一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置制造方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置，其特征是包括采樣管、分析儀、校準(zhǔn)儀和排氣口；所述采樣管通過電磁閥管道連接分析儀，所述電磁閥為三通電磁閥，其一端連接采樣管，另一端連接分析儀，第三端連接校準(zhǔn)儀，所述校準(zhǔn)儀管道連接排氣口；所述電磁閥由控制電路控制啟閉。本發(fā)明能夠消除分析儀之間相互干擾，氣路控制單元既能保證了分析儀測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性也能使標(biāo)氣控制自動(dòng)化。
【專利說明】一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及分析儀領(lǐng)域，尤其涉及一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]氣體分析儀是檢測氣體成分和含量的檢測儀器。在很多生產(chǎn)過程中，僅僅根據(jù)溫度、壓力、流量等物理參數(shù)進(jìn)行自動(dòng)控制常常是不夠的。由于被分析氣體的千差萬別和分析原理的多種多樣，氣體分析儀的種類繁多。從技術(shù)上大概有有人工采樣，連續(xù)采樣和現(xiàn)場在線測量。
[0003]在連續(xù)采樣的過程中，由于通過多個(gè)分析儀進(jìn)行測量，分析儀工作時(shí)各標(biāo)氣氣路、采樣總管氣路和采樣入口氣路相通，這樣標(biāo)氣時(shí)標(biāo)準(zhǔn)氣就會(huì)通過導(dǎo)管進(jìn)入到其他分析儀，從而影響分析儀的測試結(jié)果。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0004]本發(fā)明的目的是解決標(biāo)氣時(shí)標(biāo)準(zhǔn)氣通過導(dǎo)管進(jìn)入到其他分析儀，從而影響分析儀的測試結(jié)果的問題，提供一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置。
[0005]本發(fā)明采用的技術(shù)方案是:一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置，其特征是包括采樣管、分析儀、校準(zhǔn)儀和排氣口 ；所述采樣管通過電磁閥管道連接分析儀，所述電磁閥為三通電磁閥，其一端連接采樣管，另一端連接分析儀，第三端連接校準(zhǔn)儀，所述校準(zhǔn)儀管道連接排氣口 ；所述電磁閥由控制電路控制啟閉；所述控制電路由ARM芯片、光耦、CMOS管、晶振、電源、電阻及電容組成，所述ARM芯片的5腳和6腳分別連接電容C3和C4并接地，所述ARM芯片的5腳和6腳間連接一個(gè)晶振，所述ARM芯片的37腳、38腳、39腳和40腳分別依次串聯(lián)光耦、電阻、CMOS管和插件，所述光耦串聯(lián)一個(gè)電阻并接入電源電壓，所述電阻并聯(lián)一個(gè)相串聯(lián)的電阻和穩(wěn)壓二極管并接地，所述插件連接電磁閥，為電磁閥提供工作電壓。
[0006]作為本發(fā)明的進(jìn)一步改進(jìn)，所述ARM芯片的31腳、47腳、63腳、18腳接地，所述ARM芯片的32腳、48腳、64腳和19腳連接電源電壓，所述ARM芯片的12腳和13腳并聯(lián)一個(gè)電容并連接電源電壓；所述ARM芯片的7腳并聯(lián)一個(gè)電阻和電容，所述電阻接入電源電壓，所述電容接地。
[0007]本發(fā)明采用的有益效果是:本發(fā)明能夠消除分析儀之間相互干擾，氣路控制單元既能保證了分析儀測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性也能使標(biāo)氣控制自動(dòng)化。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0008]圖1為本發(fā)明優(yōu)選例的示意圖。
[0009]圖2為本發(fā)明的控制電路的電路圖。
[0010]圖中所示:1采樣管，2分析儀，3校準(zhǔn)儀，4控制電路，5排氣口，6電磁閥。

【具體實(shí)施方式】
[0011]下面結(jié)合圖1和圖2，選取優(yōu)選例，對(duì)本發(fā)明做進(jìn)一步的說明。
