沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開(kāi)了一種沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，包括試樣固定底座，試樣固定底座上設(shè)置有前面和頂面開(kāi)口的長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽，所述長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽的底面用于放置被測(cè)量試樣，所述長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽的后面中央設(shè)置有中心定位器，所述中心定位器的形狀與被測(cè)量試樣的V型缺口相匹配，所述長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽的兩側(cè)端面貫穿安裝有千分測(cè)量尺。其可以直觀、快捷、精確地測(cè)量沖擊試樣缺口對(duì)稱面到端部的距離和沖擊試樣的長(zhǎng)度，并能有效提高測(cè)量工作質(zhì)量和效率。
【專利說(shuō)明】 沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實(shí)用新型涉及沖擊試樣檢驗(yàn)裝置，具體指一種沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置。

【背景技術(shù)】
[0002]GB/T229中要求測(cè)量沖擊試樣缺口對(duì)稱面到端部的距離和沖擊試樣的長(zhǎng)度，然而，由于缺口很小，采用傳統(tǒng)的測(cè)量器具如游標(biāo)卡尺等，不容易進(jìn)行準(zhǔn)確定位，極易產(chǎn)生因?yàn)槿藛T操作帶來(lái)的測(cè)量誤差，很難準(zhǔn)確測(cè)量沖擊試樣尺寸，且測(cè)量效率低。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實(shí)用新型的目的就是要提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、操作便利的沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，通過(guò)該裝置可以更快捷、簡(jiǎn)便、準(zhǔn)確地測(cè)量出沖擊試樣缺口對(duì)稱面到端部距離和沖擊試樣的長(zhǎng)度。
[0004]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型所設(shè)計(jì)的沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，包括試樣固定底座，試樣固定底座上設(shè)置有前面和頂面開(kāi)口的長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽，長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽的底面用于放置被測(cè)量試樣，長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽的后面中央設(shè)置有中心定位器，中心定位器的形狀與被測(cè)量試樣的V型缺口相匹配，長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽的兩側(cè)端面對(duì)稱貫穿安裝有千分測(cè)量尺，千分測(cè)量尺的測(cè)微螺桿在工作時(shí)與被測(cè)量試樣的端面抵接配合，轉(zhuǎn)動(dòng)千分測(cè)量尺的調(diào)節(jié)旋鈕，即可通過(guò)千分測(cè)量尺上的刻度標(biāo)識(shí)讀出被測(cè)量試樣中心到端部的距離，從而與標(biāo)準(zhǔn)值比較確認(rèn)是否符合要求。
[0005]本實(shí)用新型的工作原理是這樣的:首先，旋轉(zhuǎn)兩側(cè)的調(diào)節(jié)旋鈕，將左右兩端的測(cè)微螺桿端面對(duì)齊在中心定位器頂角處，檢查千分測(cè)量尺的刻度標(biāo)識(shí)，確認(rèn)其在零點(diǎn)處；然后，旋轉(zhuǎn)兩側(cè)的調(diào)節(jié)旋鈕，使左右兩端的測(cè)微螺桿端面張開(kāi)足夠的距離，將加工好的被測(cè)量試樣放置在帶有長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽內(nèi)側(cè)，使被測(cè)量試樣的V型缺口卡住中心定位器，并保持被測(cè)量試樣穩(wěn)定；最后，旋轉(zhuǎn)兩側(cè)的調(diào)節(jié)旋鈕，使左右兩端的測(cè)微螺桿端面緊密接觸被測(cè)量試樣的兩個(gè)端部，左右兩端的千分測(cè)量尺刻度標(biāo)識(shí)上讀出的數(shù)值即為被測(cè)量試樣缺口對(duì)稱面到端部距離，其和即為被測(cè)量試樣長(zhǎng)度，將所得數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較，確認(rèn)被測(cè)量試樣是否符合要求。
[0006]作為優(yōu)選方案，中心定位器呈與被測(cè)量試樣的V型缺口相匹配的三棱柱形，其三角形橫截面的頂角為43?47°、底高為1.925?2.025mm。這樣，中心定位器能更穩(wěn)固地卡住被測(cè)量試樣，使測(cè)量更加精準(zhǔn)。
[0007]進(jìn)一步地，試樣固定底座為可以吸附被測(cè)量試樣的微磁性底座或試樣固定底座的底面嵌置有可以吸附被測(cè)量試樣的永磁塊。這樣，試樣固定底座與中心定位器配合穩(wěn)固被測(cè)量試樣，較傳統(tǒng)千分測(cè)量尺或其他常用工具測(cè)量更快捷，能有效提高工作質(zhì)量和效率。
[0008]本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)主要體現(xiàn)在如下幾方面:
[0009]其一，兩端千分測(cè)量尺配合使用同時(shí)測(cè)量沖擊試樣缺口對(duì)稱面到端部距離和沖擊試樣長(zhǎng)度，所得數(shù)據(jù)直觀、精確，測(cè)量精度可以達(dá)到0.01_，完全滿足標(biāo)準(zhǔn)要求范圍。
[0010]其二，中心定位器的使用大幅度減小了人為誤差。
[0011]其三，測(cè)量時(shí)，微磁性試樣固定底座或嵌置有永磁塊的試樣固定底座與中心定位器配合穩(wěn)固被測(cè)量試樣，較傳統(tǒng)千分測(cè)量尺或其他常用工具測(cè)量更快捷，能有效提高工作質(zhì)量和效率。

