Amoled顯示屏的otp裝置及其定位機(jī)構(gòu)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種AMOLED顯示屏的OTP裝置及其定位機(jī)構(gòu)，該定位機(jī)構(gòu)包括：具有頂面的測試平臺(tái)，頂面設(shè)有用于限位待測試的AMOLED顯示屏的限位槽；設(shè)于測試平臺(tái)的頂面上的壓接治具，壓接治具與待測試的AMOLED顯示屏可抵接，以定位AMOLED顯示屏；設(shè)于測試平臺(tái)上、用于承載外部的光學(xué)測量裝置的測試探頭的移動(dòng)定位支架，移動(dòng)定位支架相對(duì)于測試平臺(tái)可滑動(dòng)，以調(diào)節(jié)光學(xué)測量裝置的測試探頭與待測試的AMOLED顯示屏的相對(duì)位置；設(shè)于測試平臺(tái)的頂面上的輔助連接器，輔助連接器可將待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片與外部的數(shù)據(jù)處理裝置進(jìn)行通訊連接，以對(duì)待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)燒錄。上述定位機(jī)構(gòu)能夠提高OTP效率，降低OTP裝置的成本較低。
【專利說明】AMOLED顯示屏的OTP裝置及其定位機(jī)構(gòu)
【【技術(shù)領(lǐng)域】】
[0001]本實(shí)用新型涉及一種AMOLED顯示屏的檢測設(shè)備，特別是涉及一種AMOLED顯示屏的OTP裝置及其定位機(jī)構(gòu)。
【【背景技術(shù)】】
[0002]基于AMOLED (Active Matrix/Organic Light Emitting Diode,有源矩陣有機(jī)發(fā)光二極體)顯示屏的特殊性，為解決屏體色坐標(biāo)偏移問題，通常需在模組綁定(Bonding)工藝完成之后，對(duì)驅(qū)動(dòng)芯片(Driver IC)進(jìn)行OTP (One Time Program, 一次編程)，也就是通過驅(qū)動(dòng)芯片的參數(shù)預(yù)設(shè)方式修正屏體色坐標(biāo)。由于OTP作業(yè)的特殊要求，如果單純依賴人員操作，失誤率較高，將會(huì)嚴(yán)重影響生產(chǎn)效率及產(chǎn)品品質(zhì)。
[0003]如果采用全自動(dòng)OTP裝置，完全依靠設(shè)備自動(dòng)進(jìn)行光學(xué)測試及連接，雖然可以降低失誤率，但全自動(dòng)設(shè)備機(jī)種切換效率較低，僅適用于單一、大量的AMOLED屏體進(jìn)行0ΤΡ，而且全自動(dòng)的OTP裝置成本也很高。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0004]鑒于上述狀況，有必要提供一種AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其可降低OTP裝置的成本，并且提高OTP效率。 [0005]一種AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，包括:
[0006]具有頂面的測試平臺(tái)，所述頂面設(shè)有用于限位待測試的AMOLED顯示屏的限位槽；
[0007]設(shè)于所述測試平臺(tái)的頂面上的壓接治具，所述壓接治具與所述待測試的AMOLED顯示屏可抵接，以定位所述AMOLED顯示屏；
[0008]設(shè)于所述測試平臺(tái)上、用于承載外部的光學(xué)測量裝置的測試探頭的移動(dòng)定位支架，所述移動(dòng)定位支架相對(duì)于所述測試平臺(tái)可滑動(dòng)，以調(diào)節(jié)所述光學(xué)測量裝置的測試探頭與所述待測試的AMOLED顯示屏的相對(duì)位置；以及
[0009]設(shè)于所述測試平臺(tái)的頂面上的輔助連接器，所述輔助連接器可將所述待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片與外部的數(shù)據(jù)處理裝置進(jìn)行通訊連接，以對(duì)所述待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)燒錄。
[0010]相較于傳統(tǒng)的AMOLED顯示屏的OTP裝置，上述OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)至少具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0011](I)上述定位機(jī)構(gòu)采用測試平臺(tái)的限位槽來限位待測的AMOLED顯示屏，采用壓接治具來壓緊待測的AMOLED顯示屏，以定位待測試的AMOLED顯示屏；并且，上述定位機(jī)構(gòu)采用移動(dòng)定位支架來調(diào)節(jié)光學(xué)測量裝置的測試探頭與待測試的AMOLED顯示屏的相對(duì)位置，從而確保光學(xué)測量點(diǎn)準(zhǔn)確定位，減少人員作業(yè)誤差。
