專利名稱：熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟蹤測量方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及高溫熔質(zhì)內(nèi)部的溫度測量方法及專用于該方法的溫度測量裝置。
在本發(fā)明作出以前，國內(nèi)外在冶煉工業(yè)中常用的高溫測量方法多用鉑一銠熱電偶法。近年來又研制出鎢一錸熱電偶法(見《(鎢一錸熱電偶)》北京鋼鐵研究總院編，冶金部出版社出版，1993年)。它們均屬于熱電偶方法。熱電偶的壽命僅為十幾秒，不僅壽命短，使用這類方法不能對熔質(zhì)內(nèi)部溫度進(jìn)行跟蹤測量，而且經(jīng)常得出假信號，精度低，最終導(dǎo)致產(chǎn)品報廢。為了提高熱電偶的測量可信度，中國首都鋼鐵公司儀器儀表廠于1991年研究成功了測溫系統(tǒng)的數(shù)據(jù)自動采集方法及裝置，能以每秒4次的采樣速率提高測試精度。但由于沒有改變熱電偶傳感方式，因此未能從根本上改變間歇式測量手段，不能實現(xiàn)熔質(zhì)內(nèi)部溫度的跟蹤連續(xù)測量。1992年中科院西安光機(jī)所研制成功雙波長光纖溫度傳感器，但只能測量物體表面溫度，不能用于測量熔質(zhì)內(nèi)部溫度。此外，美國哈里金鋼石研究所和美國標(biāo)準(zhǔn)局研制出了“射流毛細(xì)管高溫計”(見《(科學(xué)和工業(yè)中的溫度測量與控制)》中譯本(下冊)；科學(xué)出版社，1985年)，其特點是利用氣體工作介質(zhì)的粘性隨溫度而變化的性質(zhì)，通過粘性與溫度的相關(guān)性確定溫度。上述高溫測量方法及裝置均只限于在工業(yè)真空爐和高溫空氣爐中應(yīng)用，不能應(yīng)用于高溫、強氧化、強侵蝕、強沖刷的金屬冶煉工業(yè)領(lǐng)域。
本發(fā)明的目的是提供一種新型高溫測量方法及裝置，旨在能夠進(jìn)行熔質(zhì)內(nèi)部高溫的連續(xù)跟蹤測量，該裝置能夠耐高溫、抗氧化、抗侵蝕，可用于工業(yè)高溫熔爐、內(nèi)燃機(jī)燃燒室、噴氣發(fā)動機(jī)燃燒室的內(nèi)部溫度診斷測量。
本發(fā)明的目的是通過下述方案實現(xiàn)的。
熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟綜測量方法是將待測物光輻射的輻亮度與標(biāo)準(zhǔn)光源的輻亮度進(jìn)行比較、從而測出待測熔質(zhì)內(nèi)部溫度，其具體步驟是1)采集熔質(zhì)內(nèi)部光輻射，通過光纜將其傳輸給多波長高溫計；2)將采集到的高溫熔質(zhì)內(nèi)部的光輻射調(diào)制為間斷光并將其分解成不同波長的光；3)用光電轉(zhuǎn)換方法將第2)步所得光信號轉(zhuǎn)換成電信號；4)將第3)步所得電信號放大；5)利用電腦及數(shù)據(jù)采集控制處理軟件和溫度計算專用軟件將電信號換算為溫度數(shù)值并繪出熔質(zhì)內(nèi)部溫度隨時間變化的曲線。
本發(fā)明熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟蹤測量方法的基本原理如下
本發(fā)明的高溫計是以普朗克熱輻射理論為基礎(chǔ)，將待測光源的輻亮度與標(biāo)準(zhǔn)光源的輻亮度進(jìn)行比較，從而測得待測熔質(zhì)光源溫度。
對于發(fā)射率為ε的灰體光源，其輻亮度由普朗克公式給出j(λ，T)＝εJ(λ，T)(1)其中J(λ，T)為ε＝1，溫度為T的絕對黑體的輻射亮度，J(λ,T)=C1λ-5[eC2λT-1]-1------(2)]]>對于實際測量而言，測量量是λi和ji(λi)，考慮到實驗測量誤差νi，則(1)式應(yīng)為νi＝εJ(λi，T)-ji(λi)(3)ν2=Σi=lnνi2=Σi=ln[ϵJ(λi,T)-ji(λi)]2-----(4)]]>根據(jù)最小二乘法原理，就是從(4)式求出滿足νi取最小值時的ε和T的值，即