[0012]一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置，其特征是包括采樣管1、分析儀2、校準(zhǔn)儀3和排氣口 5 ;所述采樣管I通過電磁閥6管道連接分析儀2，所述電磁閥6為三通電磁閥，其一端連接采樣管1，另一端連接分析儀2，第三端連接校準(zhǔn)儀3，所述校準(zhǔn)儀3管道連接排氣口 5 ;所述電磁閥6由控制電路4控制啟閉；所述控制電路4由ARM芯片、光耦、CMOS管、晶振、電源、電阻及電容組成，所述ARM芯片的5腳和6腳分別連接電容C3和C4并接地，所述ARM芯片的5腳和6腳間連接一個(gè)晶振，所述ARM芯片的37腳、38腳、39腳和40腳分別依次串聯(lián)光耦、電阻、CMOS管和插件，所述光耦串聯(lián)一個(gè)電阻并接入電源電壓，所述電阻并聯(lián)一個(gè)相串聯(lián)的電阻和穩(wěn)壓二極管并接地，所述插件連接電磁閥6，為電磁閥6提供工作電壓。
[0013]所述ARM芯片的31腳、47腳、63腳、18腳接地，所述ARM芯片的32腳、48腳、64腳和19腳連接電源電壓，所述ARM芯片的12腳和13腳并聯(lián)一個(gè)電容并連接電源電壓；所述ARM芯片的7腳并聯(lián)一個(gè)電阻和電容，所述電阻接入電源電壓，所述電容接地。
[0014]優(yōu)選例:如圖1所示，接好電磁閥與各管道，確保每個(gè)接點(diǎn)牢固無氣體泄漏，:閥A、閥B、閥C、閥D為三通電磁閥。
[0015]正常工作時(shí)(不標(biāo)氣)，管IB和管IC導(dǎo)通，管IA處常關(guān)；管IIB和管IIC導(dǎo)通，管IIA處常關(guān)；管IIIB和管IIIC導(dǎo)通，管IIIA處常關(guān)；管IVB和管IVC導(dǎo)通，管IVA處常關(guān)。
[0016]現(xiàn)在需要對(duì)測試儀I進(jìn)行標(biāo)氣，通過上位機(jī)發(fā)送指令給控制電路，使閥A工作，管IA和管IC導(dǎo)通，管IB關(guān)，其他電磁閥保持原有狀態(tài)不變。
[0017]控制電路通過RSM232芯片與上位機(jī)通訊，當(dāng)接收到上位機(jī)的指令后，其指令對(duì)應(yīng)的37、38、39、40中的一個(gè)引腳由常態(tài)低電平變成高電平，光耦的輸出端達(dá)到能驅(qū)動(dòng)CMOS管開關(guān)功能的電壓，使其導(dǎo)通，從而使其對(duì)應(yīng)的插件有能驅(qū)動(dòng)電磁閥的電源。
[0018]本發(fā)明能夠消除分析儀之間相互干擾，氣路控制單元既能保證了分析儀測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性也能使標(biāo)氣控制自動(dòng)化。
[0019]本領(lǐng)域技術(shù)人員應(yīng)當(dāng)知曉，本發(fā)明的保護(hù)方案不僅限于上述的實(shí)施例，還可以在上述實(shí)施例的基礎(chǔ)上進(jìn)行各種排列組合與變換，在不違背本發(fā)明精神的前提下，對(duì)本發(fā)明進(jìn)行的各種變換均落在本發(fā)明的保護(hù)范圍內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置，其特征是包括采樣管(1)、分析儀(2)、校準(zhǔn)儀(3)和排氣口(5);所述采樣管(I)通過電磁閥(6)管道連接分析儀(2)，所述電磁閥(6)為三通電磁閥，其一端連接采樣管(1)，另一端連接分析儀(2)，第三端連接校準(zhǔn)儀(3 )，所述校準(zhǔn)儀(3 )管道連接排氣口( 5 );所述電磁閥(6 )由控制電路(4 )控制啟閉；所述控制電路(4)由ARM芯片、光耦、CMOS管、晶振、電源、電阻及電容組成，所述ARM芯片的5腳和6腳分別連接電容C3和C4并接地，所述ARM芯片的5腳和6腳間連接一個(gè)晶振，所述ARM芯片的37腳、38腳、39腳和40腳分別依次串聯(lián)光耦、電阻、CMOS管和插件，所述光耦串聯(lián)一個(gè)電阻并接入電源電壓，所述電阻并聯(lián)一個(gè)相串聯(lián)的電阻和穩(wěn)壓二極管并接地,所述插件連接電磁閥(6 )，為電磁閥(6 )提供工作電壓。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于消除干擾的點(diǎn)式分析儀上標(biāo)氣的氣路控制裝置，其特征是所述ARM芯片的31腳、47腳、63腳、18腳接地，所述ARM芯片的32腳、48腳、64腳和19腳連接電源電壓，所述ARM芯片的12腳和13腳并聯(lián)一個(gè)電容并連接電源電壓；所述ARM芯片的7腳并聯(lián)一個(gè)電阻和電容，所述電阻接入電源電壓，所述電容接地。
【文檔編號(hào)】G01N33/00GK104360022SQ201410648745
【公開日】2015年2月18日 申請日期:2014年11月14日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月14日
【發(fā)明者】韓小斌, 彭桂苗, 金嶺, 楊波, 賈剛 申請人:安徽藍(lán)盾光電子股份有限公司