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      電磁測試探頭裝置及其電磁測試裝置制造方法

      文檔序號:6058407閱讀:152來源:國知局
      電磁測試探頭裝置及其電磁測試裝置制造方法
      【專利摘要】本實用新型提出了一種電磁測試探頭裝置及其電磁測試裝置。其中,電磁測試探頭裝置,其特征在于,包括由金屬導線繞制的環(huán)形探頭、同軸線和與所述同軸線第一端相連的BNC連接器,所述環(huán)形探頭包括不相連的第一端和第二端,所述環(huán)形探頭第一端與所述同軸線第二端的內(nèi)芯電性相連,所述環(huán)形探頭第二端與所述同軸線第二端的屏蔽層電性相連。本實用新型電磁測試探頭裝置結(jié)構(gòu)簡單,成本低,幾乎無需投入就可實現(xiàn)輻射干擾項目整改。
      【專利說明】電磁測試探頭裝置及其電磁測試裝置

      【技術(shù)領(lǐng)域】
      [0001 ] 本實用新型涉及一種用于測試電磁輻射干擾的測試裝置及其探頭裝置。

      【背景技術(shù)】
      [0002]目前,所有電子產(chǎn)品都必須強制做3C認證。3C認證項目中的電磁輻射干擾(RE)是比較難測試通過的認證項目。大型企業(yè)一般是自建EMC實驗室來解決,但前期投入很大。小中型企業(yè)只能到專業(yè)EMC實驗室測試和整改,而工程師常常需要為整改花費大量的時間,在專業(yè)的EMC (Electromagnetic Compatibility)實驗室整改的費用是按時間計費的,所以要花費很多費用。
      [0003]無論是大型企業(yè)自建EMC實驗室,小中型企業(yè)到專業(yè)EMC實驗室測試和整改,都需要花費很多費用。
      實用新型內(nèi)容
      [0004]本實用新型需解決的技術(shù)問題是克服上述的不足,提供一種成本低、實現(xiàn)簡單、操作方便的電磁測試探頭裝置。
      [0005]為解決上述的技術(shù)問題,本實用新型設(shè)計了一種電磁測試探頭裝置,其包括包括由金屬導線繞制的環(huán)形探頭、同軸線和與所述同軸線的第一端相連的BNC連接器,所述環(huán)形探頭包括不相連的第一端和第二端,所述環(huán)形探頭的第一端與所述同軸線第二端的內(nèi)芯電性相連,所述環(huán)形探頭的第二端與所述同軸線第二端的屏蔽層電性相連。
      [0006]作為本實用新型進一步改進,所述環(huán)形探頭繞成2圈。
      [0007]作為本實用新型進一步改進,所述繞制成環(huán)形探頭的金屬導線為銅線。
      [0008]作為本實用新型進一步改進,所述銅線還被包覆一層漆皮。
      [0009]本實用新型還提供了一種電磁測試裝置,其包括上述的電磁測試探頭裝置和頻譜分析儀,所述電磁測試探頭裝置的BNC連接器與頻譜分析儀連接。
      [0010]本實用新型電磁測試探頭裝置結(jié)構(gòu)簡單,成本低,幾乎無需投入就可實現(xiàn)輻射干擾項目整改。

