一種總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開一種總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，將2傳導(dǎo)干擾射頻接頭信號(hào)端與電子開關(guān)陣列芯片一側(cè)I/O相連；電子開關(guān)陣列芯片另一側(cè)I/O與背板連接器中非GND信號(hào)針腳相連；且電子開關(guān)陣列芯片的供電管腳與和控制管腳與電子開關(guān)陣列控制接口相連。由此，通過控制信號(hào)可實(shí)現(xiàn)選取背板連接器中任意兩個(gè)信號(hào)針腳與傳導(dǎo)干擾接頭信號(hào)端聯(lián)通；通過連接信號(hào)觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)選取信號(hào)針腳上干擾信號(hào)進(jìn)行觀察采集。同時(shí)，將兩個(gè)輻射干擾射頻接頭通過射頻線纜與轉(zhuǎn)接頭連接左右兩側(cè)的貼片天線。由此，通過連接信號(hào)觀測(cè)設(shè)備，可獲得左右兩側(cè)輻射干擾信號(hào)。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)為：能夠?qū)崟r(shí)快速檢測(cè)總線型機(jī)架內(nèi)部所有模塊連接器針腳的傳導(dǎo)干擾及兩側(cè)輻射干擾。
【專利說明】一種總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明專利涉及電磁兼容測(cè)試【技術(shù)領(lǐng)域】，具體來說，涉及一種總線型（如PCI、 PXI、PCIe、PXIe等）機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置。

【背景技術(shù)】
[0002] 近年來，使用總線技術(shù)搭建的系統(tǒng)由于其模塊化的高靈活性在試驗(yàn)、測(cè)量與數(shù)據(jù) 采集場(chǎng)合有著廣泛的應(yīng)用，用戶可根據(jù)自身需求在總線機(jī)架上安裝多個(gè)不同的模塊來實(shí)現(xiàn) 需要的功能。但是機(jī)架內(nèi)部的模塊在工作時(shí)難免會(huì)由于電磁干擾而出現(xiàn)性能降級(jí)甚至損毀 等電磁兼容問題，該電磁干擾可能來自機(jī)架背板的傳導(dǎo)耦合或機(jī)架內(nèi)部空間的輻射耦合。
[0003] 通常的電磁兼容測(cè)試使用 LISN(Line Impedance Stabilization Network，線性 阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)）、電流探頭等裝置對(duì)線纜上的傳導(dǎo)電磁干擾進(jìn)行檢測(cè)；然而模塊與機(jī)架直 接由插槽與插針連接，使用以上裝置無法進(jìn)行檢測(cè)。通常的電磁兼容測(cè)試還可使用電場(chǎng)探 頭、天線等裝置對(duì)輻射電磁干擾進(jìn)行檢測(cè)；然而機(jī)架內(nèi)部空間狹小，不便于放置探頭、天線 等裝置。
[0004] 因此，目前無法對(duì)機(jī)架內(nèi)部干擾進(jìn)行檢測(cè)的問題造成了模塊電磁兼容性設(shè)計(jì)與整 改的困難。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 針對(duì)現(xiàn)有測(cè)試技術(shù)的不足，本發(fā)明提出一種可以對(duì)總線型儀器機(jī)架任意模塊位置 的傳導(dǎo)、輻射電磁干擾進(jìn)行檢測(cè)的裝置。
[0006] -種總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，包括金屬殼體、傳導(dǎo)干擾射頻接頭、 電子開關(guān)陣列控制接口、電子開關(guān)陣列芯片、背板連接器、輻射干擾射頻接頭、射頻線纜與 貼片天線。
[0007] 其中，傳導(dǎo)干擾射頻接頭為兩個(gè)；兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭的信號(hào)端分別與電子開 關(guān)陣列芯片一側(cè)的2個(gè)I/O相連，地級(jí)分別與背板連接器的地級(jí)相連。背板連接器中的非 GND信號(hào)針腳分別與電子開關(guān)陣列芯片另一側(cè)的I/O相連。電子開關(guān)陣列芯片的供電管腳 與和控制管腳均與電子開關(guān)陣列控制接口相連。
[0008] 輻射干擾射頻接頭為兩個(gè)，分別與兩條射頻線纜一端相連；兩條射頻線纜的另一 端分別通過轉(zhuǎn)接頭連接位于金屬殼體左右兩側(cè)的貼片天線。