dν2dT=0--------(6)]]>∂ν2∂T+∂ν2∂ϵ-dϵdT=0------(7)]]>其中ϵ=1nΣi=lnji(λi)J(λiT)------(8)]]>∂ν2∂T=2C2Σi=ln[(ϵ·J-ji(λi))·ϵ·eC2λiTeC2λiT-1·JλiT2]-----(9)]]>∂ν2∂ϵ=2Σi=lnJ[ϵJ-ji(λi)]------(10)]]>dϵdT=-1nC2C1Σi=ln[λi4eC2λiT·ji(λi)/T2]-----(11)]]>將(7)、(9)、(10)、(11)聯(lián)立求解，就可以得出ε、T。上述方程組求解起來比較麻煩，其實方程(7)還有一個特解，即
這樣，由(9)和(10)等于零求解就得出
實踐表明，用(13)得出的結(jié)果與用(7)、(9)、(10)、(11)聯(lián)立求解的結(jié)果是一致的。
熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟蹤測量裝置，由感溫探頭、多波長高溫計和數(shù)據(jù)存儲分析儀構(gòu)成。感溫探頭中心為一圓柱體形狀的金屬氧化物單晶，在該單晶圓柱體周圍套裝有一個筒形的特種陶瓷保護(hù)殼，該單晶圓柱體的后端有一高低溫光導(dǎo)耦合器及夾層套筒形的水冷卻器。其特種陶瓷保護(hù)殼筒體內(nèi)腔為圓筒形，該保護(hù)殼外形可以為圓柱形或棱柱形。其后部的高低溫光導(dǎo)耦合器的內(nèi)腔及外形與特種陶瓷保護(hù)殼的內(nèi)腔及外形相同，水冷卻器夾層套筒的內(nèi)腔形狀與特種陶瓷保護(hù)殼及高低溫光導(dǎo)耦合器的外形相同并吻合。感溫探頭通過光纜與多波長高溫計連接。多波長高溫計由光纜插座，圓盤形的光調(diào)制及波長選擇器，光電轉(zhuǎn)換器及跟隨放大器構(gòu)成。其光調(diào)制及波長選擇器圓面上從前面到后面分別貫穿嵌裝有二至七塊圓形窄帶濾光片。多波長高溫計通過電纜與數(shù)據(jù)存儲分析儀連接。
本發(fā)明的實施例結(jié)合


給出。

圖1，熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟蹤測量裝置總體結(jié)構(gòu)圖；圖2，感溫探頭中心縱剖面結(jié)構(gòu)圖；圖3，多波長高溫計總體結(jié)構(gòu)圖；圖4，光調(diào)制及波長選擇器結(jié)構(gòu)圖；圖5，跟隨放大器電路圖；圖6，數(shù)據(jù)存儲分析儀原理方框圖；圖7，感溫探頭嵌入式安裝示意圖；圖8，本發(fā)明用于10％鉻鋼鋼水測溫結(jié)果圖；圖9，多波長高溫計標(biāo)定原理圖。
圖中序號含義1.光纜，2.多波長高溫計，3.電纜，4.數(shù)據(jù)存儲分析儀，5.感溫探頭，6.待測熔質(zhì)，7.熔爐，8.陶瓷保護(hù)殼，9.進(jìn)水口，10.冷卻水，11.水冷卻器，12.高低溫光導(dǎo)耦合器，13.出水口，14.金屬氧化物單晶圓棒，15.光纜插頭，16.窄帶濾光片，17.光調(diào)制及波長選擇器，18.驅(qū)動馬達(dá)，19.光電轉(zhuǎn)換器，20.高壓電源，21.跟隨放大器，22.低壓電源，23.信號輸出電纜，24.配重片，25.CPU(NPU)，26.鍵盤，27.高分辨率顯示器，28.程控放大器，29.A/D轉(zhuǎn)換器，30.高速雙口緩沖器，31.存儲管理控制器，32.顯示控制器，33.軟盤控制器，34.軟盤，35.對接法蘭，36.熔爐外殼，37.熔爐壁，38.Y軸指示鋼水溫度(K)，39. 10％鉻鋼鋼水溫升曲線，40.X軸指示時間(min)，41.黑體爐，42.反射鏡，43.標(biāo)準(zhǔn)光電高溫計，44.光學(xué)透鏡。