[0012](2)上述定位機(jī)構(gòu)在定位待測試的AMOLED顯示屏后，采用輔助連接器將待測試的AMOLED顯示屏與數(shù)據(jù)處理裝置通訊連接起來，從而方便實(shí)現(xiàn)人工對(duì)接，提高OTP的效率；
[0013](3)上述定位機(jī)構(gòu)采用機(jī)械定位與人工對(duì)接的方式，以改變單純?nèi)斯せ蛉詣?dòng)的作業(yè)模式，達(dá)到靈活應(yīng)對(duì)各種不同類型AMOLED顯示屏的OTP目的，以提升OTP效率，降低光學(xué)測量及燒錄數(shù)據(jù)誤差，從而提升生產(chǎn)效率及產(chǎn)品品質(zhì)。并且，上述定位機(jī)構(gòu)的結(jié)構(gòu)較全自動(dòng)設(shè)備簡單，成本較低。
[0014]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述壓接治具包括:
[0015]安裝在所述限位槽的底壁的底座；
[0016]穿過所述底座、并且平行于所述限位槽的底壁設(shè)置的支撐架，所述支撐架相對(duì)于所述底座可上下移動(dòng)，以調(diào)節(jié)所述支撐架相對(duì)于所述限位槽的底壁的高度；以及
[0017]安裝在所述支撐架上、并且垂直于所述限位槽的底壁設(shè)置的頂針，所述頂針與所述待測試的AMOLED顯示屏可抵接。
[0018]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述頂針為彈簧式探針，所述彈簧式探針與所述待測試的AMOLED顯示屏的基板的測試點(diǎn)抵接，并且電導(dǎo)通，通過所述彈簧式探針給所述AMOLED顯示屏供電；
[0019]或者，所述頂針為彈性柱，通過所述彈性柱抵接所述待測試的AMOLED顯示屏的基板，以彈性壓接所述待測試的AMOLED顯示屏，并且所述待測試的AMOLED顯示屏通過外設(shè)連接器供電。
[0020]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述壓接治具還包括驅(qū)動(dòng)裝置，所述驅(qū)動(dòng)裝置安裝在所述底座上，并且與所述支撐架連接，通過所述驅(qū)動(dòng)裝置可驅(qū)動(dòng)所述支撐架相對(duì)于所述底座上下移動(dòng)。
[0021]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述驅(qū)動(dòng)裝置為伸縮氣缸，所述伸縮氣缸的伸縮桿與所述支撐架固定連接；
[0022]或者，所述驅(qū)動(dòng)裝置為電機(jī)，所述電機(jī)的驅(qū)動(dòng)軸通過絲杠與所述支撐架連接。
[0023]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述壓接治具還包括手動(dòng)曲柄，通過所述手動(dòng)曲柄可帶動(dòng)所述支撐架相對(duì)于所述底座上下移動(dòng)。
[0024]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述移動(dòng)定位支架為U型支架，所述測試平臺(tái)還包括與所述頂面連接、并且相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)側(cè)面，每個(gè)所述側(cè)面均設(shè)有一個(gè)導(dǎo)向部，所述U型支架的兩端分別設(shè)有一個(gè)滑動(dòng)部，所述滑動(dòng)部沿所述側(cè)面的所述導(dǎo)向部可滑動(dòng)。
[0025]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述導(dǎo)向部為平行于所述頂面延伸的導(dǎo)向槽，所述滑動(dòng)部為設(shè)于所述U型支架的端部的滑動(dòng)凸耳，所述滑動(dòng)凸耳沿所述導(dǎo)向槽可滑動(dòng)；
[0026]或者，所述導(dǎo)向部為平行于所述頂面設(shè)置的導(dǎo)軌，所述滑動(dòng)部為設(shè)于所述U型支架的端部的滑槽，所述滑槽沿所述導(dǎo)軌可滑動(dòng)。
[0027]在其中一個(gè)實(shí)施例中，所述輔助連接器為FPC連接器；
[0028]或/及，所述光學(xué)測量裝置為彩色分析儀。