[0009] 在進(jìn)行傳導(dǎo)電磁干擾檢測(cè)時(shí)，通過電子開關(guān)陣列控制接口外接計(jì)算機(jī)，由計(jì)算機(jī) 向電子開關(guān)陣列芯片輸入的控制信號(hào)，實(shí)現(xiàn)由背板連接器的非GND信號(hào)針腳中選取需要進(jìn) 行測(cè)試的2個(gè)針腳，分別與兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭信號(hào)端聯(lián)通；進(jìn)而通過兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射 頻接頭連接頻譜儀、數(shù)據(jù)采集卡等信號(hào)觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)針腳上的干擾信號(hào)進(jìn)行觀察和采 集。
[0010] 在進(jìn)行輻射電磁干擾檢測(cè)時(shí)，通過兩個(gè)輻射干擾射頻接頭連接頻譜儀、數(shù)據(jù)采集 卡等信號(hào)觀測(cè)設(shè)備，進(jìn)而使金屬殼體內(nèi)部輻射干擾被貼片天線接收，由射頻線纜傳至信號(hào) 觀測(cè)設(shè)備，即可獲得本發(fā)明電磁干擾檢測(cè)裝置左右兩側(cè)的輻射干擾信號(hào)，對(duì)電磁干擾檢測(cè) 裝置所處位置的輻射干擾強(qiáng)度評(píng)估提供依據(jù)。
[0011] 本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)為：
[0012] 1、本發(fā)明總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，能夠?qū)崟r(shí)且快速地檢測(cè)總線型 機(jī)架內(nèi)部所有模塊連接器針腳的傳導(dǎo)干擾及模塊兩側(cè)的輻射干擾，克服了傳統(tǒng)測(cè)試方法在 機(jī)架測(cè)試中面臨的困難；
[0013] 2、本發(fā)明總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，最好再多寫點(diǎn)？同時(shí)集合了儀 器機(jī)架內(nèi)部傳導(dǎo)及輻射電磁干擾檢測(cè)的功能，能夠減少機(jī)架電磁兼容測(cè)試所需的測(cè)試儀器 數(shù)量與種類，并且能夠在不更換測(cè)試儀器的情況下對(duì)機(jī)架傳導(dǎo)與輻射電磁干擾進(jìn)行評(píng)估， 有效提高了機(jī)架電磁兼容測(cè)試的效率。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0014] 圖1為本發(fā)明總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置結(jié)構(gòu)示意圖。
[0015] 圖中：
[0016] 1-金屬殼體 2-傳導(dǎo)干擾射頻接頭 3-電子開關(guān)陣列控制接 Π
[0017] 4-電子開關(guān)陣列芯片 5-背板連接器 6-福射干擾射頻接頭
[0018] 7-射頻線纜 8-貼片天線 9-轉(zhuǎn)接頭
[0019] 10-前面板 11-PCB 板

【具體實(shí)施方式】
[0020] 本發(fā)明總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，包括金屬殼體1以及金屬殼體1 內(nèi)部設(shè)置的傳導(dǎo)電磁干擾檢測(cè)部分和輻射電磁干擾檢測(cè)部分。其中，傳導(dǎo)電磁干擾檢測(cè)部 分包括：傳導(dǎo)干擾射頻接頭2、電子開關(guān)陣列控制接口 3、電子開關(guān)陣列芯片4、背板連接器 5 ;輻射電磁干擾檢測(cè)包括：輻射干擾射頻接頭6、射頻線纜7與貼片天線8。
[0021] 所述傳到電磁干擾檢測(cè)部分中，傳導(dǎo)干擾射頻接頭2為兩個(gè)；兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻 接頭2的信號(hào)端分別與電子開關(guān)陣列芯片4 一側(cè)的2個(gè)I/O相連，地級(jí)分別通過地線與背 板連接器5的地級(jí)相連。令背板連接器5中的非GND信號(hào)針腳為η個(gè)，則背板連接器5中 η個(gè)非GND信號(hào)針腳分別與電子開關(guān)陣列芯片4另一側(cè)的η個(gè)I/O相連。電子開關(guān)陣列芯 片4的供電管腳與和控制管腳均與電子開關(guān)陣列控制接口 3相連，電子開關(guān)陣列控制接口 3的輸入信號(hào)包括提供電子開關(guān)陣列芯片4穩(wěn)定的供電信號(hào)與開關(guān)狀態(tài)控制信號(hào)。
[0022] 所述輻射電磁干擾檢測(cè)部分中，輻射干擾射頻接頭6同樣為兩個(gè)，分別與兩條射 頻線纜7 -端相連，兩條射頻線纜7的另一端分別通過轉(zhuǎn)接頭9連接位于金屬殼體1左右 兩側(cè)的貼片天線8。上述貼片天線8分別通過自帶的與轉(zhuǎn)接頭8匹配的接頭，實(shí)現(xiàn)與轉(zhuǎn)接頭 9間的連接；使貼片天線8可拆卸，進(jìn)而針對(duì)不同的測(cè)試頻段可更換合適的貼片天線8。