【專利附圖】

【附圖說(shuō)明】
[0012]圖1為一種沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置的主視結(jié)構(gòu)示意圖；
[0013]圖2為圖1的俯視結(jié)構(gòu)示意圖。
[0014]圖中:試樣固定底座I (其中:長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽Ia)沖心定位器2 ;千分測(cè)量尺3(其中:測(cè)微螺桿3a，調(diào)節(jié)旋鈕3b，刻度標(biāo)識(shí)3c);被測(cè)量試樣4 ;永磁塊5。

【具體實(shí)施方式】
[0015]以下結(jié)合附圖和具體實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步的詳細(xì)描述，但該實(shí)施例不應(yīng)該理解為對(duì)本實(shí)用新型的限制。
[0016]圖中所示的沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，包括試樣固定底座1，試樣固定底座I上設(shè)置有前面和頂面開(kāi)口的長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽la，長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽Ia的底面用于放置被測(cè)量試樣4，長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽Ia的后面中央設(shè)置有中心定位器2，中心定位器2的形狀與被測(cè)量試樣4的V型缺口相匹配，長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽Ia的兩側(cè)端面對(duì)稱貫穿安裝有千分測(cè)量尺3，千分測(cè)量尺3的測(cè)微螺桿3a在工作時(shí)與被測(cè)量試樣4的端面抵接配合，轉(zhuǎn)動(dòng)千分測(cè)量尺3的調(diào)節(jié)旋鈕3b，即可通過(guò)千分測(cè)量尺3上的刻度標(biāo)識(shí)3c讀出被測(cè)量試樣4對(duì)稱面到端部的距離，從而與標(biāo)準(zhǔn)值比較確認(rèn)是否符合要求。
[0017]中心定位器2呈與被測(cè)量試樣4的V型缺口相匹配的三棱柱形，其三角形橫截面的頂角為43?47°、底高為1.925?2.025mm。
[0018]在本技術(shù)方案中，試樣固定底座I為可以吸附被測(cè)量試樣4的微磁性底座,試樣固定底座I還可以在底面嵌置可以吸附被測(cè)量試樣4的永磁塊5。
[0019]本實(shí)用新型工作時(shí)，首先，旋轉(zhuǎn)兩側(cè)的調(diào)節(jié)旋鈕3b，將左右兩端的測(cè)微螺桿3a端面對(duì)齊在中心定位器2頂角處，檢查千分測(cè)量尺3的刻度標(biāo)識(shí)3c，確認(rèn)其在零點(diǎn)處；然后，旋轉(zhuǎn)兩側(cè)的調(diào)節(jié)旋鈕3b，使將左右兩端的測(cè)微螺桿3a端面張開(kāi)足夠的距離，將加工好的被測(cè)量試樣4放置在帶有長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽Ia內(nèi)側(cè)，使被測(cè)量試樣4的V型缺口卡住中心定位器2，保持被測(cè)量試樣4穩(wěn)定；最后，旋轉(zhuǎn)兩側(cè)的調(diào)節(jié)旋鈕3b，使左右兩端的測(cè)微螺桿3a端面緊密接觸被測(cè)量試樣4的兩個(gè)端部，通過(guò)左右兩端的千分測(cè)量尺3的刻度標(biāo)識(shí)3c即可讀出被測(cè)量試樣4缺口對(duì)稱面到端部的距離，其和即為沖擊試樣長(zhǎng)度，將所得數(shù)值與標(biāo)準(zhǔn)值比較，確認(rèn)被測(cè)量試樣4是否符合要求。
[0020]本說(shuō)明書(shū)中未作詳細(xì)描述的內(nèi)容，屬于本專業(yè)技術(shù)人員公知的現(xiàn)有技術(shù)。
【權(quán)利要求】
1.一種沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，包括試樣固定底座(I)，其特征在于:所述試樣固定底座(I)上設(shè)置有前面和頂面開(kāi)口的長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽(Ia)，所述長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽(Ia)的底面用于放置被測(cè)量試樣(4)，所述長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽(Ia)的后面中央設(shè)置有中心定位器(2)，所述中心定位器(2)的形狀與被測(cè)量試樣(4)的V型缺口相匹配，所述長(zhǎng)方體試驗(yàn)槽(Ia)的兩側(cè)端面對(duì)稱貫穿安裝有千分測(cè)量尺(3)，所述千分測(cè)量尺(3)的測(cè)微螺桿(3a)在工作時(shí)與被測(cè)量試樣(4)的端面抵接配合，轉(zhuǎn)動(dòng)千分測(cè)量尺(3)的調(diào)節(jié)旋鈕(3b)，即可通過(guò)千分測(cè)量尺(3)上的刻度標(biāo)識(shí)(3c)讀出被測(cè)量試樣(4)中心到端部的距離，從而與標(biāo)準(zhǔn)值比較確認(rèn)是否符合要求。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，其特征在于:所述中心定位器(2)呈與被測(cè)量試樣(4)的V型缺口相匹配的三棱柱形，其三角形橫截面的頂角為43?47°、底高為 1.925 ?2.025mm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，其特征在于:所述試樣固定底座(I)為可以吸附被測(cè)量試樣(4)的微磁性底座。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的沖擊試樣尺寸測(cè)量裝置，其特征在于:所述試樣固定底座(I)的底面嵌置有可以吸附被測(cè)量試樣(4)的永磁塊(5)。
【文檔編號(hào)】G01B5/02GK204115633SQ201420662543
【公開(kāi)日】2015年1月21日 申請(qǐng)日期:2014年11月6日 優(yōu)先權(quán)日:2014年11月6日
【發(fā)明者】孫磊磊, 胡晟藍(lán), 羅毅, 胡鋼華, 肖永浩, 蘆正芬, 付暢, 趙在群, 袁紅蘭 申請(qǐng)人:武漢鋼鐵(集團(tuán))公司