[0029]同時(shí)，本實(shí)用新型還提供一種AMOLED顯示屏的OTP裝置。
[0030]一種AMOLED顯示屏的OTP裝置，其包括:
[0031]上述的定位機(jī)構(gòu)；
[0032]所述數(shù)據(jù)處理裝置；以及
[0033]所述光學(xué)測量裝置，安裝在所述移動(dòng)定位支架上，用于測量所述待測試的AMOLED顯示屏的色坐標(biāo)；
[0034]其中，所述光學(xué)測量裝置將采集的色坐標(biāo)的數(shù)據(jù)傳送給外部的數(shù)據(jù)處理裝置，以對(duì)采集的色坐標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。
【【專利附圖】

【附圖說明】】
[0035]圖1為本實(shí)用新型實(shí)施方式的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)的立體圖；
[0036]圖2為圖1所示的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)的側(cè)視圖；
[0037]圖3為圖1所示的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)的另一視角的側(cè)視圖；
[0038]圖4為圖1所示的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)的壓接治具的立體圖；
[0039]圖5為圖4所示壓接治具的另一視角的立體圖；
[0040]圖6為圖4所示壓接治具的側(cè)視圖。
【【具體實(shí)施方式】】
[0041]為了便于理解本實(shí)用新型，下面將參照相關(guān)附圖對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行更全面的描述。附圖中給出了本實(shí)用新型的較佳的實(shí)施例。但是，本實(shí)用新型可以以許多不同的形式來實(shí)現(xiàn)，并不限于本文所描述的實(shí)施例。相反地，提供這些實(shí)施例的目的是使對(duì)本實(shí)用新型的公開內(nèi)容的理解更加透徹全面。
[0042]需要說明的是，當(dāng)元件被稱為“固定于”另一個(gè)元件，它可以直接在另一個(gè)元件上或者也可以存在居中 的元件。當(dāng)一個(gè)元件被認(rèn)為是“連接”另一個(gè)元件，它可以是直接連接到另一個(gè)元件或者可能同時(shí)存在居中元件。相反，當(dāng)元件被稱作“直接在”另一元件“上”時(shí)，不存在中間元件。本文所使用的術(shù)語“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及類似的表述只是為了說明的目的。
[0043]除非另有定義，本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與屬于本實(shí)用新型的【技術(shù)領(lǐng)域】的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文中在本實(shí)用新型的說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實(shí)施例的目的，不是旨在于限制本實(shí)用新型。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個(gè)或多個(gè)相關(guān)的所列項(xiàng)目的任意的和所有的組合。
[0044]請(qǐng)參閱圖1，本實(shí)用新型的一實(shí)施方式的AMOLED顯示屏的OTP裝置，用于對(duì)AMOLED顯示屏(圖未示)進(jìn)行色坐標(biāo)測試，并且對(duì)AMOLED顯示屏進(jìn)行OTP (One TimeProgram, 一次編程)。該AMOLED顯示屏的OTP裝置包括定位機(jī)構(gòu)100、數(shù)據(jù)處理裝置(圖未示)、以及光學(xué)測量裝置(圖未標(biāo))。
[0045]請(qǐng)一并參閱圖2及圖3，定位機(jī)構(gòu)100用于定位待測試的AMOLED顯示屏，并且與待測試的AMOLED顯示屏進(jìn)行測試連接。定位機(jī)構(gòu)100包括測試平臺(tái)110、壓接治具120、移動(dòng)定位支架130以及輔助連接器140。
[0046]測試平臺(tái)110具有頂面，頂面設(shè)有用于限位待測試的AMOLED顯示屏的限位槽111。具體在圖示的實(shí)施例中，測試平臺(tái)110為平板結(jié)構(gòu)。當(dāng)然，在本實(shí)用新型中，測試平臺(tái)110也可以為其他機(jī)構(gòu)，例如，測試平臺(tái)110也可以為框架結(jié)構(gòu)。