      【專利附圖】

      【附圖說明】
      [0011]圖1是本實用新型實施例電磁測試探頭裝置的結(jié)構(gòu)圖。

      【具體實施方式】
      [0012]為了使本領(lǐng)域相關(guān)技術(shù)人員更好地理解本實用新型的技術(shù)方案,下面將結(jié)合本實用新型實施方式,對本實用新型實施方式中的技術(shù)方案進行清楚、完整地描述,顯然,所描述的實施方式僅僅是本實用新型一部分實施方式,而不是全部的實施方式。
      [0013]本實用新型提供了一種電磁測試探頭裝置,結(jié)構(gòu)簡單,幾乎可以零成本自制。如圖1所示,該電磁測試探頭裝置包括環(huán)形探頭1、BNC連接器2、和連接環(huán)形探頭I以及BNC連接器2的一段同軸線3。
      [0014]環(huán)形探頭I由一段金屬導線繞制而成,在本實施例中,環(huán)形探頭I由一段銅線繞制成2圈,該銅線還被包覆一層漆皮作為外保護絕緣層。當然在其他實施例中,環(huán)形探頭I的圈數(shù)不限制數(shù)量,可以為3圈或4圈等。該段銅線的兩端為自由端,不相連,銅線的兩端即為環(huán)形探頭I的第一端和第二端。
      [0015]BNC連接器2為一種用于同軸電纜的連接器,全稱是Bayonet Nut Connector0 BNC連接器2與頻譜分析儀相連。
      [0016]同軸線結(jié)構(gòu),由外向內(nèi)依次包括護套、屏蔽層(外導體)、絕緣介質(zhì)和內(nèi)芯(內(nèi)導體)。本實用新型同軸線3的第一端與BNC連接器2相連;同軸線3的第二端的內(nèi)芯31與環(huán)形探頭I的第一端電性相連,同軸線3的第二端的屏蔽層32與環(huán)形探頭I的第二端電性相連,給感應(yīng)電流提供完整電流返回路徑。
      [0017]本實用新型電磁測試探頭裝置的BNC連接器2與頻譜分析儀連接,組成一臺電磁探頭裝置。使用環(huán)形探頭I掃描電子產(chǎn)品的任意位置,頻譜分析儀分析數(shù)據(jù),通過與在認證機構(gòu)測試的結(jié)果對比,找到測試不過頻點的輻射源,再繼進行整改,多次測試及整改后,再利用輻射源的相對變化來評估整改效果。
      [0018]本實用新型電磁測試探頭裝置結(jié)構(gòu)簡單,成本低,幾乎無需投入就可實現(xiàn)輻射干擾項目整改。
      [0019]以上僅表達了本實用新型的一種實施方式,其描述較為具體和詳細,但并不能因此而理解為對本實用新型專利范圍的限制。應(yīng)當指出的是,對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說,在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下,還可以做出若干變形和改進,這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此,本實用新型專利的保護范圍應(yīng)以所附權(quán)利要求為準。
      【權(quán)利要求】
      1.一種電磁測試探頭裝置,其特征在于,包括由金屬導線繞制的環(huán)形探頭、同軸線和與所述同軸線的第一端相連的BNC連接器,所述環(huán)形探頭包括不相連的第一端和第二端,所述環(huán)形探頭的第一端與所述同軸線第二端的內(nèi)芯電性相連,所述環(huán)形探頭的第二端與所述同軸線第二端的屏蔽層電性相連。
      2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁測試探頭裝置,其特征在于,所述環(huán)形探頭繞成2圈。
      3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電磁測試探頭裝置,其特征在于,所述繞制成環(huán)形探頭的金屬導線為銅線。
      4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的電磁測試探頭裝置,其特征在于,所述銅線還被包覆一層漆皮。
      5.一種電磁測試裝置,其特征在于,包括如權(quán)利要求1所述的電磁測試探頭裝置和頻譜分析儀,所述BNC連接器與頻譜分析儀連接。
      6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電磁測試裝置,其特征在于,所述環(huán)形探頭繞成2圈。
      7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電磁測試裝置,其特征在于,所述繞制成環(huán)形探頭的金屬導線為銅線。
      8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電磁測試裝置,其特征在于,所述銅線還被包覆一層漆皮。
      【文檔編號】G01R1/06GK203929927SQ201420294634
      【公開日】2014年11月5日 申請日期:2014年6月4日 優(yōu)先權(quán)日:2014年6月4日
      【發(fā)明者】張恒 申請人:上海斐訊數(shù)據(jù)通信技術(shù)有限公司
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