[0023] 上述兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭2、兩個(gè)輻射干擾射頻接頭6以及電子開關(guān)陣列控制 接口 3均安裝在前面板10上；前面板10固定于金屬殼體1前側(cè)面位置。電子開關(guān)陣列芯 片4和背板連接器5均集成在一塊PCB板11上，PCB板11固定安裝于金屬殼體1內(nèi)部，且 使背板連接器5位于金屬殼體1后側(cè)面位置。兩個(gè)貼片天線8分別固定安裝于金屬殼體1 左右外側(cè)面上；兩個(gè)轉(zhuǎn)接頭9分別通過自帶的連接法蘭結(jié)構(gòu)固定安裝于金屬殼體1左右側(cè) 面上。由此，實(shí)現(xiàn)通過金屬殼體1對(duì)傳導(dǎo)電磁干擾檢測(cè)部分與輻射電磁干擾檢測(cè)部分的封 裝。
[0024] 本發(fā)明電磁干擾檢測(cè)裝置作為一個(gè)整體模塊安裝在機(jī)架中，通過背板連接器5插 入需要檢測(cè)位置的機(jī)架背板槽位上。在進(jìn)行傳導(dǎo)電磁干擾檢測(cè)時(shí)，通過電子開關(guān)陣列控制 接口 3外接計(jì)算機(jī)，由計(jì)算機(jī)向電子開關(guān)陣列芯片4輸入的控制信號(hào)，實(shí)現(xiàn)由背板連接器5 的非GND信號(hào)針腳中選取需要進(jìn)行測(cè)試的2個(gè)針腳，分別與兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭2信號(hào) 端聯(lián)通；進(jìn)而通過兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭2連接頻譜儀、數(shù)據(jù)采集卡等信號(hào)觀測(cè)設(shè)備，實(shí)現(xiàn) 對(duì)針腳上的干擾信號(hào)進(jìn)行觀察和采集。通過兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭2連接矢量網(wǎng)絡(luò)分析 儀，還可對(duì)任意兩個(gè)非GND信號(hào)針腳間的干擾耦合傳輸系數(shù)等參數(shù)進(jìn)行分析。在進(jìn)行輻射 電磁干擾檢測(cè)時(shí)，通過兩個(gè)輻射干擾射頻接頭6連接頻譜儀、數(shù)據(jù)采集卡等信號(hào)觀測(cè)設(shè)備， 進(jìn)而使金屬殼體1內(nèi)部輻射干擾被貼片天線8接收，由射頻線纜7傳至信號(hào)觀測(cè)設(shè)備，即可 獲得本發(fā)明電磁干擾檢測(cè)裝置左右兩側(cè)的輻射干擾信號(hào)，對(duì)電磁干擾檢測(cè)裝置所處位置的 輻射干擾強(qiáng)度評(píng)估提供依據(jù)。
【權(quán)利要求】
1. 一種總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，其特征在于：包括金屬殼體、傳導(dǎo)干 擾射頻接頭、電子開關(guān)陣列控制接口、電子開關(guān)陣列芯片、背板連接器、輻射干擾射頻接頭、 射頻線纜與貼片天線； 其中，傳導(dǎo)干擾射頻接頭為兩個(gè)；兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭的信號(hào)端分別與電子開關(guān)陣 列芯片一側(cè)的2個(gè)I/O相連，地級(jí)分別與背板連接器的地級(jí)相連；背板連接器中的非GND 信號(hào)針腳分別與電子開關(guān)陣列芯片另一側(cè)的I/O相連；電子開關(guān)陣列芯片的供電管腳與和 控制管腳均與電子開關(guān)陣列控制接口相連；輻射干擾射頻接頭為兩個(gè)，分別與兩條射頻線 纜一端相連；兩條射頻線纜的另一端分別通過轉(zhuǎn)接頭連接位于金屬殼體左右兩側(cè)的貼片天 線。
2. 如權(quán)利要求1所述一種總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，其特征在于：所述 貼片天線為可拆卸連接。
3. 如權(quán)利要求1所述一種總線型儀器機(jī)架內(nèi)部電磁干擾檢測(cè)裝置，其特征在于：所述 兩個(gè)傳導(dǎo)干擾射頻接頭、兩個(gè)輻射干擾射頻接頭以及電子開關(guān)陣列控制接口均安裝在前面 板上；前面板固定于金屬殼體前側(cè)面位置；電子開關(guān)陣列芯片和背板連接器均集成在一塊 PCB板上，PCB板固定安裝于金屬殼體內(nèi)部，且使背板連接器位于金屬殼體后側(cè)面位置；兩 個(gè)貼片天線分別固定安裝于金屬殼體左右外側(cè)面上；兩個(gè)轉(zhuǎn)接頭分別通過自帶的連接法蘭 結(jié)構(gòu)固定安裝于金屬殼體左右側(cè)面上。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK104155548SQ201410381662
【公開日】2014年11月19日 申請(qǐng)日期:2014年8月5日 優(yōu)先權(quán)日:2014年8月5日
【發(fā)明者】戴飛, 曾達(dá), 李文杰, 蘇東林, 高峰 申請(qǐng)人:北京航空航天大學(xué)