[0047]請(qǐng)一并參閱圖4至圖6，壓接治具120設(shè)于測試平臺(tái)110的頂面上，壓接治具120與待測試的AMOLED顯示屏可抵接，以定位AMOLED顯示屏。具體在圖示的實(shí)施例中，壓接治具120包括底座121、支撐架123、以及頂針125。底座121安裝在測試平臺(tái)110的限位槽111的底壁。支撐架123穿過底座121，并且平行于限位槽111的底壁設(shè)置。支撐架123相對(duì)于底座121可上下移動(dòng)，以調(diào)節(jié)支撐架123相對(duì)于測試平臺(tái)110的限位槽111的底壁的高度。頂針125安裝在支撐架123上，并且垂直于測試平臺(tái)110的限位槽111的底壁設(shè)置，頂針125與待測試的AMOLED顯示屏可抵接。
[0048]進(jìn)一步地，頂針125的結(jié)構(gòu)可以根據(jù)功能的不同而選擇不同的結(jié)構(gòu)，例如，在圖示的實(shí)施例中，頂針125為彈簧式探針(pogo pin)，彈簧式探針與待測試的AMOLED顯示屏的基板的測試點(diǎn)抵接，并且電導(dǎo)通，通過彈簧式探針給AMOLED顯示屏供電。
[0049]在其他實(shí)施例中，頂針125為彈性柱，通過彈性柱抵接待測試的AMOLED顯示屏的基板，以彈性壓接待測試的AMOLED顯示屏，并且待測試的AMOLED顯示屏通過外設(shè)連接器供電。
[0050]進(jìn)一步地，支撐架123可以自動(dòng)驅(qū)動(dòng)。例如，在圖示的實(shí)施例中，壓接治具120還包括驅(qū)動(dòng)裝置，驅(qū)動(dòng)裝置安裝在底座121上，并且與支撐架123連接，通過驅(qū)動(dòng)裝置可驅(qū)動(dòng)支撐架123相對(duì)于底座121上下移動(dòng)。
[0051]驅(qū)動(dòng)裝置可以為伸縮氣缸，伸縮氣缸的伸縮桿與支撐架123固定連接。或者，驅(qū)動(dòng)裝置可以為電機(jī)，電機(jī)的驅(qū)動(dòng)軸通過絲杠與支撐架123連接。
[0052]當(dāng)然，支撐架123也可以手動(dòng)驅(qū)動(dòng)，例如，在其他實(shí)施例中，壓接治具120還包括手動(dòng)曲柄，通過手動(dòng)曲柄可帶動(dòng)支撐架123相對(duì)于底座121上下移動(dòng)。
[0053]需要說明的是，在本實(shí)用新型中，壓接治具120不限于圖示的結(jié)構(gòu)，也可以采用其他結(jié)構(gòu)。
[0054]移動(dòng)定位支架130設(shè)于測試平臺(tái)110上，用于承載光學(xué)測量裝置的測試探頭201，移動(dòng)定位支架130相對(duì)于測試平臺(tái)110可滑動(dòng)，以調(diào)節(jié)光學(xué)測量裝置的測試探頭201與待測試的AMOLED顯示屏的相對(duì)位置。
[0055]具體在圖示的實(shí)施例中，移動(dòng)定位支架130為U型支架，測試平臺(tái)110還包括與頂面連接、并且相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)側(cè)面，測試平臺(tái)Iio的每個(gè)側(cè)面均設(shè)有一個(gè)導(dǎo)向部113，U型支架的兩端分別設(shè)有一個(gè)滑動(dòng)部131，滑動(dòng)部131沿測試平臺(tái)110的側(cè)面的導(dǎo)向部113可滑動(dòng)。
[0056]進(jìn)一步地，導(dǎo)向部113的結(jié)構(gòu)可以根據(jù)不同需要設(shè)計(jì)為不同的結(jié)構(gòu)，例如，在圖示的實(shí)施例中，導(dǎo)向部113為平行于測試平臺(tái)110的頂面延伸的導(dǎo)向槽，滑動(dòng)部131為設(shè)于U型支架的端部的滑動(dòng)凸耳，滑動(dòng)凸耳沿導(dǎo)向槽可滑動(dòng)。
[0057]在其他實(shí)施例中，導(dǎo)向部113為平行于測試平臺(tái)110的頂面設(shè)置的導(dǎo)軌，滑動(dòng)部131為設(shè)于U型支架的端部的滑槽，滑槽沿導(dǎo)軌可滑動(dòng)。
[0058]輔助連接器140設(shè)于測試平臺(tái)110的頂面上，輔助連接器140可將待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片與外部的數(shù)據(jù)處理裝置進(jìn)行通訊連接，以對(duì)待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)燒錄。
[0059]具體在圖示的實(shí)施例中，輔助連接器140為FPC (Flexible Printed CircuitBoard)連接器，待測試的AMOLED顯示屏通過FPC與該輔助連接器140插接。
