本技術(shù)屬于探針領(lǐng)域，具體涉及一種測(cè)試探針。

背景技術(shù)：

1、探針是一種用于對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行電性測(cè)試的儀器，通過(guò)探針與測(cè)試點(diǎn)接觸來(lái)獲得相關(guān)的電性參數(shù)。

2、而印刷電路板逐漸朝向小型化發(fā)展，測(cè)試點(diǎn)的尺寸也在縮小，在探針測(cè)試時(shí)由于探針的直徑小，會(huì)發(fā)生探針扎偏的現(xiàn)象，影響測(cè)試結(jié)果，而對(duì)于部分測(cè)試點(diǎn)較為集中的區(qū)域，使用粗探針會(huì)導(dǎo)致在一次測(cè)試中，探針可能與多個(gè)測(cè)試點(diǎn)同時(shí)接觸，影響測(cè)試結(jié)果。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的目的在于提供一種測(cè)試探針。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案：

3、一種測(cè)試探針，包括針套和滑動(dòng)設(shè)置于針套內(nèi)的第一探針，所述針套的側(cè)壁上沿其軸向方向開(kāi)設(shè)有貫穿其側(cè)壁的滑槽，所述第一探針的外周壁上設(shè)置有滑動(dòng)于通槽內(nèi)的滑塊，所述第一探針的軸線處開(kāi)設(shè)有一通槽，所述通槽內(nèi)滑動(dòng)設(shè)置有第二探針，所述第一探針和所述第二探針的上均連接有導(dǎo)線。

4、優(yōu)選的，所述針套的外周壁上套設(shè)有外殼，所述外殼的內(nèi)周壁上開(kāi)設(shè)有螺旋槽，所述滑塊貫穿滑槽滑動(dòng)設(shè)置于螺旋槽內(nèi)。

5、優(yōu)選的，所述針套的底部一體成型有底座，所述底座的截面呈凸字形，所述外殼轉(zhuǎn)動(dòng)連接于所述底座上。

6、優(yōu)選的，所述螺旋槽的寬度大于滑塊的直徑，所述底座與第一探針之間設(shè)置有彈簧。

7、優(yōu)選的，所述第一探針的端部設(shè)置有若干凸起。

8、優(yōu)選的，還包括保護(hù)蓋，所述針套的外周壁上設(shè)置有與保護(hù)蓋扣合的凸點(diǎn)。

9、本實(shí)用新型的有益效果是：通過(guò)外殼和針套的相對(duì)轉(zhuǎn)動(dòng)，可帶動(dòng)第一探針的伸縮，用于切換第一探針和第二探針，便于對(duì)不同的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。在使用第一探針進(jìn)行測(cè)試時(shí)，彈簧會(huì)起到一個(gè)緩沖作用，防止受力過(guò)大導(dǎo)致第一探針或測(cè)試點(diǎn)損壞。

技術(shù)特征：

1.一種測(cè)試探針，其特征在于：包括針套和滑動(dòng)設(shè)置于針套內(nèi)的第一探針，所述針套的側(cè)壁上沿其軸向方向開(kāi)設(shè)有貫穿其側(cè)壁的滑槽，所述第一探針的外周壁上設(shè)置有滑動(dòng)于通槽內(nèi)的滑塊，所述第一探針的軸線處開(kāi)設(shè)有一通槽，所述通槽內(nèi)滑動(dòng)設(shè)置有第二探針，所述第一探針和所述第二探針的上均連接有導(dǎo)線。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于：所述針套的外周壁上套設(shè)有外殼，所述外殼的內(nèi)周壁上開(kāi)設(shè)有螺旋槽，所述滑塊貫穿滑槽滑動(dòng)設(shè)置于螺旋槽內(nèi)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試探針，其特征在于：所述針套的底部一體成型有底座，所述底座的截面呈凸字形，所述外殼轉(zhuǎn)動(dòng)連接于所述底座上。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試探針，其特征在于：所述螺旋槽的寬度大于滑塊的直徑，所述底座與第一探針之間設(shè)置有彈簧。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測(cè)試探針，其特征在于：所述第一探針的端部設(shè)置有若干凸起。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于：還包括保護(hù)蓋，所述針套的外周壁上設(shè)置有與保護(hù)蓋扣合的凸點(diǎn)。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開(kāi)了一種測(cè)試探針，包括針套和滑動(dòng)設(shè)置于針套內(nèi)的第一探針，所述針套的側(cè)壁上沿其軸向方向開(kāi)設(shè)有貫穿其側(cè)壁的滑槽，所述第一探針的外周壁上設(shè)置有滑動(dòng)于通槽內(nèi)的滑塊，所述第一探針的軸線處開(kāi)設(shè)有一通槽，所述通槽內(nèi)滑動(dòng)設(shè)置有第二探針，所述第一探針和所述第二探針的上均連接有導(dǎo)線。本技術(shù)的有益效果是：通過(guò)第一探針的滑動(dòng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)第一探針和第二探針的切換，便于對(duì)不同的測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。

技術(shù)研發(fā)人員：劉朝英,王鵬,余新文
受保護(hù)的技術(shù)使用者：蘇州微米光電子科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20231213
技術(shù)公布日：2024/12/19