實施例1，感溫探頭(圖2)及采光感溫探頭5的中心為圓柱體形狀的金屬氧化物單晶，直徑0.50-5mm，長度300-1000mm，可采用Al2O3單晶或MgO單晶制作。該金屬氧化物單晶圓棒14的四周被陶瓷保護(hù)殼8包圍，其前端爆露在外，其后端被高低溫光導(dǎo)耦合器12包圍和密封，其后端中心連接有光纜1，該光纜從高低溫光導(dǎo)耦合器12中間伸出，接入多波長高溫計2，陶瓷保護(hù)殼8由TiB2加入適量的高溫氧化物(如Al2O3、MgO等)壓制成型再經(jīng)高溫?zé)Y(jié)而成，也可熱壓成型，具有抗氧化、抗熱震、抗侵蝕的特點，可保護(hù)感溫探頭5中心的金屬氧化物單晶14不碎裂。同時，它又具有良好的導(dǎo)熱性，能在流動熔質(zhì)的沖刷、磨蝕下保證金屬氧化物單晶能有效地采光和傳光。該種陶瓷保護(hù)殼8的內(nèi)腔與圓柱形的金屬氧化物單晶14的四周外表面吻合。其外形為園柱形，可為正四棱柱或正六棱柱等，高、低溫光纖的耦合對接由Al、Cu、Fe等金屬螺母聯(lián)結(jié)，使高、低溫光纖端面間留有1-5mm的間距。水冷卻器11兩端用金屬Al、Cu、Fe等環(huán)片焊封形成包圍在高低溫光纖耦合器12周圍的空腔。在空腔的前、后部側(cè)壁上設(shè)有進(jìn)水口9和出水口13，該空腔長5-20cm。水冷卻器11借助于流動的冷水可將感溫探頭5從熔質(zhì)中傳出的熱量及時吸收帶走，以保證低溫光纖能長期工作。感溫探頭5后端的光纜由石英光纖制成，芯徑50-100μm，數(shù)值孔徑NA＝0.16-0.20，長度一般為30-200m，它可將感溫探頭5采集到的熔質(zhì)內(nèi)部的光輻射能傳至多波長高溫計2。
實施例2，多波長高溫計(圖3、圖4)及光調(diào)制、光波長選擇、光電轉(zhuǎn)換和電信號放大多波長高溫計2依次由光纜1、光纜插座15、光調(diào)制及波長選擇器17、光電轉(zhuǎn)換器19、跟隨放大器21及信號輸出電纜23構(gòu)成。光纜1與感溫探頭5的光纜1相同。光調(diào)制及波長選擇器17(圖4)為一個直徑為Φ80-150mm的金屬圓盤，該圓盤由一個高速馬達(dá)驅(qū)動，可以繞其圓心旋轉(zhuǎn)。該金屬圓盤在表面的一個圓圈上貫穿性嵌有2-7塊不同波長的窄帶濾光片16及1個配重片24，濾光片16的中心波長可在0.7-1.1μm之間選擇2-7個不同波長作為工作波長，最好在0.7-1.1μm之間均勻分布或接近均勻分布。濾光片的半高寬為10-20nm，透過率不低于50％。濾光片16一方面可以將光纜1傳來的光束調(diào)制為間斷光，以保護(hù)光電轉(zhuǎn)換器件，另一方面可以將光纜1傳來的白光分解成不同波長的光，以便以多波長光來確定出溫度。光電轉(zhuǎn)換器19選用S1型光陰極材料制作的光電倍增管，其分壓器按生產(chǎn)廠家給出的參考參數(shù)制作，陰極靈敏度大于9mA/lm，增益大于105，上升時間小于5ns。光電轉(zhuǎn)換器19由高壓電源20供電，其作用是將由光纜1傳來、穿過光調(diào)制及波長選擇器17上的濾光片16而射入的光信號轉(zhuǎn)換成電信號。跟隨放大器21可將該電信號放大，圖5給出的電路圖是在光電轉(zhuǎn)換元件的負(fù)載電阻是高阻抗電阻時，為了避免信號發(fā)生反射而采用的跟隨放大器參考線路圖。跟隨放大器21由低壓電源22供電。高壓電源20技術(shù)要求是，輸出電壓范圍500-2000V連續(xù)可調(diào)，穩(wěn)定度8小時漂移小于0.1％，輸出電流2A/路，輸出路數(shù)2路。低壓電源22的指標(biāo)電壓10-50V.D.C。