[0060]數(shù)據(jù)處理裝置用于對(duì)待測試的AMOLED顯示屏的色坐標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，并且對(duì)待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)燒錄。例如，數(shù)據(jù)處理裝置可以為計(jì)算機(jī)。
[0061]光學(xué)測量裝置安裝在移動(dòng)定位支架130上，用于測量待測試的AMOLED顯示屏的色坐標(biāo)。光學(xué)測量裝置將采集的色坐標(biāo)的數(shù)據(jù)傳送給外部的數(shù)據(jù)處理裝置，以對(duì)采集的色坐標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。具體在的實(shí)施例中，光學(xué)測量裝置可以為彩色分析儀，例如，CA310型的彩色分析儀、K8型的彩色分析儀等。
[0062]相較于傳統(tǒng)的AMOLED顯示屏的OTP裝置，上述OTP裝置至少具有以下優(yōu)點(diǎn):
[0063](I)上述定位機(jī)構(gòu)100采用測試平臺(tái)110的限位槽111來限位待測的AMOLED顯示屏，采用壓接治具120來壓緊待測的AMOLED顯示屏，以定位待測試的AMOLED顯示屏；并且，上述定位機(jī)構(gòu)100采用移動(dòng)定位支架130來調(diào)節(jié)光學(xué)測量裝置的測試探頭201與待測試的AMOLED顯示屏的相對(duì)位置，從而確保光學(xué)測量點(diǎn)準(zhǔn)確定位，減少人員作業(yè)誤差。
[0064](2)上述定位機(jī)構(gòu)100在定位待測試的AMOLED顯示屏后，采用輔助連接器140將待測試的AMOLED顯示屏與數(shù)據(jù)處理裝置通訊連接起來，從而方便實(shí)現(xiàn)人工對(duì)接，提高OTP的效率；
[0065](3)上述定位機(jī)構(gòu)100采用機(jī)械定位與人工對(duì)接的方式，以改變單純?nèi)斯せ蛉詣?dòng)的作業(yè)模式，達(dá)到靈活應(yīng)對(duì)各種不同類型AMOLED顯示屏的OTP目的，以提升OTP效率，降低光學(xué)測量及燒錄數(shù)據(jù)誤差，從而提升生產(chǎn)效率及產(chǎn)品品質(zhì)。并且，上述定位機(jī)構(gòu)100的結(jié)構(gòu)較全自動(dòng)設(shè)備簡單，成本較低。
[0066](4)上述定位機(jī)構(gòu)100的壓接治具120采用彈簧式探針作為壓接待測試的AMOLED顯示屏的頂針125，在實(shí)現(xiàn)機(jī)械定位的同時(shí)，實(shí)現(xiàn)與待測試的AMOLED顯示屏的供電連接，從而進(jìn)一步提聞OTP的效率。
[0067]以上所述實(shí)施例僅表達(dá)了本實(shí)用新型的幾種實(shí)施方式，其描述較為具體和詳細(xì)，但并不能因此而理解為對(duì)本實(shí)用新型專利范圍的限制。應(yīng)當(dāng)指出的是，對(duì)于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實(shí)用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干變形和改進(jìn)，這些都屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。因此，本實(shí)用新型專利的保護(hù)范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準(zhǔn)。
【權(quán)利要求】
1.一種AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，包括: 具有頂面的測試平臺(tái)，所述頂面設(shè)有用于限位待測試的AMOLED顯示屏的限位槽； 設(shè)于所述測試平臺(tái)的頂面上的壓接治具，所述壓接治具與所述待測試的AMOLED顯示屏可抵接，以定位所述AMOLED顯示屏； 設(shè)于所述測試平臺(tái)上、用于承載外部的光學(xué)測量裝置的測試探頭的移動(dòng)定位支架，所述移動(dòng)定位支架相對(duì)于所述測試平臺(tái)可滑動(dòng)，以調(diào)節(jié)所述光學(xué)測量裝置的測試探頭與所述待測試的AMOLED顯示屏的相對(duì)位置；以及 設(shè)于所述測試平臺(tái)的頂面上的輔助連接器，所述輔助連接器可將所述待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片與外部的數(shù)據(jù)處理裝置進(jìn)行通訊連接，以對(duì)所述待測試的AMOLED顯示屏的驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)燒錄。
