公開日】2014年2月26日 申請(qǐng)日期:2013年7月17日 優(yōu)先權(quán)日:2013年7月17日
【發(fā)明者】劉伯建, 余俊威, 陳建文 申請(qǐng)人:廣州智如登電子科技有限公司