實施例3，數(shù)據(jù)存儲分析儀(圖6)及熔質(zhì)溫度的讀寫數(shù)據(jù)存儲分析儀4的主要組成部分為計算機(jī)為工業(yè)級486，內(nèi)存4M，硬盤540M，監(jiān)視器9″或14″，數(shù)據(jù)采集板采樣速率20MSPS，雙通道，分辨率8bit，精度1％。此外，數(shù)據(jù)存儲分析儀4還包括數(shù)據(jù)采集控制處理軟件和溫度計算專用軟件。數(shù)據(jù)存儲分析儀4及其部件，可以從市場上購得，經(jīng)過選擇，可以適合本發(fā)明使用，將電信號換算為溫度數(shù)值并繪出熔質(zhì)內(nèi)部溫度隨時間變化的曲線。
實施例4，多波長高溫計的標(biāo)定(圖9)使用本發(fā)明測溫前，需要對多波高溫計2進(jìn)行標(biāo)定，以確定其系統(tǒng)常數(shù)。標(biāo)定的原理和方法如下標(biāo)定時先將反射鏡42轉(zhuǎn)向標(biāo)準(zhǔn)光電高溫計43測量黑體爐41溫度，再將反射鏡42轉(zhuǎn)向光學(xué)透鏡44，使黑體爐41的發(fā)光面成像在感溫探頭5處。標(biāo)準(zhǔn)光源的光經(jīng)高、低溫光纖傳給多波長高溫計2，進(jìn)行光電轉(zhuǎn)換后傳輸至數(shù)據(jù)存儲分析儀，當(dāng)多波長高溫計接受到的光能處于其線性范圍時，數(shù)據(jù)存儲分析儀記錄的信號幅度(電壓)與光纖采集的光能成正比，即h0(λ)=K(λ).K1.K2K3sin2αOsin2αcϵJ(λ,T0)-----(14)]]>其中K(λ)-多波長高溫計的系統(tǒng)常數(shù)(在波長λ時)，K1-光學(xué)透鏡的透過率，K2-光源窗口玻璃透過率，K3-反射鏡的反射率，αc為光纖的數(shù)值孔徑角，ao為透鏡的相對孔徑角。當(dāng)給定To后，只要確定相應(yīng)的信號幅度ho(λ)后，就可求出系統(tǒng)常數(shù)K(λ)。單個溫度點的標(biāo)定往往使K(λ)值不夠精確，要擴(kuò)寬測溫范圍，會使測量結(jié)果產(chǎn)生較大誤差，最好的辦法是在整個測溫范圍內(nèi)采用多點標(biāo)定。多點標(biāo)定時可用下式對標(biāo)定點進(jìn)行擬合，確定出K(λ)值。K(λi)=Σh0iJ(eC2λiT0i;-1)-1ϵ0Ciλi-5k0isin2α0sin2αcΣ(eC2λiT0i;-1)-2-----(15)]]>實施例5，色溫測量
除了用公式〔7〕〔9〕〔10〕〔11〕聯(lián)立求解或直接用(13)式計算出溫度外，還可用兩個波長下輻亮度之比值確定出待測光源的色溫。色溫也叫顏色溫度，是科學(xué)和工業(yè)上應(yīng)用最廣的接近發(fā)射體真實溫度的一個假設(shè)溫度。其定義為當(dāng)黑體與非黑體在兩個波長λ1和λ2下的單色輻射亮度之比相等時，則稱黑體的溫度為非黑體的顏色溫度。
根據(jù)色溫的定義，利用維恩輻射定律，可導(dǎo)出色溫的計算公式TC=kln-1[α(h1h2)]------(16)]]>其中k=C2[1λ2-1λ1]]]>λ1和λ2是兩個觀測波長(m)；h1，h2是光電轉(zhuǎn)換后輸出信號的幅度(V)；α為測試系統(tǒng)常數(shù)，通過標(biāo)定確定。
實施例6，本發(fā)明裝置的實驗室標(biāo)定根據(jù)實施例5介紹的色溫測量原理，利用多波長高溫計的任意兩個波長可實現(xiàn)色溫測量。但需通過標(biāo)定確定其系統(tǒng)常數(shù)α。