2.如權(quán)利要求1所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述壓接治具包括: 安裝在所述限位槽的底壁的底座； 穿過所述底座、并且平行于所述限位槽的底壁設(shè)置的支撐架，所述支撐架相對(duì)于所述底座可上下移動(dòng)，以調(diào)節(jié)所述支撐架相對(duì)于所述限位槽的底壁的高度；以及 安裝在所述支撐架上、并且垂直于所述限位槽的底壁設(shè)置的頂針，所述頂針與所述待測試的AMOLED顯示屏可抵接。
3.如權(quán)利要求2所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述頂針為彈簧式探針，所述彈簧式探針與所述待測試的AMOLED顯示屏的基板的測試點(diǎn)抵接，并且電導(dǎo)通，通過所述彈簧式探針給所述AMOLED顯示屏供電； 或者，所述頂針為彈性柱，通過所述彈性柱抵接所述待測試的AMOLED顯示屏的基板，以彈性壓接所述待測試的AMOLED顯示屏，并且所述待測試的AMOLED顯示屏通過外設(shè)連接器供電。
4.如權(quán)利要求2所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述壓接治具還包括驅(qū)動(dòng)裝置，所述驅(qū)動(dòng)裝置安裝在所述底座上，并且與所述支撐架連接，通過所述驅(qū)動(dòng)裝置可驅(qū)動(dòng)所述支撐架相對(duì)于所述底座上下移動(dòng)。
5.如權(quán)利要求4所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述驅(qū)動(dòng)裝置為伸縮氣缸，所述伸縮氣缸的伸縮桿與所述支撐架固定連接； 或者，所述驅(qū)動(dòng)裝置為電機(jī)，所述電機(jī)的驅(qū)動(dòng)軸通過絲杠與所述支撐架連接。
6.如權(quán)利要求2所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述壓接治具還包括手動(dòng)曲柄，通過所述手動(dòng)曲柄可帶動(dòng)所述支撐架相對(duì)于所述底座上下移動(dòng)。
7.如權(quán)利要求1所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述移動(dòng)定位支架為U型支架，所述測試平臺(tái)還包括與所述頂面連接、并且相對(duì)設(shè)置的兩個(gè)側(cè)面，每個(gè)所述側(cè)面均設(shè)有一個(gè)導(dǎo)向部，所述U型支架的兩端分別設(shè)有一個(gè)滑動(dòng)部，所述滑動(dòng)部沿所述側(cè)面的所述導(dǎo)向部可滑動(dòng)。
8.如權(quán)利要求7所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述導(dǎo)向部為平行于所述頂面延伸的導(dǎo)向槽，所述滑動(dòng)部為設(shè)于所述U型支架的端部的滑動(dòng)凸耳，所述滑動(dòng)凸耳沿所述導(dǎo)向槽可滑動(dòng)； 或者，所述導(dǎo)向部為平行于所述頂面設(shè)置的導(dǎo)軌，所述滑動(dòng)部為設(shè)于所述U型支架的端部的滑槽，所述滑槽沿所述導(dǎo)軌可滑動(dòng)。
9.如權(quán)利要求1所述的AMOLED顯示屏的OTP裝置的定位機(jī)構(gòu)，其特征在于，所述輔助連接器為FPC連接器； 或/及，所述光學(xué)測量裝置為彩色分析儀。
10.一種AMOLED顯示屏的OTP裝置，其特征在于，包括: 如權(quán)利要求1~9任一項(xiàng)所述的定位機(jī)構(gòu)； 所述數(shù)據(jù)處理裝置；以及 所述光學(xué)測量裝置，安裝在所述移動(dòng)定位支架上，用于測量所述待測試的AMOLED顯示屏的色坐標(biāo)； 其中，所述光學(xué)測量裝置將采集的色坐標(biāo)的數(shù)據(jù)傳送給外部的數(shù)據(jù)處理裝置，以對(duì)采集的色坐標(biāo)的數(shù)據(jù)進(jìn) 行分析。
【文檔編號(hào)】G01M11/02GK203760047SQ201320860011
【公開日】2014年8月6日 申請(qǐng)日期:2013年12月24日 優(yōu)先權(quán)日:2013年12月24日
【發(fā)明者】牛梭 申請(qǐng)人:昆山國顯光電有限公司