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      Sc插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒的制作方法

      文檔序號(hào):6195571閱讀:170來源:國知局
      Sc 插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒的制作方法
      【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種光纖組件中的SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒,旨在提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、更換方便、使用可靠的SC插座前蓋脫開力的測(cè)試工具;所述SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒包括有連接頭及塑膠測(cè)試棒,所述連接頭的一端設(shè)有容納塑膠測(cè)試棒的腔體,所述塑膠測(cè)試棒的一端固定于所述腔體中。本實(shí)用新型在使用時(shí)不會(huì)致使前蓋膨脹甚至變形,測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,適用于光纖組件中的所有SC插座前蓋脫開力的常規(guī)性測(cè)試中應(yīng)用。
      【專利說明】SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒
      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001]本實(shí)用新型涉及一種光纖組件的測(cè)試工具,更具體的說,涉及一種光纖組件中的SC插座前蓋脫開力的測(cè)試工具。
      【背景技術(shù)】
      [0002]在現(xiàn)有技術(shù)中,測(cè)試SC插座前蓋脫開力時(shí),將金屬測(cè)試頭插入前蓋跳線中并粘膠加固,測(cè)試時(shí)間跨度較長,測(cè)試效率低,再則測(cè)試后因前蓋內(nèi)孔的殘存膠無法有效刮除而導(dǎo)致整個(gè)產(chǎn)品報(bào)廢,故此測(cè)試方法僅局限于低頻次的破壞性脫開力試驗(yàn)。由于樣本量太少,不能充分驗(yàn)證大批量SC插座的此項(xiàng)可靠性能,從而可能留下個(gè)別甚至部分的質(zhì)量隱患;現(xiàn)有技術(shù)中SC插座前蓋脫開力測(cè)試工具及方法所存在著的技術(shù)缺陷,成為本領(lǐng)域技術(shù)人員一個(gè)急待解決的技術(shù)問題。

      【發(fā)明內(nèi)容】

      [0003]本實(shí)用新型的技術(shù)目的是,克服現(xiàn)有技術(shù)中僅局限于低頻次的破壞性脫開力試驗(yàn)而不能充分驗(yàn)證大批量SC插座的此項(xiàng)可靠性能的技術(shù)缺陷,提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、更換方便、使用可靠的SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒。
      [0004]為實(shí)現(xiàn)以上技術(shù)目的,本實(shí)用新型的技術(shù)方案是:
      [0005]SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒,其特征是:所述SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒包括有連接頭及塑膠測(cè)試棒,所述連接頭的一端設(shè)有容納塑膠測(cè)試棒的腔體,所述塑膠測(cè)試棒的一端固定于所述腔體中。
      [0006]更進(jìn)一步的,所述塑膠測(cè)試棒外周設(shè)有摩擦紋。
      [0007]在本實(shí)用新型應(yīng)用中,塑膠測(cè)試棒插入SC插座前蓋的跳線孔中,因其外徑相對(duì)前蓋跳線孔徑稍小,膨脹后與前蓋跳線孔內(nèi)壁形成一定的摩擦阻力,以方便測(cè)試前蓋與外罩間的脫開力量化值。
      [0008]本實(shí)用新型的有益技術(shù)效果是:在使用時(shí),不會(huì)致使SC插座前蓋膨脹甚至變形,可大批量應(yīng)用,測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、更換方便、使用可靠。
      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0009]圖1是本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施方式的結(jié)構(gòu)示意圖。
      [0010]圖2是本實(shí)用新型一個(gè)實(shí)施方式組合測(cè)試棒進(jìn)行測(cè)試時(shí)的結(jié)構(gòu)示意圖。
      【具體實(shí)施方式】
      [0011]結(jié)合圖1至圖2,在本實(shí)用新型SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒,所述SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒包括有連接頭100及塑膠測(cè)試棒101,所述連接頭100的一端設(shè)有容納塑膠測(cè)試棒的腔體,所述塑膠測(cè)試棒101的一端固定于所述腔體中。所述塑膠測(cè)試棒外周設(shè)有摩擦紋。使用時(shí),塑膠測(cè)試棒101的另一端插入SC插座前蓋的跳線孔中,因其外徑相對(duì)前蓋跳線孔徑稍小,膨脹后與前蓋跳線孔內(nèi)壁形成一定的摩擦阻力,以方便測(cè)試前蓋與外罩間的脫開力量化值。圖2中102處為塑膠測(cè)試棒與跳線孔的接觸部分。在使用時(shí),不會(huì)致使SC插座前蓋膨脹甚至變形,測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確。
      [0012]本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、更換方便、使用可靠,并易于實(shí)施;是本領(lǐng)域一個(gè)既實(shí)用又新型的技術(shù)改進(jìn)。
      【權(quán)利要求】
      1.SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒,其特征是:所述SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒包括有連接頭及塑膠測(cè)試棒,所述連接頭的一端設(shè)有容納塑膠測(cè)試棒的腔體,所述塑膠測(cè)試棒的一端固定于所述腔體中。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1的SC插座前蓋脫開力的組合測(cè)試棒,其特征是:所述塑膠測(cè)試棒外周設(shè)有摩擦紋。
      【文檔編號(hào)】G01L5/00GK203443721SQ201320491379
      【公開日】2014年2月19日 申請(qǐng)日期:2013年8月13日 優(yōu)先權(quán)日:2013年8月13日
      【發(fā)明者】黃海兵, 唐建盛, 惠博娜 申請(qǐng)人:深圳市光網(wǎng)科技有限公司
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