利用鎢燈確定系統(tǒng)常數(shù)α，進(jìn)行實驗室標(biāo)定的方法如下由色溫的計算公式(16)可得出eKTc=α(h1h2)------(17)]]>在實驗測量中，由于存在測量誤差，只有在(17)式中加上殘差才能成立eKTc=α(h1h2)+ν------(18)]]>為了減小測量誤差，一般采用多點標(biāo)定。在標(biāo)定時，改變標(biāo)準(zhǔn)光源溫度Tcoi(i＝1，…，n)，確定出多波長溫度計對每個Tcoi的響應(yīng)幅度h1oi，h2oi(i＝1，…，n)這樣就得到了如下的條件方程ekTcoi=α(h1oih2oi)+νi(i=1,···,n)-----(19)]]>Σi=lnνi2=Σi=ln[ekTcoi-α(h1oih2oi)]-----(20)]]>根據(jù)最小二乘法原則，就是選取一個α值，使得

取得最小值，即ddαΣi=lnνi2=0------(21)]]>從而就可以得出α=Σi=ln(h1oih2oiekTcoi)/Σi=ln(h1oih2oi)2-----(22)]]>實施例7，本發(fā)明裝置的操作1)本實用新型裝置的總體組裝(圖1，圖7)(1)將感溫探頭5與石英光纜1對接在一起，注意在擰緊耦合螺母時，防止光纜隨螺母轉(zhuǎn)動，以防光纜折斷；(2)將水冷卻器11的進(jìn)出水口9、14的水管接上；(3)將石英光纜1另一端插接在多波長高溫計2的光輸入插頭15上；(4)將多波長高溫計2的信號輸出插頭上接好信號輸出電纜23，將信號輸出電纜23的另一端接在數(shù)據(jù)存儲分析儀4的信號輸入插口上；(5)將多波長高溫計2、數(shù)據(jù)存儲分析儀4的電源線分別插接在220V，50Hz的電源插接板上。
2)測試準(zhǔn)備(1)測試開始前30分鐘，打開多波長高溫計2的高壓電源開關(guān)，電壓表上顯出500V左右的電壓指示，5分鐘后，轉(zhuǎn)動高壓旋扭，使電壓表上的示數(shù)達(dá)到預(yù)定值(該值在標(biāo)定時確定，并在使用說明書中給出)；(2)打開數(shù)據(jù)存儲分析儀4電源開關(guān)，檢查各項功能是否正常，按測量需要設(shè)置好各種參數(shù)；(3)測量前5分鐘，打開多波長高溫計2的跟隨放大器21的低壓電源22，該開關(guān)上的指示燈“亮”；(4)測量前2分鐘，打開驅(qū)動器馬達(dá)18的電源，調(diào)制分光器開始轉(zhuǎn)動工作。
3)測量(1)單點測量單點測量是指將感溫探頭5安裝在一個固定點上(如將感溫探頭嵌入爐壁圖7或從爐頂插入的固定式)，探頭5不再移動；
(2)多點測量多點測量可通過改變感溫探頭5的插入位置來實現(xiàn)，測量不同深度的溫度變化，可通過改變探頭5的插入深度來完成；如果在同一時刻要求測量不同地點的溫度，則應(yīng)采用多個感溫探頭5同時并用，分別放置于不同測點來實現(xiàn)；(3)測量的起動和進(jìn)行①在完成測試準(zhǔn)備后，只需在數(shù)據(jù)存儲分析儀4上給出“RUN”指令，測量工作將按預(yù)先設(shè)定的程序自動進(jìn)行；測量結(jié)果將在顯示器上按設(shè)定時間步長定時顯示溫度結(jié)果，并顯示出溫度隨時間的變化曲線②當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)定溫度時，數(shù)據(jù)存儲分析儀4將發(fā)出鈴聲，提醒升(降)溫已達(dá)到預(yù)定值，并發(fā)出必要的主控信號(切斷加熱電源或打開加熱電源等)；4)關(guān)機(jī)(1)將高壓調(diào)節(jié)旋扭旋至最小，電壓表示數(shù)降至500V左右；(2)關(guān)閉高壓電源21的開關(guān)；(3)關(guān)閉跟隨放大器22、低壓電源23的開關(guān)；(4)關(guān)閉驅(qū)動馬達(dá)18的開關(guān)；(5)關(guān)閉數(shù)據(jù)存儲分析儀4的電源；(6)拔掉數(shù)據(jù)存儲分析儀4和多波長高溫計工的電源線。
圖8為用本發(fā)明裝置實際測定10％鉻鋼鋼水溫度的升溫曲線圖。
本發(fā)明具有如下特點1.本發(fā)明感溫探頭由于采用了近年來新開發(fā)出的特種陶瓷和耐高溫光纖，因而可插入1000-2000℃熔融介質(zhì)(如AL，Cu，F(xiàn)e及其合金等)中而不被侵蝕，損壞，可耐高溫、不熔化、不腐蝕、抗氧化、抗墊震、不炸裂、不掉渣，可重復(fù)多次使用，可連續(xù)工作一個月以上，其壽命長于一個爐齡。
2.由于使用光纖傳感并結(jié)合光電子、計算機(jī)部件，從而實現(xiàn)了冶煉爐中熔質(zhì)內(nèi)部高溫的精確、連續(xù)、跟蹤測量，測量誤差小于0.5％。為冶煉業(yè)以溫度為基準(zhǔn)、實現(xiàn)自動化提供了可靠測試手段。
3.用途廣泛，可用于工業(yè)高溫爐、內(nèi)燃機(jī)燃燒室、噴氣發(fā)動機(jī)燃燒室等的內(nèi)部溫度診斷測量。
權(quán)利要求
1.熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟蹤測量方法，其特征是將待測物光輻射的輻亮度與標(biāo)準(zhǔn)光源的輻亮度進(jìn)行比較，從而測出待測熔質(zhì)內(nèi)部溫度，具體步驟是1)采集溶質(zhì)內(nèi)部光輻射，通過光纜將其傳輸給多波長高溫計；2)將采集到的高溫熔質(zhì)內(nèi)部的光輻射調(diào)制為間斷光并分解成不同波長的光；3)用光電轉(zhuǎn)換方法將第2)步所得光信號轉(zhuǎn)換成電信號；4)將第3)步所得電信號放大；5)利用電腦及數(shù)據(jù)采集控制處理軟件和溫度計算專用軟件將電信號換算為溫度數(shù)值并繪出熔質(zhì)內(nèi)部溫度隨時間變化的曲線。
2.熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟蹤測量裝置，其特征是由感溫探頭、多波長高溫計和數(shù)據(jù)存儲分析儀構(gòu)成，感溫探頭通過光纜與多波長高溫計連接，多波長高溫計同時又通過電纜與數(shù)據(jù)存儲分析儀連接，感溫探頭中心為一圓柱體形狀的金屬氧化物單晶，在該單晶圓柱體周圍有一個筒形的陶瓷保護(hù)殼，該單晶圓柱體的后端有一高低溫光導(dǎo)耦合器及夾層套筒形的水冷卻器，多波長高溫計由光纜插座、圓盤形的光調(diào)制及波長選擇器、光電轉(zhuǎn)換器及跟隨放大器構(gòu)成。
3.按照權(quán)利要求2的高溫測量裝置，其特征是感溫探頭的陶瓷保護(hù)殼筒體內(nèi)腔為圓筒形，該保護(hù)殼外形可以為圓柱形或棱柱形，高低溫光導(dǎo)耦合器的內(nèi)腔及外形與陶瓷保護(hù)殼的內(nèi)腔及外形相同，水冷卻器夾層套筒內(nèi)腔形狀與陶瓷保護(hù)殼及高低溫光導(dǎo)耦合器的外形相同并吻合。
4.按照權(quán)利要求2的高溫測量裝置，其特征是在多波長高溫計的光調(diào)制及波長選擇器上從前面到后面貫穿嵌裝有二至七塊圓形窄帶慮光片。
全文摘要
熔質(zhì)內(nèi)部高溫跟蹤測量方法及裝置,其方法以待測光源的輻亮度與標(biāo)準(zhǔn)光源的輻亮度比較為基礎(chǔ),包括采光、調(diào)光、分光、光電轉(zhuǎn)換、信號放大、判讀、計算及溫度值輸出;其裝置由感溫探頭、光纜、多波長高溫計和配有專用軟件的數(shù)據(jù)存儲分析儀構(gòu)成。感溫探頭主要由金屬氧化物單晶,保護(hù)殼及高低溫光導(dǎo)耦合器組成?？蓽y高溫1000—2000℃,測溫誤差小于0.5%,耐高溫、抗腐蝕、抗熱震、抗氧化,可重復(fù)使用,連續(xù)跟蹤測溫,壽命長,用途廣泛。
文檔編號G01J5/28GK1174986SQ9611767
公開日1998年3月4日 申請日期1996年8月23日 優(yōu)先權(quán)日1996年8月23日
發(fā)明者王貴朝, 田建華, 余泉有, 呂秀生, 何麗華, 譚顯祥, 丁伯南, 傅世勤, 劉勇, 馮婕 申請人:中國工程物理研究院流體物理研究所